TWM449132U - 檢驗試管的端蓋結構改良（一） - Google Patents

Description

檢驗試管的端蓋結構改良(一)

本創作係有關於一種「檢驗試管的端蓋結構改良(一)」，尤指一種在檢體倒入檢驗試管後，用以封閉檢驗試管之端蓋結構者。

常規尿液檢查為臨床醫學常見之檢查項目，其檢驗方式包含化學檢查及顯微鏡檢查，有助於發現診斷腎臟及尿道等相關疾病。

而目前一般用於尿液檢查之檢驗試管結構，多如第八圖所示，其主要具有一試管本體(40)與一蓋設於試管本體(40)上方，以用來封閉開口(41)之端蓋(50)，該試管本體(40)與端蓋(50)上並分設有卡扣緣(42)(51)，當尿液或血液等檢體從開口(41)倒入於試管本體(40)內時，即以卡扣緣(42)(51)相互之扣掣，而令端蓋(50)能在試管本體(40)上獲得固定，當要檢驗時，則將端蓋(50)取下，讓探針能汲取試管本體(40)內的檢體以進行檢驗。

然，如上所述之習知結構於實際應用中仍存在有下述之問題點：(一)檢驗前須由人員先移除端蓋(60)，除不利於實驗流程自動化外，移除過程手指必然碰觸到試管本體(50)開口(51)，亦有汙染檢體造成檢驗結果不夠精確之可能；(二)因檢驗過程中，儀器探針將伸入試管底部打入氣體使檢體混合，故檢驗前須由人員調整檢體量，否則過量的檢體將溢出汙染儀器及實驗人員，造成 操作上的不便及感染的風險。

是以，如何針對上述習知檢驗試管結構所存在之缺點進行研發改良，實為相關業界所需努力研發之目標，本創作人有鑑於此，乃思及創作的意念，遂以多年的經驗加以設計，經多方探討並試作樣品試驗，及多次修正改良，乃推出本創作。

習知之檢驗試管於檢驗前須由實驗人員開蓋並調整檢體容量，儀器方能採樣進行檢驗，不利於檢驗自動化，此乃欲解決之技術問題點者。

本創作提供一種檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其包含有：一試管本體及一端蓋，其中，試管本體上方設有結合段，並開設有一開口，且該開口係往試管本體內部做深入，俾在試管本體中形成有一容置空間，端蓋底端凹設有一套合槽，套合槽內壁設有結合段，往上形成有延伸部，且該延伸部端面中央係貫穿有一與套合槽保持相通之中孔，該中孔往外在延伸部頂端則擴大環設有往上高起之擋緣，又中孔上方係一體成型有一封口膜，該封口膜頂面乃由周側往中央做漸低傾斜，俾以在該處構成一導引面，在導引面上並設有通過中心且呈十字交錯狀之切痕，透過該導引面 與切痕之配合，將令封口膜在檢驗時可更容易被探針刺穿，及利用封口膜之一體成型出，係能用來對中孔上方進行封閉，藉此，俾以得到一種檢驗試管的端蓋結構改良(一)者。

(一)本創作提供檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其檢驗時不需將端蓋取下，而透過擋緣的環設，亦能避免手指直接碰觸到封口膜，該都能大幅降低檢體或檢驗人員被污染的機會，檢驗的可信度高者。

(二)本創作提供檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其檢驗時不需將端蓋取下，故使用上將更便利者。

(三)本創作提供檢驗試管的端蓋結構改良(一)，當探針刺入，造成檢體高度上升時，係能以延伸部之中孔提供該高起之檢體蓄積，俾避免檢體溢出，而造成污染者。

(四)本創作提供檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其利用導引面與切痕的配合，將令封口膜在檢驗時可更容易被探針刺穿，俾令檢驗時程可再獲得縮短者。

為使 貴審查委員對本創作之目的、特徵及功效能夠有更進一步之瞭解與認識，以下茲請配合【圖式簡單說明】列舉實施例，詳述說明如后： 首先，請由第一圖至第三圖所示觀之，其包含有：一試管本體(10)及一端蓋(20)，其中，試管本體(10)上方設有結合段(11)，並開設有一開口(12)，且該開口(12)係往試管本體(10)內部做深入，俾在試管本體(10)中形成有一容置空間(13)，端蓋(20)底端凹設有一套合槽(21)，套合槽(21)內壁設有結合段(22)，往上形成有延伸部(23)，且該延伸部(23)端面中央係貫穿有一與套合槽(21)保持相通之中孔(24)，該中孔(24)往外在延伸部(23)頂端則擴大環設有往上高起之擋緣(25)，又中孔(24)上方係一體成型有一封口膜(26)，該封口膜(26)頂面乃由周側往中央做漸低傾斜，俾以在該處構成一導引面(27)，在導引面(27)上並設有通過中心且呈十字交錯狀之切痕(28)，透過該導引面(27)與切痕(28)之配合，將令封口膜(26)在檢驗時可更容易被探針(30)刺穿，及利用封口膜(26)之一體成型出，係能用來對中孔(24)上方進行封閉者。

