UA13228U

UA13228U - Device for measuring the non-transparency indicator of sheet material

Info

Publication number: UA13228U
Application number: UAU200509566U
Authority: UA
Inventors: Volodymyr Olehovych Bushynskyi; Serhii Oleksandrovych Voronov; Volodymyr Yosypovych Pankratov; Volodymyr Mykolaiovyc Rodionov
Original assignee: Kyiv Polytechnical Institute
Priority date: 2005-10-11
Filing date: 2005-10-11
Publication date: 2006-03-15

Abstract

The proposed device for measuring the non-transparency indicator of sheet material contains an optical radiation source, a disk modulator, a light-absorbing plate with the light reflection coefficient that is close to that of a perfectly black body, a unit for isolating optical radiation within a specified wavelength range, a photoelectric converter, a preamplifier, a measuring unit, a timing unit, and additionally, a light-distributing unit and the second light-absorbing plate. One of the surfaces of the first light-absorbing plate has the reflection coefficient that is close to that of that at full dispersion of light. The plates are arranged at a distance from each other for the possibility to move sheet material between the plates. The second light-absorbing plate has three holes. The first hole is arranged over the light-absorbing surface of the first plate. The second hole is arranged over the light-dispersing surface of the first plate. The third hole overlaps both the said surfaces of the first plate. The photoelectric converter is arranged over the third hole.

Description

Опис винаходуDescription of the invention

Корисна модель відноситься до вимірювальної техніки і її можна використовувати для вимірювання 2 непрозорості, також для листових (стрічкових) матеріалів, що переміщуються, наприклад паперу, плівки, ткані і т.д. в тому числі на діючому обладнані без руйнування матеріалу.The utility model refers to the measuring technique and can be used to measure 2 opacity, also for sheet (tape) moving materials such as paper, film, fabric, etc. including on the existing equipment without destroying the material.

Відомі пристрої для вимірювання непрозорості - "О" матеріалів, принцип дії яких засновано на вимірювані відсоткового відношення коефіцієнта світлового відбиття Ко від одного листа матеріалу, розміщеного на чорній підкладки, к особистому коефіцієнту світлового відбиття Кос непрозорої стопи того же матеріалу, і виражається формулою: в- Во. (0 пKnown devices for measuring opacity - "O" materials, the principle of operation of which is based on the measurement of the percentage ratio of the coefficient of light reflection Ko from one sheet of material placed on a black substrate to the personal coefficient of light reflection Kos of an opaque foot of the same material, and is expressed by the formula: in - Wow. (0 p

Відомі пристрої, спектроколоріметр "Оайасоїюг , спектрофотометр "Масреї, фотометр "Колір", а також аналогічні пристрої, які використовуються для вимірювання непрозорості в лабораторних умовах. Ці пристрої дозволяють проводити вимірювання з малими похибками. Недоліком цих пристроїв є то, що їх неможливо використовувати для вимірювання непрозорості листових (стрічкових) матеріалів без їх руйнування, в тому числі для матеріалів, що переміщуються, оскільки застосування пристрою передбачає вимірювання в статичному стані коефіцієнтів відбиття одного листа матеріалу та непрозорої стопи (декілька зразків складених разом), для чого необхідно руйнування листа матеріалу. Ще одним істотним недоліком цих пристроїв є то, що вимірювання на них займає багато часу, оскільки треба підготувати зразки для вимірювання, проводити вимірювання на одному листу матеріалу, потім на непрозорій стопі, причому декілька разів.Well-known devices, spectrocolorimeter "Oayasoiyug", spectrophotometer "Masrei", photometer "Color", as well as similar devices used to measure opacity in laboratory conditions. These devices allow measurements with small errors. The disadvantage of these devices is that they cannot be used to measure the opacity of sheet (tape) materials without destroying them, including for moving materials, since the use of the device involves measuring in a static state the reflection coefficients of one sheet of material and an opaque foot (several samples folded together), which requires the destruction of a sheet of material. Another significant disadvantage of these devices is that measuring on them takes a long time, since it is necessary to prepare samples for measurement, to measure on one sheet of material, then on an opaque foot, and several times.

Відомі пристрої "ОПТИПАК", фірма "Аккурей" І7| в якому для вимірювання параметра непрозорості для одного листа матеріалу, в тому числі що переміщується, використовується такий параметр, як просвіт, сутність З якого полягає у тому, що вимірюють значення світлового потоку, який пройшов матеріал, в видаленому діапазоні довжин хвиль. Недоліком такого пристрою є то, що вимірюється просвіт матеріалу, а арбітражним параметром оптичних характеристик матеріалу є непрозорість згідно з ГОСТ 8874-80 |5| значення яких не співпадають. оWell-known devices "OPTYPAK", company "Akkurei" I7| in which to measure the opacity parameter for one sheet of material, including that which is moved, such a parameter as clearance is used, the essence of which is that the value of the light flux that has passed through the material is measured in the removed range of wavelengths. The disadvantage of such a device is that the transparency of the material is measured, and the arbitration parameter of the optical characteristics of the material is the opacity according to GOST 8874-80 |5| whose values do not match. at

Найближчим аналогом пристрою для вимірювання непрозорості є фотометр "Колір" для вимірювання білості і кольорових характеристик, в тому числі і непрозорості, розроблений 000 "Трігла" ТУ У 19021476.002-2001, (м. счThe closest analogue of the device for measuring opacity is the "Color" photometer for measuring whiteness and color characteristics, including opacity, developed by 000 "Trigla" TU U 19021476.002-2001, (M.

