TWM441237U - Pogo pin connector - Google Patents

Description

M441237 立、新尘說明. 【新型所屬之技術領域】 _ 本創作涉及一種連接器，尤其涉及-種探針連接器 Ο 【先前技術】 [0002] 按，如第及第二圖所示，習知的-種探針連接 器包括一金屬套管1〇，、一探針2〇，及一彈簧3〇 ，。金屬套管1〇，具有一圓筒狀呈中空結構的容置筒 Φ 11 ，容置筒1丄，前端設有一封閉該容置筒11, 前端的底座12，，容置筒1 1,之後端向内收縮，形 成一直控小於容置疴1 1 ’直徑的開口 1 1 1，，底座 12與容置筒11，圍成一收容空間13, ^所述探 針20，活動地裝設於金屬套管1〇，上，具有一呈圓 柱形的滑動部21，，滑動部2 1，一端沿其縱向方向 向外凸伸一呈圓柱形的接觸部2 2，。滑動部2 1，裝 設於金屬套管1〇的容置容間13’内，該接觸部2 # 2，穿過金屬套管1 〇，之開口 111,伸出金屬套管 10，外，從而接觸部2 1，可與外部電子元件電性連 接。所述彈性件30，收容於金屬套管1〇，的容置容 間13’内’其一端抵頂於金屬套管1〇’之底座12 ’，另一端抵頂於探針20’之滑動部21’上。 惟，上述的收容空間13’只通過開口 ill，與 外界連通’在電鍍製程中，以在金屬套管11，的内外 表面形成金屬鍍層時，易造成金屬套管11’内空氣無 法排出’而阻擋電鍍液注入金屬套管11，底部使底部 10121067(^ 單編號 A0101 第3頁/共14頁 1012034264-0 M441237 的金屬套管11’管壁電鍍不良，電鍍完後，在空氣氣 壓作用下電鍍液易殘留於收容空間13’内，造成電鍍 液殘留，導致探針連接器工作時導電不良，局部升溫過 高增大產品的不良率。 【新型内容】 [0003] 本創作之目的在於克服上述現有技術中的不足，提 供一種製造方便，能確保製造品質，從而可有效降低製 作成本的探針連接器。 為達成上述目的，本創作所提供探針連接器，包括 一金屬套管、一探針及一彈性件。所述金屬套管具有一 圓筒狀呈中空結構的容置筒及一封閉該容置筒後端的底 座，底座與容置筒圍成一收容空間，金屬套管上開設有 至少一與收容空間相連通的導孔；所述探針可活動地裝 設於金屬套管内，且其一端可伸出金屬套管；所述彈性 件收容於金屬套管的收容空間内，並抵頂於探針和底座 之間。 綜上所述，本創作探針連接器藉由金屬套管上開設 有導孔，電鍍時，金屬套管通過導孔排出管内空氣，提 高電鍍液在收容空間内的流動性使之充分填滿收容空間 ，並在電鍍完成後，殘留的電鍍液很容易流出收容空間 ，防止金屬套管管壁電鍍不良，電鍍液殘留於收容空間 底部，導致探針連接器工作時導電不良，局部升溫過高 的現象發生。 【實施方式】 [0004] 為詳細說明本創作之技術内容、構造特徵、所達成 10121067#單編號 A〇101 第4頁/共14頁 1012034264-0 目的及功效，以下茲舉例並配合圖式詳予說明。 請參閱第三圖、第四圖及第五圖，為本創作探針連 接器的第一實施例，該實施例中，探針連接器包括一金 屬套管1 0、一探針2 0及一彈性件3 0。 所述金屬套管1〇具有一圓筒狀呈中空結構的容置 筒11，容置筒11前端設有一封閉該容置筒11前端 的底座1 2 ’底座1 2與容置筒1 1圍成一收容空間1 3 ’金屬套管1 〇上開設有至少一與收容空間1 3相連 通的導孔1 1 2、1 2 1，本實施例中，係分別在所述 容置筒1 1前端靠近底座處開設有一導孔1 1 2，導孔 1 1 2與收容空間1 3相連通，以及，在所述底座12 上開設有一導孔1 2 1，導孔1 2 1亦與收容空間1 3 相連通。 所述探針2 0活動地裝設於金屬套管1 〇内，具有 一呈圓枉形的滑動部2 1，滑動部2 1—端沿其縱向方 向向外凸伸一呈圓柱形的接觸部2 2。滑動部2 1裝設 於金屬套管1 0的容置容間1 3内，該接觸部2 2伸出 於金屬套管1 0外，從而接觸部2 2可與外部電子元件 電性連接。 所述彈性件3 0收容於金屬套管1 〇的容置容間工 3内’其一端抵頂於金屬套管1 〇之底座1 2，另一端 抵頂於探針2 0之滑動部2 1上本實施例中，所述彈 性件3 0為一彈簧。組裝時，先將彈性件3 〇和探針2 0的滑動部2 1先後於金屬套管1 〇的後端放入探針連 接器的收容空間1 3内，再通過鉚壓成型技術使容置筒 1 1之後端向内收縮’形成一直徑小於容置筒1 1直徑 1012034264-0 脈1067(P_ AQ1Q1 $ 5 1 7 ^ 14 1 M441237 的開口 1 1 1，且滑動部2 1的直徑大於開口 1 1 1的 直徑’接觸部2 2的直徑小於開口 i 1 1的直徑，從而 使/骨動部2 1卡設在容置筒1 1内，接觸部2 1穿過開 口 1 1 1伸出於金屬套管1 〇之外。 以上可知，本創作探針連接器藉由容置筒i i後端 罪近底座1 2處開設有一導孔1 1 2，所述底座1 2後 端面開設有一導孔1 2 1，導孔1 2 1與收容空間1 3 相連通，有助於電鍍時排出金屬套管内的空氣，使之充 分填滿收容空間1 3 ’提高電鍵液在收容空間1 3内的 流動性，並在電锻完成後，殘留的電锻液很容易流出收 容空間1 3。 請參照第六圖、第七圖及第八圓，為創作探針連接 器的第二實施例，其結構與第一實施基本一致，其區別 在於’所述底座12後端面向前凸設有一圓柱狀的焊接 部1 2 2，焊接部1 2 2的後端面向前開設有導通孔1 2 3 ’導通孔1 23與底座1 2上之導孔1 2 1相連通 。有助於電鍍時排出金屬套管内的空氣，使之充分填滿 收容空間1 3，提高電鍍液在收容空間1 3内的流動性 ’並在電鍍完成後，殘留的電鍍液很容易流出收容空間 13。 值得注意地’以上所述，僅為本創作探針連接器之 較佳實施例，不能以之限定本創探針連接器之所實施之 範圍，即大凡依創作申請專利範圍所作之均等變化與修 飾，如增加導孔1 1 2、1 2 1數量，皆應仍屬於本創 作探針連接器之涵蓋之範圍内。 綜上所述，本創作探針連接器藉由金屬套管1 〇上 1012034264-0 10121067(^單编號A0101 第6頁/共14頁 M441237 開設有導孔1 1 2、1 2 1，電鍍時，金屬套管1 0通 過導孔1 12、121排出管内空氣，提高電鍍液在收 容空間1 3内的流動性使之充分填滿收容空間1 3，並 在電鍍完成後，殘留的電鍍液很容易流出收容空間1 3 ，防止金屬套管1 0管壁電鍍不良，電鍍液殘留於收容 空間1 3底部，導致探針連接器工作時導電不良，局部 升溫過高的現象發生。 【圖式簡單說明】 [0005] 第一圖係習知探針連接器之立體圖。 第二圖係第一圖所示習知探針連接器之立體分解圖 〇 第三圖係本創作探針連接器之第一實施例之立體圖 〇 第四圖係第.三圖所示本創作探針連接器之沿Α-Α線之 剖面圖。 第五圖係第三圖所示本創作探針連接器之立體分解 圖。 第六圖係本創作探針連接器之第二實施例之立體圖 〇 第七圖係第六圖所示本創作探針連接器之沿Β-Β線之 剖面圖。 第八圖係第六圖所示本創作探針連接器之立體分解 圖。 【主要元件符號說明】 [0006] 金屬套管 10 容置筒 11 1〇121〇6#單編號 Α〇101 第7頁/共14頁 1012034264-0 M441237 開口 1 1 1 導孔 底座 1 2 焊接部 導通孔 1 2 3 收容空間 探針 2 0 滑動部 接觸部 2 2 彈性件 1 1 2、1 2 1 12 2 13 2 1 3 0

