TWI794809B - 用於減少放射性污染廢料之方法 - Google Patents

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Abstract

本文中提供一種用於減少放射性污染廢料之方法。該方法包含：處理放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理；處理放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理；固結土壤廢料；使用即時掃描技術對廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該廢料。

Description

用於減少放射性污染廢料之方法
本發明係關於一種用於減少廢料之方法，尤其係關於一種用於減少放射性污染廢料之方法。
使用及研究放射性材料之核設施(例如，核能電廠、研究設備、國防設備及其類似者)可產生放射性污染廢料。舉例而言，放射性污染廢料可在核反應器之操作或維護期間或在核設施及/或其組件之拆卸期間產生。放射性污染廢料之處置為與核設施之操作及清理相關的主要責任及費用。
本申請案主張2021年5月11日申請之美國臨時申請案第16/871,703號的權益，該申請案之內容特此以全文引用之方式併入本文中。
發明內容是要幫助瞭解所揭示多個具體例獨特的一些創新特徵，且不意圖進行完整描述。從整個的所有說明書、申請專利範圍、發明摘要和附圖可獲得對多個具體例的各種態樣的全面性理解。
本文中提供一種用於減少放射性污染廢料之方法。該方法包含：處理放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理；處理放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理；固結土壤廢料；使用即時掃描技術對廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該廢料。
本文中亦提供一種用於減少放射性污染廢料之方法。該方法包含：處理放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理；處理放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理；固結土壤廢料；使用即時掃描技術對廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該廢料。該方法導致廢料類別之減少，其包含自第一污染臨限值至第二較低污染臨限值之放射性污染廢料之減少，且處置減少之放射性污染廢料包含經由對應於減少之廢料類別的一處置途徑進行處置。
在詳細解釋本發明的各種態樣之前，應注意，示意性範例在應用或使用上不限於附圖和實施方式中所示意說明部件的構造和配置之細節。示意性範例可實施或併入在其他態樣、變型和修改中，並可用各種方式實踐或實現。此外，除非特別指出，否則本說明書所使用的術語和表達是為了方便讀者閱讀來描述示意性範例之目的而選擇，而不是為了對其限制。而且，將明白，以下所述態樣、態樣的表達及/或範例之任何一或多者可結合其他以下所述態樣、態樣的表達及/或範例之任何一或多者。
使用及研究放射性材料之核設施(例如，核能電廠、研究設備、國防設備及其類似者)可產生放射性污染廢料。除了當設施在使用中或經歷維護時產生的廢料以外，廢料亦可在此類設施之撤銷啟動及除役(D&D)期間累積(例如，被污染的混凝土、被污染的作業系統及組件、被污染土壤)。如本文中所使用，「D&D」係指經執行以允許核設施停止操作且減少或消除否則由於存在放射性材料而需要的對現場之控制的撤銷啟動、除役、去污及其他程序。舉例而言，藉由美國能源部門在國家層級且藉由國際原子能機構(IAEA)在國際層級來規管D&D要素及所得廢料分類。
如本文中所使用，「放射性污染廢料」、「廢料」、「放射性廢料」、「D&D相關聯廢料」及其類似者可被互換地使用，且係指至少部分地被放射性污染之材料(例如，經由中子活化及/或接觸核燃料或其衰變產物)。D&D程序可經由例如移除被污染土壤或處理或解構被污染結構來產生廢料。替代地或另外，廢料可預先存在且在D&D程序期間處置。廢料可為在D&D程序期間經以下操作中之至少一者的任何材料：處理、分類及處置。廢料在本質上可為液體或固體。