Київ). Цей пристрій має оптично зв'язане джерело випромінювання, модулятор у вигляді диску, пристрій для Ге виділення випромінювання у заданому діапазоні довжин хвиль (набір світлофільтрів), чорну пластину, яка має коефіцієнт відбиття поверхні близьким до абсолютно чорного тіла (не більше 0,595) і поверхня якої обернена до Шк матеріалу, фотоперетворювач, вихід якого підключено до послідовно з'єднаних попереднього підсилювача, ч- блока вимірювання і вимірювального приладу, блок синхронізації вхід якого має зв'язок з диском, а вихід - з'єднано з другим входом блока вимірювання.Kyiv). This device has an optically coupled radiation source, a modulator in the form of a disc, a device for the emission of radiation in a given range of wavelengths (a set of light filters), a black plate that has a surface reflectance close to that of a completely black body (no more than 0.595) and a surface which is turned to Shk of the material, the photoconverter, the output of which is connected to the series-connected pre-amplifier, the h- measuring unit and the measuring device, the synchronization unit, the input of which is connected to the disk, and the output is connected to the second input of the measuring unit.

Пристрій діє наступним чином. «The device works as follows. "

Встановлюють один лист матеріалу на чорну пластину. Випромінювання від джерела попаде в інтегруючу сферу і опромінює контрольований матеріал розсіяним світлом. Відбите від контрольованого матеріалу - с випромінювання проектується на фотоперетворювач. На своєму шляху випромінювання пройде через ц світлофільтри і буде виділено випромінювання в необхідному діапазоні довжин хвиль. Світловий потік, який ,» попаде на фотоперетворювач, перетворюється в електричний сигнал, який підсилюється і поступає в блок вимірювання, де виконується його вимірювання. Значення цього сигналу характеризує інтенсивність відбиття світлового потоку, в даному разі, коефіцієнт світлового відбиття від одного листа матеріалу Ко. Встановлюють на - чорну пластину непрозору стопу матеріалу т. є. стопу матеріалу складеної з такої кількості листів, при яких світловий потік, направлений на стопу, не буде проходити через її, а буде відбиватись та розсіюватись. о Заміряний аналогічним чином відбитий світловий потік є коефіцієнтом світлового відбиття непрозорої стопи. ко Непрозорість матеріалу обчислюється по залежності (1).One sheet of material is placed on a black plate. The radiation from the source will fall into the integrating sphere and irradiate the controlled material with scattered light. Reflected from the controlled material - s radiation is projected onto the photoconverter. On its way, the radiation will pass through ts light filters and emit radiation in the required range of wavelengths. The light flux that hits the photoconverter is converted into an electrical signal, which is amplified and enters the measuring unit, where it is measured. The value of this signal characterizes the intensity of reflection of the light flux, in this case, the light reflection coefficient from one sheet of Ko material. An opaque foot of material is installed on a black plate, i.e. a foot of material composed of such a number of sheets that the light flux directed to the foot will not pass through it, but will be reflected and scattered. o The similarly measured reflected light flux is the light reflection coefficient of the opaque foot. ko The opacity of the material is calculated according to dependence (1).

Недоліком такого пристрою є неможливість вимірювання одного листа матеріалу без його руйнування і тим о паче неможливість вимірювання непрозорості листа (стрічки) матеріалу який переміщується на діючому с обладнані, а також тривалий час визначення непрозорості і неможливість застосування його для регулювання технологічного процесу виготовлення матеріалу.The disadvantage of such a device is the impossibility of measuring one sheet of material without destroying it, and even more so the impossibility of measuring the opacity of a sheet (tape) of material that moves on an operating device, as well as a long time to determine opacity and the impossibility of using it to regulate the technological process of manufacturing the material.

В основу корисної моделі поставлена задача удосконалити відомий пристрій шляхом спорядження світлорозподільною системою і введенням додаткової пластини, що забезпечує можливість вимірювання матеріалу на діючому обладнані і застосовувати його для регулювання технологічного процесу при виготовлені с матеріалу.The basis of the useful model is the task of improving the known device by equipping it with a light distribution system and introducing an additional plate, which provides the ability to measure the material on the operating equipment and use it to regulate the technological process in the production of the material.

