TWI807947B - 多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備 - Google Patents

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Abstract

揭露一種多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備。此更新和檢驗方法是適用於具有多顆嵌入式控制器的電子設備。首先,將嵌入式控制器唯讀檔案寫入第一嵌入式控制器進行更新。更新完第一嵌入式控制器的第一韌體後,第一嵌入式控制器以嵌入式控制器唯讀檔案更新第二嵌入式控制器的第二韌體。更新完第二嵌入式控制器的第二韌體後,第一嵌入式控制器或另一硬體裝置比對儲存於第一嵌入式控制器的第一摘要資訊和更新後的第二嵌入式控制器的第二摘要資訊是否一致。

Description

多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備
本發明涉及一種多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備,且特別是可以透過主要的嵌入式控制器(Master embedded controller)更新並檢驗從屬的嵌入式控制器(Slave embedded controller)的更新和檢驗方法與裝置。
近年來,嵌入式控制器 (Embedded controller, EC) 運行狀態的檢測方式大多透過基本輸入輸出系統 (BIOS) 或是外部軟體 (例如,RWEverything) 讀取嵌入式控制器特定的暫存器(Registers)。並根據系統預設值或嵌入式控制器於文件上註記的規格,核對嵌入式控制器的韌體版本是否正確以及該嵌入式控制器是否正常工作。
然而,上述檢查方式並不是最有效率的方法。如果有複數個嵌入式控制器並使用外部軟體針對此複數個嵌入式控制器進行檢查,只能以人工方式使用外部軟體逐一檢查每一個嵌入式控制器的運行功能是否有異常,此種檢查方式效率不佳。此外,也無法要求終端使用者於電子設備開機時執行外部軟體,且這項操作並不合理。
在一般狀況下,如果只具有單顆嵌入式控制器的電子設備,要檢查此單一嵌入式控制器的功能是否有異常是非常容易的。但是,如果是具有複數個嵌入式控制器的電子設備,從屬的嵌入式控制器控制的功能大多為次要功能 (例如,LED發光裝置、連接埠或電子設備上其他非影響開機功能的附加硬體功能)。然而,此些次要功能並不會影響主要的嵌入式控制器功能運行。因此,在電子設備運行時,若沒有使用此些次要功能則無法確認此些次要功能對應的嵌入式控制器是否有硬體或韌體上的異常。因此,在檢驗多顆嵌入式控制器時,需要一種更為快速的檢查方式確保所有的嵌入式控制器功能正常。
本發明實施例提供一種多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備,此方法適用於具有多顆嵌入式控制器的電子設備,並透過更新此些嵌入式控制器的韌體,並檢查此些嵌入式控制器的功能是否正常,其中多顆嵌入式控制器包括第一嵌入式控制器及第二嵌入式控制器,且第一嵌入式控制器儲存第二嵌入式控制器的第一摘要資訊。
首先,電子設備的基本輸入輸出系統執行更新軟體,以讀取儲存於電子設備內部的外部唯讀記憶體的嵌入式控制器唯讀檔案。第一嵌入式控制器將儲存於外部唯讀記憶體的嵌入式控制器唯讀檔案寫入第一嵌入式控制器。第一嵌入式控制器以嵌入式控制器唯讀檔案更新第一嵌入式控制器的第一韌體。更新完第一嵌入式控制器的第一韌體後,第一嵌入式控制器以嵌入式控制器唯讀檔案更新第二嵌入式控制器的第二韌體。當所述第二韌體版本更新完成後,比對所述第一摘要資訊和更新後的第二嵌入式控制器的第二摘要資訊是否一致。其中,當第一摘要資訊和第二摘要資訊不一致時,則產生警示訊息。
根據本發明一些實施例,基本輸入輸出系統將儲存於外部硬體裝置的嵌入式控制器唯讀檔案寫入電子設備的外部唯讀記憶體,並傳送寫入完成訊息至第一嵌入式控制器,以讓第一嵌入式控制器讀取嵌入式控制器唯讀檔案。