可用指定及/或政府監管方式處置廢料以便減少或消除由廢料之放射性污染造成的危害。廢料可基於以下各者中之至少一者而分類：廢料(例如，固體、液體)之物理性質；污染之性質(例如，長壽命或短壽命的放射性同位素)；及污染之臨限值(例如，程度)(例如，以每公克廢料之放射性為單位)。
已開發出廢料分類系統以便輔助判定應如何安全且有效地處置給定廢料產物。舉例而言，美國能源部門已在C.F.R.第10篇第1章第61部分D子部分中發佈法規(10 C.F.R. §61.55 [47 FR 57463，1982年12月27日，如在54 FR 22583修正，1989年5月25日；66 FR 55792， 2001年11月2日])。10 C.F.R. §61.55 [47 FR 57463，1982年12月27日，如在54 FR 22583修正，1989年5月25日；66 FR 55792，2001年11月2日]以引用之方式併入本文中。此等法規闡述放射性同位素在放射性污染廢料中之存在的特定臨限值。存在的同位素之組合及量判定廢料分類。舉例而言，且為了減少污染及處置成本，廢料分類可為C類、B類及A類。在一些實施例中，可進一步將A類廢料減少至豁免廢料。
作為另一實施例，IAEA在2009年公佈了「放射性廢料分類，通用安全指南第GSG-1號」，其以引用的方式併入本文中。文件指出用於廢料分類之某些準則，其包括，除其他外，且為了增大污染臨限值及愈來愈複雜的所需處置方法：「豁免廢料」、「極低強度廢料(VLLW)」、「低強度廢料(LLW)」、「中強度廢料」及「高強度廢料」。文件進一步解釋廢料分類之原理。
在各種態樣中，減少給定廢料分類(自污染較嚴重至污染較輕)可允許在處置廢料期間增加效率及/或減小處置成本。另外，已發現用於實現此減少之程序。該程序包含迄今為止尚未以協調方式執行且導致廢料之有效且高效減少的步驟。因此，本文中揭示一種用於減少放射性污染廢料之方法。如本文中所使用，「減少放射性污染廢料」、「減少廢料」及其類似者意謂減少廢料分類(例如，藉由處理廢料，藉由撕碎廢料，更特定而言藉由對廢料進行分類及/或藉由如本文中所揭示之其他方法)。舉例而言，由B類廢料組成之廢料的初始部分可減少至由A類廢料組成之廢料或由B類廢料及A類廢料之混合物組成的廢料。類似地，LLW可至少部分地減少至VLLW及/或豁免廢料。因此，本揭示之方法係關於減少待處置之廢料的類別，而無關於所使用之精確分類方法，其可隨時間及位置而變化。
減少放射性污染廢料在例如D&D程序期間為有益的，此係因為處置廢料，尤其處置污染更嚴重且因此分類更多的廢料為昂貴的、耗時的且僅可用於有限位置處。減少廢料可允許經由較便宜及/或較易獲得之處置途徑處置廢料之至少一部分。
參看圖1，用於減少放射性污染廢料之方法100可包含處理102放射性污染表面；處理104放射性污染子表面；固結106土壤廢料；使用108即時掃描技術對廢料進行分類；及至少部分地基於分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置110廢料。
本文中所揭示之方法100及其他例示性方法的執行可導致減少放射性污染廢料。本文中所揭示之方法的步驟可用任何合適的次序執行且可經設計以增加可實現之廢料減少。另外，本文中所描述之方法允許核設施處之例如D&D程序所需的廢料處置之各種類型與步驟之間的先前難以實現之協調。此協調可進一步增加廢料減少。舉例而言，如本文中所描述之廢料的處理及/或固結102、104、106可與藉由使用108即時掃描技術而提供之廢料的分類及分選一起實踐。因此且例如，廢料之處理102、104可實現廢料之第一減少(例如，藉由移除放射性污染)，且廢料之即時分選可藉由將低於污染臨限值之經處理廢料與高於污染臨限值之經處理廢料分離來實現廢料之第二減少。視情況使用例如膠結、熱解及/或焚化可進一步增強減少經處理之B類、C類及/或中強度廢料。下文論述方法100之技術細節及實施例。
