TWM370094U - Apparatus for capturing images of outer surface of objects - Google Patents
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M370094 第098213506號新型專利案之說明書更正頁(99· Ρ3-·_1 光通空間的第二反射鏡,該第二反射鏡具有該第二反射 !; 甲,而且該第二反射面圍繞該中心轴線而設置。 ! L / 種物件外表面的取像裴置,用於檢測一個待檢測物件 之.外表面,並包含: 一光源,將光線投射到該待檢測物件; 一第一反射單元,位於該待檢測物件之上方,並繞 一中心軸線而設置,該第一反射單元包括至少一個界定 出一第一光通空間的第一反射鏡,該第一反射鏡具有一 個朝向該第一光通空間的第一反射面,該第一反射面將 該待檢測物件反射而來的光線再度反射; 一第二反射單元,位於該第一反射單元之上方,並 繞該中心軸線而設置’該第二反射單元包括至少一個界 定出一第二光通空間的第二反射鏡,該第二反射鏡具有 一個朝向該第二光通空間的第二反射面,該第二反射面-將該第一反射面反射而來的光線再度反射;及 —取像單元,位於該第二反射單元之上方,並擷取 成像於該弟二反射面上的待檢測物件之影像; 其中,該第二反射單元更包括一個第二反射鏡座, 該第二反射鏡座包括一個繞該中心軸線的抵壁,而該第 二反射鏡更包括一個繞該中心軸線的反射段,以及一個 自該反射段之項部徑向朝外突出並抵坐在該抵壁上的抵 罪段’前述第.二反射面是★貧等反射段與G段共同界 定出。 〆. 5.依據中請專利範圍第i項所述之物件外表面的取像裝置 12 M370094 ^正f(99 Q3.」 ’其中,該第-反射單元包括數個繞該中心轴線而彼此 間隔排列的第一反射鏡,該等第—反射鏡共同界定出該 第一光通空間。 6.依據中請專利範圍第5項所述之物件外表面的取像裝置 ,.其中,s亥第二反射單元包括數個繞該巾心、軸線而且彼 此間隔排列的第二反射鏡,該等第二反射鏡共同界定出 該第二光通空間。 、1 2 3 4·依據申請專利範圍第6項所述之物件外表面的取像裝置 ,其中,該第一反射單元更包括數個固定設置的第—定 位座,如述第一反射鏡疋可樞轉地各別與該等第一定位 座組裝,該第二反射單元更包括數個固定設置的第二定 . 位座,前述第二反射鏡是可樞轉地各別與該等第二定位 :.f^座組裝。 13 1 種物件外表面的取像裝置,用於檢測一個待檢測物件 2 之外表面,並包含: 3 g —光源,將光線投射到該待檢測物件; 一第一反射單元’位於該待檢測物件之上方,並繞 中心轴線而设置’該弟一反射单元包&至少一個界定 出一第一光通空間的第一反射鏡,該第一反射鏡具有一 個朝向該第一光通空間的第一反射面,該第一反射面將 該待檢測物件反射而來的光線再度反射; 一第二反射單元,位於該第一反射單元之上方,並 q 繞該中心軸線而設置’該第二反射單元包括至少一個界 4 疋出一第一光通空間的苐一反射錄’該第二反射鏡具有 M370094 麵跑·號新型專利胃n〇3 )
1 1 · J 一個朝向該第二光通空間的第二反射面,該第二反射面 將該第一反射面反射而來的光線再度反射; 一取像單元,位於該第二反射單元之上方,並擷取成 像於該第二反射面上的待檢測物件之影像;及 一個供該等第一、二反射單元及該取像單元安裝的 支架。. 9.依據申請專利範圍第8項所述之物件外表面的取像裝置 ’更包含一個與該支架組裝的反射鏡定位座,所述第一 、二反射單元組裝在該反射鏡定位座上,而該取像單元· 位於該反射鏡定位座之上方。 14
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TW98213506U TWM370094U (en) | 2009-07-23 | 2009-07-23 | Apparatus for capturing images of outer surface of objects |
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Cited By (1)
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CN112879868A (zh) * | 2019-11-29 | 2021-06-01 | 江庆峯 | 聚光环及附设在聚光环上的投光器与投光取像装置 |
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2009
- 2009-07-23 TW TW98213506U patent/TWM370094U/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112879868A (zh) * | 2019-11-29 | 2021-06-01 | 江庆峯 | 聚光环及附设在聚光环上的投光器与投光取像装置 |
CN112879868B (zh) * | 2019-11-29 | 2022-09-13 | 江庆峯 | 聚光环及附设在聚光环上的投光器与投光取像装置 |
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