TWI827273B - 開機狀態保持模組 - Google Patents

開機狀態保持模組 Download PDF

Info

Publication number
TWI827273B
TWI827273B TW111136272A TW111136272A TWI827273B TW I827273 B TWI827273 B TW I827273B TW 111136272 A TW111136272 A TW 111136272A TW 111136272 A TW111136272 A TW 111136272A TW I827273 B TWI827273 B TW I827273B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
circuit board
power
tested
rechargeable battery
test
Prior art date
Application number
TW111136272A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202411672A (zh
Inventor
袁元
Original Assignee
大陸商環勝電子(深圳)有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大陸商環勝電子(深圳)有限公司 filed Critical 大陸商環勝電子(深圳)有限公司
Application granted granted Critical
Publication of TWI827273B publication Critical patent/TWI827273B/zh
Publication of TW202411672A publication Critical patent/TW202411672A/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本發明公開一種開機狀態保持模組，其包括一待測試電路板、一控制電路板以及一充電電池。控制電路板電性連接於待測試電路板，而充電電池電性連接於控制電路板。當開機狀態保持模組進行一個測試流程時，控制電路板將充電電池的電力提供給待測試電路板，以使待測試電路板保持於開機狀態。

Description

開機狀態保持模組
本發明涉及一種開機狀態保持模組，特別是涉及一種使待測試電路板維持於開機狀態的開機狀態保持模組。
電路板於工廠製造完畢後，必須經過一個測試流程，測試流程包含了進行不同的測試機台的測試，只有當每一個測試項目都合格時，才能進入市場進行販售。
當待測試電路板進入測試機台時，測試機台對待測試電路板供電以使待測試電路板開機，接著測試機台對待測試電路板進行功能測試。當待測試電路板離開測試機台之後，待測試電路板因為斷電而關機，直到待測試電路板移動至下一個測試機台時，待測試電路板才會再次開機。當待測試電路板需要經過的測試機台越多時，重複開關機次數也越多。當重複開關機的次數越多時，容易導致待測試電路板的資料流失以及發生開機異常的機率增大。
本發明所要解決的技術問題在於，針對現有技術的不足提供一種開機狀態保持模組。
為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是提供一種開機狀態保持模組，其包括一待測試電路板、一控制電路板以及一充電電池。該控制電路板電性連接於該待測試電路板，而該充電電池電性連接於該控制電路板。當該開機狀態保持模組進行一個測試流程時，該控制電路板將該充電電池的一電力提供給該待測試電路板，以使待測試電路板保持於一開機狀態。
本發明的其中一有益效果在於，本發明所提供的開機狀態保持模組，由於在待測試電路板在進行測試流程時，充電電池都一直持續地供電給待測試電路板以使得待測試電路板保持於開機狀態，所以待測試電路板只會開機一次而省去了重複開關機所浪費的時間。如此一來，將降低待測試電路板完成測試流程所需的時間。此外，也因為待測試電路板不需要重複地開關機，也降低了資料流失以及開機異常的機率。
為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與圖式，然而所提供的圖式僅用於提供參考與說明，並非用來對本發明加以限制。