Поставлена задача вирішується тим, що в пристрої для вимірювання непрозорості матеріалу, що містить оптично зв'язані джерело випромінювання, модулятор у вигляді диску, пластину коефіцієнт відбиття поверхні бо якої близький до абсолютно чорного тіла, поверхня якого обернена до матеріалу, пристрій для виділення випромінювання в заданому діапазоні довжин хвиль, фотоперетворювач, вихід якого підключений до послідовно з'єднаних попереднього підсилювача, блока вимірювання і вимірювального приладу, блок синхронізації вхід якого має зв'язок з диском, а вихід - з'єднаний з другим входом блока вимірювання згідно корисної моделі, пристрій споряджено дзеркальною світлорозподільною системою, яка розташована на модуляторі, другою 65 пластиною, поверхня якої має коефіцієнт відбиття близький до абсолютного розсіювача і вона обернена до матеріалу. Перша пластина має додаткову поверхню, коефіцієнт відбиття якої близький до абсолютного розсіювача. Пластини розташовані з проміжком між собою для можливості переміщення матеріалу, В другій пластині виконані отвори, причому перший отвір розміщений над поверхнею першої пластини коефіцієнт відбиття якої близький до абсолютно чорного тіла, другий - розміщений над поверхнею, коефіцієнт відбиття якої близький до абсолютного розсіювача, третій - розміщений над обома поверхнями, а фотоперетворювач розміщений над ним.The problem is solved by the fact that in a device for measuring the opacity of a material, which contains an optically coupled radiation source, a modulator in the form of a disk, a plate whose surface reflection coefficient is close to that of a completely black body, the surface of which is turned to the material, a device for releasing radiation in a given range of wavelengths, a photoconverter, the output of which is connected to the series-connected pre-amplifier, the measuring unit and the measuring device, the synchronization unit whose input is connected to the disk, and the output is connected to the second input of the measuring unit according to the useful model, the device is equipped with a mirror light distribution system, which is located on the modulator, the second plate 65, the surface of which has a reflection coefficient close to the absolute diffuser and it is turned to the material. The first plate has an additional surface, the reflection coefficient of which is close to the absolute scatterer. The plates are located with a gap between them for the possibility of moving the material. Holes are made in the second plate, and the first hole is placed above the surface of the first plate, the reflection coefficient of which is close to an absolute black body, the second is placed above the surface, the reflection coefficient of which is close to the absolute scatterer, the third - is placed above both surfaces and the photoconverter is placed above it.

Крім того, між джерелом і фотоперетворювачем додатково розташована дзеркально-проекційна система, частина якої розміщена на диску модулятора, а частина між диском і фотоперетворювачем.In addition, a mirror-projection system is additionally located between the source and the photoconverter, a part of which is placed on the modulator disk, and a part between the disk and the photoconverter.

На кресленні (Фіг.) наведений пристрій для вимірювання непрозорості листових (стрічкових) матеріалів. 70 Пристрій має джерело випромінювання 1; дзеркала 2, 13, 16, 17; диск модулюючий 3; двигун 4; отвори 5, 9, 10; пластину 6 з поверхнею, коефіцієнт відбиття якої близький до абсолютного розсіювача; контрольований матеріал 7; пластину 8 частина поверхні якої має коефіцієнтом відбиття близький до ідеального розсіювача, а частина поверхні коефіцієнт відбиття близький до абсолютно чорного тіла; пристрій для виділення випромінювання в заданому діапазоні довжин хвиль (світлофільтр) 11; фотоперетворювач 12; діафрагма 14; 7/5 отвір 15 в диску модулюючому; підсилювач 18; блок вимірювання, який має атенюатор 19, перетворювач низької частоти (ПНЯ) 20, блок управління 21, реверсивні лічильники 22, 23, 24, блок зрівняння 25; шини виходу 26, 28, блок часових інтервалів 27; блок синхронізації 29; устрій реєстрації 30.The drawing (Fig.) shows a device for measuring the opacity of sheet (tape) materials. 70 The device has a radiation source 1; mirrors 2, 13, 16, 17; disk modulating 3; engine 4; holes 5, 9, 10; plate 6 with a surface whose reflection coefficient is close to an absolute diffuser; controlled material 7; plate 8, part of the surface of which has a reflection coefficient close to an ideal diffuser, and part of the surface has a reflection coefficient close to a completely black body; a device for extracting radiation in a given range of wavelengths (light filter) 11; photoconverter 12; diaphragm 14; 7/5 hole 15 in the modulating disc; amplifier 18; measuring unit, which has an attenuator 19, a low-frequency converter (LFC) 20, a control unit 21, reversible counters 22, 23, 24, an equalization unit 25; output buses 26, 28, block of time intervals 27; synchronization block 29; registration device 30.

Робота пристрою виконується наступним чином.The device works as follows.

