Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Інститут Фізики Напівпровідників Ан України, Институт физики полупроводников АН УкраиныfiledCriticalІнститут Фізики Напівпровідників Ан України
Priority to UA4340110ApriorityCriticalpatent/UA11658A1/uk
Publication of UA11658A1publicationCriticalpatent/UA11658A1/uk
Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like
(AREA)
Abstract
Винахід відноситься до методів контролю. Спосіб оснований на вимірюванні електропровідності, коефіцієнта Холла в слабкому магнітному полі і в залежності від коефіцієнту Холла від величини магнітного поля.
Vorrichtung zur bilderzeugung mittels magnetischer kernresonanz, verfahren zur korrektur der inhomogenitaet und fabrikationsverfahren von in der vorrichtung angewendeten magneten.