以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“開機狀態保持模組”的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
應當可以理解的是，雖然本文中可能會使用到“第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號，但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件，或者一信號與另一信號。另外，本文中所使用的術語“或”，應視實際情況可能包括相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。
圖1為本發明的開機狀態保持模組的一實施例的立體圖，共同參閱圖1以及圖2，開機狀態保持模組A1包括一待測試電路板100、一控制電路板200、一充電電池300以及一固定框架400，待測試電路板100例如為主機板或無線網卡，而待測試電路板100、控制電路板200以及充電電池300固定於固定框架400內。
圖2為本發明的開機狀態保持模組經過多個測試機台的一實施例的示意圖。如圖2所示，當開機狀態保持模組A1進行一個測試流程時，依序通過一第一測試機台TS1、一第二測試機台TS2、一第三測試機台TS3、一第四測試機台TS4以及一第五測試機台TS5，其中第一測試機台TS1、第二測試機台TS2、第三測試機台TS3、第四測試機台TS4以及第五測試機台TS5分別負責測試待測試電路板100的第一功能、第二功能、第三功能、第四功能以及第五功能是否正常。第一測試機台TS1例如為OS測試機台，第二測試機台TS2例如為CAL測試機台，第三測試機台例如為RF1測試機台，第四測試機台例如為RF2測試機台，而第五測試機台TS5例如為FCT測試機台。以上的測試機台的數量以其測試項目僅為示範，本發明並不侷限於此。
在開機狀態保持模組A1進入第一測試機台TS1之前，控制電路板200根據外部的開機指令而使得待測試電路板100與充電電池300之間產生連結。當待測試電路板100連結於充電電池300時，待測試電路板100可獲得來自充電電池300所儲存的電力。在待測試電路板100獲得來自充電電池300所儲存的電力之後，待測試電路板100從關機狀態轉變為開機狀態。
在待測試電路板100開機之後，開機狀態保持模組A1進入第一測試機台TS1，而第一測試機台TS1開始對待測試電路板100的第一功能進行測試。在第一測試機台TS1完成對待測試電路板100之測試後，開機狀態保持模組A1離開第一測試機台TS1。接著，進入運輸設備(例如傳送帶)而朝向第二測試機台TS2移動。
在開機狀態保持模組A1離開第一測試機台TS1之後以及尚未進入第二測試機台TS2之前，控制電路板200依然維持待測試電路板100與充電電池300之間的連結，所以待測試電路板100維持於開機狀態。當開機狀態保持模組A1移動至第二測試機台TS2時，由於待測試電路板100已經處於開機狀態，所以第二測試機台TS2可立即對待測試電路板100的第二功能進行測試。在第二測試機台TS2完成對待測試電路板100之第二功能的測試後，開機狀態保持模組A1離開第二測試機台TS2。接著，進入運輸設備(例如傳送帶)而朝向第三測試機台TS3移動。
在開機狀態保持模組A1離開第二測試機台TS2之後以及尚未進入第三測試機台TS3之前，控制電路板200依然維持待測試電路板100與充電電池300之間的連結，所以待測試電路板100維持於開機狀態。當開機狀態保持模組A1移動至第三測試機台TS3時，由於待測試電路板100已經處於開機狀態，所以第三測試機台TS3可立即對待測試電路板100的第三功能進行測試。在第三測試機台TS3完成對待測試電路板100之第三功能的測試後，開機狀態保持模組A1離開第三測試機台TS3。接著，進入運輸設備(例如傳送帶)而朝向第四測試機台TS4移動。
在開機狀態保持模組A1離開第三測試機台TS3之後以及尚未進入第四測試機台TS4之前，控制電路板200依然維持待測試電路板100與充電電池300之間的連結，所以待測試電路板100維持於開機狀態。當開機狀態保持模組A1移動至第四測試機台TS4時，由於待測試電路板100已經處於開機狀態，所以第四測試機台TS4可立即對待測試電路板100的第四功能進行測試。在第四測試機台TS4完成對待測試電路板100之第四功能的測試後，開機狀態保持模組A1離開第四測試機台TS4。接著，進入運輸設備(例如傳送帶)而朝向第五測試機台TS5移動。