Потік випромінювання від джерела 1 направляється на дзеркало 2, яке розміщене на диску 3, який приводиться у обертання двигуном 4. Відбитий від дзеркала 2 пучок випромінювання, через отвір 10, зроблений у пластині 6, попадає на контрольований матеріал 7. Частина випромінювання пройде через лист матеріалу 7, попаде на поверхню пластини 8 з коефіцієнтом відбиття близьким до абсолютно чорного тіла, яка поглине його.The radiation flow from the source 1 is directed to the mirror 2, which is placed on the disc 3, which is driven by the motor 4. The beam of radiation reflected from the mirror 2, through the hole 10 made in the plate 6, falls on the controlled material 7. Part of the radiation will pass through the sheet material 7, will fall on the surface of the plate 8 with a reflection coefficient close to a completely black body, which will absorb it.

Таке розміщення матеріалу можна уявити як лист матеріалу розміщений на чорній підкладки. Значення випромінювання відбитого листом матеріалу, якій знаходиться на чорній підкладки можна порахувати по ов Залежності (3.27) наведеної Джадом (6) через коефіцієнт відбиття К. - в- Кой-ву вай -в.ХХ 1- Рог. с де Ко - коефіцієнт світлового відбиття від одного листа матеріалу, який розміщено на чорній підкладки; сThis placement of material can be imagined as a sheet of material placed on a black substrate. The value of radiation reflected by a sheet of material, which is on a black substrate, can be calculated according to Dependence (3.27) given by Jad (6) through the reflection coefficient K. - v- Koi-vu vai -v.XX 1- Rog. s de Ko - coefficient of light reflection from one sheet of material placed on a black substrate; with

Ку - коефіцієнт світлового відбиття підкладки на якій лежить матеріал;Ku - coefficient of light reflection of the substrate on which the material lies;

Ку - коефіцієнт світлового відбиття від одного листа матеріалу, який лежить на ідеально білій основі. сKu is the coefficient of light reflection from one sheet of material that lies on a perfectly white base. with

Якщо прийняти К 4-0 (матеріал підкладки абсолютно чорний), а К.--1 ,то з виразу (2) маємо К-Ко. Інша с частина випромінювання, якою опромінюють матеріал, частково буде поглинута матеріалом, частково розсіяна іIf we take K 4-0 (substrate material is absolutely black), and K.--1, then from expression (2) we have K-Ko. The other c part of the radiation with which the material is irradiated will be partly absorbed by the material, partly scattered and

Зо відбита в сторону поверхні пластини б з коефіцієнтом відбиття близьким до ідеального розсіювача. --Zo is reflected towards the surface of plate b with a reflection coefficient close to an ideal scatterer. --

Випромінювання, яке попало на поверхню пластини 6, буде відбито знову на матеріал 7 и після багаторазового відбиття між листом матеріалу 7 і поверхнею пластини б випромінювання через пристрій виділення випромінювання 11 попаде на фотоперетворювач 12. Значення світлового потоку (першого) випромінювання, « яке попало на фотоперетворювач 12 знаходиться по залежності (стр.47 6) |б|: - с Фі-лвдв- ях, З) ;» де Фу - значення світлового потоку першого випромінювання, яке попало на фотоперетворювач; е - основа натуральних логарифмів; - К - коефіцієнт поглинання матеріалу;The radiation that fell on the surface of the plate 6 will be reflected again on the material 7, and after multiple reflections between the sheet of material 7 and the surface of the plate b, the radiation through the radiation emitting device 11 will fall on the photoconverter 12. The value of the luminous flux of the (first) radiation "that fell on photoconverter 12 is located according to the dependence (p. 47 6) |b|: - with Fi-lvdvyah, Z) ;" where Fu is the value of the light flux of the first radiation that hit the photoconverter; e - base of natural logarithms; - K - absorption coefficient of the material;

Ху - сумарна товщина матеріалу, через яку пройшло перше випромінювання; о х - коефіцієнт пропуску яке має устрій виділення випромінювання в заданому діапазоні довжин хвиль. ка При повороті диску З на 1802 одночасно з ним повернеться і закріплене на ньому дзеркало 2, при цьому випромінювання від джерела 1, після відбиття від дзеркала 2 через отвір 5 у пластині 6 буде направлено на о матеріал 7. Частина випромінювання частково буде поглинута матеріалом, частково розсіяна і відбита в сторону с поверхні пластини 6 з коефіцієнтом відбиття близьким до ідеального розсіювана і буде нею відбита в сторону матеріалу 7. Інша частина пройде через матеріал 7 і попаде на поверхню пластини 8 з коефіцієнтом відбиття близьким до ідеального розсіювача і буде відбита нею в сторону матеріалу 7. Частина випромінювання буде поглинута матеріалом, частково розсіяна, а частина випромінювання яка пройшла попаде на поверхню пластини 6 з коефіцієнтом відбиття близьким до ідеального розсіювача і буде нею відбита в сторону контрольованого с матеріалу 7. Таким чином, буде проходити багаторазове поглинання та розсіяння випромінювання матеріалом 7.Hu - the total thickness of the material through which the first radiation passed; o x is the transmission coefficient of a device that emits radiation in a given range of wavelengths. ka When the disc C is rotated by 1802, the mirror 2 attached to it will turn simultaneously with it, and the radiation from the source 1, after reflection from the mirror 2 through the hole 5 in the plate 6, will be directed to the material 7. Part of the radiation will be partially absorbed by the material, partially scattered and reflected to the side of the surface of the plate 6 with a reflection coefficient close to the ideal scatterer and will be reflected by it towards the material 7. The other part will pass through the material 7 and fall on the surface of the plate 8 with a reflection coefficient close to the ideal scatterer and will be reflected by it in side of the material 7. Part of the radiation will be absorbed by the material, partially scattered, and the part of the radiation that passed will fall on the surface of the plate 6 with a reflection coefficient close to the ideal scatterer and will be reflected by it in the direction of the controlled material 7. Thus, multiple absorption and scattering will take place radiation by material 7.