放射性污染表面之處理102可包含自核設施之無孔及/或金屬表面移除(例如，藉由溶解至處理流體中)放射性污染。因此，可實現大而重的廢料產物之減少。處理102可用以對包含與表面處理劑化學相容之材料的任何合適的電廠系統及/或組件(例如，核反應器之彼等組件)進行去污。諸如PWR、BWR及CANDU電廠之核能電廠皆包含合適的電廠系統及/或組件。例示性電廠系統包括反應器再循環(RRS)、反應器水淨化(RWCU)、餘熱移除(RHR)、化學體積控制系統(CVCS)及主熱傳送系統(PHTS)。放射性污染表面之處理102可包含利用表面處理劑以自管路、管道、流體容器及其他類似設備移除含放射性的腐蝕產物。
表面處理劑及其用途可包含多種組份及/或製程，且可應用於單個步驟或多個步驟中。處理102可包含在電廠系統及/或組件保持組裝時及/或在其被拆卸時處理該等系統及/或組件。表面處理劑之實施例包括包含氧化及還原化學物質之試劑。第一表面處理102可包含利用以下表面處理劑中之一或多者且可用任何合適的次序執行。舉例而言，還原化學物質可包含表面處理劑，諸如LOMI及LOMI II (低氧化態金屬離子)、CITROX (包含利用檸檬酸及草酸之表面處理)、NITROX-E (包含利用硝酸、草酸及高錳酸鉀之表面處理)、CANDEREM (包含利用EDTA (乙二胺四乙酸)、檸檬酸及氫氧化銨之表面處理)及REMCON (包含利用抗壞血酸、檸檬酸、氫氧化銨及腐蝕抑制劑之表面處理)。此等表面處理可自美國賓夕法尼亞州巴特勒縣蔓越莓鎮的西屋電氣公司(Westinghouse Electric Company, Cranberry Township, Butler County, Pennsylvania, U.S.)直接或間接獲得。
可用作表面處理劑之氧化化學物質包含除役去污(DFD)及DFDX (其包含利用氟硼酸與草酸及高錳酸鉀)；硝酸高錳酸鹽(NP)鹼性高錳鹽酸(AP) (其包含利用高錳酸鉀與硝酸或氫氧化鈉)；BiOX-2 (其包含利用抗壞血酸、檸檬酸及氫氧化銨連同腐蝕抑制劑及過氧化氫)；及鈍化(其包含利用檸檬酸銨溶液)。此等表面處理可自美國賓夕法尼亞州巴特勒縣蔓越莓鎮的西屋電氣公司直接或間接獲得。一般而言，由於化學物質之間的相互不相容性，氧化化學物質將不會與還原化學物質在同一時間及位置使用。因此，若需要使用兩者，則可依序及/或在不同位置中使用兩種化學物質。
應理解，表面處理劑(及處理102)可移除被去污之系統、組件及/或設備的外部層及/或對其進行去污。可能未完全移除一些類型之污染(例如，由中子活化引起之彼等污染或位於外部層下方之彼等污染)。
用以執行處理102之設備可包含適合於經由被污染設備及/或系統執行表面處理化學組份之再循環。亦可僅藉由單個循環設備及/或系統執行處理102。亦可使用表面處理劑通過設備及/或系統之回流。表面處理劑之循環可基於電廠系統及清潔要求而最佳化。用以執行表面處理102之合適設備可包含泵撬、包含線上加熱器之化學混合儲槽、離子交換柱及用於處理102期間之材料浸潤的儲槽系統。
除了在電廠系統及/或組件經組裝且處於適當位置中時處理該等電廠系統及/或組件以外，使用表面處理劑處理102放射性污染表面亦可包含拆卸電廠系統及/或組件。若使用拆卸，則被污染物品可被撕碎(例如，切割成碎片)及/或在浴槽中處理。可使用電廠系統及/或組件之就地處理、拆卸及/或撕碎的任何合適組合以增加廢料減少。浴槽中之處理允許更有針對性地處理例如污染更嚴重的表面及/或處理以其他方式難以近接之組件。舉例而言，表面處理劑可能夠僅在拆卸組件時有效地接觸給定表面。類似地，撕碎組件亦可增加表面處理102之有效性。撕碎亦可使得能夠更容易基於廢料類別而對廢料進行分選。舉例而言，撕碎可允許避免在僅組件之一部分被污染時將大型組件作為較高廢料類別進行處置。因此，可在處理102之前使用廢料撕碎以增加處理之有效性，及/或可在廢料處理102之後使用廢料撕碎以增強在分類108步驟期間對廢料進行分類。表面處理102與如本文中所揭示之組件之拆卸及/或撕碎的組合允許增加廢料減少。
放射性污染子表面之處理104可包含自可含有位於材料表面處或下方之污染的子表面移除(例如，藉由溶解至處理流體中)放射性污染。此類材料之實施例包括混凝土(例如，煤渣磚、塊及瓷磚)；玻璃；瀝青；石棉水泥板(例如，水泥複合物)；及木材，但亦可包含需要表面下處理之其他材料。可與子表面之處理104分離或並行地執行放射性污染表面之處理102。放射性污染表面之處理102及放射性污染子表面之處理104可應用於相同廢料(例如，連續處理102、104)或不同廢料。類似於放射性污染表面之處理102，子表面之處理104亦可實現否則將需要更複雜且昂貴之處置的大而重的廢料產物之減少。
