TWM586855U - 電磁波量測教具 - Google Patents

Abstract

本新型提供一種電磁波量測教具，包括一第一滑軌、一連接座、一卡固單元及一第二滑軌。第一滑軌的一端設置一連接孔，而連接座則包括一連接單元，其中連接單元用以插入第一滑軌的連接孔。卡固單元設置於第一滑軌上，靠進設置連接孔的一端，並用以卡固插入連接孔的連接單元，以固定第一滑軌及連接座。連接座透過一連接軸連接第二滑軌的一端，使得第二滑軌可以連接軸為軸心相對於第一滑軌及連接座轉動，並改變第一滑軌與第二滑軌之間的夾角。透過本新型的電磁波量測教具，使用者將可輕易的組裝或拆解第一滑軌、連接座及第二滑軌，而有利於收納或使用電磁波量測教具。

Description

電磁波量測教具

本新型提供一種電磁波量測教具，使用者可輕易的組裝或拆解第一滑軌、連接座及第二滑軌，並有利於收納或使用電磁波量測教具。

電磁學是物理學中的一個非常重要的分支，其中電學與磁學之間具有緊密且不可分的關係。電磁學主要是探討電性與磁性之交互關係的學科，但在一般情形下磁力跟電力對人類而言都不是明顯可見的東西。因此對初步學習電磁學的學生來說，往往只會流於演算的公式，如此一來會造成學生不易瞭解電磁學實際的現象，並導致學生對電磁學產生排斥感，而無法從中獲得知識。

本新型之一目的，在於提供一種電磁波量測教具，主要包括一第一滑軌、一連接座、一卡固單元及一第二滑軌。第一滑軌的一端設置一連接孔，而連接座則具有一連接單元，其中連接單元用以插入第一滑軌的連接孔，並透過卡固單元將連接單元固定在連接孔內，以完成第一滑軌、連接座及第二滑軌之間的連接。此外使用者亦可透過操作卡固單元，卸除第一滑軌與連接座之間的連接關係，並將電磁波量測教具分解為多個獨立個構件，以利減少收納電磁波量測教具所需要的空間。

本新型之一目的，在於提出一種電磁波量測教具，其中連接座透過一連接軸連接第二滑軌，使得第二滑軌可以連接軸為軸心相對於連接座及第一滑軌轉動。在收納時亦可將第二滑軌由連接座上卸下，以利於使用者進一步拆解及收納電磁波量測教具。

本新型之一目的，在於提出一種電磁波量測教具，其中連接座透過一旋轉式可變電組連接第二滑軌，當第二滑軌以旋轉式可變電阻為軸心相對於連接座轉動時，將會轉動旋轉式可變電阻，並改變旋轉式可變電阻的電阻值。藉此將可透過量測旋轉式可變電阻的電阻值，推算出第一滑軌與第二滑軌之間的夾角，以提高使用電磁波量測教具的便利性。

本新型之一目的，在於提出一種電磁波量測教具，其中滑軌上設置兩個對應的凹陷部，而滑座的凸出部則可經由滑軌上的凹陷部進入導槽，以方便使用者將滑座由滑軌上卸下，或者是將滑座設置在滑軌上。

為達成上述目的，本新型提供一種電磁波量測教具，包括：一第一滑軌，包括一連接孔位於第一滑軌的一端；一第一滑座，連接第一滑軌，用以沿著第一滑軌位移；一連接座，包括一連接單元用以插入第一滑軌的連接孔；一卡固單元，設置第一滑軌上，其中部分卡固單元位於連接孔內，並用以卡固進入連接孔的連接單元；一第二滑軌，第二滑軌的一端透過一連接軸連接連接座；一第二滑座，連接第二滑軌，用以沿著第二滑軌位移，其中第一滑軌及第二滑軌包括一頂表面、一底表面及兩個側表面；一發射裝置，連接第一滑座或第二滑座，並用以發出一電磁波；及一接收裝置，連接未設置發射裝置的第一滑座或第二滑座，其中連接座及第二滑軌以連接軸為軸心相對轉動，以改變第一滑軌與第二滑軌之間的夾角。

