TWI824519B

TWI824519B - 曲面容器之標籤檢測方法及裝置

Info

Publication number: TWI824519B
Application number: TW111118152A
Authority: TW
Inventors: 王正峯
Original assignee: 鴻海精密工業股份有限公司
Priority date: 2022-05-13
Filing date: 2022-05-13
Publication date: 2023-12-01
Also published as: TW202344830A

Abstract

本申請公開一種曲面容器之標籤檢測方法及裝置，涉及機器視覺技術領域。本申請實施例之標籤檢測方法包括：擷取第一圖像，第一圖像包含曲面容器之標籤。從第一圖像中擷取複數參考點。根據複數參考點擷取曲面容器之第一寬度和標籤之第一位置資料。根據第一寬度和預設之標準寬度確定曲面容器是否發生旋轉。當確定曲面容器發生旋轉時，根據第一位置資料和預設之回歸方程預測曲面容器之第二寬度。根據第一寬度和第二寬度確定標籤是否發生偏移。

Description

曲面容器之標籤檢測方法及裝置

本申請涉及機器視覺技術領域，具體涉及一種曲面容器之標籤檢測方法及裝置。

曲面容器是指外表面包含曲面之容器，例如瓶身為曲面之瓶子、杯體為曲面之杯子等。在曲面容器上，產品之標籤通常位於曲面上之一片區域。目前，在自動化生產線上檢測曲面容器之標籤，通常是使用夾具來旋轉曲面容器，從而確定標籤在曲面上之位置。這種對標籤進行定位之方法，需要頻繁地操作夾具，降低了生產效率。當需要快速生產時，只能進行粗略檢測，例如檢測曲面容器上是否存在標籤。

本申請提供一種曲面容器之標籤檢測方法及裝置，不需要使用夾具，能夠確定曲面容器上之標籤是否發生偏移。

本申請第一方面提供一種曲面容器之標籤檢測方法，標籤檢測方法包括：擷取第一圖像，第一圖像包含曲面容器之標籤。從第一圖像中擷取複數參考點。根據複數參考點擷取曲面容器之第一寬度和標籤之第一位置資料。根據第一寬度和預設之標準寬度確定曲面容器是否發生旋轉。當確定曲面容器發生旋轉時，根據第一位置資料和預設之回歸方程預測曲面容器之第二寬度。根據第一寬度和第二寬度確定標籤是否發生偏移。

採用本實施例之標籤檢測方法，既可以檢測曲面容器是否發生旋轉，又可以檢測曲面容器上之標籤是否發生偏移。而且，可以避免曲面容器發生旋轉對標籤檢測結果之影響，提高標籤檢測結果之準確性。

本申請第二方面提供一種標籤檢測裝置，標籤檢測裝置包括處理器和記憶體，處理器可以運行存儲於記憶體中之電腦程式或代碼，實現本申請實施例之標籤檢測方法。

可以理解，本申請第二方面之具體實施方式和有益效果與本申請第一方面之具體實施方式和有益效果相同，在此不再贅述。

21:傳送帶

22:導軌

23:護欄

200:曲面容器

201:標籤

101:攝像設備

100:標籤檢測裝置

102:處理器

103:記憶體

S101-S111,S201-S205:步驟

圖1為一種示例中在生產線上檢測曲面容器標籤之示意圖。

圖2為一種示例中圖1對應之俯視圖。

圖3為一種示例中在曲面容器上標注參考點之示意圖。

圖4為一種示例中圖3對應之俯視圖。

圖5為一種示例中曲面容器未發生旋轉之俯視圖。

圖6為另一種示例中曲面容器未發生旋轉之俯視圖。

圖7為一種示例中曲面容器發生旋轉之俯視圖。

圖8為本申請提供之標籤檢測方法之流程圖。

圖9為圖8中步驟S106之前擷取回歸方程之流程圖。

圖10為一種示例中線性擬合之示意圖。

圖11為另一種示例中曲面容器未發生旋轉之俯視圖。

圖12為另一種示例中曲面容器未發生旋轉之俯視圖。

圖13為另一種示例中曲面容器發生旋轉之俯視圖。

圖14為本申請提供之標籤檢測裝置之結構示意圖。

需要說明的是，本申請實施例中“至少一個”是指一個或者複數，“複數”是指兩個或多於兩個。“和/或”，描述關聯物件之關聯關係，表示可以存在三種關係，例如，A和/或B可以表示：單獨存在A，同時存在A和B，單獨存在B之情況，其中A，B可以是單數或者複數。本申請之說明書和發明申請專利範圍及附圖中之術語“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用於區別類似之物件，而不是用於描述特定之順序或先後次序。

