TWI814729B - 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組 - Google Patents

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Abstract

一種觸控辨識裝置之感測方法，包括：通過處理單元選定複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極；通過處理單元進行常規量測循環，以得到複數個節點之感測讀值；根據複數個感測讀值判斷第一感測電極是否異常；以及當第一感測電極為異常，第一感測電極與其交會的複數個驅動電極之其一上具有一受觸碰點，則通過處理單元執行一選定參考電極程序，以替換第一感測電極。

Description

觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組
本發明關於一種觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組，特別是關於一種判斷觸控訊號讀取時，若有手指或異物位於觸控辨識裝置上的參考電極之感測方法及其感測模組，如何快速校正並提高整體感測精確度。
觸控面板或觸控螢幕是主要的現代人機介面之一，作為一種位置辨識裝置，能夠巧妙的結合輸入和顯示介面，故具有節省裝置空間和操作人性化的優點，目前已非常廣泛應用在各式消費性或者工業性電子產品上。舉例：個人數位助理(personal digital assistant，PDA)、掌上型電腦(palm-sized PC)、平板電腦(tablet computer)、行動電話(mobile phone)、資訊家電(Information Appliance)、銷售櫃員機(Point-Of-Sale，POS)等裝置上。
現有電容式觸控面板包括資料處理模組、驅動電極及感應電極等，其中驅動電極及感應電極分別經由各自之介面與資料處理模組電性連結。驅動電極係由相互平行的複數個驅動電極條所組成，感應電極係由複數個相互平行的感應電極條所組成，其中各驅動電極條與各感應電極條 係互相垂直配置而形成複數個交叉處。當驅動電極受到驅動電壓之驅動時，其與感應電極之間形成電場，使得感應電極產生感應電荷，而具有一交互電容，複數個驅動電極條與複數個感應電極條即形成複數個電場，因此可擬似每一該交叉處即具有一交互電容，複數個交叉處即形成交互電容陣列。交互電容陣列在穩態之環境下，具有一穩定之電容量(以下稱基底電容)，使得感應電極產生一感應電壓(此時之感應電壓稱為基底電壓)，資料處理模組經由其介面讀取感應電壓。當手指或其他導電物質接近交叉處時，將改變該處之電場，造成感應電壓變化。變化之感應電壓向資料處理模組傳輸後，由類比對數位轉換器轉換成數位訊號後，再由經由演算法辨識其是否為一觸控訊號，決定是否進行觸碰位置之演算，進而處理形成向主機端輸出的觸碰資訊輸入資料。其中，主機端為具有至少一中央處理器(CPU)控制的設備，例如電腦、PDA等。
由於驅動電極與感應電極之間所形成的電場容易受到外來電磁波等的干擾，導致不能準確地量測手指等導電性物質所引起的電容性充電轉移之電荷量的變化。因此現有技術有利用訊號相減的方式將此一雜訊減除的方法，其重複進行一量測循環，得到二個以上不同的感測電壓訊號再相減之。藉由差分法(deferential)處理二個以上不同的感測電壓訊號，以得到消除基底雜訊(common mode noise)的觸控訊號。採用一般差分法雖然可以消除基底雜訊，但是需要兩兩成對的感測訊號來計算出差分值，可能在量測過程中有手指或異物觸碰，影響後端運算例如採用差分法計算而造成精確度或解析度下降。
鑑於上述發明背景，本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之採用參考電極進行感測方法及其感測模組，通過週期性或即時性穿插執行一判斷程序於執行感測方法的一般週期波差異比較運算中，讀取分辨判斷一第一參考電極之受擾及其受擾區段，另通過本發明中新的參考電極選取方法，找到一第二感測電極其於前述受擾區段為受擾者，供給接續作為更替的第二參考電極；以此第二參考電極對該原本受擾區進行讀取，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，且全幀(FRAME)得以取得正確歸原之讀值。因此，快速解決參考電極的雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
