TWM523102U - 可測試連接正確性的檢測裝置 - Google Patents
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Description
本新型係關於一種可測試連接正確性的檢測裝置,特別是一種用以辨識待測電路板和測試板之間是否連接正確的檢測裝置。
對待測電路板進行檢測時,需要以人工的方式將待測電路板和測試板連接。一般而言,待測電路板和測試板上分別具有多個插槽,在進行檢測時,使用者必須透過排線將測試板上的插槽連接至待測電路板對應的插槽上。據此,測試板才能夠正確的對待測電路板進行檢測。
然而,在實際的例子中,待測電路板上的插槽和測試板上的插槽之間並沒有明確的標示配對連接的方式,使用者很可能會將待測電路板上的插槽連接至測試板上非對應的插槽,進而造成待測電路板檢測錯誤,抑或是造成待測電路板的損壞。
本新型在於提供一種可測試連接正確性的檢測裝置,藉以解決待測電路板和測試板之間連接錯誤時,可能造成待測電路板檢測錯誤或損壞的問題。
本新型所揭露的可測試連接正確性的檢測裝置,包含待測電路板、測試板及控制器。待測電路板具有多個第一連接埠,每一個第一連接埠電性連接至少一個電子元件。每一個第一連接埠電性連接的電子元件使每一個第一連接埠具有一個對應電阻值。測試板具有多個第二連接埠,第二連接埠透過連接線連接至第一連接埠。控制器電性連接測試板,用以控制已連接至第一連接埠的第二連接埠輸出測試訊號。測試訊號用以測試第一連接埠的對應電阻值,並據以判斷第一連接埠和第二連接埠的連接是否正確。
根據上述本新型所揭露的可測試連接正確性的檢測裝置,藉由於待測電路板上,對每一個第一連接埠設置不同的電子元件,使每一個第一連接埠具有不同的對應電阻值,當藉由連接線連接第一連接埠和第二連接埠時,控制器預先控制第二連接埠輸出測試訊號至第一連接埠,以測試第一連接埠的對應電阻值,據以判斷第一連接埠和第二連接埠之間是否連接正確,達到降低開始檢測時第一連接埠和第二連接埠連接錯誤的機會,並具有保護待測電路板的功效。
以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本新型之精神與原理,並且提供本新型之專利申請範圍更進一步之解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本新型之詳細特徵以及優點,其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本新型之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本新型相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本新型之觀點,但非以任何觀點限制本新型之範疇。
請一併參照圖1和圖2,圖1係為根據本新型一實施例所繪示之檢測裝置的示意圖,圖2係為根據本新型一實施例所繪示之檢測裝置的功能方塊圖。如圖所示,檢測裝置10具有待測電路板11、測試板13及控制器15。待測電路板11具有多個第一連接埠111,每一個第一連接埠111電性連接至少一個電子元件112。每一個第一連接埠111電性連接的電子元件112,使每一個第一連接埠111具有一個對應電阻值。測試板13具有多個第二連接埠131,第二連接埠131透過連接線17連接至第一連接埠111。控制器15電性連接測試板13,用以控制已連接至第一連接埠111的第二連接埠131輸出測試訊號。測試訊號用以測試第一連接埠111的對應電阻值,並據以判斷第一連接埠111和第二連接埠131的連接是否正確。
於一個實施例中,待測電路板11的每一個第一連接埠111具有多個第一連接端,測試板13的每一個第二連接埠131具有多個第二連接端。第一連接埠111的第一連接端和第二連接埠131的第二連接端具有相同的數量,但不以此為限。當第二連接埠131連接至第一連接埠111時,每一個第一連接端對應連接一個第二連接端。電子元件112例如為發光二極體、電阻或其他合適的電子元件。電子元件112電性連接於第一連接埠111的其中一個第一連接端,換言之,每一個第一連接埠111至少電性連接一個電子元件112,而電子元件112係電性連接於第一連接埠111的其中一個第一連接端,但不以此為限。於其他實施例中,亦可以有更多個電子元件電性連接於第一連接埠111其他的第一連接端。
在控制板15透過測試板13對待測電路板11檢測之前,需要將測試板13上的第二連接埠131連接至正確的第一連接埠111上,控制板15才能傳送對應的檢測訊號至正確的第一連接埠111。因此,本實施例將測試板13和待測電路板11透過連接線17連接後,控制器15會在開始進行檢測之前,先透過測試板13輸出測試訊號至待測電路板11,判斷第一連接埠111和第二連接埠131的連接是否正確。也就是說,控制器15控制已藉由連接線17連接至第一連接埠111的第二連接埠113輸出測試訊號,以測試訊號測試第一連接埠111的對應電阻值,再據以判斷第一連接埠111和第二連接埠113的連接是否正確。
為了方便說明,以圖2所示的第一連接埠PX1、第二連接埠PX2、第一連接端t1、第二連接端t2和電阻RX來說明。如圖2所示,測試板13的第二連接埠PX2藉由連接線17連接至待測電路板11的第一連接埠PX1。第一連接埠PX1的每一個第一連接端電性連接一個第二連接埠PX2的第二連接端。第二連接端t2被預設為在控制板15對待測電路板11檢測之前,先測試第二連接埠PX2是否連接至正確的第一連接埠的接腳。