根據本發明一些實施例,上述第一摘要資訊包括更新第二嵌入式控制器前的嵌入式控制器唯讀檔案經由雜湊函數產生的第一雜湊值,且上述第二摘要資訊包括更新第二嵌入式控制器後的第二韌體經由上述雜湊函數產生的第二雜湊值。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括傳送警示訊息至基本輸入輸出系統。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括重新開機電子設備時,電子設備的基本輸入輸出系統發出警示。上述發出警示的方法包括:電子設備斷電、電子設備不被允許開機、電子設備發出聲明聲響、嵌入式控制器的燈號閃爍提示或前述方法任意組合。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括第一嵌入式控制器與外部唯讀記憶體的訊號連接方式包括以序列周邊介面訊號連接,且第二嵌入式控制器為第一嵌入式控制器的次要功能。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括次要功能包括LED燈號或電子設備的連接埠功能。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括儲存於電子設備內部的嵌入式控制器唯讀檔案為電子設備的原廠韌體版本檔案。
根據本發明一些實施例,上述更新和檢驗方法更包括透過原廠韌體版本檔案寫入至多顆嵌入式控制器,以使多顆嵌入式控制器的韌體版本還原為預設值。
本發明實施例還提供一種電子設備,此電子設備包括多個硬體模組,用以執行上述多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法。
綜上所述,相較於先前技術的逐一更新並檢查電子設備中的多顆嵌入式控制器,本發明實施例提供的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備可以達到更有效率的更新和檢查成效。本發明實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法可更完整地檢驗多顆嵌入式控制器的硬體功能是否有損壞的情形,亦或嵌入式控制器的韌體版本有無錯誤,導致電子設備的運行功能出現錯誤。
為了進一步理解本發明的技術、手段和效果,可以參考以下詳細描述和附圖,從而可以徹底和具體地理解本發明的目的、特徵和概念。然而,以下詳細描述和附圖僅用於參考和說明本發明的實現方式,其並非用於限制本發明。
現在將詳細參考本發明的示範實施例,其示範實施例會在附圖中被繪示出。在可能的情況下,在附圖和說明書中使用相同的元件符號來指代相同或相似的部件。另外,示範實施例的做法僅是本發明的設計概念的實現方式之一,下述的該等示範皆非用於為限本發明。
提供這些實施例是為了使本公開透徹和完整,並將本發明的概念充分傳達給本領域技術人員。關於附圖,為清楚和方便起見,附圖中元素的相對比例和比例可能在尺寸上被誇大或縮小。這樣的任意比例僅是說明性的並且不以任何方式限制。在附圖和描述中使用相同的附圖標記來指代相同或相似的部分。
應當承認,儘管術語「第一」、「第二」、「第三」等可以在本文中用於描述各種元素,但這些元素不應受這些術語的限制。這些術語僅用於將一個組件與另一個組件區分開來。因此,在不改變本公開的描述的情況下,本文討論的第一要素可以被稱為第二要素。如本文所用,術語「或」包括一個或多個相關列出的項目的任何和所有組合。
應當承認,當一個元件或層被稱為「在」、「連接到」或「耦合到」另一個元件或層時,它可以直接位於、連接到或耦合到另一個元件或層,或者中間元件或中間層可以存在。相反,當一個元件被稱為「直接在」、「直接連接到」或「直接耦合到」另一個元件或層時,不存在中間元件或中間層。
為了解決先前技術的問題,本發明實施例提供一種多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備。使用者可透過上述更新和檢驗方法來更新並檢驗多顆嵌入式控制器,藉此有效減少更新和檢驗多顆嵌入式控制器的時間並提升使用者的工作效率。舉例來說,但不以此為限,具有多顆嵌入式控制器的電子設備例如可為智慧型家電、遊戲機、車用電子系統或桌上型電腦。
請同時參照圖1與圖2,圖1是依據本發明一些實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗系統的示意圖;圖2是依據本發明一些實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法的流程圖。圖2中之更新和檢驗方法可以使用圖1的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗系統來執行中。
在步驟201中,基本輸入輸出系統 (BIOS) 103執行更新軟體,以讀取儲存於外部記憶體104的嵌入式控制器唯讀檔案。
舉例來說,但不以此為限,依據某些實施例,上述儲存於外部記憶體104的嵌入式控制器唯讀檔案可以是此嵌入式控制器的原廠預設韌體編碼,且此原廠預設韌體編碼通常地儲存於嵌入式控制器的暫存器或唯讀記憶體。當維護人員進行排除硬體問題流程時,可藉此嵌入式控制器唯讀檔案還原電子設備100的原始設定的參數值,並檢驗是否為嵌入式控制器的硬體問題或其韌體版本有誤的問題。