另外需要說明的是，本申請實施例中公開之方法或流程圖所示出之方法，包括用於實現方法之一個或複數步驟，在不脫離請求項之範圍之情況下，複數步驟之執行順序可以彼此互換，其中某些步驟也可以被刪除。

下面對本申請實施例中之部分術語進行說明。

1，圖像坐標系

以曲面容器未發生旋轉之圖像為基準建立圖像坐標系，圖像坐標系之水準方向為x軸方向，即曲面容器未發生旋轉時之最大厚度方向。圖像坐標系之豎直方向為y軸方向，即曲面容器未發生旋轉時之最大寬度方向。在本文中，曲面容器未發生旋轉時之最大厚度方向與生產線上傳送帶之寬度方向相同，曲面容器未發生旋轉時之最大寬度方向與傳送帶之長度方向相同。

2，距離和向量

在本文中，圖像坐標系中兩點之間之距離用符號“| |”表示，兩點構成之向量用符號“

”表示。舉例而言，“|AB|”表示A和B兩點之間之距離。“

”表示A和B兩點構成之向量，向量之方向為從點A到點B之方向。

下面對本申請提供之標籤檢測方法之應用場景進行說明。

可一併參閱圖1和圖2，圖1為在生產線上檢測曲面容器標籤之示意圖，圖2為一種示例中圖1對應之俯視圖。

如圖1所示，生產線包括傳送帶21、導軌22及護欄23。曲面容器200放置於傳送帶21上，生產線之控制機台可以控制傳送帶21運動，帶動曲面容器200移動。導軌22和護欄23設置於傳送帶21之上方，護欄23用於防止曲面容器200移動至傳送帶21之外側。導軌22設置於一固定位置區域，導軌22固定連接於護欄23，且不接觸傳送帶21。也就是說，導軌22之位置是固定的，傳送帶21運動不會帶動導軌22運動。曲面容器200上設置有標籤201。攝像設備101用於對曲面容器200進行拍照，以擷取包含標籤201之曲面容器圖像。

如圖2所示，在傳送帶21寬度方向(即x軸方向)之兩側安裝有兩排護欄23。兩排護欄23之一固定位置區域安裝有兩排導軌22。兩排導軌22之間之距離至少大於曲面容器200之最大厚度，使得曲面容器200可以從兩排導軌22之間經過。當曲面容器200移動至導軌22所在之位置區域時，導軌22可對曲面容器200相對於傳送帶21長度方向(即y軸方向)之旋轉角度進行調整，使得該旋轉角度恢復到正常角度範圍。正常角度範圍是指攝像設備101可拍攝到標籤201之角度範圍，例如該旋轉角度θ滿足：-15

θ

15度。該旋轉角度之正負方向可依需而設。

在一些實施例中，導軌22是滾珠導軌，可以減少調整曲面容器200旋轉角度時與曲面容器200接觸過程中產生之摩擦力。

可以理解，攝像設備101之拍攝方向正對曲面容器200上標籤201所在之一側，攝像設備101之拍攝範圍可以覆蓋曲面容器200之最大寬度。

在本實施例中，攝像設備101將拍攝到之包含標籤201之曲面容器圖像發送至標籤檢測裝置。標籤檢測裝置採用本申請實施例之標籤檢測方法對包含標籤201之曲面容器圖像進行檢測，以確定標籤201是否發生偏移。