所述的電磁波量測教具，其中第一滑軌包括至少一穿孔位於第一滑軌的側表面，並連通連接孔，而卡固單元則位於穿孔內，並用以沿著穿孔位移。

所述的電磁波量測教具，其中連接單元具有一凹部，而卡固單元則用以卡固連接單元的凹部，使得連接單元被固定在第一滑軌的連接孔內。

所述的電磁波量測教具，其中第一滑軌包括兩個第一導槽，分別位於第一滑軌的兩個側表面上，而第二滑軌包括兩個第二導槽，分別位於第二滑軌的兩個側表面上。

所述的電磁波量測教具，其中連接座包括兩個對位單元，位於連接單元的兩側，並分別用以插入第一滑軌的兩個第一導槽。

所述的電磁波量測教具，其中第一滑座及第二滑座包括複數個凸出部，第一滑座的凸出部進入位在第一滑軌的兩個第一導槽，而第二滑座的凸出部則進入第二滑軌的兩個第二導槽，使得第一滑座及第二滑座分別沿著第一滑軌及第二滑軌位移。

所述的電磁波量測教具，其中第一滑座及第二滑座的底部包括一定位單元，用以固定第一滑座與第一滑軌及固定第二滑座與第二滑軌。

所述的電磁波量測教具，其中第一滑軌及第二滑軌的頂表面設置兩個凹陷部，而第一滑座的凸出部經由凹陷部進入第一滑軌的第一導槽內，而第二滑座的凸出部則經由凹陷部進入第二滑軌的第二導槽內。

所述的電磁波量測教具，其中連接軸為一旋轉式可變電阻，並用以連接第一滑軌及第二滑軌，第一滑軌及第二滑軌以旋轉式可變電阻為軸心相對轉動時，將會帶動旋轉式可變電阻轉動，使得旋轉式可變電阻的電阻值改變，並可由旋轉式可變電阻的電阻值得知第一滑軌與第二滑軌之間的夾角。

所述的電磁波量測教具，其中第二滑軌的一端及連接座皆設置一連接孔，旋轉式可變電阻包括一底座及一旋轉部，底座位於第二滑座的連接孔內，而旋轉部則位於連接座的連接孔內。

請參閱圖1及圖2，分別為本新型電磁波量測教具一實施例的分解示意圖及立體示意圖。如圖所示，本新型實施例所述的電磁波量測教具10包括一第一滑軌11、一第二滑軌13、一第一滑座15、一第二滑座17、一連接座19、一發射裝置121及一接收裝置123。

在本新型一實施例中，如圖3所示，第一滑軌11包括一連接孔111，位於第一滑軌11的一端。連接座19包括一連接單元191，其中連接單元191可為凸出連接座19的柱狀體，並可用以插入第一滑軌11的連接孔111，以連接第一滑軌11與連接座19。

一卡固單元18設置於第一滑軌11上，並靠近設置連接孔111的一端，其中部分的卡固單元18位於連接孔111內，並用以卡固進入連接孔111的連接單元191。卡固單元18用以卡固進入第一滑軌11的連接孔111的連接單元191，以固定第一滑軌11與連接座19。當然在實際應用時亦可將卡固單元18鬆脫，使得卡固單元18不卡固進入連接孔111的連接單元191，並可將第一滑軌11由連接座19上卸下，卡固單元18的詳細構造將會在後續的實施例中說明。

第一滑軌11包括複數個第一導槽113，其中第一滑軌11可為長條狀，並包括一頂表面112、一底表面114及兩個側表面116。在本新型實施例中，第一滑軌11可包括兩個第一導槽113，並分別位於第一滑軌11的兩個側表面116上。