在開機狀態保持模組A1離開第四測試機台TS4之後以及尚未進入第五測試機台TS5之前，控制電路板200依然維持待測試電路板100與充電電池300之間的連結，所以待測試電路板100維持於開機狀態。當開機狀態保持模組A1移動至第五測試機台TS5時，由於待測試電路板100已經處於開機狀態，所以第五測試機台TS5可立即對待測試電路板100的第五功能進行測試。在第五測試機台TS5完成對待測試電路板100之第五功能的測試後，開機狀態保持模組A1離開第五測試機台TS5。
在開機狀態保持模組A1離開第五測試機台TS5之後，由於待測試電路板100已經完成所有功能的測試，控制電路板200接收到外部裝置到一關機指令，且根據關機指令截斷充電電池300與待測試電路板100之間的連結。當充電電池300與待測試電路板100之間的連結被截斷時，待測試電路板100將無法接收到充電電池300的電力，因此待測試電路板100從開機狀態切換至關機狀態。
圖3為開機狀態保持模組定位於第一測試機台的一實施例的示意圖。如圖3所示，開機狀態保持模組A1的固定框架400包含有多個定位邊角401，而第一測試機台TS1包含有多個定位板PB，當開機狀態保持模組A1進入第一測試機台TS1時，其中二個定位邊角401分別與該些定位板PB相抵觸。如此一來，當第一測試機台TS1對待測試電路板100進行測試時，開機狀態保持模組A1不容易產生位移。
圖4為開機狀態保持模組定位於第一測試機台的另一實施例的示意圖。如圖4所示，開機狀態保持模組A1的固定框架400還包含有多個定位柱403，而第一測試機台TS1包含有多個定位孔PH，當開機狀態保持模組A1進入第一測試機台TS1時，該些定位柱403分別與該些定位孔PH相卡合。如此一來，當第一測試機台TS1對待測試電路板100進行測試時，開機狀態保持模組A1不容易產生位移。
在其他實施例中，固定框架400可同時透過定位邊角401與定位板PB之抵觸以及定位柱403與定位孔PH之卡合，達到定位於第一測試機台TS1之效果。
圖5為本發明的開機狀態保持模組的第一實施例的電路功能方塊圖。如圖5所示，開機狀態保持模組A1的控制電路板200包含有一微處理器201、一開關電路203、一第一傳輸介面IF1、第二傳輸介面IF2以及一第三傳輸介面IF3，微處理器201電性連接於第一傳輸介面IF1以及開關電路203，第一傳輸介面IF1還電性連接於一終端裝置TD，而終端裝置TD例如為行動通訊裝置或者伺服器。第二傳輸介面IF2電性連接於充電電池300以及開關電路203，而第三傳輸介面IF3電性連接於開關電路203以及待測試電路板100的一第四傳輸介面IF4，而待測試電路板100包含有多個測試點TP。
在一實施例中，待測試電路板100例如為無線網路卡或者主機板，開關電路203例如為金屬氧化物半導體場效電晶體，而第一傳輸介面IF1、第二傳輸介面IF2以及第三傳輸介面IF3例如為積體電路匯流排。
控制電路板200的開關電路203包含一第一電性接腳2031、一第二電性接腳2033以及一第三電性接腳2035，開關電路203的第一電性接腳2031電性連接於微處理器201。開關電路203的第二電性接腳2033電性連接於第二傳輸介面IF2，而開關電路203的第三電性接腳2035電性連接於第三傳輸介面IF3。
控制電路板200的微處理器201經由第一傳輸介面IF1接收終端裝置TD的開機指令。接著，微處理器201根據開機指令向開關電路203發出控制訊號。當控制電路板200的開關電路203接收到微處理器201的控制訊號時，控制電路板200的開關電路203從截止狀態切換至導通狀態。當控制電路板200的開關電路203處於導通狀態時，充電電池300所儲存的電力可經由第二傳輸介面IF2、開關電路203以及第三傳輸介面IF3傳送至待測試電路板100。當待測試電路板100獲得來自充電電池300的電力時，待測試電路板100從關機狀態轉變為開機狀態。
以下表1為習知的待測試電路板進行一個測試流程的時間關係表，其中該測試流程包含待測試電路板依序受到CAL測試機台、RF1測試機台、RF2測試機台以及FCT測試機台之測試。
測試機台名稱 電路板開機時間(秒) 電路板功能測試時間(秒)
CAL測試機台 125 109.86
RF1測試機台 142 164.31
RF2測試機台 119 96.02
FCT測試機台 344 139
以下表2為本發明的待測試電路板100進行一個測試流程的時間關係表，其中該測試流程包含待測試電路板依序受到CAL測試機台、RF1測試機台、RF2測試機台以及FCT測試機台之測試。
