Институт Физики Полупроводников Им. В. Е. Лашкарева Национальной Академии Наук Украины
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Полупроводников Им. В. Е. Лашкарева Национальной Академии Наук УкраиныfiledCriticalИнститут Физики Полупроводников Им. В. Е. Лашкарева Национальной Академии Наук Украины
Priority to UAU201107521UpriorityCriticalpatent/UA65759U/uk
Publication of UA65759UpublicationCriticalpatent/UA65759U/uk
Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like
(AREA)
Abstract
Пристрій для неактивного тестування світлодіодів містить джерело живлення, вихід якого з'єднаний з клемами для підключення виводів світлодіодів, які перевіряються, і з'єднаними з ними і між собою вимірювальними пристроями. Додатково застосовується джерело живлення постійного струму і паралельно до нього під'єднано додаткове джерело живлення постійної напруги. Як вимірювальні пристрої використовуються амперметр та вольтметр.
UAU201107521U2011-06-142011-06-14Пристрій для неактивного тестування світлодіодів
UA65759U
(uk)
Moduł akumulatorowy oraz sposób łączenia złączy elektrycznych pierwszego i drugiego ogniw akumulatorowych pierwszego i drugiego z elementem wykrywającym napięcie zespołu łączącego