TWM484102U - 用於承載待測試電子裝置的治具 - Google Patents

Description

用於承載待測試電子裝置的治具

本新型涉及一種承載待測試電子裝置的治具。

許多電子裝置，例如手機、平板電腦、筆記本電腦，在生產過程中需要進行多道工序的測試。例如，在測試一種電子裝置的一插槽時，將電子裝置裝夾在該治具後，操作人員需要將插頭插入該插槽中，通過插頭與插槽的配合實現該電子裝置與該測試裝置的電連接。為了提高測試效率，需要設計一種結構以方便測試人員將插頭快速準確的插入到插槽中，並且最好能夠保護插頭及與該插頭相連接的連接線。

有鑒於此，本新型提供一承載待測試電子裝置的治具，該治具包括與電子裝置的一插槽相適配的可滑動的插頭，該插頭及其連接線均受到蓋板和插頭承載部的保護。

一種用於承載待測試電子裝置的治具，包括託盤，該託盤設置有收容腔，該收容腔用於容納該待測試電子裝置，還包括一插頭組件和一導電接觸組件；該插頭組件滑動地連接於該託盤，該插頭組件包括插頭承載部、蓋板和插頭，該插頭承載部和蓋板形成一腔體，該插頭包括插頭主體和導電端子部分，該插頭固定在該腔體內，該導電端子部分自該腔體的開口端向外伸出；該導電接觸組件位於該託盤的末端，該導電接觸組件包括多個導電片，每個導電片與該導電端子部分的一導電端子通過導線相連接；該插頭組件和該導電接觸組件通過一連接部相連接，該連接部設置有與該腔體相連通的收容槽，該收容槽用於收容該導線。

本新型的治具包括與電子裝置的一插槽相適配的可滑動的插頭，該插頭及其連接線均受到蓋板和插頭承載部的保護，測試人員可以通過滑動插頭實現將插頭快速準確的插入到插槽中。

請參照圖1和圖2，一種用於承載待測試電子裝置200的治具100包括託盤10、兩個夾持件20和撥動件30。該託盤10設置有與電子裝置200的輪廓相適應的收容腔11，該電子裝置200能恰好收容在該收容腔11中。請同時參考圖3，該治具100還包括該插頭組件40、導電接觸組件50及蓋板60。

在本實施方式中，該撥動件30可滑動地收容於該託盤10的一第一滑槽12中。該第一滑槽12與該收容腔11通過突出壁13相分隔，該突出壁13設置有與第一滑槽12和收容腔11相連通的兩個通孔131，該通孔131用於可滑動地收容該兩個夾持件20。該插頭組件40位於該兩個夾持件20之間，其可滑動地收容在突出壁13上位於兩個通孔131之間的第二滑槽15中。該導電接觸組件50收容在設置於託盤10末端且與收容腔11相連通的容置腔17中。

該夾持件20能夠沿著圖1和圖2中的X方向在通孔131中相對託盤10滑動，該夾持件20能夠卡住該電子裝置200而使之無法移動。該撥動件30能夠沿著圖1和圖2中的Y方向在第一滑槽12中相對託盤10滑動，該撥動件30用於推動該夾持件20滑動。該插頭組件40包括插頭41，該導電接觸組件50包括多個導電片51，每個導電片51通過導線（未示出）與插頭41的一個導電端子（未示出）相連接。在本實施方式中，該插頭組件40和導電接觸組件50均能沿著圖1和圖2中的X方向相對託盤10滑動。該蓋板60上設置有與該多個導電片51相對應的通孔61。

使用時，首先將待測試電子裝置200放置在該收容腔11中，並撥動該撥動件30使該夾持件20卡住該電子裝置200，然後推動該插頭組件40，使插頭41的導電端子部分插入電子裝置200的插槽中。此後，將治具100放置到測試裝置（未示出）上，測試裝置的探針穿過該蓋板60上的通孔61與導電片51相接觸，從而將測試裝置與該待測試電子裝置200電連接。該測試裝置可以通過讀取待測試電子裝置200中的資料或者向待測試電子裝置200寫入資料對待測試電子裝置200進行測試。測試完成後，滑動該插頭組件40使插頭41的導電端子部分脫離電子裝置200，然後撥動該撥動件30使夾持件20不再卡持該電子裝置200，此時，可以將該電子裝置200從收容腔11中取出。下文將對治具100的具體結構進行詳細描述。