測試機台名稱 電路板開機時間(秒) 電路板功能測試時間(秒)
CAL測試機台 0 109.86
RF1測試機台 0 164.31
RF2測試機台 0 96.02
FCT測試機台 0 139
比較表1以及表2，本發明的待測試電路板100在進行測試流程的每一個測試項目時，都是維持於開機狀態，所以待測試電路板100不需重複地開關機，減少了待測試電路板100完成測試流程所需的時間。
當待測試電路板100完成測試流程時，微處理器201使開關電路203從導通狀態轉變為截止狀態，從而截斷充電電池300與待測試電路板100之間的連結。此時，待測試電路板100從開機狀態轉變為關機狀態。
圖6為本發明的開機狀態保持模組的第二實施例的電路功能方塊圖。圖6的開機狀態保持模組A2相較於圖5的開機狀態保持模組A1，其差異在於，省略了第二傳輸介面IF2，充電電池300直接設置於控制電路板200上，控制電路板200的開關電路203的第二電性接腳2033連接於充電電池300。
圖7為本發明的開機狀態保持模組的第三實施例的電路功能方塊圖，圖7的開機狀態保持模組A3相較於圖5的開機狀態保持模組A1，其差異在於，待測試電路板100還包含有多個導電軌跡ET以及一第一電力傳輸介面PF1，每一導電軌跡ET的一端連接於測試點TP，而每一導電軌跡ET的另一端連接於第一電力傳輸介面PF1。充電電池300設有一第二電力傳輸介面PF2，而第二電力傳輸介面PF2電性連接於第一電力傳輸介面PF1。當測試機台的測試工具接觸到待測試電路板100的測試點TP時，測試機台所提供的電力可經由導電軌跡ET、第一電力傳輸介面PF1以及第二電力傳輸介面PF2傳送至充電電池300，達到同時對待測試電路板100進行功能測試以及對充電電池300進行充電的技術效果。
圖8為本發明的具有維持開機狀態功能的測試系統的第四實施例的電路功能方塊圖。圖8的開機狀態保持模組A4相較於圖7的開機狀態保持模組A3，其差異在於，第二電力傳輸介面PF2設置於控制電路板200，而第二電力傳輸介面PF2電性連接於微處理器201。控制電路板200還包含有一電壓偵測電路205，微處理器201電性連接於電壓偵測電路205，而電壓偵測電路205電性連接於第二傳輸介面IF2。當測試機台的測試工具接觸到待測試電路板100的測試點TP且電壓偵測電路205偵測到充電電池300的電壓小於電壓臨界值時，電壓偵測電路205發送一電池電壓偵測訊號給微處理器201，而微處理器201根據電池電壓偵測訊號將測試機台所提供的電力傳送給充電電池300，達到同時對待測試電路板100進行功能測試以及對充電電池300進行充電的技術效果。
[實施例的有益效果]
本發明的其中一有益效果在於，本發明所提供的開機狀態保持模組，由於在待測試電路板進行一個測試流程時，充電電池都一直持續地供電給待測試電路板以使得待測試電路板保持於開機狀態，所以待測試電路板只會開機一次而省去了重複開關機所浪費的時間。如此一來，將降低待測試電路板完成測試流程所需的時間。此外，也因為待測試電路板不需要重複地開關機，也降低了資料流失以及開機異常的機率。
以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例，並非因此侷限本發明的申請專利範圍，所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化，均包含於本發明的申請專利範圍內。
A1~A4:開機狀態保持模組 100:待測試電路板 200:控制電路板 201:微處理器 203:開關電路 2031:第一電性接腳 2033:第二電性接腳 2035:第三電性接腳 205:電壓偵測電路 300:充電電池 400:固定框架 401:定位邊角 403:定位柱 TS1:第一測試機台 TS2:第二測試機台 TS3:第三測試機台 TS4:第四測試機台 TS5:第五測試機台 PB:定位板 PH:定位孔 IF1:第一傳輸介面 IF2:第二傳輸介面 IF3:第三傳輸介面 IF4:第四傳輸介面 TD:終端裝置 TP:測試點 ET:導電軌跡 PF1:第一電力傳輸介面 PF2:第二電力傳輸介面
圖1為本發明的開機狀態保持模組的一實施例的立體圖。
圖2為本發明的開機狀態保持模組經過多個測試機台的一實施例的示意圖。
圖3為本發明的開機保持模組定位於測試機台的一實施例的示意圖。
圖4為本發明的開機保持模組定位於測試機台的另一實施例的示意圖。