控制器透過第二連接端t2輸出測試訊號至第一連接端t1,以測試第一連接端t1所連接的電阻RX的電阻值。測試訊號例如為預測電流值的測試電流,第二連接端t2透過第一連接端t1將測試電流輸出至電阻RX,並量測電阻RX兩端的電壓差值,使控制器15依據電阻RX兩端的電壓差值,計算電阻RX的電阻值。於一個實施例中,電阻RX兩端的電壓差值可由待測電路板11量測,且待測電路板11再依據電阻RX兩端的電壓差值回覆回饋訊息至控制器15,使控制器15依據回饋訊息計算電阻RX的電阻值。於其他實施例中,控制器15亦可以透過其他合適的方式判斷電阻RX的電阻值,本實施例不予限制。
以第二連接埠PX2預設連接的第一連接埠所對應的對應電阻值為5歐姆來說,當控制器15判斷電阻RX的電阻值為5歐姆時,表示第二連接埠PX2與第一連接埠PX1的連接是正確的。然而,當第二連接埠PX2預設連接的第一連接埠所對應的對應電阻值為3歐姆,控制器15判斷電阻RX的電阻值為5歐姆時,則表示第二連接埠PX2與第一連接埠PX1的連接是不正確的。
於一個實施例中,當控制器15判斷出電阻RX的電阻值後,控制器15更依據一個電阻值查找表,判斷第一連接埠111和第二連接埠113的連接是否正確。也就是說,電阻值查找表包含每一個第一連接埠111的對應電阻值,當控制器15判斷電阻RX的電阻值為5歐姆時,控制器15依據電阻值查找表比對第二連接埠PX2預設連接的第一連接埠所對應的對應電阻值是否為5歐姆,以判斷第一連接埠PX1和第二連接埠PX2的連接是否正確。
於另一個實施例中,當控制器15判斷第一連接埠和第二連接埠的連接不正確時,控制器15更依據電阻值查找表判斷第一連接埠預設連接的第二連接埠位置。換言之,當第二連接埠PX2預設連接的第一連接埠所對應的對應電阻值為3歐姆時,而控制器15量測到第一連接埠PX1的電阻RX的電阻值為5歐姆,控制器15判斷第一連接埠和第二連接埠的連接不正確,則控制器15依據電阻值查找表判斷電阻RX為5歐姆的第一連接埠為PX4。此時,控制器15可以提供第二連接埠PX2應該連接至第一連接埠為PX4的訊息,告知使用者,減少使用者試誤的次數。
於前述的實施例中,電子元件112係以電阻為例來說明,於其他實施例中,電子元件112亦例如為發光二極體或其他合適的電子元件,本實施例不予限制。此外,本實施例亦不限制第一連接埠111電性連接的電子元件112個數,例如當第一連接埠111電性連接兩個並聯的電阻時,第一連接埠111的對應電阻值則為兩個並聯的電阻的等效電阻值。當第一連接埠111電性連接兩個串聯的發光二極體時,第一連接埠111的對應電阻值則為兩個串聯的發光二極體的等效電阻值。
於前述的實施例中,待測電路板11的第一連接埠111和測試板13的第二連接埠131的連接係透過連接線17來實現。 連接線17例如為排線,一個連接線17中具有多個導線,且每一個導線的兩端分別連接於第一連接埠111的一個第一連接端和測試板13的一個第二連接端之間,但本實施例不予限制。於其他實施例中,待測電路板11的第一連接埠111和測試板13的第二連接埠131亦可以直接由多個導線連接或透過其他合適的方式連接。
綜合以上所述,本新型實施例提供一種可測試連接正確性的檢測裝置,藉由設置於每一個第一連接埠的電子元件,使每一個第一連接埠具有不同的對應電阻值。藉此,當第一連接埠和第二連接埠連接後,控制板可以預先藉由第二連接埠輸出測試訊號至第一連接埠,以量測第一連接埠的對應電阻值,據以比對第一連接埠的對應電阻值和第二連接埠預設連接的第一連接埠所對應的對應電阻值是否相同,據以判斷第一連接埠和第二連接埠之間的連接是否正確。藉此,本實施例的檢測裝置可以降低開始對待測電路板進行檢測時,第一連接埠和第二連接埠連接錯誤的機會,且減少控制器輸入錯誤的檢測訊號至待測電路板,造成待測電路板損壞的可能。
雖然本新型以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本新型。在不脫離本新型之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本新型之專利保護範圍。關於本新型所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
10‧‧‧檢測裝置
11‧‧‧待測電路板
111、PX1‧‧‧第一連接埠
112‧‧‧電阻
13‧‧‧測試板
131、PX2‧‧‧第二連接埠
15‧‧‧控制器
17‧‧‧連接線
t1‧‧‧第一連接端
t2‧‧‧第二連接端
RX‧‧‧電阻
11‧‧‧待測電路板
111、PX1‧‧‧第一連接埠
112‧‧‧電阻
13‧‧‧測試板
131、PX2‧‧‧第二連接埠
15‧‧‧控制器
17‧‧‧連接線
t1‧‧‧第一連接端
t2‧‧‧第二連接端
RX‧‧‧電阻
圖1係為根據本新型一實施例所繪示之檢測裝置的示意圖。 圖2係為根據本新型一實施例所繪示之檢測裝置的功能方塊圖。
10‧‧‧檢測裝置
11‧‧‧待測電路板
111‧‧‧第一連接埠
112‧‧‧電阻
13‧‧‧測試板
131‧‧‧第二連接埠
15‧‧‧控制器
17‧‧‧連接線
Claims (10)
- 一種可測試連接正確性的檢測裝置,包括:一待測電路板,具有多個第一連接埠,每一該第一連接埠電性連接至少一電子元件,每一該第一連接埠電性連接的該電子元件使每一該第一連接埠具有一對應電阻值;一測試板,具有多個第二連接埠,該些第二連接埠其中之一透過一連接線連接至該些第一連接埠其中之一;以及一控制器,電性連接該測試板,用以控制已連接至該些第一連接埠其中之一的該第二連接埠輸出一測試訊號,該測試訊號用以檢測該些第一連接埠其中之一的該對應電阻值,據以判斷該第一連接埠和該第二連接埠的連接是否正確。
