TWM645555U - 斜向取像之物件取像裝置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 49
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims abstract description 34
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
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Abstract
一種斜向取像之物件取像裝置,包含有:一基座;一橫移架;一攝影單元,具有一攝影架、一攝影機以及一攝影架驅動器,該攝影機可升降地設於該橫移架,其取像方向相對於該平面呈傾斜;以及一光源單元,具有一光源架、一光源以及一光源架驅動器,該光源可升降地設於該橫移架。將一待取像物置於一透明料盤上,並使該攝影機相對位於該透明料盤上方,該光源係位於該透明料盤下方,該光源所發出的光係穿透該透明料盤而照射於該透明料盤上的該待取像物,該攝影機係對該透明料盤上的該待取像物取像。
Description
本創作係與檢測物件之取像技術有關,特別是指一種斜向取像之物件取像裝置。
我國創作第I690704號專利,揭露了一種柱狀元件外觀檢測設備,此先前技術主要係針對柱狀元件的外觀來進行檢測,其主要以多個取像裝置來分別對柱狀元件的各個角度取像,進而達到對柱狀元件的外觀檢測的效果。
然而,此案雖然設置了多個取像裝置來以各種角度取像,但由於其主要為針對外部輪廓的取像,因此無法做到對螺帽內部的螺紋取像的效果。而且,要對螺帽內部的螺紋取像,也不能在螺帽平置時直接由正上方取像,否則仍然無法取得螺紋的影像。
因此,對於中空的待檢測物的檢測,需要有適合的檢測取像技術來進行檢測,這是現有技術未見的。
本創作之主要目的即在於提出一種斜向取像之物件取像裝置,其可利用斜向取像的技術來對待取像物進行取像,以利後續檢測之用,即使待取像物為上下貫穿的中空物件,仍能對其內部進行取像。
為了達成上述目的,本創作提出一種斜向取像之物件取像裝置,包含有:一基座,用以設置於一平面;一橫移架,設於該基座,受一橫移驅動器的驅動來相對於該基座橫移;一攝影單元,具有一攝影架、一攝影機以及一攝影架驅動器,該攝影架可升降地設於該橫移架,並藉由該攝影架驅動器來驅動該攝影架升降,該攝影機設於該攝影架,且其取像方向相對於該平面不平行也不垂直而相夾一預定角度;以及一光源單元,具有一光源架、一光源以及一光源架驅動器,該光源架可升降地設於該橫移架,並藉由該光源架驅動器來驅動該光源架升降,該光源設於該攝影架;其中,該攝影機與該光源之間係相隔一預定距離,而供一透明料盤置入於該攝影機與該光源之間,該透明料盤係用以放置一待取像物,該攝影機相對位於該透明料盤上方,而該光源係位於該透明料盤下方,該光源所發出的光係穿透該透明料盤而照射於該透明料盤上的該待取像物,該攝影機係對該透明料盤上的該待取像物取像。
藉此,本創作利用斜向取像的技術來對待取像物進行取像,以利後續檢測之用,即使待取像物為上下貫穿的中空物件,仍能對其內部進行取像。
10:斜向取像之物件取像裝置
11:基座
21:橫移架
22:橫移驅動器
31:攝影單元
32:攝影架
34:攝影機
341:攝影旋轉馬達
36:攝影架驅動器
41:光源單元
42:光源架
44:光源
46:光源架驅動器
91:機台
92:透明料盤
10’:斜向取像之物件取像裝置
42’:光源架
44’:光源
48’:光源旋轉馬達
49’:光源橫移馬達
92’:透明料盤
99:待取像物
圖1係本創作第一較佳實施例之立體圖。
圖2係本創作第一較佳實施例之側視圖。
圖3係本創作第一較佳實施例之安裝示意圖。
圖4係本創作第一較佳實施例之動作圖,顯示光源下降後的狀態。
圖5係本創作第一較佳實施例之安裝立體圖,顯示待取像物內部具有螺紋。
圖6係本創作第二較佳實施例之側視圖。
圖7係本創作第二較佳實施例之動作圖。