觸控辨識裝置預先設定正確觸碰與無觸碰等之閾限值。前項設置完成，可開始常規量測，其係基於採用第一參考電極所得知一組讀取之感測值；前項動作之接續為一預設閾限值檢驗程序以標示受擾區段，也就是利用此預設閾限值檢驗程序以判斷第一感測電極(第一參考電極)是否異常；若無受擾，則反覆進行如前述之常規讀取，否則對受擾區段，根據閾限值，選定其他參考電極，在該區段之各驅動電極確定一感測電極其為合於無受擾條件者，令其為一第二參考電極，並以此第二參考電極，為二次讀取之參考電極；以預存向量差在一次與二次讀取中做校正，獲得全幀歸原的正確讀值；回復常態讀取。
為了達到上述之一或部份或全部目的或是其他目的，本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組，其中觸控辨識裝置包括複數個感測電極、複數個驅動電極及一電性連接複數個驅動電極及複數個感測電極的處理單元，複數個感測電極與複數個驅動電極交會而具 有複數個節點。
所述感測模組執行感測方法之步驟包括：通過處理單元選定複數個感測電極中的一第一感測電極並設為一第一參考電極；通過處理單元進行一量測循環，以得到複數個節點之感測讀值；根據複數個感測讀值判斷第一感測電極是否異常；以及當第一感測電極為異常，第一感測電極與其交會的複數個驅動電極之其一上具有一受觸碰點，則通過處理單元執行一選定新的參考電極程序，以替換掉第一感測電極。
其中，處理單元執行該選定參考電極程序包括：找出受觸碰點上的驅動電極與其他複數個感測電極交會的複數個節點，以定義為複數個候選節點，其中被定義的複數個候選節點之感測讀值需符合一理想基底值，判斷候選節點之感測讀值減去受觸碰點之感測讀值後是否符合一臨界值，並定義符合臨界值的候選節點為一完美節點；以及根據完美節點所在的感測電極，選出最鄰近第一感測電極的感測電極，以替換第一感測電極。
在一實施例中，判斷第一感測電極是否異常的步驟，也就是所述預設閾限值檢驗程序包括：計算同一個驅動電極上的每一節點之感測讀值，分別與第一感測電極上的節點之感測讀值之間的一差異值；比較差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若差異值高於或低於閾限值，則判斷第一感測電極為異常。
在一實施例中，當第一感測電極被判斷為異常時，則停止通過第一感測電極設為參考電極所進行的量測循環。
在一實施例中，進行量測循環前，於無指向元件接觸觸控辨識裝置之理想環境下執行一基底量測，以獲得所有複數個節點之感測讀 值，並計算得到理想基底值。
在一實施例中，符合理想基底值之條件定義為位於理想基底值之正負10%差。
在一實施例中，觸控辨識裝置更包括提供一中央處理模組，電性連接處理單元。中央處理模組包括複數個暫存器(register)，中央處理模組利用複數個暫存器，將具有受觸碰點的驅動電極對應進行記錄，其中複數個暫存器之單位為n bit之向量，且複數個暫存器之數量與複數個驅動電極之數量相關，當候選節點之感測讀值之差異未符合臨界值，則暫存器之bit紀錄為0；當候選節點之感測讀值之差異符合臨界值，則暫存器之bit紀錄為1。
100:感測模組
110:處理單元
120、D1-D7:驅動電極
130、S1-S4:感測電極
D1S1、D1S2、D1S3、D1S4、D2S1、D2S2...:節點
圖1及圖2為本發明實施例中一種應用於觸控辨識裝置之感測模組的示意圖。
圖3為本發明實施例中一種應用於觸控辨識裝置之感測方法的流程圖。
圖4為本發明實施例中判斷第一感測電極是否異常的方法流程圖。
有關本發明前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之一較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。以下實施例中所提到的方向用語，例如：上、下、左、右、前或後等，僅是用於參照隨附圖式的方向。因此，該等方向用語僅是用於說明並非是用於限制本發明。