如圖3所示，在本實施方式中，該第一滑槽12的一側壁121設置有凹槽122，該凹槽122的頂部123設置有開口124。該撥動件30的一側設置有凸塊31，該凸塊31收容在該凹槽122中，並與其頂部123相抵觸。由於該凸塊31受到該頂部123的抵觸，該撥動件30無法脫離該第一滑槽12。需要將撥動件30拆下時，滑動該撥動件30直至該凸塊31移動至該開口124的位置，該凸塊31不再受到該頂部123的限制，從而允許從該第一滑槽12中取出該撥動件30。

在本實施方式中，每個夾持件20包括滑塊21和自滑塊21的末端伸出的凸出部22。該每一滑塊21滑動地收容在該託盤10的突出壁13的通孔131中，並且能夠沿著圖1和圖2中的X方向相對託盤10滑動。該託盤10的一端向內伸出兩個凸出部14（圖1可見）。當該夾持件20滑動至如圖1所示的鎖定位置時，該凸出部22及凸出部14勾住該電子裝置200的上表面，從而能夠將電子裝置200定位在該收容腔11中而無法移動。

如圖3所示，在本實施方式中，該撥動件30還包括本體32及自本體32的兩端向外伸出的彎折部33。該本體32收容在該第一滑槽12的底部125上的通孔126中，該撥動件30滑動至本體32的末端與通孔126的一端接觸的位置時，該撥動件30無法繼續向前滑動。

該彎折部33與該底部125相對的表面上形成有推動柱34，該夾持件20的滑塊21上設置有收容槽23，該推動柱34收容在該收容槽23中。在本實施方式中，該收容槽23的相對的兩側壁均包括平面231、平面233以及連接平面231和233的斜面232。該平面231和233與圖1和圖2中的Y方向大致平行。因此，當推動柱34跟隨撥動件30移動從收容槽23的一端移動至另一端過程中，該推動柱34會接觸到該兩個斜面232中的一個，從而使得該夾持件20受到該推動柱34的推動而滑動。該夾持件20因此能夠在圖1所示的鎖定位置和圖2所示的解鎖位置之間滑動。

如圖4和5所示，該插頭組件40還包括插頭承載部42和蓋板43，該蓋板43通過螺釘固定在該承載部42。該蓋板43設置有容納腔431，該容納腔431和容納腔421構成與插頭41的主體411的輪廓相一致的腔體，該主體411恰好收容在該腔體中。該插頭41的導電端子部分412自該腔體的開口端向外伸出而完全位於該腔體之外。該容納腔421的兩端分別設置有止擋部422和423，該插頭41的主體411的兩端分別與止擋部422和423相抵觸，從而使插頭41受到止擋部422和423的限制而無法移動。該止擋部422的長度略小於主體411的寬度，如此，在電子裝置200的測試完成後，操作人員推動該插頭組件40將導電端子部分412拔出電子裝置200的插槽過程中，操作人員施加的拉力通過止擋部422均勻的施加到該主體411上，從而有利於導電端子部分412的順利拔出。

在本實施方式中，承載部42的兩側均設置有伸出部424，該蓋板43的兩側亦設置有伸出部432，每個伸出部424和與之相對的伸出部432之間形成有導向槽44（圖3可見），該導向槽44與託盤10的第二滑槽15側壁上的導向肋16相配合，實現插頭組件40滑動連接於該託盤10。

如圖4和5所示，該導電接觸組件50還包括導電片承載部52和導電片固定部53。該導電片承載部52和該插頭承載部42通過一連接部70連接在一起。在本實施方式中，該導電片承載部52、該插頭承載部42及該連接部70通過注塑成型的方式一體成型。該連接部70設置有收容槽71，該收容槽71用於容納連接插頭41的導電片和導電接觸組件50的導電片51的導線。在其他實施方式中，該連接部70可以省略，該導電片承載部52固定在該託盤10的容置腔17中，該導電片承載部52和插頭承載部42為分別單獨成型的零件。