子表面之處理104可包含利用表面/子表面處理劑以溶解及/或移除放射性污染。表面處理劑及表面/子表面處理劑可包含相同化學物種、不同化學物種或其混合物。表面/子表面處理劑可包含多種組份及/或製程，且可一起應用於單個步驟或多個步驟中。應理解，表面/子表面處理劑(及處理104)可溶解放射性污染及/或自廢料之外表面及廢料之子表面位置中之至少一者移除放射性污染。子表面位置包括例如混凝土及類似材料之內部空隙。
表面/子表面處理劑之實施例包括可經由霧化噴射或發泡體施加至被污染廢料的液體及凝膠兩者。處理104可用以對包含與表面處理劑化學相容之材料的任何合適的電廠材料及/或組件進行去污。包含放射性污染廢料之核設施可包含材料，諸如壁、天花板、設備、結構樑、內部管路及不規則表面，其皆可受益於處理104且促進減少廢料。例示性表面/子表面處理試劑包括Rad-Release I及Rad-Release II，其可包含有機及無機酸、鹽、界面活性劑及螯合劑中之至少一者，以上各者可一起用以促進污染物自多孔表面及子表面之釋放及螯隔。另一例示性表面/子表面處理劑包含EAI超凝膠，其包含奈米粒子及超吸收性聚合物凝膠。此等組件對濕潤劑作出回應且用以吸收及/或螯隔遠離多孔表面之被污染孔洞的放射性污染。Rad-Release I及II以及EAI超凝膠可自美國新罕布什爾州斯旺希市之環境替代品公司(Environmental Alternatives, Inc., Swanzey, New Hampshire, United States)獲得。在施加之後，可連同螯隔之放射性污染物將表面/子表面處理劑洗去、脫水及抽真空或以其他方式移除。
可經由自動或手動程序應用表面處理劑及子表面處理劑。舉例而言，可使用手持型噴射棒或類似裝置。替代地或另外，包含多個施加器之較大(例如，遠端控制)噴射裝置可用以允許較少操作者將處理劑施加至較大區域。若存在較高程度之污染，則處理步驟102、104可執行多次以增加總體廢料減少。
使用表面/子表面處理劑處理104多孔放射性污染材料亦可包含拆卸材料及/或組件。若使用拆卸，則可撕碎及/或在浴槽中處理被污染的材料及/或組件。類似地，可壓碎被污染的材料及/或組件。可使用材料及/或組件之就地處理、拆卸、壓碎及/或撕碎的任何合適組合以便增加廢料減少。浴槽中之處理允許更有針對性地處理例如污染更嚴重的材料及/或組件及/或處理以其他方式難以近接之材料及/或組件。舉例而言，表面處理劑可能夠僅在拆卸組件時有效地接觸給定組件。類似地，撕碎及/或壓碎組件亦可增加表面處理104之有效性。撕碎及/或壓碎亦可使得能夠更容易基於廢料類別而對廢料進行分選。舉例而言，撕碎及/或壓碎可允許避免在僅組件之一部分被污染時將大型組件作為較高廢料類別進行處置。因此，可在處理104之前使用廢料撕碎及/或壓碎以增加處理之有效性，及/或可在廢料處理104之後使用廢料撕碎以增強在分類108步驟期間對廢料進行分類。表面處理與如本文中所揭示之組件之拆卸、撕碎及/或壓碎的組合允許增加廢料減少。
方法100可包含膠結液體及固體廢料中之至少一者。舉例而言，可膠結B類、C類及中強度廢料中之至少一者。舉例而言，液體廢料可包含由核設施操作產生之廢料或由諸如處理102、104之D&D程序產生的廢料。視需要，亦可膠結固體廢料(例如，在處理102、104期間處理之廢料或先前累積之廢料)。膠結廢料可包含將廢料、水及添加劑添加至金屬桶(例如，200或400公升)中，用水泥包圍廢料、水及添加劑及/或混合廢料、水及添加劑與水泥，且允許混合物硬化，藉此固定廢料以供後續處置。由於稀釋，膠結可在處置之前進一步降低廢料之活性(每體積或質量)。
方法100可包含在處理102、104及固結106步驟中之任一者之前特徵界定廢料之放射性污染程度。特徵界定廢料之放射性污染程度可包含利用手持型離子室測量計、手持型蓋格計數器及手持型閃爍探針中之至少一者。在處理102、104及固結106步驟之前執行此特徵界定可允許後續步驟集中於最需要處理及固結之區域。又，彼集中可允許最有效地使用資源以相比以其他方式實現之情況更大程度地減少廢料。舉例而言，基於特徵界定結果，某些相對高度污染之表面或材料可作為多輪處理102、104之目標。在另一實施例中，可在固結106步驟之前特徵界定土壤廢料之放射性污染。
