TWM484100U - 自動進樣器及其所應用之質譜儀 - Google Patents
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Description
本創作係有關一種自動進樣器及其所應用之質譜儀，尤指一種可節省量測時間、人力與成本之自動進樣器及其所應用之質譜儀。
藉由質譜分析技術，人們可獲知一樣品中待測物(analytes)的分子量，繼而配合進一步比對而確認該待測物的真實身分，因此自20世紀初期發展以來，用以實施該質譜分析技術的質譜儀，因為具有操作簡便且可快速獲得偵測結果之優勢，已然成為一廣為各領域使用之鑑定工具。
一般樣品中的各待測物是藉由游離裝置之游離化來獲得電荷，之後會被引導入質譜儀內並依其各自之m/z值(即『荷質比』，其中m為質量，z為所攜價數)而被分類區隔開來，最後綜合各訊號，並以圖譜方式呈現一系列統計結果，更可進一步配合軟體運作計算出該等待測物之分子量。
一般質譜儀的主要可以分為五部分：進樣系統、離子源(Ion Source)、質量分析器(Mass Analyzer)、偵測器(Detector)及資料處理系統(Data System)；其中，該進樣系統主要功能是將待測物(例如蛋白質)送入機器中。在送入機器之前，這些蛋白質樣品可以先經過純化、分離、或是以蛋白質水解脢水解成胜肽片段。進樣系統負責將樣品送入離子源，而不同狀態之樣品(氣、液或固相)需要不同的進樣系統。
如何研發出一種自動進樣系統可節省量測分析時間及降低人力，為目前業界亟欲解決之問題。
有鑑於此，本創作係在提供一種自動進樣器及其所應用之質譜儀，尤指一種可節省量測時間、人力與成本之自動進樣器及其所應用之質譜儀，為其主要目的者。
為達上揭目的，本創作之自動進樣器至少包含有：樣品盤、樣品架、復位元件以及線性致動器，該樣品盤設有至少一容置孔，該樣品架分別活動的設置在該樣品盤之容置孔，該樣品架頂端設有一表面可供承置待分析樣品，該復位元件設置於該樣品盤及該樣品架之間，常態提供該樣品架朝該樣品盤移動之力量，該線性致動器設於該樣品盤之一側，可提供該樣品架於該容置孔線性移動之動力，可利用該自動進樣器自動提供多種待分析樣品依序進行分析。
依據上述技術特徵，所述復位元件係設置於該容置孔與該樣品架之間。
上述之復位元件係為彈簧。
依據上述技術特徵，所述線性致動器設有一動力件及與該動力件連接之推桿。
依據上述技術特徵，所述線性致動器設有一控制件，該控制件係與該動力件連接。
依據上述技術特徵，所述自動進樣器另設有一固定組件，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，可固定該樣品架伸出於該樣品盤之位置。
依據上述技術特徵，所述自動進樣器另設有一移動組件，該移動組件係與該樣品盤連接，可帶動該樣品盤進行至少
一軸向之移動。
依據上述技術特徵，所述自動進樣器另設有一固定組件，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，可固定該樣品架伸出於該樣品盤之位置；另設有一移動組件，該移動組件係與該樣品盤連接，可帶動該樣品盤進行至少一軸向之移動。
本創作另提供一種質譜儀，至少包含有：離子阱、自動進樣器以及一雷射光源，該離子阱設有第一、第二帽電極以及環電極，該第一、第二帽電極係相互對應設置，該環電極係位於該第一、第二帽電極之間，並環繞於該第一、第二帽電極外，該離子阱並設有一洞口，該自動進樣器係設於該洞口外，該雷射光源則射入該離子阱。
依據上述技術特徵，所述洞口係位於該第一帽電極或環電極。
依據上述技術特徵，所述質譜儀另設有一光學透鏡，該光學透鏡係設置於該雷射光源之行進路徑中，且該光學透鏡係垂直於該雷射光源之行進路徑，且該光學透鏡可經由一移動組件而形成橫向移動。
L‧‧‧行進路徑
10‧‧‧樣品盤
11‧‧‧容置孔
20‧‧‧樣品架
21‧‧‧桿體
22‧‧‧擴大部
23‧‧‧表面
30‧‧‧復位元件
40‧‧‧線性致動器
41‧‧‧動力件
42‧‧‧控制件
43‧‧‧推桿
50‧‧‧移動組件
60‧‧‧離子阱
61‧‧‧第一帽電極
62‧‧‧第二帽電極
63‧‧‧環電極
64‧‧‧洞口
70‧‧‧雷射光源
71‧‧‧光學透鏡
第一圖係為本創作中自動進樣器之結構示意圖。
第二圖係為本創作中質譜儀之結構示意圖。
第三圖係為本創作中自動進樣器之動作示意圖。
第四圖係為本創作中質譜儀之另一結構示意圖。
本創作之特點，可參閱本案圖式及實施例之詳細說明而獲得清楚地瞭解。
如第一圖為本創作自動進樣器之結構示意圖所示，本創作之自動進樣器至少包含有：至少一樣品盤10、至少一樣品架20、復位元件30以及線性致動器40。
該樣品盤10設有至少一容置孔11以供容置樣品架20；該樣品架20分別活動的設置在該樣品盤之容置孔11，如圖所示之實施例中，該樣品架20設有一桿體21以及位於該桿體21末端之擴大部22，該樣品架之桿體21頂端設有一表面23，可供放置待分析樣品。另外，可設有一移動組件50，該移動組件50係與該樣品盤10連接，可帶動該樣品盤10進行至少一軸向之移動。
該復位元件30設置於該樣品盤10及該樣品架20之間，如圖所示之實施例中，該復位元件30可以為彈簧，且設置於該容置孔11與該樣品架20之間，並套設於該桿體21外且相對壓抵於該擴大部22上，常態提供該樣品架20朝該樣品盤10移動之力量。