請參照圖1，是本發明第一實施例中的一種觸控辨識裝置之感測模組100。一種觸控辨識裝置之感測模組100包括一處理單元110、複數個驅動電極120及複數個感測電極130。於本實施例中，驅動電極120包括至少7條驅動電極D1-D7，感測電極130包括至少4條感測電極S1-S4。複數個驅動電極120與複數個感測電極130交會而具有複數個節點D1S1、D1S2、D1S3、D1S4、D2S1、D2S2...等。處理單元110電性連接感測電極130及驅動電極120，用以驅動驅動電極120並感測感測電極130上的電容變化，以得到複數個節點的複數個點量測值。
上述感測模組100用以執行以下本發明實施例中的一種觸控辨識裝置之感測方法。
請參照圖3及圖4，是本發明實施例中一種觸控辨識裝置之感測方法的流程示意圖，並配合圖1及圖2中第一及第二實施例說明。本發明實施例的感測方法包括以下步驟S100-S160來執行判斷及選定參考電極程序，以進行觸控量測。
步驟S100：進行量測循環前，於無指向元件接觸觸控辨識裝置之理想環境下執行一基底量測，以獲得所有複數個節點之感測讀值，並計算得到一理想基底值。根據所有複數個節點之感測讀值，計算得到理想基底值可以是所有節點之感測讀值的平均值，但本發明不限於採用平均值作為理想基底值的計算方式。
步驟S110：選定複數個感測電極S1-S4中的一第一感測電極。於本實施例中預先選定感測電極S1為第一感測電極，並設定感測電極S1作為參考電極來使用。第一感測電極S1與複數個驅動電極D1-D7交會而具 有複數個第一節點D1S1、D2S1、D3S1...等。在一實施例中，設定感測電極S1作為參考電極的步驟，包括將感測電極S1電性連接至一參考電極電路，使得處理單元110在此一量測循環中，可將經由第一感測電極S1所收到的訊號進行反向處理，例如乘上一負號，以節省運算時間。
步驟S120：驅動一個或一個以上的驅動電極，量測感測電極以得到一個或一個以上節點的感測讀值。在本實施例中，上述複數個節點的感測讀值為週期波驅動所產生的變異值。
在一實施例中，得到感測讀值之步驟更包括：驅動複數個驅動電極的其一者或一部份者；同時或依序量測一個或一部份感測電極以得到一個或一個以上節點的感測讀值；停止驅動；驅動複數個驅動電極的另一者或其餘部分者；同時或依序量測另一個或另一部份感測電極以得到另一個或其餘部分節點的感測讀值；以及，重複上述驅動動作，以得到全部節點的感測讀值。在另一實施例中，得到感測讀值之步驟更包括：同時驅動複數個驅動電極的全部者；以及，量測全部的感測電極以得到全部節點的感測讀值。
在一實施例中，如圖1中空心箭頭所示，先驅動驅動電極D1，依序得到不同節點D1S1、D1S2、D1S3、D1S4的感測讀值。接著，跟著箭頭方向依序驅動驅動電極D2，而得到不同節點D2S1、D2S2、D2S3、D2S4的感測讀值。然後，依序驅動驅動電極D3及D4，而得到節點D3S1、D3S2、D3S3、D3S4、D4S1、D4S2、D4S3、D4S4的感測讀值。
在另一實施例中，如圖1中實心箭頭所示，第一次先驅動驅動電極D1，依序得到不同節點D1S1、D1S2、D1S3、D1S4的感測讀值。接 著，跟著實心大箭頭方向，第二次直接跳選驅動驅動電極D4，而得到不同節點D4S1、D4S2、D4S3、D4S4的感測讀值。然後，繼續跳選驅動其他驅動電極。其中，第二次驅動可直接跳選驅動電極D4，也就是距離第一次驅動驅動電極D1處，相差隔了3條驅動電極；本發明並不限定此實施例，抑或是可跳選相差隔了4-5條的驅動電極D5或D6，來加快感測方法的反應時間。
本發明並不限定於此步驟中得到全部的感測讀值，可先執行驅動驅動電極的其一者或一部份者，並得到部分節點的感測讀值，即可接續下個步驟S130，再回到步驟S120以得到全部感測讀值。
步驟S130：判斷第一感測電極是否異常。如圖3所示之判斷程序的流程示意圖，其包括步驟S131至S134。
步驟S131：計算同一個驅動電極上的每一節點之感測讀值，分別與第一感測電極S1上第一節點的感測讀值之間的差異值。如圖1所示，於步驟S120中，驅動驅動電極D1後，依序求出第一節點D1S1的感測讀值分別與其他節點D1S2、D1S3、D1S4的感測讀值之間的差異值，然後進行步驟S132；或是再驅動驅動電極D2後，依序求出第一節點D2S1的感測讀值分別與其他節點D2S2、D2S3、D2S4的感測讀值之間的差異值，再繼續進行。上述感測電極所感應的感測讀值是週期波驅動所產生之變異，利用本步驟再計算比較二者的差異。