方法100可包含熱解廢料及焚化廢料中之至少一者。舉例而言，可焚化及/或熱解B類、C類及中強度廢料中之至少一者。焚化廢料可包含在氧化條件下燃燒廢料。廢料之一部分可被氧化且作為非放射性燃燒氣體釋放，而放射性灰渣、煙灰及其類似者可自氣體中濾出及/或以其他方式收集及處置。熱解廢料可包含對廢料加熱以在惰性氛圍中誘發化學分解。可對分解產物進行分選(例如，移除非放射性氣體或其他分解產物)且可收集及處置放射性材料。因此，熱解廢料及/或焚化廢料可藉由允許廢料之非放射性部分與放射性部分化學分離來促進廢料減少。可熱解及/或焚化已處理102、104及/或固結106之廢料。
方法100可包含固結106土壤廢料。舉例而言，土壤廢料可存在於經歷D&D程序之核設施處。舉例而言，土壤廢料可藉由已在設施處儲存及/或產生且已隨時間接觸土壤之固定廢料而產生。固結106土壤廢料可包含基於所存在之放射性污染之類型及所存在之污染之量中的至少一者而分選土壤廢料。因此，未受污染之土壤及/或最低程度地被污染之土壤(例如，污染程度低於給定臨限值之土壤)可用最少成本處置或現場保留，而剩餘部分可作為減少之放射性污染廢料進行處置。
可在方法100中使用適合於分選及/或固結被污染土壤之任何分選技術。舉例而言，分選技術可包含即時掃描技術。即時掃描技術可包含經組態以量測廢料之放射性的輻射偵測器及經組態以基於所量測放射性而分離廢料之傳送帶系統。舉例而言，即時掃描技術可包含根據大小分選被污染土壤之轉筒篩及經組態以將被污染土壤自轉筒篩帶至輻射偵測器之第一傳送帶。輻射偵測器可包含伽瑪射線光譜儀、離子室測量計、蓋格計數器及適合於偵測及/或量化來自廢料之輻射的任何其他裝置中之至少一者。若使用，則伽瑪射線光譜儀可包含至少一個碘化鈉(NaI)閃爍計數器。輻射偵測器可與電腦電子通信，該電腦經組態以基於在廢料中偵測到之放射性的量及/或性質而更改傳送帶系統上之廢料的路徑。舉例而言，包含高於污染臨限值之放射性的廢料可經由第一路徑離開傳送帶系統，且包含低於污染臨限值之放射性的廢料可經由第二路徑離開傳送帶系統，藉此分選及固結廢料。因此，僅需要處置高於污染臨限值之土壤廢料，而其他廢料可保留在核設施處，藉此進一步減少放射性廢料。此即時掃描技術之實施例包括可自英國蘇格蘭阿伯丁之約翰伍德集團有限公司(John Wood Group plc, Aberdeen, Scotland, UK)獲得的Orion ScanSortSM 技術。
即時掃描技術可用以固結及/或分選被污染土壤，如上文所描述。替代地或另外，即時掃描技術可用以對其他類型之廢料進行分類、分選及/或固結，諸如在方法100之步驟102及104中處理的核設施之材料及組件。在此等實施例中，可在藉由即時掃描技術分選及/或固結之前將廢料壓碎、撕碎、熱解、焚化或以其他方式減小大小。因此，僅高於污染臨限值之廢料需要作為對應類別之受控放射性廢料進行處置，而其他廢料可保留在核設施處或經由替代的較便宜途徑進行處置，藉此進一步減少放射性廢料。
一旦已使用本文中所揭示之方法減少廢料，便可經由與用於處置及/或儲存放射性污染廢料之相關安全指南及法規一致的途徑處置剩餘廢料。已基於廢料之污染臨限值及類別而建立用於處置放射性污染廢料之各種位置及設施。B類及C類廢料(或中強度廢料)可由德克薩斯州安德魯斯(Andrews TX)之廢料控制專家(WCS)處置。A類廢料(或LLW)可由猶他州克萊夫(Clive, Utah)之WCS及能源解決方案(ES)處置。豁免廢料(或VLLW)可由西德吉尼亞州博伊西(Boise, ID)的WCS、ES及US Ecology處置。
因此，廢料可至少部分地基於廢料之分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置。因為本文中所揭示之方法可減少廢料體積及/或類別，所以可經由較昂貴且複雜的途徑處置較少量廢料，且可經由相比將以其他方式可實現之情況較不昂貴且複雜的途徑處置較大量廢料。
待藉由方法100減少之所有廢料無需經歷方法100之所有步驟。舉例而言，並非所有來自被污染結構之廢料皆需要經歷處理102及104步驟兩者。基於兩種處理102、104之化學相容性及/或相對有效性，處理步驟102及104可單獨或組合地用於廢料。另外，本文中所揭示之膠結、焚化、熱解及其他選項將不太可能應用於所有廢料。圖2中展示皆藉由方法100之不同態樣進行的不同類型之廢料的減少之多個實施例。方法100允許對此等各種類型之廢料進行整合處理以提高高效地減少廢料且處置廢料之能力。