下面對本申請提供之標籤檢測方法之技術原理進行說明。

可一併參閱圖3和圖4，圖3為在曲面容器上標注參考點之示意圖，圖4為一種示例中圖3對應之俯視圖。

如圖3所示，在曲面容器200上標注五個參考點C、L、R、A、B。其中，參考點C為標籤201中軸線(即z軸)上之一點，參考點L和R分別為從參考點C向曲面容器200寬度方向之兩側延伸得到之兩點，參考點C、L、R均位於標籤201上。參考點A為從參考點L向

方向延伸至曲面容器200邊緣之點，參考點B為從參考點R向

方向延伸至曲面容器200邊緣之點。

如圖4所示，在攝像設備101之拍攝視角下，參考點A和B為攝像設備101可拍攝到曲面容器200寬度方向兩側邊緣之點。可以理解，在攝像設備101所拍攝到之曲面容器圖像中，在傳送帶21長度方向(即y軸方向)上參考點A和B之間之距離小於曲面容器200之最大寬度。

可以理解，由於標籤201在曲面容器200上之位置是固定的，因此無論標籤201是否發生偏移，標籤201上參考點C、L、R中任意兩點之間之距離也不發生改變。當標籤201發生偏移時，參考點C、L、R中任意一點與參考點A、B中任意一點之相對位置也發生改變。若以該相對位置是否發生改變來判斷標籤201是否發生偏移，則當曲面容器200發生旋轉時，就可能造成過殺。其中，過殺是指將正常資料誤判為異常資料。

舉例而言，可一併參閱圖5至圖7，圖5和圖6為曲面容器未發生旋轉之俯視圖，圖7為曲面容器發生旋轉之俯視圖。

如圖5所示，曲面容器200未發生旋轉，參考點C、L、R中任意一點與參考點A、B中任意一點之相對位置未發生改變，可以確定標籤201未發生偏移。

如圖6所示，曲面容器200未發生旋轉，參考點C、L、R中任意一點與參考點A、B中任意一點之相對位置發生改變，可以確定標籤201發生偏移。

如圖7所示，曲面容器200發生旋轉，在攝像設備101之拍攝視角下，攝像設備101可拍攝到曲面容器200寬度方向兩側邊緣之點變更為參考點A'和B'。此時，參考點C、L、R中任意一點與參考點A'、B'中任意一點之相對位置發生改變，可以確定標籤201發生偏移。然而，標籤201實際上並未發生偏移，判斷結果發生過殺。

為解決上述問題，本申請提供之標籤檢測方法採用回歸分析方法對曲面容器發生旋轉時參考點A'和B'之間之距離進行預測，比較參考點A'和B'之間距離之預測值與真實值，根據比較結果判斷標籤是否發生偏移。

具體而言，可參閱圖8，圖8為本申請提供之標籤檢測方法之流程圖。

標籤檢測方法可應用於標籤檢測裝置。如圖8所示，標籤檢測方法可以包括如下步驟：

S101，擷取第一圖像。

其中，第一圖像是指包含標籤之曲面容器圖像。

在本實施例中，攝像設備拍攝得到第一圖像。標籤檢測裝置可以擷取來自於攝像設備之第一圖像。

S102，從第一圖像中擷取參考點C、L、R、A'、B'。

在本實施例中，標籤檢測裝置可以將第一圖像與標注有參考點之範本圖像進行範本匹配(Template Matching)，以擷取與第一圖像相符之範本圖像，再根據範本圖像上各個參考點之相對位置標注第一圖像上之各個參考點。

可以理解，範本圖像可來源於試驗樣本。

S103，擷取圖像坐標系中豎直方向上參考點C和L之間之距離|CL|、參考點C和R之間之距離|CR|、及參考點A'和B'之間之距離|A'B'|。

可以理解，如圖7所示，|CL|、|CR|及|A'B'|均是指第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向(即y軸方向)上兩點之間之距離。

S104，擷取標準圖像上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點A和B，並擷取圖像坐標系中豎直方向上參考點A和B之間之距離|AB|。

其中，標準圖像為曲面容器未發生旋轉且標籤未發生偏移之圖像。

在本實施例中，標籤檢測裝置可以從試驗樣本中調取標準圖像，再根據標準圖像上參考點A和B之位置計算圖像坐標系中豎直方向(即y軸方向)上參考點A和B之間之距離|AB|。