第一滑座15可連接第一滑軌11，並沿著第一滑軌11位移。在本新型一實施例中，第一滑座15包括一頂部151及兩個側部153，其中頂部151位於兩個側部153之間，例如兩個側部153分別連接頂部151相對的兩個側邊，且頂部151與兩個側部153正交，使得第一滑座15的截面近似為“ㄇ”字形或“n”字形。

在本新型一實施例中，連接座19亦可包括複數個對位單元193，其中對位單元193的數量可為兩個。對位單元193凸出連接座19的表面，並分別位於連接單元191的兩側。當連接座19連接第一滑軌11時，連接座19上的兩個對位單元193將分別插進入第一滑軌11的兩個第一導槽113內，藉此以限制連接座19與第一滑軌11的連接角度，使得兩者不至於相對轉動。

第一滑座15包括複數個凸出部155，如圖4所示，例如凸出部155可為圓柱狀體，並鎖固在第一滑座15上。具體來說凸出部155可設置在第一滑座15的兩個側部153的內表面，使得兩個側部153上的凸出部155彼此面對。

在將第一滑座15設置在第一滑軌11時，第一滑座15的兩個側部153上的凸出部155將分別進入位於第一滑軌11的兩個側表面116上的第一導槽113內，使得第一滑座15可沿著第一導槽113在第一滑軌11上位移。

在本新型一實施例中，第一滑座15上可設置四個或四個以上的凸出部155，使得第一滑座15可穩固的設置在第一滑軌11上，並可減少第一滑座15與第一滑軌11之間的晃動，以提高實驗的準確性。

此外第一滑軌11亦可包括複數個凹陷部115，例如凹陷部115的數量可為兩個，設置在第一滑軌11的頂表面112上，其中兩個凹陷部115分別連通設置在第一滑軌11的兩個側表面116的第一導槽113。此外連接兩個凹陷部115的虛擬連接線可約略與第一滑軌11及第一導槽113正交。

在實際應用時，可將第一滑座15的兩個凸出部155經由兩個凹陷部115進入第一導槽113，而後再將第一滑座15的另外兩個凸出部155經由兩個凹陷部115進入第一導槽113，藉此有利於將第一滑座15裝設置第一滑軌11上，或者是將第一滑座15由第一滑軌11上卸下。

由於第一滑座15是透過凸出部155設置在第一滑軌11的第一導槽113內，並透過凸出部155支撐第一滑座15的重量。因此第一滑座15設置在第一滑軌11時，並不需要與放置第一滑軌11的地面或桌面接觸。如此將可避免第一滑座15的側部153接觸承載第一滑軌11的地面或桌面，以方便操作人員推動第一滑座15相對於第一滑軌11位移。此外亦可避免在移動第一滑座15的過程中移動到第一滑軌11，而改變第一滑軌11與第二滑軌13的夾角，以提高實驗的準確性及操作的便利性。

在本新型一實施例中，第一滑座15亦可包括一定位單元157，用以固定第一滑座15與第一滑軌11的相對位置。具體而言定位單元157可為一桿體，並設置在第一滑座15的其中一個側部153。當定位單元157朝另一個側部153的方向伸長或移動時，定位單元157的一端將會頂住第一滑軌11，藉此將第一滑座15固定在第一滑軌11上。例如定位單元157的外表面可設置一螺紋，並可透過轉動使得定位單元157朝另一個側部153的方向伸長或縮短。

在本新型一實施例中，第一滑軌11可包括四個凸條117，其中一個第一導槽113的上下兩側分別設置一凸條117。具體而言，設置在上方的凸條117的一端連接第一滑軌11的頂表面112，並由第一滑軌11的頂表面112朝底表面114的方向延伸，而設置在下方的凸條117的一端則連接第一滑軌11的底表面114，並由第一滑軌11的底表面114朝頂表面112的方向延伸，使得凸條117在第一滑軌11的側表面116上形成凸出結構。

