TWM601339U - 多角度同軸同步扭力測試機結構 - Google Patents

Abstract

一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其包含：一啟動裝置、一基板、 第一轉盤、第二轉盤及二或二以上之測試裝置，其中啟動裝置係可帶動第一轉盤及第二轉盤同軸同步運轉，而測試裝置係設有第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置分別組設於基板上，第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置均設有限位架及夾持件，而每一限位架之一側分別設有一不同方向之作動空間以供測試件呈不同角度騰空架設並受夾持件之夾持定位，該第一測試裝置之限位架及第二測試裝置之限位架係受第二轉盤之牽制而可同步往復旋擺作動使得測試件得以進行不同角度之旋拉扭力疲乏測試，第三測試裝置係受第一轉盤之往復水平推移使得測試件得以進行水平推拉之疲乏測試，藉此，以達到一機多角度同軸同步扭力測試之功效。

Description

多角度同軸同步扭力測試機結構

本新型係關於一種多角度同軸同步扭力測試機結構；其係設有一具有轉軸之啟動裝置來帶動第一轉盤及第二轉盤作往復旋動，並設有二或二以上具有限位架及作動空間之測試裝置可供測試件以不同之角度騰空架設並隨第一轉盤及第二轉盤之旋擺來對測試件進行多角度同軸同步之旋拉推移的扭力疲勞測試紀錄。

按，一般供各式產品零件進行品質扭力測試所使用之測試機，大多僅能一機一角度的測試，當產品零件需要進行旋擺推移等各角度的扭力測試時，則須備有多台不同角度的扭力測試機來進行，導致測試機台的購置費提高，且於置放上較為占空間造成使用上之不便，即使委外來進行產品零件所需的不同角度扭力疲勞測試時，不僅要等候委外安排時間亦會增加委外測試的費用、費時又耗電進而提高成本以致降低市場競爭力。

本創作人有鑑於上述傳統扭力測試機使用上之缺失，乃思及創作之意念，遂以多年的經驗加以設計，經多方探討及多次修正改良，乃推出本創作。

本創作之主要目的，提供一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其係設有一啟動裝置同時帶動第一轉盤及第二轉盤，並設有第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置分別受第一轉盤及第二轉盤的牽制連動而可做不同方向的旋擺及水平位移之往復作動，且每一測試裝置各設有一具作動空間之限位架及夾持件以供測試件騰空架設定位，當啟動裝置帶動第一轉盤及第二轉盤運轉時，即會同步帶動第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置往復旋擺而分別對測試件持續進行水平位移、左右旋擺、上下旋擺等各角度之往復旋拉扭力的疲勞測試，以達到一機同軸同步多角度測試扭力疲乏之最佳使用狀態。

本創作之次要目的，提供一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其利用啟動裝置來帶動第一轉盤及第二轉盤作往復旋動而同步帶動具有限位架及作動空間之各測試裝置，使得測試件可以不同之角度騰空架設於各測試裝置之作動空間內並同時隨第一轉盤及第二轉盤之旋擺來進行扭力疲勞測試之設計，不僅使用上達到一機多角度同步測試之便利性，更具備省電環保不佔空間之目的，進而降低測試成本，提升市場競爭力。