在本實施方式中，該導電接觸組件50的導電片51包括大致相互平行的頂部511和底部512以及連接於頂部511的一端和底部512的一端的隔離部513。該導電片承載部52上設置有相互隔離的卡槽521，每個卡槽521中設置有卡塊522。每個導電片51收容在一卡槽521中，並且扣在其中的卡塊522上，即其頂部511、底部512和隔離部513的內表面分別與卡塊522的頂部、底部及端部相抵觸。導電片固定部53固定在該導電片承載部52的末端，其與導電片51的隔離部513的外表面相抵觸，從而使得導電片51無法脫離導電片承載部52。在本實施方式中，該導電片固定部53通過卡勾連接到該導電片承載部52。在其他實施方式中，該導電片固定部53可以通過螺釘固定到該導電片承載部52。

如圖3所示，在本實施方式中，託盤10的容置腔17的底部相應該導電片51設置有通孔171。在需要時，可將如圖1所示的治具100翻轉180度放置到測試裝置上，測試裝置的探針可以穿過通孔171接觸導電片51的底部512，從而將測試裝置與該待測試電子裝置200電連接。如此，假定電子裝置200包括前置攝像頭和後置攝像頭，在測試後置攝像頭時，可以將治具100以圖1所示的位元姿放置到測試裝置上，使後置攝像頭能夠接收測試指令拍攝特定位置的樣品。當測試前置攝像頭時，將治具100翻轉180度，使得前置攝像頭能夠收測試指令拍攝到特定位置的樣品。

如圖4和5所示，在本實施方式中，該連接部70的一側伸出有限位部72，當該插頭組件40滑動至圖1所示的位置時，該限位部72的末端位於該第一滑槽12中（圖1可見）。當該插頭組件40滑動至圖2所示的位置時，該限位部72的末端位於該容置腔17中，此時，若該撥動件30滑動至圖2所示的位置時，該撥動件30將擋住該限位部72，使該插頭組件40無法再次滑動至圖1所示的位置。這樣設置的作用在於，當該夾持件20處於圖2所示的解鎖位置時，電子裝置200不會受到夾持件20的卡持，可能會因電子裝置200沒有準確定位而導致電子裝置200的插槽與插頭41的導電端子部分412沒有對正，若此時將插頭組件40推動至圖1所示的位置時，可能會損壞導電端子部分412或者電子裝置200的插槽。

如圖2和3所示，在本實施方式中，該蓋板60與該託盤10分別單獨成型，該蓋板60通過緊固件固定在該託盤10上。可以理解地，在需要時，該蓋板60與該託盤10可以一體成型。

本新型的一個優點在於，該治具100的正面和反面均包括與導電片51相對應的通孔（即通孔61和171），使得無需取下電子裝置200即能夠實現以如圖1所示的正面位元姿測試電子裝置200以及以翻轉180度後的反面位元姿測試電子裝置200。與現有的治具相比，在需要以正面位元姿和反面位元姿測試電子裝置200時，本新型的治具100無需取下及再次裝載電子裝置200，降低了電子裝置200的外觀被劃傷的幾率。

本新型的另一個優點在於，插頭41及連接插頭41與導電片51連接的導線受到蓋板43、插頭承載部42以及連接部70的保護，從而不會在插拔插頭41過程中受到損壞。

本新型的另一個優點在於，撥動件30和插頭組件40的限位部72的配合，能夠防止電子裝置200沒有準確定位而可能造成的插頭41的導電端子部分412或者電子裝置200的插槽的損壞。