參看圖1及圖2，來自反應器容器及/或反應器內部零件220a之廢料的例示性減少由路徑220指示。路徑220可包含特徵界定220b如本文中所揭示之廢料的放射性污染程度。在處理102、104及固結106步驟中之至少一者之前執行特徵界定可允許後續步驟集中於最需要處理及固結之廢料區域或子集。如所指示，基於污染程度而特徵界定220b廢料可允許例如藉由如本文中所揭示之切割、撕碎及/或拆卸來分隔220b廢料。
如本文中所揭示，可膠結及/或熱解及封裝如220a中所展示之反應器容器及/或反應器內部零件去污廢料以供處置。
如由自路徑220行進之箭頭指示，可預期路徑220連同A類廢料一起產生B類及/或C類廢料。因此，廢料之至少一部分可自B類及/或C類減少至A類。廢料亦可自B類減少至C類。
來自反應器系統及組件222a之廢料的例示性減少由路徑222指示。路徑222可包含處理，諸如在反應器系統及組件222a之化學去污222b期間的處理102。在去污222b之前或之後，亦可使用廢料之撕碎222b。組合222b之去污及撕碎可允許如本文中所揭示之廢料減少。
在222b步驟之後，可使用步驟222c。步驟222c可包含使用如本文中所揭示之即時掃描技術。如本文中所揭示，即時掃描技術可用以對廢料進行分類、分選及/或固結，諸如在方法100之步驟102中處理的核設施之材料及組件。
如由自路徑222行進之箭頭指示，可預期路徑222主要產生A類廢料。因此，廢料之至少一部分可自B類及/或C類減少至A類。廢料亦可減少至較低類別(例如，豁免廢料)(未圖示)。
來自需要子表面去污之材料(例如，混凝土及本文中所揭示之其他材料) 224a的廢料之例示性減少由路徑224指示。路徑224可包含步驟224b，其包含需要子表面去污之材料224a的物理、化學及雷射去污。可執行方法100之步驟102及/或104以在步驟224b期間對廢料224a進行去污。
在224b步驟之後，可使用步驟224c。步驟224c可包含使用如本文中所揭示之即時掃描技術。如本文中所揭示，即時掃描技術可用以對廢料進行分類、分選及/或固結，諸如在方法100之步驟102、104中處理的核設施之材料及組件。
如由自路徑224行進之箭頭指示，可預期路徑224產生一系列類別之廢料。一些材料可包含極少污染或無污染，且能夠自由釋放以供不受控制的處置。在224c期間使用即時掃描技術亦可允許分離A類及豁免廢料，從而進一步減少廢料類別。
土壤廢料226a之例示性減少由路徑226指示。路徑226可包含步驟226b，其包含被污染土壤226a之修復及分選。舉例而言，此步驟可包括用於特徵界定本文中所揭示之廢料之放射性污染程度的方法。另外，可基於特徵界定之結果而手動地分選土壤以產生土壤之初始集合，從而藉由即時掃描技術進行後續分離。
在226b步驟之後，可使用步驟226c。步驟226c可包含使用如本文中所揭示之即時掃描技術。如本文中所揭示，即時掃描技術可用以對土壤廢料進行分類、分選及/或固結。
如由自路徑226行進之箭頭指示，可預期路徑226產生一系列類別之廢料。即時掃描技術226c之使用以及手動分選及修復226b可允許分離A類、豁免廢料及可自由釋放廢料。
下列範中闡述本說明書所述標的之各種態樣。 實施例1 - 一種用於減少放射性污染廢料之方法，該方法包含： 處理放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理； 處理放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理； 固結土壤廢料； 使用即時掃描技術對廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及 至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該廢料。 實施例2 - 如實施例1之方法，其中該方法導致廢料類別之減少，其包含自第一污染臨限值至第二較低污染臨限值之放射性污染廢料之減少。 實施例3 - 如實施例2之方法，其中處置減少之放射性污染廢料包含經由對應於減少之廢料類別的一處置途徑進行處置。 實施例4 - 如實施例1至3中任一例之方法，其進一步包含熱解廢料及焚化廢料中之至少一者。 