SU1122114A1 - Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter - Google Patents

Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter Download PDF

Info

Publication number
SU1122114A1
SU1122114A1 SU833635530A SU3635530A SU1122114A1 SU 1122114 A1 SU1122114 A1 SU 1122114A1 SU 833635530 A SU833635530 A SU 833635530A SU 3635530 A SU3635530 A SU 3635530A SU 1122114 A1 SU1122114 A1 SU 1122114A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
semiconductor
light
plate
ionizing radiation
sensor
Prior art date
Application number
SU833635530A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Ф.И. Глезин
Г.М. Григорьева
Г.С. Далецкий
К.Н. Звягина
Р.С. Мильштейн
М.В. Попов
Ю.Я Харон
Original Assignee
Московский Научно-Исследовательский Рентгено-Радиологический Институт
Всесоюзный Научно-Исследовательский Проектно-Конструкторский И Технологический Институт Источников Тока
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Научно-Исследовательский Рентгено-Радиологический Институт, Всесоюзный Научно-Исследовательский Проектно-Конструкторский И Технологический Институт Источников Тока filed Critical Московский Научно-Исследовательский Рентгено-Радиологический Институт
Priority to SU833635530A priority Critical patent/SU1122114A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1122114A1 publication Critical patent/SU1122114A1/en

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

гЗ.gz

Изобретение относитс  к областиThis invention relates to the field of

дозиметрии ионизирующих излучений, а более конкретно, к полупроводниковым датчикам дозиметров..dosimetry of ionizing radiation, and more specifically, to semiconductor sensors of dosimeters ..

Известны полупроводниковые датчики дозиметров, содержащие полупроводник ковую пластину и сцинтилл тор, установленные в светонепроницаемом корпусе .Known semiconductor sensors of dosimeters containing a semiconductor forging plate and a scintillator installed in an opaque housing.

Недостатком таких датчиков  вл етс  сложность их калибровки, что св зано с необходимостью использовани  источников излучени  .в любых случа х контрол  настройки одозиметра. The disadvantage of such sensors is the complexity of their calibration, which is associated with the need to use radiation sources. In any case of monitoring the adjustment of the odosimeter.

Наиболее близким техническим решением  вл етс  полупроводниковьй датчик дозиметра ионизирующего излучени , содержащий светонепроницаемый корпус, в котором установлены полупроводниковьм преобразователь и источник света.The closest technical solution is the semiconductor sensor of the ionizing radiation dosimeter, which contains a light-proof housing in which the semiconductor transducer and the light source are installed.

Работа известного устройства основана на свойстве по 1упроводниковых преобразователей излучени  измен ть свою чувствительность к видимому свету пропорционально изменению чувствительности к ионизирующему излучению, что позвол ет путем поверки чувствительности полупроводникового преобразовател  к видимому свету контролировать и регулировать чувствительность преобразовател  к ионизирующему излучению .The operation of the known device is based on the property of 1conductor radiation converters to change its sensitivity to visible light in proportion to the change in sensitivity to ionizing radiation, which allows you to control and adjust the sensitivity of the converter to ionizing radiation by checking the sensitivity of the semiconductor converter to visible light.

Недостатком известного устройства  вл ютс  его достаточно низкие з-начительные габариты, что св зано с размещением источника света в корпусе датчика. Это требует использовани  дополнительного пространства дл  установки самого источника и рд  формировани  пути распространени  света дл  получени  более или менее равномерного освещени  полупроводникового преобразовател .A disadvantage of the known device is its rather low z-nuclei dimensions, which is associated with the placement of the light source in the sensor housing. This requires the use of additional space for the installation of the source itself and the formation of a path for the propagation of light to obtain more or less uniform illumination of the semiconductor converter.

Цель изобретени  заключаетс  в уменьшении габаритов датчика и обеспечении условий дл  световой калибровки .The purpose of the invention is to reduce the size of the sensor and provide conditions for light calibration.