Таке розміщення матеріалу між двома поверхнями з високим коефіцієнтом відбиття можна уявити собі, як матеріал який знаходиться на ідеально білій підкладки. Значення випромінювання яке відбито листом матеріалу бо на білій підкладки можна порахувати по залежності (3.28) наведеної Джадом |6) через коефіцієнт відбиття К/ ві- (-Коз нов. - вк пай-Но) бо Оскільки підкладка на якій розміщено матеріал, близька до ідеально білої основи, то можна прийняти щоThis placement of material between two surfaces with a high reflection coefficient can be imagined as a material that is on a perfectly white substrate. The value of radiation that is reflected by a sheet of material bo on a white substrate can be calculated from the dependence (3.28) given by Jad |6) through the reflection coefficient K/ vi- (-Koz nov. - vk pai-No) bo Since the substrate on which the material is placed is close to perfectly white base, then you can accept that

Ку-1, тоді із виразу (4) маємо К.-К.Ku-1, then from expression (4) we have K.-K.

Випромінювання яке пройшло матеріал 7 і відбивається поверхнями 6, 8 після багаторазового відбиття через устрій виділення випромінювання 11 попаде на фотоперетворювач 12. При цьому загальна товщина матеріалу, яка взаємодіє з цією частиною випромінювання буде дорівнювати х 5». Загальна товщина матеріалу, яка взаємодіє з частиною випромінювання яке відбивається поверхнею пластини 6 і контрольованим матеріалом дорівнює х/. Значення світлового потоку випромінювання (друге), яке попало на фотоперетворювач 12 знаходиться по залежності (стр.47 6) |б|:The radiation that has passed through the material 7 and is reflected by the surfaces 6, 8 after repeated reflection through the radiation allocation device 11 will fall on the photoconverter 12. At the same time, the total thickness of the material that interacts with this part of the radiation will be equal to x 5". The total thickness of the material that interacts with part of the radiation that is reflected by the surface of the plate 6 and the controlled material is equal to x/. The value of the luminous flux of radiation (the second), which fell on the photoconverter 12, is found according to the dependence (p. 47 6) |b|:

Фо -4Бе Ех; (5)Fo -4Be Ex; (5)

Знайдемо непрозорість матеріалу по залежності: 8 в- Фі Й тре, Й Ро (6)Let's find the opacity of the material depending on: 8 v- Fi Y tre, Y Ro (6)

Фі ояве кб орескх, де Ф» - значення світлового потоку другого випромінювання, яке попало на фотоперетворювач.Fi oyave kb oreskh, where F" is the value of the light flux of the second radiation that hit the photoconverter.

Беручи до уваги, що вираз да, при визначеному значенні хо може дорівнювати значенню відбиття для непрозорої стопи, тоді вираз ре-кк, -во і вираз (б) прийме вид виразу (1). Таким чином при витримані вищезгаданих вимог, непрозорість листа матеріалу, в тому чині, і який переміщується на діючому обладнані, може бути заміряна на наведеному пристрої. При повороті диску З на 902 випромінювання через діафрагму 14, яка закріплена на диску 3, отвір 15 буде відбито дзеркалами 13, 16, 17, пройде світлофільтр 11 і буде направлено на фотоперетворювач 12.Taking into account that the expression da, with a certain value of ho can be equal to the value of reflection for an opaque foot, then the expression re-kk, -vo and expression (b) will take the form of expression (1). Thus, if the above-mentioned requirements are met, the opacity of a sheet of material, as it is, and which is moved on the operating equipment, can be measured on the given device. When the disk C is rotated by 902, the radiation through the diaphragm 14, which is fixed on the disk 3, the hole 15 will be reflected by the mirrors 13, 16, 17, will pass through the light filter 11 and will be directed to the photoconverter 12.