請參閱圖1、圖2及圖3，本創作係提供一種多角度同軸同步扭力測試機結構，該測試機係設有一啟動裝置10，該啟動裝置10設有一與馬達11同步運轉之轉軸12，並設一中心穿設有一樞孔21之基板20供轉軸12由下往上樞置穿設，使該啟動裝置10定位於基板20下方，於馬達11之轉軸12一側設有卡塊121，該基板20上組設有二或二以上之測試裝置而分別為第一測試裝置30、第二測試裝置40及第三測試裝置50，於樞孔21上方疊設有第一轉盤60及第二轉盤70，第一轉盤60及第二轉盤70之中心各設一樞孔61、71供馬達11之轉軸12穿設，樞孔61、71之內壁一側設有卡槽62、72與轉軸12之卡塊121相卡合，使得第一轉盤60及第二轉盤70可隨馬達11之啟動而與轉軸12同步旋動，該第一轉盤60之樞孔61設為偏心，使得第一轉盤60呈偏心轉動，第二轉盤70之樞孔71係設於中心呈正圓轉動，於第二轉盤70之一側偏心角度垂直組設一具有培林731之限位桿73，其中第一測試裝置30(請參考圖4)係設為Y軸左右扭力測試區，並設有一ㄈ形限位架31而形成一作動空間32以供測試件A垂直容設，限位架31係可依各種測試件A之規格大小而做調整或更換，於限位架31之一側水平延設一作動桿33，該作動桿33設呈板狀設有一長形限位孔331，限位架31之上下兩側對稱設一為螺孔之孔部34與一兩端具有螺紋段之穿桿35相配合組設，該穿桿35係由上往下依序穿設於限位架31之上方孔部34、測試件A與下方的孔部34而將測試件A呈直立狀騰空架設於作動空間32內，且作動空間32之兩側對稱設有一具有彈性保護墊361之夾持件36，該夾持件36係可依測試件A之規格大小作調整並迫緊，第二測試裝置40(請參考圖5)係設為X軸左右扭力測試區，並設有一ㄩ形限位架41而形成一作動空間42以供測試件A橫向容設，該限位架41係可依各種測試件A之規格大小而做調整或更換，於限位架41之一側水平延設一作動桿43，該作動桿43設呈板狀設有一長形限位孔431，限位架41之兩側對稱設一為螺孔之孔部44與一兩端具有螺紋段之穿桿45相配合組設，該穿桿45係由一側依序穿設於限位架41之一側孔部44、測試件A與另一側的孔部44而將測試件A呈水平狀騰空架設於作動空間42內，且作動空間42之兩側對稱設有一具有彈性保護墊461之夾持件46，該夾持件46係可依測試件A之規格大小作調整並迫緊，第三測試裝置50(請參考圖6及圖7)係設為前後扭力測試區，並組設有一兩側具有撐板511之ㄩ形限位架51而形成一作動空間52以供測試件A橫向容設，於限位架51之一側下方組設有一滑軌53與一導軌54相互樞卡，該導軌54係固定於基板20，使得滑軌53可順導軌54滑移而帶動限位架51位移，該限位架51係可依各種測試件A之規格大小而做調整或更換，限位架51之兩側對稱設一為螺孔之孔部55與一兩端具有螺紋段之穿桿56相配合組設，該穿桿56係依序穿設於限位架51之一側孔部55、測試件A與另一側的孔部54而將測試件A呈Z軸水平狀騰空容置於作動空間52內，且作動空間52之兩側對稱設有一具有彈性保護墊571之夾持件57，該夾持件57係可依測試件A之規格大小作調整並迫緊，第一測試裝置30、及第二測試裝置40係組設定位於基板20之相對位置(請參考圖8及圖9)，且限位孔331、431依序穿組於第二轉盤70之限位桿73而使得作動桿33、43呈上下疊靠，第三測試裝置50系組設定位於基板20之一側面上，導軌54位於第一轉盤60之周邊上保持一距離，而滑軌53洽彈抵於第一轉盤60之周邊，並於基板20之適當位置設一紅外線感測器以感應滑軌53之位移來記錄測試件A的扭力疲乏程度及次數，並設有一彈性件於滑軌53之適當位置，使得限位架51彈抵於第一轉盤60之周邊。

請參考圖9及圖10，當啟動裝置10之馬達11運轉時，馬達11之轉軸12即會同時帶動第一轉盤60及第二轉盤70，使得第二轉盤70之限位桿73於第一測試裝置30之限位孔331內及第二測試裝置40之限位孔431內作便心旋動而帶動作動桿33、43旋擺而同時對架設於作動空間32、42內之測試件A分別產生不同角度之旋拉扭力，同時，第一轉盤60隨馬達11轉軸12之旋動下，利用第一轉盤60呈偏心運轉下而可水平推抵第三測試裝置50之限位架51，使得限位架51下方之滑軌53順導軌54位移而對測試件A產生水平方向之扭力測試，並隨著馬達11的帶動第一轉盤60即第二轉盤70之持續運轉下來帶動第一測試裝置30、第二測試裝置40及第三測試裝置50往復旋擺而分別對測試件A持續進行水平位移、左右旋擺、上下旋擺等各角度之往復旋拉扭力的疲勞測試，並藉由遠紅外線感應各測試裝置之位移而記錄測試件A持續往復受力之次數，藉此，以達到一機同軸多角度測試扭力之最佳使用狀態，同時，第一測試裝置30之限位孔331及第二測試裝置40之限位孔431在第二轉盤70之限位桿73之帶動旋移下，利用限位桿73之外圍套設有培林731而可順利帶動第一測試裝置30及第二測試裝置40，且每一測試裝置之夾持件36、46、57均設有彈性墊361、461、571將測試件A騰空夾持定位之設計而可保護測試件A在往復受力之狀態下不虞受夾持旋扭之力道下外表受到損壞並可令旋擺之力道有彈力緩衝之空間，以防止卡掣不順之現象，促使測試過程更為精確順利。