本新型的另一個優點在於，插頭組件40和導電接觸組件50可以作為一個整體安裝到託盤10或自託盤10上拆下，便於插頭組件40和導電接觸組件50的更換和維修。

100‧‧‧治具

200‧‧‧電子裝置

10‧‧‧託盤

11‧‧‧收容腔

12‧‧‧第一滑槽

121‧‧‧側壁

122‧‧‧凹槽

123‧‧‧頂部

124‧‧‧開口

125‧‧‧底部

126‧‧‧通孔

13‧‧‧突出壁

131‧‧‧通孔

14‧‧‧凸出部

15‧‧‧第二滑槽

16‧‧‧導向肋

17‧‧‧容置腔

171‧‧‧通孔

20‧‧‧夾持件

21‧‧‧滑塊

22‧‧‧凸出部

23‧‧‧收容槽

231、233‧‧‧平面

232‧‧‧斜面

30‧‧‧撥動件

31‧‧‧凸塊

32‧‧‧本體

33‧‧‧彎折部

34‧‧‧推動柱

40‧‧‧插頭組件

41‧‧‧插頭

411‧‧‧主體

412‧‧‧導電端子部分

42‧‧‧承載部

421‧‧‧容納腔

422、423‧‧‧止擋部

424‧‧‧伸出部

43‧‧‧蓋板

431‧‧‧容納腔

432‧‧‧伸出部

44‧‧‧導向槽

50‧‧‧導電接觸組件

51‧‧‧導電片

511‧‧‧頂部

512‧‧‧底部

513‧‧‧隔離部

52‧‧‧導電片承載部

521‧‧‧卡槽

522‧‧‧卡塊

53‧‧‧導電片固定部

60‧‧‧蓋板

61‧‧‧通孔

70‧‧‧連接部

71‧‧‧收容槽

72‧‧‧限位部

圖1係本新型的治具承載待測試電子裝置的立體圖。

圖2係本新型的治具的立體圖，其示意出一夾持件由圖1所示的鎖緊位置移動至一解鎖位置。

圖3係本新型的治具的分解圖。

圖4係本新型的治具的插頭組件和導電接觸組件的分解圖。

圖5係本新型的治具的插頭組件和導電接觸組件的另一角度的分解圖。

100‧‧‧治具

200‧‧‧電子裝置

10‧‧‧託盤

11‧‧‧收容腔

12‧‧‧第一滑槽

13‧‧‧突出壁

14‧‧‧凸出部

20‧‧‧夾持件

30‧‧‧撥動件

72‧‧‧限位部

Claims (5)

1. 一種用於承載待測試電子裝置的治具，包括託盤，該託盤設置有收容腔，該收容腔用於容納該待測試電子裝置，其改良在於，還包括一插頭組件和一導電接觸組件；
   該插頭組件滑動地連接於該託盤，該插頭組件包括插頭承載部、蓋板和插頭，該插頭承載部和蓋板形成一腔體，該插頭包括插頭主體和導電端子部分，該插頭主體固定在該腔體內，該導電端子部分自該腔體的開口端向外伸出；
   該導電接觸組件位於該託盤的末端，該導電接觸組件包括多個導電片，每個導電片與該導電端子部分的一導電端子通過導線相連接；
   該插頭組件和該導電接觸組件通過一連接部相連接，該連接部設置有與該腔體相連通的收容槽，該收容槽用於收容該導線。
2. 如申請專利範圍第1項所述之用於承載待測試電子裝置的治具，其中，該託盤設置一與該收容腔相連通的滑槽，該插頭組件滑動地收容於該滑槽中。
3. 如申請專利範圍第2項所述之用於承載待測試電子裝置的治具，其中，該滑槽的相對的兩個側壁上設置有導向肋，該插頭承載部和蓋板的兩側均包括向外伸出的伸出部，該承載部的伸出部和該蓋板的伸出部之間形成有導向槽，該導向肋與該導向槽相配合，從而將插頭組件滑動地連接於該託盤。
4. 如申請專利範圍第1項所述之用於承載待測試電子裝置的治具，其中，該導電接觸組件包括導電片承載部，該多個導電片固定在該導電片承載部上，該插頭承載部、該導電片承載部和該連接部通過一體成型方式成型。
5. 如申請專利範圍第4項所述之用於承載待測試電子裝置的治具，其中，該導電片承載部設置多個卡槽，該多個導電片分別收容在該多個卡槽中。