- 如請求項1所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中每一該第一連接埠具有多個第一連接端,該些第一連接端其中至少一電性連接該電子元件。
- 如請求項2所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中每一該第二連接埠具有多個第二連接端,當該些第二連接埠其中之一透過該連接線連接至該些第一連接埠其中之一時,該第二連接埠的每一該第二連接端電性連接該些第一連接端其中之一。
- 如請求項3所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該控制器控制已連接至該些第一連接埠其中之一的該第二連接埠,以該些第二連接端其中之一輸出該測試訊號,該測試訊號透過該連接線輸出至具有該電子元件的該第一連接端,以檢測該電子元件的電阻值,據以判斷該第一連接埠和該第二連接埠的連接是否正確。
- 如請求項3所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該連接線包含多個導線,每一該導線連接於該些第一連接端其中之一和該些第二連接端其中之一之間。
- 如請求項1所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該電子元件為電阻,每一該第一連接埠電性連接的電阻的等效電阻值為該第一連接埠的該對應電阻值。
- 如請求項6所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該控制器控制已連接至該些第一連接埠其中之一的該第二連接埠輸出的該測試訊號為一測試電流,該控制器依據該電子元件兩端的電壓差值,判斷該第二連接埠連接的該第一連接埠的該對應電阻值。
- 如請求項1所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該電子元件為發光二極體,每一該第一連接埠電性連接的發光二極體的等效電阻值為該第一連接埠的該對應電阻值。
- 如請求項1所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中該控制器更依據一電阻值查找表,判斷該第一連接埠和該第二連接埠的連接是否正確,該電阻值查找表包含每一該第一連接埠的該對應電阻值。
- 如請求項9所述之可測試連接正確性的檢測裝置,其中當該控制器判斷該第一連接埠和該第二連接埠的連接不正確時,該控制器更依據該電阻值查找表判斷該第一連接埠預設連接的該第二連接埠位置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW104220752U TWM523102U (zh) | 2015-12-24 | 2015-12-24 | 可測試連接正確性的檢測裝置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW104220752U TWM523102U (zh) | 2015-12-24 | 2015-12-24 | 可測試連接正確性的檢測裝置 |
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Publication Number | Publication Date |
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TWM523102U true TWM523102U (zh) | 2016-06-01 |
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ID=56756564
Family Applications (1)
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TW104220752U TWM523102U (zh) | 2015-12-24 | 2015-12-24 | 可測試連接正確性的檢測裝置 |
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TW (1) | TWM523102U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI641846B (zh) * | 2016-11-24 | 2018-11-21 | 聯發科技(新加坡)私人有限公司 | 線序測試方法、裝置及電子設備 |
-
2015
- 2015-12-24 TW TW104220752U patent/TWM523102U/zh unknown
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TWI641846B (zh) * | 2016-11-24 | 2018-11-21 | 聯發科技(新加坡)私人有限公司 | 線序測試方法、裝置及電子設備 |
US10192634B2 (en) | 2016-11-24 | 2019-01-29 | Mediatek Singapore Pte. Ltd. | Wire order testing method and associated apparatus |
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