其實際使用時，係以開口(12)提供尿液或血液等各式檢體倒入，俾據以容置在試管本體(10)之容置空間(13)中，透過結合段(11)(22)的相互配合，將令端蓋(20)可結合在試管本體(10)上，以利用端蓋(20)與封口膜(26)將試管本體(10)上方之開口(12)封閉，該相對能避免檢體再往外流出或滲出，當要檢驗時，則直接以探針(30)刺穿封口膜(26)，讓檢驗人員不需將端蓋(20)取下，亦能順利汲取到試管本體(10)內的檢體進行檢驗，及當探針(30) 刺入，造成檢體高度上升時，係能以延伸部(23)之中孔(24)提供該高起之檢體蓄積(請同時由第四圖所示觀之)，俾避免檢體溢出，而造成污染者。

另，上述試管本體(10)與端蓋(20)之結合段(11)(22)係設呈卡緣(請同時由第一圖至第四圖所示)或內、外螺紋(請同時由第五圖至第七圖所示)之配合，俾令試管本體(10)與端蓋(20)能進行相互之嵌卡或螺鎖者。

藉上述具體實施例之結構，可得到下述之效益：(一)其檢驗時不需將端蓋(20)取下，而透過擋緣(25)的環設，亦能避免手指直接碰觸到封口膜(26)，該都能大幅降低檢體或檢驗人員被污染的機會，檢驗的可信度高者；(二)其檢驗時不需將端蓋(20)取下，故使用上將更便利者；(三)當探針(30)刺入，造成檢體高度上升時，係能以延伸部(23)之中孔(24)提供該高起之檢體蓄積，俾避免檢體溢出，而造成污染者；(四)其利用導引面(27)與切痕(28)的配合，將令封口膜(26)在檢驗時可更容易被探針(30)刺穿，俾令檢驗時程可再獲得縮短者。

綜上所述，本創作確實已達突破性之結構設計，而具有改良之創作內容，同時又能夠達到產業上之利用性與進步性，且本創作未見於任何刊物，亦具新穎性，當符合專利法相關法條之規定，爰依法提出新型專利申請，懇請 鈞局審查委員授予合法專利 權，至為感禱。

唯以上所述者，僅為本創作之一較佳實施例而已，當不能以之限定本創作實施之範圍；即大凡依本創作申請專利範圍所作之均等變化與修飾，皆應仍屬本創作專利涵蓋之範圍內。

本創作部分：

(10)‧‧‧試管本體

(11)‧‧‧結合段

(12)‧‧‧開口

(13)‧‧‧容置空間

(20)‧‧‧端蓋

(21)‧‧‧套合槽

(22)‧‧‧結合段

(23)‧‧‧延伸部

(24)‧‧‧中孔

(25)‧‧‧擋緣

(26)‧‧‧封口膜

(27)‧‧‧導引面

(28)‧‧‧切痕

(30)‧‧‧探針

習知部分：

(40)‧‧‧試管本體

(41)‧‧‧開口

(42)‧‧‧卡扣緣

(50)‧‧‧端蓋

(51)‧‧‧卡扣緣

第一圖：係本創作第一實施例之立體組合圖。

第二圖：係本創作第一實施例之立體分解圖。

第三圖：係本創作第一實施例之組合剖面圖。

第四圖：係本創作第一實施例使用時之探針穿入圖。

第五圖：係本創作第二實施例之立體組合圖。

第六圖：係本創作第二實施例之立體分解圖。

第七圖：係本創作第二實施例之組合剖面圖。

第八圖：係習知結構圖。

(10)‧‧‧試管本體

(11)‧‧‧結合段

(12)‧‧‧開口

(13)‧‧‧容置空間

(20)‧‧‧端蓋

(21)‧‧‧套合槽

(22)‧‧‧結合段

(23)‧‧‧延伸部

(24)‧‧‧中孔

(25)‧‧‧擋緣

(26)‧‧‧封口膜

(27)‧‧‧導引面

(28)‧‧‧切痕

Claims (5)

1. 一種檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其包含有：一試管本體及一端蓋，其中，試管本體上方設有結合段，並開設有一開口，且該開口係往試管本體內部做深入，俾在試管本體中形成有一容置空間，端蓋底端凹設有一套合槽，套合槽內壁設有結合段，往上形成有延伸部，且該延伸部端面中央係貫穿有一與套合槽保持相通之中孔，其特徵在於：中孔上方係一體成型有一封口膜，該封口膜頂面乃由周側往中央做漸低傾斜，俾以在該處構成一導引面，在導引面上並設有通過其中心之切痕，透過該導引面與切痕之配合，將令封口膜在檢驗時可更容易被刺穿，及利用封口膜之一體成型出，係能用來對中孔上方進行封閉；藉由上述結構，當檢體從開口置入於試管本體之容置空間內時，係透過結合段之相互配合，將端蓋蓋設在試管本體上，以用來封閉試管本體之開口者。
2. 根據申請專利範圍第1項所述之檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其中，試管本體與端蓋之結合段係設呈卡緣之配合，俾令試管本體與端蓋能進行相互之嵌卡者。
3. 根據申請專利範圍第1項所述之檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其中，試管本體與端蓋之結合段係設呈內、外螺紋之配 合，俾令試管本體與端蓋能進行相互之螺鎖者。
4. 根據申請專利範圍第1項所述之檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其中，中孔往外在延伸部頂端係擴大環設有往上高起之擋緣者。
5. 根據申請專利範圍第1項所述之檢驗試管的端蓋結構改良(一)，其中，導引面上係設有通過其中心且呈十字交錯狀之切痕者。