步驟S132：檢查步驟S131所得到的差異值是否高於或低於感測模組100所設定的一閾限值。當無指向物件如手指或觸控筆等觸碰感測模組時，若感測模組要判別參考電極上是否有其他異物觸碰，也就是判別感測電極是否有受擾及其受擾區段，則是進行週期波驅動變異衰減比較， 因其感測讀值會被其他異物等非指向物件(例如水漬、汗漬、髒汙)造成衰減，因此上述步驟是為了觀察判斷此衰減是否由非指向物件所引起。若差異值高於閾限值，則判斷有指向物件觸碰第一感測電極。若差異值低於閾限值，則判斷為一非指向物件觸碰第一感測電極。
步驟S133：當差異值高於或低於閾限值，則判斷第一感測電極S1為異常。如圖1所示，由於節點D3S2與第一節點D3S1的差異值高於或低於閾限值，因此判斷第一感測電極S1為異常。至於節點D1S2、D1S3、D1S4分別與第一節點D1S1的差異值皆高於或低於閾限值，因此也判斷第一感測電極S1為異常。如圖2所示，除了節點D1S2、D1S3、D1S4分別與第一節點D1S1的差異值皆高於或低於閾限值，節點D4S2、D4S3、D4S4分別與第一節點D4S1的差異值亦皆高於或低於閾限值，因此判斷第一感測電極S1為異常。
步驟S134：同時，當第一感測電極被判斷為異常時，則感測模組可選擇性地停止通過第一感測電極設為參考電極所進行的觸控量測循環。當判斷第一感測電極遭到手指觸碰或是有異物於其上時，先前所獲得節點的感測讀值訊號，則以新讀的感測讀值，覆蓋舊讀的感測讀值；或是可直接將舊的感測讀值丟棄不使用。
在一較佳實施例中，當至少一個差異值高於或低於閾限值時，停止觸控量測循環。在另一實施例中，在相同驅動電極上，差異值高於或低於閾限值的感測節點之數量為至少兩個，則停止觸控量測循環。
上述步驟S130中判斷程序可以採用週期性檢測或即時性檢測。若採用週期性檢測，則執行數次量測循環後，執行一次此判斷程序， 來掃描全面板，以確認被選定作為參考電極的感測電極是否適當；若採用即時性檢測，則量測循環下的每次週期波變異衰減比較後即進行判斷程序。每次取得節點訊號進行週期波變異衰減比較時，先將差異值依感測模組所設條件，判斷作為參考電極的第一感測電極是否遭觸碰，是否執行以下步驟來執行一選定參考電極程序，再進行其他訊號處理或判斷，例如報點。
步驟S140：承續步驟S130，由於當第一感測電極被判斷為異常時，得知第一感測電極與其交會的驅動電極上具有至少一受觸碰點。例如圖1中所示第一實施例，可得知第一感測電極上的受觸碰點為D1S1、D3S1；在圖2的第二實施例中，可得知第一感測電極上的受觸碰點有兩個分別為D1S1、D4S1。
步驟S150：通過處理單元執行一選定參考電極程序，以替換第一感測電極而設為參考電極。其中，處理單元執行選定參考電極程序包括步驟S151至S154。
步驟S151：根據步驟S140，找出受觸碰點上的驅動電極與其他感測電極交會的節點，以定義為複數個候選節點，其中被定義的複數個候選節點之感測讀值需符合一理想基底值。例如圖1中所示第一實施例，可得知第一感測電極上的受觸碰點為D1S1、D3S1，其所在的驅動電極與其他感測電極交會的節點為D1S2、D1S3、D1S4、D3S2~4，根據步驟S100可知節點D1S2、D1S3、D1S4之感測讀值是否符合理想基底值之條件定義，例如，當感測讀值分別位於理想基底值之正負10%差的範圍內，則符合理想基底值之條件定義，但本發明所定義不在此限；若上述節點D1S2、D1S3、D1S4 之感測讀值皆符合理想基底值，則定義為候選節點。
至於，圖2的第二實施例中，可得知第一感測電極上的受觸碰點有兩個分別為D1S1、D4S1，其所在的驅動電極與其他感測電極交會的候選節點可能為D1S2、D1S3、D1S4、D4S2、D4S3、D4S4。根據步驟S100可知節點D1S2、D1S3、D1S4、D4S2、D4S3、D4S4之感測讀值是否符合理想基底值之條件定義，分別位於理想基底值之正負10%差的範圍內；若上述節點D1S2、D1S3、D1S4、D4S2、D4S3、D4S4之感測讀值皆符合理想基底值，則定義為候選節點。
步驟S152：判斷候選節點之感測讀值減去受觸碰點之感測讀值後是否符合一臨界值，並定義符合臨界值的候選節點為一完美節點。也就是說，本步驟通過候選節點符合臨界值之條件，以確認候選節點未被任何手指或異物觸碰。在本實施例中，臨界值可以由感測模組預先設定，或是由步驟S100中理想基底值換算得到，但本發明並不限於此。舉例來說，圖1的候選節點D1S2、D1S3、D1S4若皆符合臨界值，也就是可定義為一完美節點；圖2的候選節點D1S2、D1S3、D1S4、D4S2、D4S3、D4S4若皆符合臨界值，也就是可定義為完美節點。