又或者,上述基本輸入輸出系統103要執行更新電子設備100之第一嵌入式控制器101和第二嵌入式控制器102的韌體時,基本輸入輸出系統103可先讀取儲存於外部硬體裝置110 (例如,USB隨身碟) 中的嵌入式控制器唯讀檔案,再將此嵌入式控制器唯讀檔案寫入外部唯讀記憶體104中,以供第一嵌入式控制器101讀取。
換句話說,在上述唯讀檔案傳送至第一嵌入式控制器101和第二嵌入式控制器102進行韌體版本更迭時,可以是外部硬體裝置110提供的更新韌體檔案或原先儲存於電子設備100中內部的外部唯讀記憶體104的還原韌體檔案。
依據另一些實施例,上述儲存於電子設備100內部的外部唯讀記憶體104的嵌入式控制器唯讀檔案可以是複數個版本的韌體代碼內容。因此,電子設備100的使用者可根據電子設備100的操作模式不同,選擇欲使用的韌體代碼版本對應的唯讀檔案,傳送此唯讀檔案至第一嵌入式控制器101和第二嵌入式控制器102進行第一或第二韌體版本的更迭,使其電子設備100有多樣的操作模式。
在步驟202中,第一嵌入式控制器101將儲存於外部唯讀記憶體104的嵌入式控制器唯讀檔案寫入第一嵌入式控制器101之中,並以此唯讀檔案更新第一嵌入式控制器101的第一韌體。舉例來說,但不以此為限,第一嵌入式控制器101和外部唯讀記憶體104以序列周邊介面 (Serial Peripheral Interface Bus, SPI) 規範進行訊號連接。此序列周邊介面 (SPI) 係為一個主裝置 (Master device) 和一個或多個從裝置(Slave device) 的訊號連接關係。此序列周邊介面 (SPI) 包括四條傳輸訊號線,其中兩條為傳遞資料的訊號線,一條傳遞時脈 (clock),另一條用於選擇從裝置 (Slave select)。舉例來說,但不以此為限,依據本發明一些實施例,可將第一嵌入式控制器101視為序列周邊介面(SPI)的主裝置(Master device),而外部唯讀記憶體104可視為序列周邊介面(SPI)的從裝置(Slave device)。
在步驟203中,更新完第一韌體後,第一嵌入式控制器101以嵌入式控制器唯讀檔案更新第二嵌入式控制器102的第二韌體。舉例來說,但不以此為限,第一嵌入式控制器101以嵌入式控制器唯讀檔案更新第二嵌入式控制器102的第二韌體,意指此唯讀檔案的代碼覆寫存於第二嵌入式控制器102內部暫存器中的舊有韌體代碼。
在步驟204中,更新完第二韌體後,比對上述第一摘要資訊和更新後的第二嵌入式控制器102的第二摘要資訊是否一致。當第一摘要資訊和第二摘要資訊不一致時,則至步驟205。進一步地說明,但不以此為限,比對上述第一摘要資訊和第二摘要資訊的操作,可以是藉由第一嵌入式控制器101進行比對,亦或者是於電子設備100中額外新增一個檢驗硬體模組進行比對後,且該檢驗硬體模組將比對結果傳送至基本輸入輸出系統103。
舉例來說,但不以此為限,此第一摘要資訊可以是儲存更新第二嵌入式控制器102的嵌入式控制器唯讀檔案透過雜湊函數產生的第一雜湊值(the first hash value),且此第一摘要資訊儲存於第一嵌入式控制器102。此第二摘要資訊可以是更新第二嵌入式控制器102後的第二韌體代碼經由雜湊函數產生的第二雜湊值(the second hash value)。一般來說,當第一雜湊值和第二雜湊值相同,則代表第二嵌入式控制器102的硬體並無發生損壞。反之,當第一雜湊值和第二雜湊值不相同,則代表第二嵌入式控制器102的暫存器或其內部的部份硬體有損壞。
又一實施例中,此第一摘要資訊可以是此電子設備於出廠時,第二嵌入式控制器102的記憶體模組的第一硬體容量數值,而且此第一硬體容量數值儲存於第一嵌入式控制器中;第二摘要資訊可以是第二嵌入式控制器102的記憶體模組於此第二韌體更新後產生的第二硬體容量數值。記憶體模組於更新前和更新後數值應不變。然而,當第一硬體容量數值和第二硬體容量數值不同時,代表所述第二嵌入式控制器102的記憶體模組有損壞。
在步驟205中,傳送警示訊息至基本輸入輸出系統103。舉例來說,但以此不為限,當基本輸入輸出系統103接收到警示訊息後,會於電子設備10重新開機後發出警示,發出警示的方法包括使電子設備10斷電、電子設備10無法開機、電子設備10發出長短音聲響、嵌入式控制器的燈號閃爍或是前述方法的任意組合,電子設備10可使用上述警示方法提示使用者電子設備10有何種硬體損壞或錯誤問題。
在步驟206中,電子設備10正常開機並運行。