設置在第一滑座15上的凸出部155可包括一凹槽1551，當凸出部155設置在第一滑軌11的第一導槽113內時，位於第一導槽113的上下兩側的凸條117將位於凸出部155的凹槽1551內，藉此將凸出部155限制在凸條117上，以穩固第一滑座15與第一滑軌11之間的連接關係，並使得第一滑座15可沿著凸條117穩定的相對於第一滑軌11位移。

第二滑軌13的部分構造與第一滑軌11相似，並包括一頂表面132、一底表面134及兩個側表面136，其中第二滑軌13的兩個第二導槽133分別設置在兩個側表面136上。此外第二滑軌13亦可包括四個凸條137，其中一個第二導槽133的上下兩側分別設置一凸條137。

第二滑座17的構造則與第一滑座15相同，並包括一頂部171及兩個側部173，其中頂部171位於兩個側部173之間。如圖4所示，第二滑座17可包括複數個凸出部175及/或定位單元177，例如凸出部175可設置在第二滑座17的兩個側部173的內表面，且各個凸出部175可包一凹槽1751。

第二滑座17設置在第二滑軌13上，並可沿著第二滑軌13位移。在本新型一實施例中，可使得第二滑座17的兩個側部173上的凸出部175分別進入位於第二滑軌13的兩個側表面136的第二導槽133內，使得第二滑座17可沿著第二導槽133在第二滑軌13上位移。

此外第二滑軌13亦可包括複數個凹陷部135，例如凹陷部135的數量可為兩個，設置在第二滑軌13的頂表面132上，其中兩個凹陷部135分別連通設置在第二滑軌13的兩個側表面136的第二導槽133。此外連接兩個凹陷部135的虛擬連接線可約略與第二滑軌13及第二導槽133正交。

在本新型一實施例中，第二滑軌13的一端可透過一連接軸14連接連接座19，使得第二滑軌13及連接座19可以連接軸14為軸心相對轉動，以改變第一滑軌11及第二滑軌13之間的夾角。例如第二滑軌13的一端可設置一連接孔131，而連接座19則設置一連接孔195，並將連接軸14分別插入連接座19及第二滑軌13的連接孔195/131，以連接第二滑軌13及連接座19。

在不同實施例中，連接軸14亦可直接設置在第二滑軌13的一端或連接座19上，並於未設置連接軸14的第二滑軌13及連接座19上設置對應的連接孔，使得連接軸14可插入對應的連接孔內，以連接第二滑軌13及連接座19，並使得第二滑軌13及連接座19可以連接軸為軸心相對轉動。

在本新型又一實施例中，連接軸14可為一旋轉式可變電阻16，同樣可用以連接第一滑軌11及第二滑軌13。旋轉式可變電阻16可包括一底座161及一旋轉部163，其中旋轉部163及底座161可相對轉動，以改變旋轉式可變電阻16的電阻值。具體而言，可將旋轉式可變電阻16的底座161設置在第二滑軌13的連接孔131內，並將旋轉式可變電阻16的旋轉部163設置在連接座19的連接孔195內。

當第二滑軌13及連接座19以旋轉式可變電阻16為軸心相對轉動時，將會帶動旋轉式可變電阻16的旋轉部163及底座161相對轉動，並改變旋轉式可變電阻16的電阻值。藉此將可透過測量旋轉式可變電阻16的電阻值，推算出第一滑軌11與第二滑軌13之間的夾角，以提高電磁波量測教具10在使用時的便利性。

發射裝置121可連接第一滑座15或第二滑座17，並用以產生一電磁波，而接收裝置123則連接未設置發射裝置121的第一滑座15或第二滑座17，並用以接收發射裝121產生的電磁波。具體而言，發射裝置121可連接第一滑座15，並隨著第一滑座15沿著第一滑軌11位移，而接收裝置123則連接第二滑座17，並隨著第二滑座17沿著第二滑軌13位移。當然在不同實施例中，發射裝置121可連接第二滑座17，而接收裝置123則連接第一滑座15。