S105，確定||A'B'|-|AB||/|AB|是否大於預設之第一閾值。

其中，若||A'B'|-|AB||/|AB|大於第一閾值，則執行步驟S106。若否，則執行步驟S110。

在本實施例中，||A'B'|-|AB||/|AB|表示第一寬度和預設之標準寬度經過歸一化(Normalization)處理後之差距。第一寬度是指第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點A'和B'之間之距離|A'B'|。標準寬度是指標準圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點A和B之間之距離|AB|。

當||A'B'|-|AB||/|AB|小於或等於第一閾值時，說明第一圖像與標準圖像上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點之間之距離相近，此時可確定曲面容器未發生旋轉。

當||A'B'|-|AB||/|AB|大於第一閾值時，說明第一圖像與標準圖像上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點之間之距離存在差距，此時可確定曲面容器發生旋轉。

在一些實施例中，第一閾值μ滿足：0<μ

0.01。可以理解，第一閾值可依需而設。下文描述之第二閾值和第三閾值之取值範圍與第一閾值相同，下文中不再贅述。

S106，根據|CL|/|CR|和預設之回歸方程預測參考圖像上參考點A"和B"之間之距離|A"B"|。

其中，參考圖像是指曲面容器之旋轉角度與第一圖像相同且標籤未發生偏移之圖像。參考點A"和B"為參考圖像上之圖像坐標系中豎直方向上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點。

|CL|/|CR|表示標籤之第一位置資料。即，第一位置資料是指第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點C和L之間之距離|CL|和參考點C和R之間之距離|CR|之比值。

在本實施例中，回歸方程用以描述標籤未發生偏移時|CL|/|CR|和|A"B"|之對應關係。擷取回歸方程之方法可參閱圖9之步驟。

可以理解，無論標籤是否發生偏移，第一圖像上參考點C、L、R中任意兩點之間之相對位置不發生改變。如此，可根據第一圖像上參考點C、L、R之位置擷取圖像坐標系中豎直方向上參考點C和L之間之距離|CL|及參考點C和R之間之距離|CR|，再將|CL|/|CR|代入回歸方程，以計算得到參考圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點A"和B"之間之距離|A"B"|。

S107，確定||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|是否大於預設之第二閾值。

其中，若||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|大於第二閾值，則執行步驟S108。若否，則執行步驟S109。

在本實施例中，||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|表示第一寬度和第二寬度經過歸一化處理後之差距。第二寬度是指參考圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點A"和B"之間之距離|A"B"|。

S108，確定檢測無效。

在本實施例中，由於||A'B'|-|AB||/|AB|大於第一閾值，因此確定曲面容器發生旋轉。又||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|大於第二閾值，說明第一圖像與參考圖像上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點之間之距離存在差距，此時無法確定兩個距離之差距(即||A"B"|-|A'B'||)是曲面容器之旋轉造成的，還是標籤之偏移造成的，因此可確定檢測無效。

在步驟S108中，當確定檢測無效時，返回執行步驟S101，即重新擷取第一圖像，並進行檢測。

S109，確定標籤未發生偏移。

在本實施例中，當||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|小於或等於第二閾值時，說明第一圖像與參考圖像上曲面容器寬度方向兩側邊緣之參考點之間之距離相近，此時可確定標籤未發生偏移。

S110，確定||CA'|-|CA||/|CA|是否大於預設之第三閾值。

其中，若||CA'|-|CA||/|CA|大於第三閾值，則執行步驟S111。若否，則執行步驟S109。

在本實施例中，當確定曲面容器未發生旋轉時，判斷標籤是否發生偏移。

||CA'|-|CA||/|CA|表示第二位置資料和預設之標準位置資料經過歸一化處理後之差距。第二位置資料是指第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點C和A'之間之距離|CA'|。標準位置資料是指標準圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點C和A之間之距離|CA|。