上述步驟S140-S152可透過中央處理模組(未圖示)之暫存器(register)加快判斷及運算速度。中央處理模組電性連接處理單元110，其中中央處理模組包括複數個暫存器(register)，中央處理模組保留並利用複數個暫存器，作為驅動電極異常的紀載；換句話說，每一個暫存器對應有至少一個驅動電極，暫存器將具有受觸碰點的驅動電極先進行記錄。其中暫存器之單位為n bit vector，且暫存器之數量與驅動電極之數量相關。也就是 說，當第一感測電極為異常，第一感測電極與其交會的驅動電極之其一上具有受觸碰點，因此中央處理模組保留對應驅動電極之暫存器，已將具有受觸碰點的驅動電極記載為異常。
於驅動並量測訊號得到感測讀值後，如步驟S151-S152結果，當該候選節點之感測讀值之差異未符合該臨界值，則該候選節點上的該驅動電極對應的暫存器之bit紀錄為0；當該候選節點之感測讀值之差異符合該臨界值，則該候選節點上的該驅動電極對應的暫存器之bit紀錄為1，換句話說，所對應暫存器之bit紀錄為1的驅動電極上具有完美節點，因此，後續僅需對bit紀錄為1的驅動電極進行動作，因此可加快處理運算速度。
步驟S153：根據完美節點所在的感測電極，選出最鄰近第一感測電極的感測電極，來作為參考電極。例如，圖1的完美節點D1S2、D1S3、D1S4分別所在的感測電極為S2、S3及S4，其最鄰近原本的第一感測電極S1的感測電極為S2；圖2的完美節點D1S2、D1S3、D1S4、D4S2、D4S3、D4S4分別所在的感測電極為S2、S3及S4，其最鄰近原本的第一感測電極S1的感測電極為S2。因此，圖1及圖2中的兩實施例，皆選定感測電極S2作為參考電極。
步驟S154：根據步驟S153選出的感測電極，以替換第一感測電極。在本實施例中，先前通過第一感測電極進行循環量測所獲得節點的感測讀值訊號，則以新讀的感測讀值，覆蓋舊讀的感測讀值；或是可直接將舊的感測讀值丟棄不使用。
步驟S160：接續步驟S130或S154，若第一感測電極未有異常，或是另外選定其他感測電極作為參考電極後，進行觸控量測。在本實 施例中，感測電極作為參考電極，除了將電性連接至一參考電極電路，觸控量測更包括：電性連接複數個感測電極之其餘者至一正向量測電路，並進行觸控量測而得到一觸控訊號。進行觸控量測之步驟包括：參考電極電路依序會同正向量測電路進行量測，分別同步得到一反向訊號及一正向訊號；以及，通過一類比數位轉換電路接收反向訊號及正向訊號，來轉換得到一觸控訊號，其中，正向訊號與反向訊號的相位訊號是180度偏移。
本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組，通過週期性或即時性穿插執行一判斷程序於執行感測方法的一般週期波差異比較運算中，讀取分辨判斷一第一參考電極之受擾及其受擾區段，另通過本發明中新的參考電極選取方法，找到一第二感測電極其於前述受擾區段為受擾者，供給接續作為更替的第二參考電極；以此第二參考電極對該原本受擾區進行讀取，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，且全幀(FRAME)得以取得正確歸原之讀值。因此，快速解決參考電極的雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
S100-S160‧‧‧步驟

Claims (11)

  1. 一種觸控辨識裝置之感測方法，其中該觸控辨識裝置包括複數個感測電極、複數個驅動電極及一電性連接該複數個驅動電極及該複數個感測電極的處理單元，該複數個感測電極與該複數個驅動電極交會而具有複數個節點，該感測方法包括：通過該處理單元選定該複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極；通過該處理單元進行一量測循環，以得到該複數個節點之感測讀值；根據該複數個感測讀值判斷該第一感測電極是否異常；以及當該第一感測電極為異常，該第一感測電極與其交會的該複數個驅動電極之其一上具有一受觸碰點，則通過該處理單元執行一選定參考電極程序，以替換該第一感測電極；其中，該處理單元執行該選定參考電極程序包括：找出該受觸碰點上的該複數個驅動電極之一者與其他該複數個感測電極交會的該複數個節點，以定義為複數個候選節點，其中被定義的該複數個候選節點之感測讀值需符合一理想基底值；判斷該候選節點之感測讀值減去該受觸碰點之感測讀值後是否符合一臨界值，並定義符合該臨界值的該候選節點為一完美節點；以及根據該完美節點所在的該複數個感測電極，選出最鄰近該第一感測電極的該複數個感測電極之一者，以替換該第一感測電極。