請參閱圖5及圖6，分別為本新型電磁波量測教具的第一滑軌一實施例的側視圖。如圖所示，第一滑軌11上設置一卡固單元18，其中卡固單元18包括一按壓部181、一止抵部183、一桿體185及一彈簧187。

按壓部181及止抵部183分別連接桿體185的兩端，其中按壓部181及止抵部183的截面積大於桿體185，而彈簧187則套設在桿體185上，並位於按壓部181與止抵部183之間。

第一滑軌11包括一連接孔111及至少一穿孔119，其中連接孔111位於第一滑軌11的一端，而穿孔119則位於第一滑軌11的側表面116，並連通連接孔111。具體而言穿孔119的數量可為兩個，並連通第一滑軌11的兩個側表面116，其中穿孔119約略與連接孔111垂直。

卡固單元18的桿體185設置於穿孔119內，並沿著穿孔119位移，其中卡固單元18的按壓部181及止抵部183分別位於第一滑軌11的兩個側表面116上。彈簧187位於按壓部181與第一滑軌11的側表面116之間，例如彈簧187可為一壓縮彈簧。當按壓部181未受到外力作用時，第一滑軌11及卡固單元18將會受到彈簧187的作用，使得卡固單元18由止抵部183朝按壓部181的方向移動，如圖5所示。而當按壓部181朝止抵部183方向的推力大於彈簧187的彈力時，卡固單元18則會由按壓部181朝止抵部183的方向位移，如圖6所示。

在本新型一實施例中，桿體185上可設置一凹部1851，其中凹部1851可位於桿體185的中間位置。當按壓部181未受到外力作用時，連接單元18的桿體185將會卡合在連接單元191的凹部1911，使得連接單元191被固定在第一滑軌11的連接孔111內，如圖5所示。反之當作用在按壓部181上推力大於彈簧187的彈力時，桿體185上的凹部1851將會對準連接單元191的凹部1911，以解除連接單元191與卡固單元18之間的固定關係，並可將第一滑軌11由連接座19上卸下，如圖6所示。

以上所述者，僅為本新型之一較佳實施例而已，並非用來限定本新型實施之範圍，即凡依本新型申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本新型之申請專利範圍內。

10‧‧‧電磁波量測教具
11‧‧‧第一滑軌
111‧‧‧連接孔
112‧‧‧頂表面
113‧‧‧第一導槽
114‧‧‧底表面
115‧‧‧凹陷部
116‧‧‧側表面
117‧‧‧凸條
119‧‧‧穿孔
121‧‧‧發射裝置
123‧‧‧接收裝置
13‧‧‧第二滑軌
131‧‧‧連接孔
132‧‧‧頂表面
133‧‧‧第二導槽
134‧‧‧底表面
135‧‧‧凹陷部
136‧‧‧側表面
137‧‧‧凸條
14‧‧‧連接軸
15‧‧‧第一滑座
151‧‧‧頂部
153‧‧‧側部
155‧‧‧凸出部
1551‧‧‧凹槽
157‧‧‧定位單元
16‧‧‧旋轉式可變電阻
161‧‧‧底座
163‧‧‧旋轉部
17‧‧‧第二滑座
171‧‧‧頂部
173‧‧‧側部
175‧‧‧凸出部
1751‧‧‧凹槽
177‧‧‧定位單元
18‧‧‧卡固單元
181‧‧‧按壓部
183‧‧‧止抵部
185‧‧‧桿體
1851‧‧‧凹部
187‧‧‧彈簧
19‧‧‧連接座
191‧‧‧連接單元
1911‧‧‧凹部
193‧‧‧對位單元
195‧‧‧連接孔

圖1：為本新型電磁波量測教具一實施例的分解示意圖。

圖2：為本新型電磁波量測教具一實施例的立體示意圖。

圖3：為本新型電磁波量測教具的第一滑軌及連接座一實施例的立體分解圖。

圖4：為本新型電磁波量測教具的滑座一實施例的仰視圖。

圖5及圖6：為本新型電磁波量測教具的第一滑軌一實施例的側視圖。

Claims (10)