當||CA'|-|CA||/|CA|大於第三閾值時，說明第一圖像與標準圖像上標籤中軸線上之參考點與曲面容器寬度方向一側邊緣之參考點之間之距離存在差距，此時可確定標籤發生偏移。

當||CA'|-|CA||/|CA|小於或等於第三閾值時，說明第一圖像與標準圖像上標籤中軸線上之參考點與曲面容器寬度方向一側邊緣之參考點之間之距離相近，此時可確定標籤未發生偏移。

S111，確定標籤發生偏移。

在本實施例中，由於||A'B'|-|AB||/|AB|小於或等於第一閾值，因此確定曲面容器未發生旋轉。又||CA'|-|CA||/|CA|大於第三閾值，說明第一圖像與標準圖像上標籤中軸線上之參考點與曲面容器寬度方向一側邊緣之參考點之間之距離存在差距，此時可確定兩個距離之差距(即||CA'|-|CA||)是標籤之偏移造成的，因此可確定標籤發生偏移，且標籤之偏移量為||CA'|-|CA||。

下面簡述擷取回歸方程之方法。

可參閱圖9，圖9為圖8中步驟S106之前擷取回歸方程之流程圖。

如圖9所示，擷取回歸方程可以包括如下步驟：

S201，擷取曲面容器未發生旋轉和發生旋轉之複數圖像。

在本實施例中，首先可將攝像設備對準未發生旋轉之曲面容器之中軸線，使用該攝像設備拍攝曲面容器未發生旋轉之圖像。然後多次旋轉該曲面容器，每次旋轉該曲面容器後使用該攝像設備拍攝曲面容器發生旋轉之圖像，以類比實際檢測環境中曲面容器發生旋轉時可能拍攝到之圖像。

S202，從每幅圖像中擷取參考點C、L、R、A"、B"。

S203，從每幅圖像中擷取圖像坐標系中豎直方向上參考點C和L之間之距離|CL|、參考點C和R之間之距離|CR|，及參考點A"和B"之間之距離|A"B"|。

可以理解，步驟S202至S203之具體實施方式可參閱圖8中步驟S102至S103，此處不再贅述。

S204，以每幅圖像之|CL|/|CR|為橫坐標、|A"B"|為縱坐標繪製散點圖。

在本實施例中，每幅圖像都有相應之|CL|/|CR|和|A"B"|，以|CL|/|CR|為橫坐標、|A"B"|為縱坐標進行描點，以擷取散點圖。

可以理解，當曲面容器發生旋轉時，|CL|/|CR|之比值也會發生改變，可用|CL|/|CR|表示曲面容器發生旋轉之程度。在一些實施例中，當|CL|/|CR|之比值越接近於1時，說明曲面容器發生旋轉之程度越小。

S205，根據散點圖進行線性擬合，以擷取回歸方程。

舉例而言，可參閱圖10，圖10為一種示例中線性擬合之示意圖。如圖10所示，縱坐標之單位為圖元點數目，擬合曲線為多項式方程，該多項式方程為該擬合曲線之回歸方程。當|CL|/|CR|越接近於1時，相應之|A"B"|越大。其中，圖元點數目可以換算成長度單位。

可一併參閱圖11至圖13，圖11和圖12為曲面容器未發生旋轉之俯視圖，圖13為曲面容器發生旋轉之俯視圖。圖11至圖13均未示出參考點。採用本申請實施例之標籤檢測方法對圖11至圖13這三種場景下曲面容器上之標籤進行檢測。

如圖11所示，由於||A'B'|-|AB||/|AB|小於或等於第一閾值，確定曲面容器未發生旋轉。又由於||CA'|-|CA||/|CA|小於或等於第三閾值，確定標籤未發生偏移。

如圖12所示，由於||A'B'|-|AB||/|AB|小於或等於第一閾值，確定曲面容器未發生旋轉。又由於||CA'|-|CA||/|CA|大於第三閾值，確定標籤發生偏移。

如圖13所示，由於||A'B'|-|AB||/|AB|大於第一閾值，確定曲面容器發生旋轉。又由於||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|小於或等於第二閾值，確定標籤未發生偏移。