綜上所述,本發明實施例提供的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備可以達到對具有多顆嵌入式控制器的電子設備進行硬體的功能性檢查,而且相較於先前技術使用外部硬體檢查軟體對多顆嵌入式控制器進行逐一檢查,本發明實施例的顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備還能夠有效減少維護人員的檢查時間,並提高其工作效率。因此,本發明實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗方法與其電子設備具有極高的實用性和市場價值。
以上所述僅為本發明較佳之具體實施例,惟本發明之特徵並不侷限於此,任何熟悉該項技藝者在本發明之領域內,可輕易思及之變化或修飾,皆可涵蓋在以下本案之專利範圍。
100:電子設備 110:外部硬體裝置 101:第一嵌入式控制器 102:第二嵌入式控制器 103:基本輸入輸出系統 104:外部唯讀記憶體 201~207:步驟
下面結合附圖對本發明的以下實施例進行詳細說明。這些附圖示出了本發明實施例的具體示例。提供這些實施例是為了使本公開徹底和完整,並將本發明的範圍充分傳達給本領域技術人員。應當承認,這些實施例是示例性實施方式並且不應被解釋為以任何方式限製本發明的範圍。對所公開的實施例以及其他實施例的進一步修改也包括在所附權利要求的範圍內。
圖1是依據本發明一些實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗系統的示意圖。
圖2是依據本發明一些實施例的多顆嵌入式控制器的更新和檢驗的流程圖。
100:電子設備
110:外部硬體裝置
101:第一嵌入式控制器
102:第二嵌入式控制器
103:基本輸入輸出系統
104:外部唯讀記憶體

Claims (10)

  1. 一種多顆嵌入式控制器的更新檢驗方法,係用於更新一電子設備之多顆嵌入式控制器的韌體並檢查所述多顆嵌入式控制器之功能是否正常,其中所述多顆嵌入式控制器包括一第一嵌入式控制器和一第二嵌入式控制器,且所述第一嵌入式控制器儲存所述第二嵌入式控制器之一第一摘要資訊,所述更新檢驗方法包含: 所述電子設備之一基本輸入輸出系統執行一更新軟體,以讀取儲存於所述電子設備內部的一外部唯讀記憶體的一嵌入式控制器唯讀檔案; 所述第一嵌入式控制器將所述外部唯讀記憶體之所述嵌入式控制器唯讀檔案寫入所述第一嵌入式控制器; 所述第一嵌入式控制器以所述嵌入式控制器唯讀檔案來更新所述第一嵌入式控制器的一第一韌體; 在更新所述第一嵌入式控制器的所述第一韌體之後,所述第一嵌入式控制器以所述嵌入式控制器唯讀檔案來更新所述第二嵌入式控制器的一第二韌體;以及 當所述第二韌體版本更新完成後,比對所述第一摘要資訊和更新後的所述第二嵌入式控制器的一第二摘要資訊是否一致, 其中,當所述第一摘要資訊和所述第二摘要資訊不一致時,則產生一警示信息。
  2. 如請求項1所述之更新檢驗方法,更包括:所述基本輸入輸出系統將儲存於外部硬體裝置的所述嵌入式控制器唯讀檔案寫入所述電子設備之所述外部唯讀記憶體,並傳送一寫入完成訊息至所述第一嵌入式控制器,以讓第一嵌入式控制器讀取所述嵌入式控制器唯讀檔案。
  3. 如請求項1所述之更新檢驗方法,其中所述第一摘要資訊包括更新所述第二嵌入控制器的所述嵌入式控制器唯讀檔案經由一雜湊函數產生的第一雜湊值,且所述第二摘要資訊包括更新所述第二嵌入式控制器後,從更新後的所述第二嵌入式控制器的所述第二韌體經由所述雜湊函數產生之一第二雜湊值。
  4. 如請求項1所述之更新檢驗方法,更包括傳送所述警示訊息至所述基本輸入輸出系統。
  5. 如請求項4所述之更新檢驗方法,更包括: 重新開機所述電子設備時,所述電子設備之所述基本輸入輸出系統發出警示,所述發出警示的方法包括讓所述電子設備斷電、所述電子設備無法開機、所述電子設備發出一蜂鳴聲響、所述電子設備發出長短音、所述嵌入式控制器之一燈號閃爍提示或前述方法的任意組合。
  6. 如請求項1所述之更新檢驗方法,更包括: 所述第一嵌入式控制器與所述外部唯讀記憶體的訊號連接方式包括以序列周邊介面訊號連接。
  7. 如請求項1所述之更新檢驗方法,其中所述第二嵌入式控制器係所述第一嵌入式控制器之一次要功能,其中所述次要功能包括LED燈號功能或所述電子設備之連接埠功能。
  8. 如請求項1所述之更新檢驗方法,其中儲存於所述電子設備內部的所述外部唯讀記憶體的嵌入式控制器唯讀檔案係所述電子設備之一原廠韌體版本檔案。
  9. 如請求項8所述之更新檢驗方法,其中透過所述原廠韌體版本檔案寫入至所述多顆嵌入式控制器,使所述多顆嵌入式控制器的韌體參數值還原為預設值。
  10. 一種電子設備,包括: 多個硬體電路模組,用以執行如請求項1至9中任一項所述的更新檢驗方法。
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