SU1122114A1 - Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter - Google Patents
Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter Download PDFInfo
- Publication number
- SU1122114A1 SU1122114A1 SU833635530A SU3635530A SU1122114A1 SU 1122114 A1 SU1122114 A1 SU 1122114A1 SU 833635530 A SU833635530 A SU 833635530A SU 3635530 A SU3635530 A SU 3635530A SU 1122114 A1 SU1122114 A1 SU 1122114A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- semiconductor
- light
- plate
- ionizing radiation
- sensor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
гЗ.gz
Изобретение относитс к областиThis invention relates to the field of
дозиметрии ионизирующих излучений, а более конкретно, к полупроводниковым датчикам дозиметров..dosimetry of ionizing radiation, and more specifically, to semiconductor sensors of dosimeters ..
Известны полупроводниковые датчики дозиметров, содержащие полупроводник ковую пластину и сцинтилл тор, установленные в светонепроницаемом корпусе .Known semiconductor sensors of dosimeters containing a semiconductor forging plate and a scintillator installed in an opaque housing.
Недостатком таких датчиков вл етс сложность их калибровки, что св зано с необходимостью использовани источников излучени .в любых случа х контрол настройки одозиметра. The disadvantage of such sensors is the complexity of their calibration, which is associated with the need to use radiation sources. In any case of monitoring the adjustment of the odosimeter.
Наиболее близким техническим решением вл етс полупроводниковьй датчик дозиметра ионизирующего излучени , содержащий светонепроницаемый корпус, в котором установлены полупроводниковьм преобразователь и источник света.The closest technical solution is the semiconductor sensor of the ionizing radiation dosimeter, which contains a light-proof housing in which the semiconductor transducer and the light source are installed.
Работа известного устройства основана на свойстве по 1упроводниковых преобразователей излучени измен ть свою чувствительность к видимому свету пропорционально изменению чувствительности к ионизирующему излучению, что позвол ет путем поверки чувствительности полупроводникового преобразовател к видимому свету контролировать и регулировать чувствительность преобразовател к ионизирующему излучению .The operation of the known device is based on the property of 1conductor radiation converters to change its sensitivity to visible light in proportion to the change in sensitivity to ionizing radiation, which allows you to control and adjust the sensitivity of the converter to ionizing radiation by checking the sensitivity of the semiconductor converter to visible light.
Недостатком известного устройства вл ютс его достаточно низкие з-начительные габариты, что св зано с размещением источника света в корпусе датчика. Это требует использовани дополнительного пространства дл установки самого источника и рд формировани пути распространени света дл получени более или менее равномерного освещени полупроводникового преобразовател .A disadvantage of the known device is its rather low z-nuclei dimensions, which is associated with the placement of the light source in the sensor housing. This requires the use of additional space for the installation of the source itself and the formation of a path for the propagation of light to obtain more or less uniform illumination of the semiconductor converter.
Цель изобретени заключаетс в уменьшении габаритов датчика и обеспечении условий дл световой калибровки .The purpose of the invention is to reduce the size of the sensor and provide conditions for light calibration.
Поставленна цель достигаетс темThe goal is achieved by
что в датчике дозиметра ионизирующего излучени , содержащем светонепроницаемьй корпус, в котором установлены полупроводниковы преобразователь, и источник света, полупроводниковьй датчик выполнен в виде пластины с двусторонней чувствительностью, в корпусе дополнительно установлена светорассеивающа пластина, одной стороной состыкованна с полупроводниковой пластиной и снабженна со всех остальных сторон отражающим покрытием, причем светорассеивающа пластина оптически св зана с помощью волоконного световода с источником света, установленным вне корпуса датчика.that in the sensor of the ionizing radiation dosimeter, which contains an opaque body, in which a semiconductor transducer is installed, and a light source, the semiconductor sensor is made in the form of a plate with two-sided sensitivity, a light-diffusing plate is additionally installed in the body, docked with the semiconductor plate and provided on all other sides a reflective coating, the light scattering plate being optically coupled by means of a fiber light guide with a light source and placed outside the sensor housing.
На чертеже показан полупроводниковый датчик дозиметра ионизирующего излучени , он содержит светонепроницаемый корпус 1, в котором установлены полупроводниковый преобразователь 2 i выполненный в виде пластины с двусторонней чувствительностью, сцинтилл тор 3, расположенный перед рабочей поверхностью пластины полупроводникового преобразовател 2, и светорассеивающа пластина 4, состыкованна од- ной стороной с задней поверхностью пластины полупроводникового преобразовател 2. Светорассеивающа пластина Л оптически св зана с помощью волоконного световода 5 с источником света 6. Со всех сторон, кроме состыкованной стороны, светорассеивающа .пластина 4 снабжена отражающим покрытием 7. Источник света 6 установлен вне корпуса 1 датчика.The drawing shows a semiconductor sensor of an ionizing radiation dosimeter, it contains a light-tight housing 1, in which a semiconductor converter 2 i is made in the form of a plate with two-sided sensitivity, a scintillator 3 located in front of the working surface of the plate of the semiconductor converter 2, and a light scattering plate 4 joined by one - side with the back surface of the plate of the semiconductor converter 2. The light scattering plate L is optically coupled with The optical fiber 5 with the light source 6. On all sides, except the butted side, the light-diffusing plate 4 is provided with a reflective coating 7. The light source 6 is installed outside the sensor housing 1.