可以理解，採用本申請實施例之標籤檢測方法，既可以檢測曲面容器是否發生旋轉，又可以檢測曲面容器上之標籤是否發生偏移。而且，可以避免曲面容器發生旋轉對標籤檢測結果之影響，提高標籤檢測結果之準確性。

下面簡述本申請提供之標籤檢測裝置。

可參閱圖14，圖14為本申請提供之標籤檢測裝置之結構示意圖。

標籤檢測裝置100包括處理器102和記憶體103。其中，處理器102可以運行存儲於記憶體103中之電腦程式或代碼，實現本申請實施例之標籤檢測方法。

處理器102可以包括一個或複數處理單元。例如，處理器102可以包括，但不限於，應用處理器(Application Processor,AP)、調製解調處理器、圖形處理器(Graphics Processing Unit,GPU)、圖像訊號處理器(Image Signal Processor,ISP)、控制器、視頻轉碼器、數位訊號處理器(Digital Signal Processor,DSP)、基帶處理器、神經網路處理器(Neural-Network Processing Unit,NPU)等。其中，不同之處理單元可以為獨立之器件，也可以集成在一個或複數處理器中。

記憶體103可以包括外部記憶體介面和內部記憶體。其中，外部記憶體介面可以用於連接外部存儲卡，例如Micro SD卡，實現擴展標籤檢測裝置100之存儲能力。外部存儲卡透過外部記憶體介面與處理器102通信，實現資料存儲功能。內部記憶體可以用於存儲電腦可執行程式碼，所述可執行程式碼包括指令。內部記憶體可以包括存儲程式區和存儲資料區。其中，存儲程式區可存儲作業系統，至少一個功能所需之應用程式(例如標籤檢測功能)等。存儲資料區可存儲標籤檢測裝置100使用過程中所創建之資料(例如檢測資料)等。此外，內部記憶體可以包括高速隨機存取記憶體，還可以包括非易失性記憶體，例如至少一個磁碟記憶體件、快閃記憶體器件或通用快閃記憶體(Universal Flash Storage,UFS)等。處理器102透過運行存儲在內部記憶體之指令，和/或存儲在設置於處理器102中之記憶體之指令，執行標籤檢測裝置100之各種功能應用以及資料處理，例如實現本申請實施例之標籤檢測方法。

在一些實施例中，標籤檢測裝置100還可以包括攝像設備。

可以理解，本實施例示意之結構並不構成對標籤檢測裝置100之具體限定。在本申請另一些實施例中，標籤檢測裝置100可以包括比圖示更多或更少之部件，或者組合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同之部件佈置。

本申請還提供一種存儲介質，用於存儲電腦程式或代碼，當電腦程式或代碼被處理器執行時，實現本申請實施例之標籤檢測方法。

存儲介質包括在用於存儲資訊(諸如電腦可讀指令、資料結構、程式模組或其它資料)之任何方法或技術中實施之易失性和非易失性、可移除和不可移除介質。存儲介質包括，但不限於，隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM)、唯讀記憶體(Read-Only Memory,ROM)、帶電可擦可程式設計唯讀記憶體(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)、快閃記憶體或其它記憶體、唯讀光碟(Compact Disc Read-Only Memory, CD-ROM)、數位通用光碟(Digital Versatile Disc,DVD)或其它光碟存儲、磁盒、磁帶、磁片存儲或其它磁存儲裝置、或者可以用於存儲期望之資訊並且可以被電腦訪問之任何其它之介質。

上面結合附圖對本申請實施例作了詳細說明，但本申請不限於上述實施例，於所屬技術領域普通具通常技藝者所具備之知識範圍內，還可以於不脫離本申請宗旨之前提下做出各種變化。