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中判斷該第一感測電極是否 異常的步驟包括：計算同一個該驅動電極上的每一該節點之該感測讀值，分別與該第一感測電極上的該節點之感測讀值之間的一差異值；比較該差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若該差異值高於或低於該閾限值，則判斷該第一感測電極為異常。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中當該第一感測電極被判斷為異常時，則停止通過該第一感測電極設為參考電極所進行的該量測循環。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中進行該量測循環前，於無指向元件接觸該觸控辨識裝置之理想環境下執行一基底量測，以獲得所有該複數個節點之感測讀值，並計算得到該理想基底值。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中符合該理想基底值之條件定義為位於該理想基底值之正負10%差。
  6. 一種觸控辨識裝置之感測模組，包括：複數個感測電極；複數個驅動電極，該複數個感測電極與該複數個驅動電極交會而具有複數個節點；以及一處理單元，電性連接該複數個驅動電極及該複數個感測電極；其中，該處理單元選定該複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極；通過該處理單元進行一量測循環，以得到該複數個節點之感測讀值；根據該複數個感測讀值判斷該第一感測電極是否異常；以及當該第一感測電極為異常，該第一感測電極與其交會的該複數個驅動電極之 其一上具有一受觸碰點，則通過該處理單元執行一選定參考電極程序，以替換該第一感測電極；其中，該處理單元執行該選定參考電極程序包括：找出該受觸碰點上的該複數個驅動電極之一者與其他該複數個感測電極交會的該複數個節點，以定義為複數個候選節點，其中被定義的該複數個候選節點之感測讀值需符合一理想基底值；判斷該候選節點之感測讀值減去該受觸碰點之感測讀值後是否符合一臨界值，並定義符合該臨界值的該候選節點為一完美節點；以及根據該完美節點所在的該複數個感測電極，選出最鄰近該第一感測電極的該複數個感測電極之一者，以替換該第一感測電極。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的感測模組，其中該處理單元判斷該第一感測電極是否異常的步驟包括：該處理單元計算同一個該驅動電極上的每一該節點之該感測讀值，分別與該第一感測電極上的該節點之感測讀值之間的一差異值；該處理單元比較該差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若該差異值高於或低於該閾限值，則該處理單元判斷該第一感測電極為異常。
  8. 如申請專利範圍第6項所述的感測模組，其中當該第一感測電極被判斷為異常時，則該處理單元停止通過該第一感測電極設為參考電極所進行的該量測循環。
  9. 如申請專利範圍第6項所述的感測模組，其中該處理單元進行該量測循環前，於無指向元件接觸該觸控辨識裝置之理想環境下該處理單元執行一基底量測，以獲得所有該複數個節點之感測讀值，並計算得到該理想基 底值。
  10. 如申請專利範圍第6項所述的感測模組，其中符合該理想基底值之條件定義為位於該理想基底值之正負10%差。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法或第6項所述的感測模組，更包括提供一中央處理模組，電性連接該處理單元，其中該中央處理模組包括複數個暫存器(register)，該中央處理模組利用該複數個暫存器，將具有該受觸碰點的該驅動電極對應進行記錄，其中該複數個暫存器之單位為n bit之向量，且該複數個暫存器之數量與該複數個驅動電極之數量相關，當該候選節點之感測讀值之差異未符合該臨界值，則該暫存器之bit紀錄為0；當該候選節點之感測讀值之差異符合該臨界值，則該暫存器之bit紀錄為1。
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