Светова поверка полупроводникового датчика осуществл етс следующим образом,Light verification of a semiconductor sensor is performed as follows.
В услови х отсутстви ионизирующего излучени включает источник света 6. От источника свет 6 по световоду 5 поступает в объем светорассеивающей пластины 4. Там он претерпевает многократные отражени от покрыти 7 и равномерно распредел етс по объему , выход из него только со стороны пластины 4, состыкованной с пластиной полупроводникового преобразовател 2, Измер сигнал детекторного преобразовател , можно судить о чувствительности датчика к ионизирующему излучению без использовани соответствующих радиационных источников.In the absence of ionizing radiation, it includes the light source 6. From the light source 6, the light guide 5 enters the volume of the light diffusing plate 4. There it undergoes multiple reflections from the coating 7 and is uniformly distributed throughout the volume, leaving it only on the side of the plate 4 joined with a semiconductor converter plate 2, Measuring the signal of the detector converter, it is possible to judge the sensitivity of the sensor to ionizing radiation without using appropriate radiation sources.
Кроме того, достоинством решени вл етс то, что свет поступает на полупроводниковую пластину равномерно , не требуетс формирование путей распространени света внутри корпуса Указанный фактор и установка источника света 6 вне корпуса 1 позвол ет уменьшить габариты датчика в 4-5 раз.In addition, the advantage of the solution is that the light enters the semiconductor wafer evenly, the formation of light propagation paths inside the housing is not required. This factor and the installation of the light source 6 outside the housing 1 reduces the size of the sensor by 4-5 times.
Таким образом, описанное техническое решение обеспечивает создание 3 малогабаритных полупроводниковых датчиков дозиметров ионизирующего 1122114 , излучени со средствами световой поверки.Thus, the described technical solution provides the creation of 3 compact semiconductor sensors of ionizing dosimeters 1122114, radiation with means of light verification.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833635530A SU1122114A1 (en) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833635530A SU1122114A1 (en) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1122114A1 true SU1122114A1 (en) | 1988-05-30 |
Family
ID=21079328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833635530A SU1122114A1 (en) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1122114A1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5990485A (en) * | 1996-11-25 | 1999-11-23 | Agfa-Gevaert, N.V. | Label for certifying an inspection by penetrating radiation |
US6028314A (en) * | 1996-08-01 | 2000-02-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for correcting image errors in an x-ray image, and x-ray diagnostic apparatus and solid-state radiation detector operating in accordance with the method |
WO2006018766A3 (en) * | 2004-08-13 | 2006-04-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Timing calibration for a tof-pet scanner |
-
1983
- 1983-08-12 SU SU833635530A patent/SU1122114A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР 198459, кл. Н 05 С 1/42, 1966. Авторское свидетельство СССР , кл. G 01 Т 1/24, 1963. 23 1 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6028314A (en) * | 1996-08-01 | 2000-02-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for correcting image errors in an x-ray image, and x-ray diagnostic apparatus and solid-state radiation detector operating in accordance with the method |
US5990485A (en) * | 1996-11-25 | 1999-11-23 | Agfa-Gevaert, N.V. | Label for certifying an inspection by penetrating radiation |
WO2006018766A3 (en) * | 2004-08-13 | 2006-04-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Timing calibration for a tof-pet scanner |
US7778787B2 (en) | 2004-08-13 | 2010-08-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Timing calibration for TOF-PET scanner |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6058822B2 (en) | Optical measuring device for the concentration of the component to be measured | |
KR840009130A (en) | UV intensity tester | |
US4123172A (en) | Comparison type colorimeter | |
JP2670829B2 (en) | Radiometer | |
SE8301629D0 (en) | FIBEROPTICAL LUMINISCENSITY METHOD FOR SEATING THE LIGHT TRANSMISSION IN AN OPTICAL SENSOR | |
GB1527728A (en) | Measuring radiation absorption | |
GB1561421A (en) | Smoke sensor | |
JPH02141629A (en) | Photo detector | |
JP2899651B2 (en) | Light transmission type spectrometer | |
US5359406A (en) | Luminous flux measuring apparatus which calculates spectral efficiencies for error compensation | |
US2451501A (en) | Specular reflectometer | |
JPH01253634A (en) | Reflection density measuring apparatus | |
SU1122114A1 (en) | Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter | |
US20160231439A1 (en) | Device and method for detection of radioactive radiation | |
JPS61259188A (en) | X-ray detector | |
US3809911A (en) | Method of measuring optical density | |
US3745566A (en) | Optical radiation detector | |
EP0467804B1 (en) | Optical detector for equipment for measuring a substance in a liquid | |
SU1125788A1 (en) | Meter of parameters of x-radiation or gamma-radiation | |
EP0223416A2 (en) | Determination of heat transfer rates | |
SU1649690A1 (en) | For area of x-ray unit diaphragm opening | |
JPH0112186Y2 (en) | ||
JPS55149023A (en) | Infrared ray spectroscopic method | |
JPS5990032A (en) | Device for measuring density, concentration, specific gravity or the like of liquid | |
SU1245970A1 (en) | Installation for diffraction investigation of biological objects |