其中，馬達11之轉軸12頂端可設一遮板以保護第一轉盤60及第二轉盤70，基板20下方外圍可框設側板以防止啟動裝置10裸露之危險，且壁一測試裝置30之限位架31及第二測試裝置40之限位架41與基板20間設有孔與撐柱相互樞置穿設，使得限位架41可順撐柱原位作旋擺。

綜上所述，當知本新型具有產業上利用性與進步性，且本新型未見於任何刊物，亦具有新穎性，當符合專利法之規定，爰依法提出新型專利申請，懇請 貴審查委員惠准專利為禱。

唯以上所述者，僅為本新型之可行實施例而已 ，當不能以之為限定本新型實施之範圍；即大凡依本新型申請專利範圍所作之均等變化與修飾，皆應仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

10:啟動裝置 11:馬達 12:轉軸 121:卡塊 20:基板 21:樞孔 30:第一測試裝置 31:限位架 32:作動空間 33:作動桿 331:長形限位孔 34:孔部 35:穿桿 36:夾持件 361:保護墊 40:第二測試裝置 41:限位架 42:作動空間 43:作動桿 431:限位孔 44:孔部 45:穿桿 46:夾持件 461:保護墊 50:第三測試裝置 51:限位架 511:撐板 52:作動空間 53:滑軌 54:導軌 55:孔部 56:穿桿 57:夾持件 571:保護墊 60:第一轉盤 61:樞孔 62:卡槽 70:第二轉盤 71:樞孔 72:卡槽 73:限位桿 731:培林 A:測試件

圖1 係為本創作之立體分解圖。 圖2 係為圖1之局部立體放大圖。 圖3 係為圖1之另一局部立體放大圖。 圖4 係為本創作之第一測試裝置立體分解圖。 圖5 係為本創作之第二測試裝置立體分解圖。 圖6 係為本創作之第三測試裝置立體分解圖。 圖7 係為本創作之組合剖面局部放大圖。 圖8 係為本創作之組合剖面圖。 圖9 係為本創作之另一組合平面圖。 圖10 係為本創作之啟動狀態平面圖。

20:基板

30:第一測試裝置

31:限位架

33:作動桿

331:長形限位孔

35:穿桿

40:第二測試裝置

41:限位架

43:作動桿

431:限位孔

45:穿桿

57:夾持件

70:第二轉盤

73:限位桿

A:測試件

Claims (11)