圖5本發明的開機狀態保持模組的第一實施例的電路功能方塊圖。
圖6本發明的開機狀態保持模組的第二實施例的電路功能方塊圖。
圖7為本發明的開機狀態保持模組的第三實施例的電路功能方塊圖。
圖8為本發明的開機狀態保持模組的第四實施例的電路功能方塊圖。
A1:開機狀態保持模組
100:待測試電路板
200:控制電路板
201:微處理器
203:開關電路
2031:第一電性接腳
2033:第二電性接腳
2035:第三電性接腳
300:充電電池
IF1:第一傳輸介面
IF2:第二傳輸介面
IF3:第三傳輸介面
IF4:第四傳輸介面
TD:終端裝置
TP:測試點

Claims (10)

  1. 一種開機狀態保持模組，包括：一待測試電路板；一控制電路板，電性連接於該待測試電路板；以及一充電電池，電性連接於該控制電路板；當該待測試電路板進行包含多個不同測試機台測試的一個測試流程時，在該待測試電路板進行該測試流程之前，該控制電路板根據一開機指令控制該充電電池與該待測試電路板產生一連結而將該充電電池的一電力提供給該待測試電路板，以使該待測試電路板維持於一開機狀態；以及在該待測試電路板執行完該測試流程所有測試時，該控制電路板根據一關機指令截斷該充電電池與該待測試電路板之間的該連結，使得給該待測試電路板無法接收該充電電池的電力並由該開機狀態切換至一關機狀態。
  2. 如請求項1所述的開機狀態保持模組，其中該待測試電路板於不同測試機台執行測試時以及由一測試機台進入到另一測試機台測試過程中均保持於該開機狀態。
  3. 如請求項1所述的開機狀態保持模組，其中該控制電路板包含有一微處理器以及一開關電路，該開關電路電性連接於該微處理器、該待測試電路板以及該充電電池，當該開關電路處於一導通狀態時，該充電電池的該電力經由該開關電路提供給該待測試電路板。
  4. 如請求項1所述的開機狀態保持模組，其中該待測試電路板包含一測試點以及一導電軌跡，該導電軌跡的兩端分別電性連接於該測試點以及該充電電池，當一測試機台的一測試工具接觸於該測試點時，該測試機台所提供的一電力經由該導電軌跡傳送至該充電電池。
  5. 如請求項4所述的開機狀態保持模組，其中該控制電路板包含有一微處理器以及一電壓偵測電路，該微處理器電性連接於該導電軌跡以及該電壓偵測電路，該電壓偵測電路電性連接於該充電電池，當該電壓偵測電路偵測到該充電電池的一電壓小於一電壓臨界值時，該微處理器將該測試機台所提供的該電力傳送至該充電電池。
  6. 如請求項1所述的開機狀態保持模組，更包括一固定框架，該待測試電路板、該控制電路板、以及該充電電池固定於該固定框架之內。
  7. 如請求項6所述的開機狀態保持模組，其中該固定框架包含有一定位邊角，一測試機台包含有一定位板，該定位邊角與該定位板相抵觸。
  8. 如請求項6所述的開機狀態保持模組，其中該固定框架包含有多個定位柱，一測試機台包含有多個定位孔，該些定位柱分別卡合於該些定位孔。
  9. 如請求項3所述的開機狀態保持模組，其中當該待測試電路板完成該測試流程時，該微處理器使該開關電路處於一截止狀態。
  10. 如請求項1所述的開機狀態保持模組，其中該充電電池組接於該控制電路板之上。
TW111136272A 2022-09-08 2022-09-26 開機狀態保持模組 TWI827273B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211093822.XA CN115598494A (zh) 2022-09-08 2022-09-08 开机状态保持模块
CN202211093822.X 2022-09-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI827273B true TWI827273B (zh) 2023-12-21
TW202411672A TW202411672A (zh) 2024-03-16

Family

ID=84843683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW111136272A TWI827273B (zh) 2022-09-08 2022-09-26 開機狀態保持模組

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN115598494A (zh)