該線性致動器40設於該樣品盤10之一側，可提供該樣品架20於該容置孔11線性移動之動力；其中，該線性致動器40設有一動力件41、控制件42及與該動力件41連接之推桿43，該控制件42係與該動力件41連接，由該動力件41可帶動該推桿43線性移動，而該控制件42則可控制該動力件41之動作。
整體使用時，如第二圖所示，本創作之自動進樣器係應用於一質譜儀中；其中該質譜儀至少包含有：離子阱60、自動進樣器以及一雷射光源70，該離子阱60可為，例如，一四極離子阱設有第一、第二帽電極61、62以及環電極63，該第一、第二帽電極61、62係相互對應設置，該環電極63係位於該第一、第二帽電極61、62之間，並環繞於該第一、第二帽電極61、62外，該離子阱並設有一洞口64，如圖所示之實施例中，該洞口64可位於
該第一帽電極61或環電極63，該雷射光源70則射入該離子阱60。
其中，該自動進樣器係設於該第一帽電極61之洞口64外，由該線性致動器40之推桿43朝該樣品盤10移動，如第三圖所示，將特定承載有待分析樣品之樣品架20朝容置孔11外推抵，使該樣品架之表面23可伸入該第一帽電極61之洞口64進行後續之分析；亦可由該環電極之洞口伸入而進行後續之分析。當然，當該線性致動器往下移動不施以推抵力量於該樣品架時，該樣品架可由復位元件之作用而回復至該容置孔內之原始位置。
再者，可進一步設有一固定組件(圖未示)，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，縱使該線性致動器往下移動，亦可固定該樣品架20伸出於該樣品盤10之位置，如第四圖所示，且可利用該移動組件50帶動該樣品盤10進行橫向的掃描移動。另外，亦可設有一光學透鏡71，該光學透鏡71係設置於該雷射光源70之行進路徑L中，且該光學透鏡71係垂直於該雷射光源70之行進路徑L，且該光學透鏡71可經由一移動組件(圖未示)而形成橫向移動，藉以使雷射光源70之光點位置形成橫移，同樣可達到掃描之目的。
綜上所述，本創作提供一較佳可行之自動進樣器及其所應用之質譜儀，爰依法提呈新型專利之申請；本創作之技術內容及技術特點巳揭示如上，然而熟悉本項技術之人士仍可能基於本創作之揭示而作各種不背離本案創作精神之替換及修飾。因此，本創作之保護範圍應不限於實施例所揭示者，而應包括各種不背離本創作之替換及修飾，並為以下之申請專利範圍所涵蓋。
10‧‧‧樣品盤
11‧‧‧容置孔
20‧‧‧樣品架
21‧‧‧桿體
22‧‧‧擴大部
23‧‧‧表面
30‧‧‧復位元件
40‧‧‧線性致動器
41‧‧‧動力件
42‧‧‧控制件
43‧‧‧推桿
50‧‧‧移動組件
Claims (11)
- 一種自動進樣器，至少包含有：至少一樣品盤，設有至少一容置孔；至少一樣品架，分別活動的設置在該樣品盤之容置孔，該樣品架頂端設有一表面；復位元件，設置於該樣品盤及該樣品架之間，常態提供該樣品架朝該樣品盤移動之力量；以及線性致動器，設於該樣品盤之一側，可提供該樣品架於該容置孔線性移動之動力。
- 如請求項1所述之自動進樣器，其中，該復位元件係設置於該容置孔與該樣品架之間。
- 如請求項1所述之自動進樣器，其中，該復位元件係為彈簧。
- 如請求項1所述之自動進樣器，其中，該線性致動器設有一動力件及與該動力件連接之推桿。
- 如請求項4所述之自動進樣器，其中，該線性致動器設有一控制件，該控制件係與該動力件連接。
- 如請求項1至5其中一項所述之自動進樣器，其中，另設有一固定組件，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，可固定該樣品架伸出於該樣品盤之位置。
- 如請求項1至5其中一項所述之自動進樣器，其中，另設有一移動組件，該移動組件係與該樣品盤連接，可帶動該樣品盤進行至少一軸向之移動。
- 如請求項1至5其中一項所述之自動進樣器，其中，另設有一固定組件，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，可固定該樣品 架伸出於該樣品盤之位置；另設有一固定組件，該固定組件係設置於該樣品盤之一側，可固定該樣品架伸出於該樣品盤之位置。
- 一種質譜儀，至少包含有：離子阱，設有第一、第二帽電極以及環電極，該第一、第二帽電極係相互對應設置，該環電極係位於該第一、第二帽電極之間，並環繞於該第一、第二帽電極外，該離子阱並設有一洞口；如請求項1所述之自動進樣器，係設於該洞口外；以及一雷射光源，係射入該離子阱。
- 如請求項9所述之質譜儀，其中，該洞口係位於該第一帽電極或環電極。
- 如請求項9或10所述之質譜儀，其中，另設有一光學透鏡，該光學透鏡係設置於該雷射光源之行進路徑中，且該光學透鏡係垂直於該雷射光源之行進路徑，且該光學透鏡可經由一移動組件而形成橫向移動。
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2014
- 2014-04-24 TW TW103207160U patent/TWM484100U/zh not_active IP Right Cessation
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