Поставленна  цель достигаетс  темThe goal is achieved by

что в датчике дозиметра ионизирующего излучени , содержащем светонепроницаемьй корпус, в котором установлены полупроводниковы преобразователь, и источник света, полупроводниковьй датчик выполнен в виде пластины с двусторонней чувствительностью, в корпусе дополнительно установлена светорассеивающа  пластина, одной стороной состыкованна  с полупроводниковой пластиной и снабженна  со всех остальных сторон отражающим покрытием, причем светорассеивающа  пластина оптически св зана с помощью волоконного световода с источником света, установленным вне корпуса датчика.that in the sensor of the ionizing radiation dosimeter, which contains an opaque body, in which a semiconductor transducer is installed, and a light source, the semiconductor sensor is made in the form of a plate with two-sided sensitivity, a light-diffusing plate is additionally installed in the body, docked with the semiconductor plate and provided on all other sides a reflective coating, the light scattering plate being optically coupled by means of a fiber light guide with a light source and placed outside the sensor housing.

На чертеже показан полупроводниковый датчик дозиметра ионизирующего излучени , он содержит светонепроницаемый корпус 1, в котором установлены полупроводниковый преобразователь 2 i выполненный в виде пластины с двусторонней чувствительностью, сцинтилл тор 3, расположенный перед рабочей поверхностью пластины полупроводникового преобразовател  2, и светорассеивающа  пластина 4, состыкованна  од- ной стороной с задней поверхностью пластины полупроводникового преобразовател  2. Светорассеивающа  пластина Л оптически св зана с помощью волоконного световода 5 с источником света 6. Со всех сторон, кроме состыкованной стороны, светорассеивающа  .пластина 4 снабжена отражающим покрытием 7. Источник света 6 установлен вне корпуса 1 датчика.The drawing shows a semiconductor sensor of an ionizing radiation dosimeter, it contains a light-tight housing 1, in which a semiconductor converter 2 i is made in the form of a plate with two-sided sensitivity, a scintillator 3 located in front of the working surface of the plate of the semiconductor converter 2, and a light scattering plate 4 joined by one - side with the back surface of the plate of the semiconductor converter 2. The light scattering plate L is optically coupled with The optical fiber 5 with the light source 6. On all sides, except the butted side, the light-diffusing plate 4 is provided with a reflective coating 7. The light source 6 is installed outside the sensor housing 1.

Светова  поверка полупроводникового датчика осуществл етс  следующим образом,Light verification of a semiconductor sensor is performed as follows.

В услови х отсутстви  ионизирующего излучени  включает источник света 6. От источника свет 6 по световоду 5 поступает в объем светорассеивающей пластины 4. Там он претерпевает многократные отражени  от покрыти  7 и равномерно распредел етс  по объему , выход  из него только со стороны пластины 4, состыкованной с пластиной полупроводникового преобразовател  2, Измер   сигнал детекторного преобразовател , можно судить о чувствительности датчика к ионизирующему излучению без использовани  соответствующих радиационных источников.In the absence of ionizing radiation, it includes the light source 6. From the light source 6, the light guide 5 enters the volume of the light diffusing plate 4. There it undergoes multiple reflections from the coating 7 and is uniformly distributed throughout the volume, leaving it only on the side of the plate 4 joined with a semiconductor converter plate 2, Measuring the signal of the detector converter, it is possible to judge the sensitivity of the sensor to ionizing radiation without using appropriate radiation sources.

Кроме того, достоинством решени   вл етс  то, что свет поступает на полупроводниковую пластину равномерно , не требуетс  формирование путей распространени  света внутри корпуса Указанный фактор и установка источника света 6 вне корпуса 1 позвол ет уменьшить габариты датчика в 4-5 раз.In addition, the advantage of the solution is that the light enters the semiconductor wafer evenly, the formation of light propagation paths inside the housing is not required. This factor and the installation of the light source 6 outside the housing 1 reduces the size of the sensor by 4-5 times.

Таким образом, описанное техническое решение обеспечивает создание 3 малогабаритных полупроводниковых датчиков дозиметров ионизирующего 1122114 , излучени  со средствами световой поверки.Thus, the described technical solution provides the creation of 3 compact semiconductor sensors of ionizing dosimeters 1122114, radiation with means of light verification.