S101-S111:步驟

Claims

一種曲面容器之標籤檢測方法，包括：擷取第一圖像，所述第一圖像包含曲面容器之標籤；從第一圖像中擷取複數參考點，所述複數參考點包括參考點C、L、R、A'、B'，其中，參考點C位於所述標籤之中軸線上，參考點L和R在所述標籤上且位於所述參考點C之兩側，參考點A'和B'分別位於所述曲面容器寬度方向之兩側邊緣；根據所述複數參考點擷取所述曲面容器之第一寬度和所述標籤之第一位置資料，所述第一位置資料為所述第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向上參考點C和L之間之距離|CL|和參考點C和R之間之距離|CR|之比值|CL|/|CR|；根據所述第一寬度和預設之標準寬度確定所述曲面容器是否發生旋轉；當確定所述曲面容器發生旋轉時，根據所述第一位置資料和預設之回歸方程預測所述曲面容器之第二寬度，所述回歸方程用以描述標籤未發生偏移時所述|CL|/|CR|和所述第二寬度之對應關係；根據所述第一寬度和所述第二寬度確定所述標籤是否發生偏移。
如請求項1所述之標籤檢測方法，其中，所述根據所述第一寬度和預設之標準寬度確定所述曲面容器是否發生旋轉，包括：當所述第一寬度和預設之標準寬度經過歸一化處理後之差距大於預設之第一閾值時，確定所述曲面容器發生旋轉；當所述第一寬度和所述標準寬度經過歸一化處理後之差距小於或等於所述第一閾值時，確定所述曲面容器未發生旋轉。
如請求項1所述之標籤檢測方法，其中，所述根據所述第一寬度和所述第二寬度確定所述標籤是否發生偏移，包括：當所述第一寬度和所述第二寬度經過歸一化處理後之差距大於預設之第二閾值時，確定檢測無效；當所述第一寬度和所述第二寬度經過歸一化處理後之差距小於或等於所述第二閾值時，確定所述標籤未發生偏移。
如請求項1所述之標籤檢測方法，其中，當確定所述曲面容器未發生旋轉時，所述方法還包括：根據所述複數參考點擷取所述標籤之第二位置資料；根據所述第二位置資料和預設之標準位置資料確定所述標籤是否發生偏移。
如請求項4所述之標籤檢測方法，其中，所述根據所述第二位置資料和預設之標準位置資料確定所述標籤是否發生偏移，包括：當所述第二位置資料和預設之標準位置資料經過歸一化處理後之差距大於預設之第三閾值時，確定所述標籤發生偏移；當所述第二位置資料和所述標準位置資料經過歸一化處理後之差距小於或等於所述第三閾值時，確定所述標籤未發生偏移。
如請求項1所述之標籤檢測方法，其中，所述第一寬度為所述第一圖像上之圖像坐標系中豎直方向上所述參考點A'和B'之間之距離|A'B'|；所述標準寬度為標準圖像上之所述圖像坐標系中豎直方向上參考點A和B之間之距離|AB|，所述參考點A和B分別位於所述標準圖像上所述曲面容器寬度方向之兩側邊緣；所述第二寬度為參考圖像上之所述圖像坐標系中豎直方向上參考點A"和B"之間之距離|A"B"|，所述參考點A"和B"分別位於所述參考圖像上所述曲面容器寬度方向之兩側邊緣；其中，所述標準圖像為所述曲面容器未發生旋轉且所述標籤未發生偏移之圖像，所述參考圖像為所述曲面容器之旋轉角度與所述第一圖像相同且所述標籤未發生偏移之圖像。
如請求項6所述之標籤檢測方法，其中，所述根據所述第一寬度和預設之標準寬度確定所述曲面容器是否發生旋轉，包括：當||A'B'|-|AB||/|AB|大於預設之第一閾值時，確定所述曲面容器發生旋轉；當||A'B'|-|AB||/|AB|小於或等於所述第一閾值時，確定所述曲面容器未發生旋轉。
如請求項6所述之標籤檢測方法，其中，所述根據所述第一寬度和所述第二寬度確定所述標籤是否發生偏移，包括：當||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|大於預設之第二閾值時，確定檢測無效；當||A"B"|-|A'B'||/|A'B'|小於或等於所述第二閾值時，確定所述標籤未發生偏移。
一種標籤檢測裝置，所述標籤檢測裝置包括處理器和記憶體，所述處理器可以運行存儲於所述記憶體中之電腦程式或代碼，實現如請求項1至8中任一項所述之標籤檢測方法。