1. 一種多角度同軸同步扭力測試機結構，該測試機包含：一啟動裝置、一基板、第一轉盤、第二轉盤及二或二以上之測試裝置，其中啟動裝置係可帶動第一轉盤及第二轉盤同軸同步運轉，而測試裝置係設有第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置分別組設於基板上，第一測試裝置、第二測試裝置及第三測試裝置均設有限位架及夾持件，而每一限位架之一側分別設有一不同方向之作動空間以供測試件呈不同角度騰空架設並受夾持件之夾持定位，該第一測試裝置之限位架及第二測試裝置之限位架係受第二轉盤之牽制而可同步往復旋擺作動使得測試件得以進行不同角度之旋扭拉力疲乏測試，第三測試裝置係受第一轉盤之往復水平推移使得測試件得以進行水平推拉之疲乏測試，藉此，以達到一機多角度同軸同步扭力測試之功效。
2. 如申請專利範圍第1項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中啟動裝置設有一與馬達同步運轉之轉軸，於馬達之轉軸一側設有卡塊，基板中心穿設有一樞孔供轉軸由下往上樞置穿設，使該啟動裝置定位於基板下方，第一轉盤及第二轉盤之中心各設一樞孔供馬達之轉軸穿設，樞孔之內壁一側設有卡槽與轉軸之卡塊相卡合，使得第一轉盤及第二轉盤可隨馬達之啟動而與轉軸同步旋動。
3. 如申請專利範圍第2項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中第一轉盤之樞孔設為偏心，使得第一轉盤呈偏心轉動，第二轉盤之樞孔係設於中心呈正圓轉動。
4. 如申請專利範圍第1項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中第二轉盤之一側偏心角度垂直組設一限位桿，第一測試裝置係設為Y軸左右扭力測試區，限位架之作動空間設呈ㄈ形以供測試件垂直容設，限 位架係可依各種測試件之規格大小而做調整或更換，於限位架之一側水平延設一作動桿，該作動桿設呈板狀設有一長形限位孔，限位架之上下兩側對稱設一為螺孔之孔部與一兩端具有螺紋段之穿桿相配合組設，該穿桿係由上往下依序穿設於限位架之上方孔部、測試件與下方的孔部而將測試件呈直立狀騰空架設於作動空間內，夾持件係對稱位於作動空間之兩側而將測試件迫緊定位，第二測試裝置係設為X軸左右扭力測試區，限位架之作動空間設呈ㄩ形以供測試件橫向容設，該限位架係可依各種測試件之規格大小而做調整或更換，於限位架之一側水平延設一作動桿，該作動桿設呈板狀設有一長形限位孔，限位架之兩側對稱設一為螺孔之孔部與一兩端具有螺紋段之穿桿相配合組設，該穿桿係由一側依序穿設於限位架之一側孔部、測試件與另一側的孔部而將測試件呈水平狀騰空架設於作動空間內，夾持件係對稱位於作動空間之兩側而將測試件迫緊定位，第三測試裝置係設為前後扭力測試區，第三測試裝置之限位架兩側組設有撐板形成一ㄩ形的作動空間以供測試件橫向容設，於限位架之一側下方組設有一滑軌與一導軌相互樞卡，該導軌係固定於基板，使得滑軌可順導軌滑移而帶動限位架位移，該限位架係可依各種測試件之規格大小而做調整或更換，限位架之兩側對稱設一為螺孔之孔部與一兩端具有螺紋段之穿桿相配合組設，該穿桿係低序穿設於限位架之一側孔部、測試件與另一側的孔部而將測試件A呈Z軸水平狀騰空容置於作動空間內，夾持件係對稱位於第三測試裝置之作動空間兩側而將測試件迫緊定位，第一測試裝置及第二測試裝置係組設定位於基板之相對位置，且限位孔依序穿組於第二轉盤之限位桿而使得第一測試裝置之作動桿及第二測試裝置之作動桿呈上下疊靠，第三測試裝置系組設定位於基板之一側面上，導軌位於第一轉盤之周邊上保持一距離，而滑軌洽彈抵於第一轉盤之周邊。
5. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結 構，其中基板之適當位置設一紅外線感測器以感應滑軌之位移來記錄測試件的扭力疲乏程度及次數。
6. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中第三測試裝置設有一彈性件於滑軌之適當位置，使得限位架得以彈抵於第一轉盤之周邊。
7. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中其中夾持件設有有彈性保護墊以保護測試件在往復受力之狀態下不虞受夾持旋扭之力道下外表受到損壞並可令旋擺之力道有彈力緩衝之空間，該夾持件係可依測試件之規格大小作調整。
8. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中馬達之轉軸頂端可設一遮板以保護第一轉盤及第二轉盤。
9. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中基板下方外圍可框設側板。
10. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中第一測試裝置之限位架及第二測試裝置之限位架41與基板間設有孔與撐柱相互樞置穿設，使得限位架可順撐柱原位作旋擺。
11. 如申請專利範圍第4項所述之一種多角度同軸同步扭力測試機結構，其中第二轉盤之限位桿外圍套設有培林可順利帶動第一測試裝置及第二測試裝置。

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