TW (1) TWI827273B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160232356A1 (en) * 2015-02-09 2016-08-11 Dell Products L.P. Information Handling System Boot Pre-Validation
CN105872931A (zh) * 2016-04-11 2016-08-17 无锡中感微电子股份有限公司 改进型开机检测电路及系统
CN206058201U (zh) * 2016-06-28 2017-03-29 北京华大领创智能科技有限公司 一种电路板以及安全认证设备
WO2017200282A1 (ko) * 2016-05-20 2017-11-23 엘지이노텍(주) 멀티 모드 수신기의 동작 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160232356A1 (en) * 2015-02-09 2016-08-11 Dell Products L.P. Information Handling System Boot Pre-Validation
CN105872931A (zh) * 2016-04-11 2016-08-17 无锡中感微电子股份有限公司 改进型开机检测电路及系统
WO2017200282A1 (ko) * 2016-05-20 2017-11-23 엘지이노텍(주) 멀티 모드 수신기의 동작 방법
CN206058201U (zh) * 2016-06-28 2017-03-29 北京华大领创智能科技有限公司 一种电路板以及安全认证设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN115598494A (zh) 2023-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101341414B (zh) 连接验证技术
US7987389B2 (en) System and method for testing sleep and wake functions of computer
CN103792481A (zh) 电路板自动测试装置及电路板自动测试方法
TWI274351B (en) Memory mounting tester having perpendicularly installed motherboard
US20040103344A1 (en) System and method for testing computing devices
CN103207366A (zh) 测试系统及印刷电路板组件的测试方法
KR20100109662A (ko) 실장 테스트에 적합한 메인 보드 및 이를 포함하는 메모리 실장 테스트 시스템
TWI827273B (zh) 開機狀態保持模組
CN117290189B (zh) 一种用于存储芯片cp测试机的监测控制系统
CN109709471A (zh) 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置
US20180292619A1 (en) Optical module
CN210983218U (zh) 一种pcie板卡供电盘柜装置
CN219039271U (zh) 开机状态保持模块
TW202411672A (zh) 開機狀態保持模組
CN107179818B (zh) 双主板的控制电路及控制方法
CN101303616B (zh) 计算机、应用其上的电源供应器系统及其电源供应方法
TWI798721B (zh) 電腦系統的開機控制電路
CN112566099A (zh) 一种路由器设备和信号连接方法
CN203849612U (zh) 逆变器控制卡件拷机试验固定装置
CN215415657U (zh) 一种生产效率高的自动测试装置
US8508953B2 (en) Driver device for computer motherboard
CN206470367U (zh) 一种用于继电器的测试设备
CN221078871U (zh) 一种基于j750ex-hd的jdspf28335型数字信号处理器电路的测试装置
CN214505005U (zh) 一种存储器类器件应用验证电路
CN214011939U (zh) 电源板、单板、电源装置