Таким чином, за один оберт диску З від джерела 1 на фотоперетворювач 12 попадає три імпульси в) випромінювання. Фотоперетворювач 12 перетворює їх в імпульси напруги Ц, (ОО. Імпульси випромінювання ЦО, (дО підсилюються підсилювачем 18 и через управляє мий кодом атенюатор 19 попадають на вхід ПНЧ 20. З виходу ПНЧ 20 імпульси, частота яких Е" пропорційна миттєвому значенню сигналу ОО, (0), поступають на о 3о перший вхід блоку управління 21. На другий вхід блоку управління 21 поступають імпульси високої частоти Ед с першого виходу блока формування часових інтервалів 27. На третій, четвертий, п'ятий, шостий, сьомий та с восьмий входи блока управління 21 поступають сигнали управління ШО, ОО», Оз, Ю/, Ов, Ов з другого, третього, Га четвертого, п'ятого, шостого та сьомого виходив блока 26 з тривалістю, узгодженої з тривалістю переміщення дзеркала та діафрагми 14, розміщених на диску модулятора. Сигнал ОО. відповідає проходженню діафрагми 14 і.Thus, for one rotation of the disk C from the source 1 to the photoconverter 12, three pulses of c) radiation are received. The photoconverter 12 converts them into pulses of voltage Ц, (ОО. The radiation pulses ЦО, (доО) are amplified by the amplifier 18 and through the attenuator 19 controlled by the code, they enter the input of the PNP 20. From the output of the PNP 20, pulses whose frequency Е" is proportional to the instantaneous value of the signal ОО, (0), enter the first input of the control unit 21 at o 3o. The second input of the control unit 21 receives high-frequency pulses Ed from the first output of the time interval formation unit 27. The third, fourth, fifth, sixth, seventh and eighth inputs the control unit 21 receives the control signals SHO, OO", Oz, Yu/, Ov, Ov from the second, third, Ga, fourth, fifth, sixth and seventh outputs of the unit 26 with a duration consistent with the duration of the movement of the mirror and diaphragm 14, placed on the modulator disk. The OO signal corresponds to the passage of the aperture 14 and.

Зз5 проти дзеркала 13 и отвору 15. Сигнал 02 відповідає перекриттю пучка випромінювання непрозорої частини «-- диску, одразу після сигналу ШО. Сигнал Оз відповідає проходженню дзеркала 2 проти отвору 5. Сигнал ЦО, відповідає перекриттю отвору непрозорої частини диска одразу після сигналу О 3. Сигнал ОБ відповідає проходженню дзеркала 2 проти отвору 10. Сигнал Ов відповідає перекриттю отвору непрозорої частини диска одразу після проходження сигналу Ов. «Зз5 against mirror 13 and hole 15. Signal 02 corresponds to the overlap of the radiation beam of the opaque part of the disk immediately after the SHO signal. The Oz signal corresponds to the passing of mirror 2 against hole 5. The ЦО signal corresponds to the blocking of the hole of the opaque part of the disk immediately after the О signal 3. The OB signal corresponds to the passage of mirror 2 against hole 10. The Об signal corresponds to the blocking of the hole of the opaque part of the disk immediately after the passage of the Об signal. "

Передній фронт імпульсу 0. (який відповідає сигналу при відбиванні від дзеркал 13, 16, 17 - сигнал шщ с опору) сінхронізован імпульсом ОС з виходу блоку синхронізації 29. При наявності управляючого сигналу Ц 4, й імпульси з частотою Р, поступають з третього виходу блоку 21 на вхід додавання лічильника 23, при наявності «» управляючого імпульсу О» імпульси з частотою КЕ, поступають з четвертого виходу блоку 21 на вхід віднімання лічильника 23. К моменту закінчення сигналу ОО» на лічильнику 23 буде накоплене число Мод, пропорційне інтегралу енергії, яка прийнята фотоперетворювачем 12 на і-му циклу роботи модулюючого диска 3. - Таким чином для каналу опору к моменту закінчення сигналу ОО» в черговому циклі роботи модулюючого о диска З значення Мор знаходиться по залежності: ка 1, 1, 1, (8)The leading edge of the pulse 0. (which corresponds to the signal when reflected from the mirrors 13, 16, 17 - the signal shsh with resistance) is synchronized with the OS pulse from the output of the synchronization unit 29. In the presence of the control signal Ц 4, and pulses with the frequency Р, arrive from the third output block 21 to the addition input of counter 23, in the presence of "" control pulse О", pulses with frequency KE are supplied from the fourth output of block 21 to the subtraction input of counter 23. By the end of the signal ОО" on counter 23, the number of Mod proportional to the energy integral will be accumulated , which is received by the photoconverter 12 on the i-th cycle of the modulating disc 3. - Thus, for the resistance channel at the moment of the end of the signal OO" in the next cycle of the modulating o disc Z, the Mor value is found according to the dependence: ka 1, 1, 1, (8 )

