TWM478159U - 面板測試桿頭結構 - Google Patents

Description

面板測試桿頭結構

本新型係關於一種桿頭結構，特別係關於一種面板測試桿頭結構。

觸控面板的運用極為廣泛，尤其在電腦、手機與PDA等電子產品上為隨處可見。觸控面板內部具有精細之觸控電路來感應表面所受壓力的坐標正確位置，才不致發生輸入錯誤的情形，因此，每一觸控面板在製造完成後，必須經過測試，才能繼續各種資訊產品的裝配，以保障產品的精確性。

早期的觸控面板測試為人工測試，然需求量大增後，人工測試的方式已被觸控面板測試機所取代。目前的觸控面板測試機台雖能針對電阻式及電容式觸控面板進行測試，但大多數面板測試桿頭只有單頭，或者縱使具有多測頭，但測試機台卻需要兩組工作平台，雖其能透過雙台面多測頭之設計，達到不停機的持續測試，提高測試效率，但卻往往增加了觸控面板測試機台的製造成本。

有鑑於此，一種能不增加成本，同時能達成多點觸控測試，增加面板觸控測試彈性的面板測試桿頭結構，乃為本業界所極力企求的。

本新型之主要目的在於提供一種面板測試桿頭結構。

為了達成上述目的，本新型提供一種面板測試桿頭結構，包括桿頭支撐平台以及至少一測試桿頭。桿頭支撐平台， 桿頭支撐平台於其平台中央處佈設有一貫通溝槽，於其端面處則與一旋轉動力機構做連接，旋轉動力機構用以帶動桿頭支撐平台的旋轉。至少一測試桿頭，測試桿頭穿過貫通溝槽，並透過滑塊結構以卡合至桿頭支撐平台上，且測試桿頭透過螺絲以被鎖設於桿頭支撐平台的貫通溝槽內。

為使熟悉該項技術人士瞭解本新型之目的、特徵及功效，茲藉由下述具體實施例，並配合所附之圖式，對本新型詳加說明如後。

1‧‧‧面板測試桿頭結構

10‧‧‧桿頭支撐平台

12‧‧‧測試桿頭

102‧‧‧貫通溝槽

141‧‧‧滑塊結構

105‧‧‧量測刻度

2‧‧‧觸控面板測試機台

22‧‧‧平台

24‧‧‧旋轉動力機構

第一圖係為面板測試桿頭結構的立體圖；第二圖係為面板測試桿頭結構的一實施例；第三圖係為裝設有面板測試桿頭結構之觸控面板測試機台實施例的前視圖；第四圖係為裝設有面板測試桿頭結構之觸控面板測試機台實施例的側視圖；第五圖係為裝設有面板測試桿頭結構之觸控面板測試機台實施例的俯視圖；以及第六圖係為裝設有面板測試桿頭結構之觸控面板測試機台實施例的立體圖。

以下將透過實施例來解釋本新型內容，其係關於一種面板測試桿頭結構。然而，本新型之實施例並非用以限制實施本新型之任何特定的環境、應用或特殊方式。因此，關於實施例之說明僅為闡釋本新型之目的，而非用以限制本新型。需說明者，以下實施例及圖式中，與本新型非直接相關之元件均已省略而未繪示；且為求簡易瞭解起見，各元件間之尺寸關係並非依照實際比例繪示出。

請參閱第一圖，第一圖係繪示本新型的面板測試桿頭結構1立體圖。

如第一圖所示，面板測試桿頭結構1包括桿頭支撐平台10以及測試桿頭12。本新型面板測試桿頭結構1的測試桿頭12的數量，並非限定僅有一個，一個以上的數量皆係本新型所欲主張的範圍。

桿頭支撐平台10，桿頭支撐平台10於其平台中央處佈設有貫通溝槽102，於其端面處則與旋轉動力機構(圖未繪示)做連接，旋轉動力機構用以帶動桿頭支撐平台10的旋轉，其中旋轉動力機構可為馬達、旋轉油壓缸、旋轉氣壓缸等動力裝置。

測試桿頭12，測試桿頭12穿過貫通溝槽102，並透過滑塊結構141以卡合至桿頭支撐平台10上，且測試桿頭12透過螺絲以被鎖設於桿頭支撐平台10的貫通溝槽102內。