實施例5 - 如實施例1至4中任一例之方法，其進一步包含在處理及固結步驟之前特徵界定廢料之放射性污染程度。 實施例6 - 如實施例1至5中任一例之方法，其中該即時掃描技術用以在該固結步驟期間固結土壤廢料。 實施例7 - 如實施例6之方法，其中該即時掃描技術包含： 一輻射偵測器，其經組態以量測廢料之放射性；及 一傳送帶系統，其經組態以基於所量測之放射性而分離廢料。 實施例8 - 如實施例7之方法，其進一步包含使用該即時掃描技術進行以下操作中之至少一者：對在該等處理步驟中之至少一者中處理的非土壤廢料進行分類；及固結非土壤廢料。 實施例9 - 如實施例1至8中任一例之方法，其中處理放射性污染表面包含拆卸組件及在一浴槽中處理該等組件。 實施例10 - 如實施例1至9中任一例之方法，其進一步包含撕碎及壓碎廢料中之至少一者。 實施例11 - 如實施例1至10中任一例之方法，其中該表面/子表面處理劑及該表面處理劑中之至少一者係經由一自動化程序施加。 實施例12 - 如實施例1至11中任一例之方法，其中該表面/子表面處理劑及該表面處理劑中之至少一者包含一鹽、一界面活性劑、一酸、一螯合劑、一濕潤劑及一吸收性凝膠中之至少一者。 實施例13 - 如實施例1至12中任一例之方法，其進一步包含膠結液體及固體廢料中之至少一者。 實施例14 - 一種用於減少放射性污染廢料之方法，該方法包含： 處理放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理； 處理放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理； 固結土壤廢料； 使用即時掃描技術對廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及 至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該廢料， 其中該方法導致廢料類別之減少，其包含自第一污染臨限值至第二較低污染臨限值之放射性污染廢料之減少，且 其中處置減少之放射性污染廢料包含經由對應於減少之廢料類別的一處置途徑進行處置。 實施例15 - 如實施例14之方法，其進一步包含熱解廢料及焚化廢料中之至少一者。 實施例16 - 如實施例14或15之方法，其進一步包含在處理及固結步驟之前特徵界定廢料之放射性污染程度。 實施例17 - 如實施例14至16中任一例之方法，其中該即時掃描技術包含： 一輻射偵測器，其經組態以量測廢料之放射性；及 一傳送帶系統，其經組態以基於所量測之放射性而分離廢料。 實施例18 - 如實施例14至17中任一例之方法，其中處理放射性污染表面包含拆卸組件及在一浴槽中處理該等組件。 實施例19 - 如實施例14至18中任一例之方法，其進一步包含撕碎及壓碎廢料中之至少一者。 實施例20 - 如實施例14至19中任一例之方法，其進一步包含膠結液體及固體廢料中之至少一者。
除非另有特別說明，否則從前述揭露應明白，瞭解到，在整個前面揭露中，使用諸如「處理」、「演算」、「計算」、「確定」、「顯示」等術語的討論是指電腦系統或類似電子計算裝置的操作和處理，以操作電腦系統暫存器內表示物理(電子)量的資料及將其轉換成類似表示為電腦系統記憶體或暫存器或其他此類資訊儲存、傳輸或顯示裝置內的物理量之其他資料。
一或多個組件在本說明書中可稱為「構造成」、「可構造成」、「可操作/可操作成」、「經調適/可調適」、「能夠」、「適用於/符合於」等。熟習該項技藝者將明白，除非另有特別需求，否則「構造成」通常可包括主動狀態組件及/或非主動狀態組件及/或待命狀態組件。
熟習該項技藝者應明白，通常，本說明書且特別是在所附申請專利範圍(例如，所附申請專利範圍的主體)中使用的用語通常是指「開放性(open)」用語(例如，用語「包括(including)」應解釋為「包括但不限於」，用語「具有(having)」應解釋為「至少具有」，用語「包括(includes)」應解釋為「包括但不限於」等)。熟習該項技藝者將更瞭解，如果意欲特定數量的所引用請求項陳述(claim recitation)，則在申請專利範圍中明確陳述此意圖，而在沒有此陳述的情況下，則此意欲就不存在。例如，為了幫助瞭解，隨後所附申請專利範圍可包含引用片語「至少一個(at least one)」和「一或多個(one or more)」的用法以引用請求項陳述。然而，這類片語的使用不應詮釋以暗示請求項陳述中引用不定冠詞「一(a)」或「一個(an)」對包含此所引用請求項陳述的任何特定請求項限制為僅含此一陳述的請求項，即使當相同請求項包括引用片語「一或多個」或「至少一個」和諸如「一」或「一個」的不定冠詞(例如，「一」及/ 或「一個」通常應解釋為意指「至少一個」或「一或多個」)；對用於引入請求項陳述的定冠詞使用亦是如此。