Меп - КОХ ну, хі -ІкОора-к Їх ко ї, 1, ї,Mep - KOH well, hi -IkOora-k Their ko i, 1, i,

ІЧ е) де К - крутизна перетворення блоку ПНЧУЧ (наприклад Гц/В);IR e) where K is the steepness of the transformation of the PNCH block (for example, Hz/V);

Ю, - - інтервал часу який дорівнює по тривалості періоду існування сигналу 0.4;Y, - - a time interval which is equal to the duration of the period of existence of the signal 0.4;

МН, Ь - інтервал часу який дорівнює по тривалості періоду існування сигналу О»;МН, б - a time interval which is equal in duration to the period of existence of the signal О";

Ор - напруга фонового зміщення. с Тривалість сигналу ОО; дорівнює тривалості сигналу О».Or is the background bias voltage. c Duration of the OO signal; is equal to the duration of signal O".

Код Моп в момент часу їй поступає на вхід блоку зрівняння 25, де зрівнюється з кодом еталонного значення Мо. В залежності від результатів зрівняння з першого ("більше") чи другого ("менше") виходів блоку бо 25 сигнал управління ШО. чи 0. поступають на дванадцятий чи тринадцятий вході блоку управління 21. Якщо в результаті зрівняння формується сигнал ,., то за час тривалості цього сигналу послідовність високочастотних імпульсів з частотою Ро поступає одночасно на входи додавання реверсивних лічильників 22, 24, збільшуючи одержиме вказаних лічильників. В момент часу, коли код на виході лічильника 23 дорівнює коду еталонного значення Мо, сигнал ОЦ, закінчується і зупиняє зміну коду, управляючого атенюатора 19. Якщо в результаті 65 Зрівняння формується сигнал О ., то за час тривалості цього сигналу послідовність високочастотних імпульсів з частотою Ро поступає одночасно на входи віднімання реверсивних лічильників 22 та 24, зменшуючи одержиме згаданих лічильників. В момент часу, коли код на виході лічильника 23 дорівнює коду еталонного значення Мо, сигнал ШО. закінчується і зупиняє зміну коду, управляючого атенюатора 19. Таким чином, за тривалість часу наявності сигналу М, (чи ОЦ), виконується корекція коефіцієнта передачі атенюатора 19, підтримуючи стабільним рівень вихідного опорного сигналу. При наявності сигналу управління и з, імпульси з частотою Е, поступають з першого виходу блока 21 на вхід додавання лічильника 22, а при наявності сигналу управління ШО /, імпульси з частотою Р, поступають на вхід віднімання лічильника 22. К часу закінчення сигналу О; у лічильнику 22 буде накоплене значення Мо, пропорційне інтегралу енергії, яке прийнято фотоперетворювачем 12 і еквівалентне відбиттю Ко від непрозорої стопи матеріалу. Значення Мо» знаходиться аналогічно залежності (8).At the moment of time, the Mop code is fed to the input of the equalization block 25, where it is equalized with the code of the Mo reference value. Depending on the results of equalization from the first ("more") or second ("less") outputs of the block 25, the SHO control signal. or 0. are fed to the twelfth or thirteenth input of the control unit 21. If as a result of equalization, a signal ,., is formed, then during the duration of this signal, a sequence of high-frequency pulses with a frequency of Ро is simultaneously fed to the inputs of the addition of the reversing counters 22, 24, increasing the value of the indicated counters. At the moment when the code at the output of the counter 23 is equal to the code of the reference value Mo, the signal ОЦ ends and stops the change of the code controlling the attenuator 19. If the signal О is formed as a result of 65 Equalization, then during the duration of this signal, a sequence of high-frequency pulses with a frequency Ro simultaneously enters the subtraction inputs of the reversible counters 22 and 24, reducing the load of the mentioned counters. At the time when the code at the output of the counter 23 is equal to the code of the reference value Mo, the signal SHO. ends and stops the change of the code controlling the attenuator 19. Thus, for the duration of the presence of the signal M, (or OC), the correction of the transmission coefficient of the attenuator 19 is performed, maintaining a stable level of the output reference signal. In the presence of the control signal и z, pulses with frequency E are sent from the first output of block 21 to the addition input of counter 22, and in the presence of the control signal ШО /, pulses with frequency P are sent to the subtraction input of counter 22. At the time of the end of the signal O; the counter 22 will have an accumulated value of Mo, proportional to the energy integral, which is received by the photoconverter 12 and is equivalent to the reflection of Ko from the opaque foot of the material. The value of Mo" is similar to dependence (8).

Після закінчення сигналу 0 4 з шини 26 може бути зчитано сигнал, якій дорівнює відношенню текучого значення Ко до опорного сигналу.After the end of the signal 0 4, a signal equal to the ratio of the current value Ko to the reference signal can be read from bus 26.