Claims (1)

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ДАТЧИК ДОЗИМЕТРА ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ, содержащий светонепроницаемый корпус, в котором установлен полупроводниковый преобразователь, и источник света, отличающийся тем, что, с целью уменьшения габаритов .. датчика и обеспечения условий для световой калибровки, полупроводниковый преобразователь выполнен в виде пластины с двусторонней чувствительностью, в корпусе дополнительно установлена светорассеивающая пластина, одной стороной состыкованная с полупроводниковой пластиной и снабженная со всех остальных сторон отражающим покрытием, причем светорассеивающая пластина оптически связана с помощью волоконного световода с источником света, установленным вне корпуса датчика.SEMICONDUCTOR SENSOR OF THE IONIZING RADIATION DOSIMETER, comprising a lightproof housing in which a semiconductor converter is installed, and a light source, characterized in that, in order to reduce the dimensions of the sensor and provide conditions for light calibration, the semiconductor converter is made in the form of a plate with two-sided sensitivity, in the housing is additionally equipped with a diffuser plate, one side docked with a semiconductor plate and provided on all other sides and a reflective coating, the light scattering plate being optically coupled by means of a fiber light guide to a light source mounted outside the sensor housing. .«SU 1122114. "SU 1122114
SU833635530A 1983-08-12 1983-08-12 Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter SU1122114A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833635530A SU1122114A1 (en) 1983-08-12 1983-08-12 Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833635530A SU1122114A1 (en) 1983-08-12 1983-08-12 Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1122114A1 true SU1122114A1 (en) 1988-05-30

Family

ID=21079328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833635530A SU1122114A1 (en) 1983-08-12 1983-08-12 Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1122114A1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5990485A (en) * 1996-11-25 1999-11-23 Agfa-Gevaert, N.V. Label for certifying an inspection by penetrating radiation
US6028314A (en) * 1996-08-01 2000-02-22 Siemens Aktiengesellschaft Method for correcting image errors in an x-ray image, and x-ray diagnostic apparatus and solid-state radiation detector operating in accordance with the method
WO2006018766A3 (en) * 2004-08-13 2006-04-20 Koninkl Philips Electronics Nv Timing calibration for a tof-pet scanner

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР 198459, кл. Н 05 С 1/42, 1966. Авторское свидетельство СССР , кл. G 01 Т 1/24, 1963. 23 1 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6028314A (en) * 1996-08-01 2000-02-22 Siemens Aktiengesellschaft Method for correcting image errors in an x-ray image, and x-ray diagnostic apparatus and solid-state radiation detector operating in accordance with the method
US5990485A (en) * 1996-11-25 1999-11-23 Agfa-Gevaert, N.V. Label for certifying an inspection by penetrating radiation
WO2006018766A3 (en) * 2004-08-13 2006-04-20 Koninkl Philips Electronics Nv Timing calibration for a tof-pet scanner
US7778787B2 (en) 2004-08-13 2010-08-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Timing calibration for TOF-PET scanner

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6058822B2 (en) Optical measuring device for the concentration of the component to be measured
KR840009130A (en) UV intensity tester
US4123172A (en) Comparison type colorimeter
JP2670829B2 (en) Radiometer
SE8301629D0 (en) FIBEROPTICAL LUMINISCENSITY METHOD FOR SEATING THE LIGHT TRANSMISSION IN AN OPTICAL SENSOR
GB1527728A (en) Measuring radiation absorption
GB1561421A (en) Smoke sensor
JPH02141629A (en) Photo detector
JP2899651B2 (en) Light transmission type spectrometer
US5359406A (en) Luminous flux measuring apparatus which calculates spectral efficiencies for error compensation
US2451501A (en) Specular reflectometer
JPH01253634A (en) Reflection density measuring apparatus
SU1122114A1 (en) Semiconductor transducer for ionizing radiation dosimeter
US20160231439A1 (en) Device and method for detection of radioactive radiation
JPS61259188A (en) X-ray detector
US3809911A (en) Method of measuring optical density
US3745566A (en) Optical radiation detector
EP0467804B1 (en) Optical detector for equipment for measuring a substance in a liquid
SU1125788A1 (en) Meter of parameters of x-radiation or gamma-radiation
EP0223416A2 (en) Determination of heat transfer rates
SU1649690A1 (en) For area of x-ray unit diaphragm opening
JPH0112186Y2 (en)
JPS55149023A (en) Infrared ray spectroscopic method
JPS5990032A (en) Device for measuring density, concentration, specific gravity or the like of liquid
SU1245970A1 (en) Installation for diffraction investigation of biological objects