須說明的是，測試桿頭12的數量係為至少一個，亦即可為一個或複數個。

藉此，在透過旋轉動力機構帶動桿頭支撐平台10旋轉的同時，亦可順勢帶動測試桿頭12的旋轉。

值得一提的是，桿頭支撐平台10上尚刻印有量測刻度105，當欲調整測試桿頭12的左右位置時，只需鬆開螺絲，即可調整測試桿頭12於量測刻度105上的左右位置，待測試桿頭12移動至所需位置時，鎖上螺絲即可鎖固測試桿頭12，以便自由調整測試桿頭12的位置。

如第二圖所示，係為面板測試桿頭結構1的一實施例。在本實施例中，面板測試桿頭結構1包括桿頭支撐平台10以及五個測試桿頭12。

桿頭支撐平台10，桿頭支撐平台10於其平台中央處佈設有貫通溝槽102，於其端面處則與旋轉動力機構(圖未繪示)做連接，旋轉動力機構用以帶動桿頭支撐平台10的旋轉，其中旋轉動力機構可為馬達、旋轉油壓缸、旋轉氣壓缸等動力裝置。

測試桿頭12，測試桿頭12穿過貫通溝槽102，並透過滑塊結構141以將五個測試桿頭12卡合至桿頭支撐平台10上， 且該五個測試桿頭12係透過螺絲以被鎖設於桿頭支撐平台10的貫通溝槽102內，其中五個測試桿頭12彼此間係呈直線排列。

藉此，在透過旋轉動力機構帶動桿頭支撐平台10旋轉的同時，亦可順勢帶動測試桿頭12的旋轉。

值得一提的是，桿頭支撐平台10上尚刻印有量測刻度105，當欲調整測試桿頭12的左右位置時，只需鬆開螺絲，即可調整測試桿頭12於量測刻度105上的左右位置，待測試桿頭12移動至所需位置時，鎖上螺絲即可鎖固測試桿頭12，以便自由調整測試桿頭12的位置。

如第三~六圖所示，係為裝設有面板測試桿頭結構1之觸控面板測試機台2實施例的前視圖、側視圖、俯視圖以及立體圖。

請合併參閱第一~六圖，於觸控面板測試機台2上設有平台22，平台22係用以承載觸控面板。面板測試桿頭結構1包括桿頭支撐平台10以及測試桿頭12。

桿頭支撐平台10，其於平台中央處佈設有貫通溝槽102，其於端面處則與旋轉動力機構24做連接，旋轉動力機構24用以帶動整體面板測試桿頭結構1的旋轉。

更詳細地說，旋轉動力機構24用以帶動面板測試桿頭結構1的旋轉桿頭支撐平台10旋轉，在桿頭支撐平台10旋轉的同時，亦順勢帶動測試桿頭12進行旋轉。

再者，本新型的面板測試桿頭結構1搭配觸控面板測試機台2的xyz軸傳動機構，將可以有效達成對觸控面板的多點觸控測試。

本新型面板測試桿頭結構1的優點係透過調節測試桿頭12的數量，以增加對觸控面板測試的多樣性，也降低製造商在機台生產上的成本。

藉由以上較佳具體實施例之詳述係希望能更加清楚描述本新型之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施 例來對本新型之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本新型所欲申請之專利範圍內。

1‧‧‧面板測試桿頭結構

10‧‧‧桿頭支撐平台

12‧‧‧測試桿頭

102‧‧‧貫通溝槽

141‧‧‧滑塊結構

105‧‧‧量測刻度

Claims (8)

1. 一種面板測試桿頭結構，其包括：一桿頭支撐平台，該桿頭支撐平台於其平台中央處佈設有一貫通溝槽，該桿頭支撐平台的一端則與一旋轉動力機構做連接，該旋轉動力機構用以帶動該桿頭支撐平台的旋轉；以及至少一測試桿頭，該測試桿頭穿過該貫通溝槽，並透過滑塊結構以卡合至該桿頭支撐平台上，且該測試桿頭透過螺絲以被鎖設於該桿頭支撐平台的貫通溝槽內。
2. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該旋轉動力機構係為一馬達。
3. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該旋轉動力機構係為一旋轉氣壓缸。
4. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該旋轉動力機構係為一旋轉油壓缸。
5. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該桿頭支撐平台具有一量測刻度。
6. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該至少一測試桿頭，其彼此間係呈直線排列。
7. 如申請專利範圍第1項所述之面板測試桿頭結構，其中該測試桿頭的數量係為五個。
8. 如申請專利範圍第7項所述之面板測試桿頭結構，其中該五個測試桿頭彼此間係呈直線排列。