При наявності сигналу управління Ш 5, імпульси з частотою КЕ, поступають з п'ятого виходу блока 21 на вхід додавання лічильника 24, а при наявності сигналу управління Ш б, імпульси з частотою ЕР, поступають на вхід віднімання лічильника 24. К часу закінчення сигналу ОО 6 у лічильнику 24 буде накоплене значення М о 72 пропорційне інтегралу енергії, яке прийнято фотоперетворювачем 21 і еквівалентне відбиттю К о від одного листа матеріалу який розміщено на чорній підкладки. Значення М о знаходиться аналогічно залежності (2).In the presence of the control signal Ш 5, pulses with the frequency KE are supplied from the fifth output of the block 21 to the addition input of the counter 24, and in the presence of the control signal Ш b, pulses with the frequency ЕР are supplied to the subtraction input of the counter 24. By the time the signal ends ОО 6 in the counter 24 will have an accumulated value of М о 72 proportional to the energy integral, which is received by the photoconverter 21 and is equivalent to the reflection Ко from one sheet of material placed on a black substrate. The value of M o is similar to dependence (2).

Після закінчення сигналу І 65 шини 28 може бути зчитано сигнал, який дорівнює відношенню текучих значеньAfter the end of signal I 65 of bus 28, a signal equal to the ratio of current values can be read

Ко/Кос і характеризує непрозорість О матеріалу.Ko/Kos and characterizes the opacity of the material.

Джерела інформації: 720 1. Соог РНАувісв ог Іпдавігі (весопіа Еайіоп)/Зосіебу ої ОЮуеге апа соіоцгівів, 1977, (перевод с английского), Москва, "Лотос", 2002, 580с, (с.76,77). 2. Фотометр білості та кольорових характеристик "Колір", ТУУ 19021476.002-2001, ВАТ "Трігла". 3. Галактионова Б.В., Иванова Е.И., Сьірников Ю.П. и др. Обьективная оценка просвета бумаги. ИзвестияSources of information: 720 1. Soog RNAuvisv og Ipdavigi (vesopia Eaiiop)/Zosiebu oi Oyuuge apa soiotsgiviv, 1977, (translation from English), Moscow, "Lotos", 2002, 580p, (p.76,77). 2. Photometer of whiteness and color characteristics "Color", TUU 19021476.002-2001, OJSC "Trigla". 3. Galaktionova B.V., Ivanova E.I., Siirnikov Yu.P. and others. Objective assessment of paper clearance. Izvestia

С-П ЛТА, С-Пб., 1995, с.117-131. 4. І8О 2471 "Бумага и картон. Определение непрозрачности бумаги. Метод диффузного отражения", третье щ- издание, 1998. 5. ГОСТ 8874-80 "Бумага. Метод определения прозрачности и непрозрачности". Издательство стандартов, 1980. со 6. Д. Джадд, Г. Вьішецки, Цвет в науке и технике. Из-во "МИР", М., 1978, Перевод с английского под ред.S-P LTA, S-Pb., 1995, p. 117-131. 4. I8O 2471 "Paper and cardboard. Determination of paper opacity. Method of diffuse reflection", third edition, 1998. 5. GOST 8874-80 "Paper. Method of determination of transparency and opacity". Standard Publishing House, 1980. page 6. D. Judd, G. Vyshetsky, Color in science and technology. Из-во "MIR", M., 1978, Translated from English under the editorship.

Д.Т.Н.Артюшина Л.Ф., 592с. с 7. "Раріег Тесппоіоду апа Іпдавігу" т. 27, Мо1, фев. 1986. сч соD.T.N. Artyushina L.F., 592 p. p. 7. "Rarieg Tesppoiodu apa Ipdavigu" vol. 27, Mo1, Feb. 1986. School of So

Claims

The formula of the invention 35 h-

1. A device for measuring the opacity of sheet materials, containing an optically coupled radiation source, a modulator in the form of a disc, a plate whose surface reflectance is close to that of a completely black body, the surface of which is turned to the material, a device for releasing radiation in a given length range waves, a photoconverter, the output of which is connected to the series-connected previous 7 amplifier, the measuring unit and the measuring device, the synchronization unit, the input of which is connected to the disk, and the output is connected to the second input of the measuring unit, which differs in that , that the device is equipped "with a mirror light distribution system, which is located on the modulator, the second plate, the surface of which has a reflection coefficient close to the absolute diffuser and it is turned to the material, and the first plate has an additional surface, the reflection coefficient of which is close to the absolute diffuser, and the plates - with 75 located with a gap between them for the possibility of transfer displacement of the material, and holes are made in the second plate, and the first hole is placed above the surface of the first plate, the reflection coefficient of which is close to (9) of an absolute black body, the second is placed above the surface, the reflection coefficient of which is close to the absolute UV scatterer, the third is placed above both surfaces, and the photoconverter is placed above it.

2. The device according to claim 1, which differs in that between the source and the photoconverter there is additionally a ko 50 mirror projection system, part of which is placed on the modulator disc, and part between the disc and the photoconverter. p. 60 b5