1. 一種電磁波量測教具，包括：
   一第一滑軌，包括一連接孔位於該第一滑軌的一端；
   一第一滑座，連接該第一滑軌，用以沿著該第一滑軌位移；
   一連接座，包括一連接單元用以插入該第一滑軌的該連接孔；
   一卡固單元，設置於該第一滑軌上，其中部分該卡固單元位於該連接孔內，並用以卡固進入該連接孔的該連接單元；
   一第二滑軌，該第二滑軌的一端透過一連接軸連接該連接座；
   一第二滑座，連接該第二滑軌，用以沿著該第二滑軌位移，其中該第一滑軌及該第二滑軌包括一頂表面、一底表面及兩個側表面；
   一發射裝置，連接該第一滑座或該第二滑座，並用以發出一電磁波；及
   一接收裝置，連接未設置該發射裝置的該第一滑座或該第二滑座，其中該連接座及該第二滑軌以該連接軸為軸心相對轉動，以改變該第一滑軌與該第二滑軌之間的夾角。
2. 如申請專利範圍第1項所述的電磁波量測教具，其中該第一滑軌包括至少一穿孔位於該第一滑軌的該側表面，並連通該連接孔，而該卡固單元則位於該穿孔內，並用以沿著該穿孔位移。
3. 如申請專利範圍第2項所述的電磁波量測教具，其中該連接單元具有一凹部，而該卡固單元則用以卡固該連接單元的該凹部，使得該連接單元被固定在該第一滑軌的該連接孔內。
4. 如申請專利範圍第1項所述的電磁波量測教具，其中該第一滑軌包括兩個第一導槽，分別位於該第一滑軌的該兩個側表面上，而該第二滑軌包括兩個第二導槽，分別位於該第二滑軌的該兩個側表面上。
5. 如申請專利範圍第4項所述的電磁波量測教具，其中該連接座包括兩個對位單元，位於該連接單元的兩側，並分別用以插入該第一滑軌的該兩個第一導槽。
6. 如申請專利範圍第4項所述的電磁波量測教具，其中該第一滑座及該第二滑座包括複數個凸出部，該第一滑座的該凸出部進入位在該第一滑軌的該兩個第一導槽，而該第二滑座的該凸出部則進入該第二滑軌的該兩個第二導槽，使得該第一滑座及該第二滑座分別沿著該第一滑軌及該第二滑軌位移。
7. 如申請專利範圍第6項所述的電磁波量測教具，其中該第一滑座及該第二滑座的底部包括一定位單元，用以固定該第一滑座與該第一滑軌及固定該第二滑座與該第二滑軌。
8. 如申請專利範圍第6項所述的電磁波量測教具，其中該第一滑軌及該第二滑軌的該頂表面設置兩個凹陷部，而該第一滑座的該凸出部經由該凹陷部進入該第一滑軌的該第一導槽內，而該第二滑座的該凸出部則經由該凹陷部進入該第二滑軌的該第二導槽內。
9. 如申請專利範圍第1項所述的電磁波量測教具，其中該連接軸為一旋轉式可變電阻，並用以連接該第一滑軌及該第二滑軌，該第一滑軌及該第二滑軌以該旋轉式可變電阻為軸心相對轉動時，將會帶動該旋轉式可變電阻轉動，使得該旋轉式可變電阻的電阻值改變，並可由該旋轉式可變電阻的電阻值得知該第一滑軌與該第二滑軌之間的夾角。
10. 如申請專利範圍第9項所述的電磁波量測教具，其中該第二滑軌的一端及該連接座皆設置一連接孔，該旋轉式可變電阻包括一底座及一旋轉部，該底座位於該第二滑座的該連接孔內，而該旋轉部則位於該連接座的該連接孔內。