為了詳細說明本創作之技術特點所在,茲舉以下之較佳實施例並配合圖式說明如後,其中:如圖1至圖5所示,本創作藉由第一較佳實施例提出一種斜向取像之物件取像裝置10,主要由一基座11、一橫移架21、一攝影單元31、以及一光源單元41所組成,其中:該基座11,用以設置於一平面。於本實施例中,係設置於一機台91的台面上。
該橫移架21,設於該基座11,受一橫移驅動器22對於該基座11橫移;該攝影單元31,具有一攝影架32、一攝影機34以及一攝影架驅動器36,該攝影架32可升降地設於該橫移架21,並藉由該攝影架驅動器36來驅動該攝影架32升降,該攝影機34設於該攝影架32,且其取像方向相對於該平面不平行也不垂直而相夾一預定角度,而相對於水平面而言呈斜向。於本第一實施例中,該攝影機34係以可旋擺的方式設於該攝影架32,並藉由一攝影旋轉馬達341驅動而旋擺,藉以調整取像角度。在實務上,該攝影機34也可以設置成為不能調整角度的狀態,只要其能符合取像需求;或者,該攝影機34也可以選用手動調整角度
的結構,而不一定要以電動調整的技術為限制。而不能調整角度或手動調整角度的技術均係習知技術而可直接理解,因此於此不以圖式表示之。
該光源單元41,具有一光源架42、一光源44以及一光源架驅動器46,該光源架42可升降地追於該橫移架21,並藉由該光源架驅動器46來動該光源架42升降,該光源44設於該攝影架32。
其中,該攝影機34與該光源44之間係相隔一預定距離,而供一透明料盤92置入於該攝影機34與該光源44之間,該透明料盤92係用以放置一待取像物99,該攝影機34相對於該透明料盤92上方,而該光源44位於該透明料盤92下方,該光源44所發出的光係穿透該透明料盤92而由下往上照射於該透明料盤92上的該待取像物99,該攝影機34係對該透明料盤92上的該待取像物99取像。對於連續檢測的需求而言,該透明料盤92選用環狀較為合適,可利用其旋轉來不斷的將待取像物99移動至該攝影機34及該光源44之間以進行取像及檢測。在本第一實施例中,該光源44係為板狀光源,而其板狀範圍有部分在該透明料盤92邊緣向下涵蓋的範圍內,其餘部分則位於該透明料盤92向下涵蓋的範圍之外,這樣的設置方式有助於將該待取像物99內側輪廓予以明顯化,有助於取像後的影像處理。
以上說明了本第一實施例的結構,接下來說明本第一實施例的操作狀態。
如圖3及圖4所示,在取像前,藉由該橫移驅動器22來調整該橫移架21的位置,並藉由該攝影架驅動器36調整該攝影機34的高度,以及藉由該光源架驅動器46調整該光源44的高度,並且藉由該攝影旋轉馬達341調整該攝影機34的取像角度至操作者想要的角度,其中,圖4顯示光源44較圖3下降至更低位置的狀態。
如圖3至圖5所示,該待取像物99以螺帽為例。在取像時,係先於該透明料盤92上放置一待取像物99,並旋轉該透明料盤92直到該待取像物99移動該攝影機34的取像範圍內,且位於該光源44上方。此時,該光源44所發出的光即能由下往上照射到該待取像物99,且該待取像物99的內部螺紋也會被照射到。藉由該攝影機34斜向取像角度,可以清楚的取得該待取像物99的內部螺紋的影像,藉以供進行後續的影像處理或檢測的程序。
值得說明的一點是,該待取像物99的中空深度與該攝影機34的取像角度有關,深度愈淺則該攝影機34的取像角度可以相較於垂直而言夾角愈大,深度愈深則夾角愈小,視需求而定。
至此可知,本創作第一實施例利用斜向取像的技術來對該待取像物99進行取像,藉以供後續檢測之用,即使該待取像物99為上下貫穿的中空物件,仍能對其內部進行取像,達成了本創作之前述主要目的。此外,由於該光源44的光可以由下方照射進該待取像物99的內部,因此該光源44本身不會阻撐該攝影機34的取像,該攝影機34即可以取得有光照射的該待取像物99的內部影像。
如圖6至圖7所示,本創作再藉由第二較佳實施例提出一種斜向取像之物件取像裝置10’,主要概同於前揭第一實施例,不同之處在於:該光源44’係以可旋擺的方式設於該光源架42’,並藉由一光源旋轉馬達48’驅動而旋擺,藉以調整照射角度。圖6係顯示該光源44’呈傾斜狀,圖7則顯示該光源44’呈水平狀而向上發光。