1012106?(^科號 A〇101 第8頁/共14頁 1012034264-0

Claims (1)

1. M441237 六、申請專利範圍： 1 . 一種探針連接器，包括： 一金屬套管，具有一圓筒狀呈中空結構的容置筒及一 封閉該容置筒後端的底座，底座與容置筒圍成一收容空間 ，金屬套管上開設有至少一與收容空間相連通的導孔； 一探針，可活動地裝設於金屬套管内，且其一端可伸 出金屬套管；及 一彈性件，收容於金屬套管的收容空間内，並抵頂於 探針和底座之間。 2. 如申請專利範圍第1項所述之探針連接器，其中所述容置 筒側壁上靠近底座處開設有所述導孔。 3. 如申請專利範圍第1項所述之探針連接器，其中所述底座 上開設有所述導孔。 4. 如申請專利範圍第1項所述之探針連接器，其中所述容置 筒之後端向内收縮，形成一直徑小於容置筒直徑的開口， 金屬探針具有一呈圓柱形的滑動部，滑動部一端沿其縱向 方向向外凸伸一呈圓柱形的接觸部，所述滑動部裝設於金 屬套管的容置容間内，接觸部穿過金屬套管之開口伸出金 屬套管外。 5. 如申請專利範圍第4項所述之探針連接器，其中所述滑動 部的直徑大於開口的直徑；接觸部的直徑小於開口的直徑 6.如申請專利範圍第4項所述之探針連接器，其中所述彈性 件為一彈簧，其一端抵頂於金屬套管之底座，另一端抵頂 於探針之滑動部上。 7 .如申請專利範圍第4項所述之探針連接器，其中所述底座 10121067(^ 單編號 AQ1Q1 ^ 9 I / * 14 I 1012034264-0 M441237 後端面向前凸設有一圓柱狀的焊接部，焊接部的後端面向 前開設有導通孔，導通孔與底座上之導孔相連通。

   1012106#單编號 A_ 第10頁/共14頁 1012034264-0