此外,該光源44’藉由一光源橫移馬達49’設置於該光源架42’,而可受驅動於該光源架42’上橫向移動,其移動的方向係為該透明料盤92’的徑向。
本第二實施例中,該光源44’可調整角度,也可調整橫向位置,藉此可以調整為最適合的照射角度,而可適用於更多種待取像物99,不僅可對上下貫穿的中空物體的內部取像,也可適用於其他的側表面取像場合。
本第二實施例的其餘結構及所能達成的功效均概同於前揭第一實施例,容不再予贅述。
10:斜向取像之物件取像裝置
11:基座
21:橫移架
22:橫移驅動器
31:攝影單元
32:攝影架
34:攝影機
341:攝影旋轉馬達
36:攝影架驅動器
41:光源單元
42:光源架
44:光源
46:光源架驅動器
Claims (6)
- 一種斜向取像之物件取像裝置,包含有: 一基座,用以設置於一平面; 一橫移架,設於該基座,受一橫移驅動器的驅動來相對於該基座橫移; 一攝影單元,具有一攝影架、一攝影機以及一攝影架驅動器,該攝影架可升降地設於該橫移架,並藉由該攝影架驅動器來驅動該攝影架升降,該攝影機設於該攝影架,且其取像方向相對於該平面不平行也不垂直而相夾一預定角度;以及 一光源單元,具有一光源架、一光源以及一光源架驅動器,該光源架可升降地設於該橫移架,並藉由該光源架驅動器來驅動該光源架升降,該光源設於該攝影架; 其中,該攝影機與該光源之間係相隔一預定距離,而供一透明料盤置入於該攝影機與該光源之間,該透明料盤係用以放置一待取像物,該攝影機相對位於該透明料盤上方,而該光源係位於該透明料盤下方,該光源所發出的光係穿透該透明料盤而照射於該透明料盤上的該待取像物,該攝影機係對該透明料盤上的該待取像物取像。
- 依據請求項1所述之斜向取像之物件取像裝置,其中:該攝影機係以可旋擺的方式設於該攝影架,並藉由一攝影旋轉馬達驅動而旋擺,藉以調整取像角度。
- 依據請求項1所述之斜向取像之物件取像裝置,其中:該光源係以可旋擺的方式設於該光源架,並藉由一光源旋轉馬達驅動而旋擺,藉以調整照射角度。
- 依據請求項1所述之斜向取像之物件取像裝置,其中:該光源藉由一光源橫移馬達設置於該光源架,而可受驅動於該光源架上橫向移動。
- 依據請求項1所述之斜向取像之物件取像裝置,其中:該光源係為板狀光源,其板狀範圍有部分在該透明料盤邊緣向下涵蓋的範圍內,其餘部分則位於該透明料盤向下涵蓋的範圍之外。
- 依據請求項1所述之斜向取像之物件取像裝置,其中:該透明料盤係為環狀。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW112202611U TWM645555U (zh) | 2023-03-23 | 2023-03-23 | 斜向取像之物件取像裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW112202611U TWM645555U (zh) | 2023-03-23 | 2023-03-23 | 斜向取像之物件取像裝置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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TWM645555U true TWM645555U (zh) | 2023-09-01 |
Family
ID=88926363
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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TW (1) | TWM645555U (zh) |
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- 2023-03-23 TW TW112202611U patent/TWM645555U/zh unknown
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