此外，即使明確陳述一特定數量的所引用請求項陳述，熟習該項技藝者將明白，這類陳述通常應解釋成至少意指所陳述的數目(例如、沒有其他修飾語之「兩陳述」的真實陳述通常意指至少兩陳述，或兩或多個陳述)。此外，在使用類似於「A、B和C等之至少一者」 的習用語的這類情況下，通常此語法結構是熟習該項技藝者所能夠理解習用語的意義(例如，「一種具有A、B和C之至少一者的系統」將包括但不限於僅具A、僅具B、僅具C、結合A和B、結合A和C、結合B和C及/或結合A、B和C等的系統)。在使用類似於「A、B或C等之至少一者」 的習用語的這類情況下，通常此語法結構是熟習該項技藝者所能夠理解習用語的意義(例如，「一種具有A、B或C之至少一者的系統」將包括但不限於僅具A、僅具B、僅具C、結合A和B、結合A和C、結合B和C及/或結合A、B和C等的系統)。熟習該項技藝者將更瞭解到，無論是在實施方式、申請專利範圍或附圖中，通常代表兩或多個替代性用語的選擇性字及/或用語都應理解成，除非另有特別說明，否則考慮包括多個用語之一者、多個用語之任一者、兩用語的可能性。例如，用語「A或B」將通常瞭解為包括「A」或「B」或「A和B」的可能性。
關於文後申請專利範圍，熟習該項技藝者應明白，其中所列舉的操作通常可採用任何順序執行。而且，雖然順序示出各種操作流程圖，但是應瞭解，可採用所示意說明以外的其他順序來執行各種操作；或者，可同時執行各種操作。除非另有特別說明，否則這些替代分選的範例可包括重迭、交錯、中斷、重新分選、遞增、準備、補充、同時、反向或其他變異分選。此外，除非另有特別說明，否則諸如「隨著」、「關於」或其他形容詞之類的用語通常未受到排除這類變異形式。
值得注意，「一種態樣」、「一態樣」、「一示例」、「一種示例」等的任何參考意味著一結合態樣描述的特定特徵、結構或特性包含在至少一態樣中。因此，在整個說明書中各處出現的用語「在一種態樣」、「在一態樣」、「在一示例性」和「在一種示例性」不必然都意指相同態樣。此外，在一或多個態樣中可採用任何適當方式組合多個特定特徵、結構或特性。
在本說明書中所參考及/或在任何申請資料表(Application Data Sheet)中所列出的任何專利申請案、專利案、非專利公開案或其他揭露文獻併入本說明書供參考，在某種程度上，併入的文獻與本說明書不相矛盾。因此，在必要的程度上，本說明書明確闡述的揭露內容係取代併入本說明書供參考的任何矛盾文獻。併入本說明書供參考但與本說明書闡述的現有定義、聲明或其他揭露文獻相矛盾的任何文獻或其部分，將僅以所併入文獻與現有揭露文獻之間不發生矛盾的程度併入。
多個用語「包含(comprise)」(及任何形式的包含，諸如「包含(comprises)」和「包含(comprising)」)、「具有(have)」(及任何形式的具有，諸如「具有(has)」和「具有 (having)」)、「包括(include)」(及任何形式的包括，諸如「包括(includes)」和「包括(including)」)和「含有(contain)」(及任何形式的含有，諸如「含有(contains)」和「含有(containing)」)都是非限定開放式連綴動詞。因此，一種「包含」、「具有」、「包括」或「含有」一或多個元件的系統擁有這類一或多個元件，但不限於僅擁有這類一或多個元件。同樣地，一種「包含」、「具有」、「包括」或「含有」一或多個特徵的系統、裝置或設備的元件擁有這類一或多個特徵，但不限於僅擁有這類一或多個特徵。
總之，已描述由於採用本說明書描述的概念而產生的眾多好處。為了示意說明和描述之目的，已呈現一或多個形式的前面描述。其不旨在窮舉或限制所揭示的確實形式。鑒於前述的教示，可進行修改或變化。為了示意說明原理和實際應用，選擇及描述一或多個形式，從而使熟習該項技藝者能夠利用各種形式及適於所預期的特定用途的各種修改。意圖據此所提交的申請專利範圍定義整個範疇。
100:方法 102:步驟 104:步驟 106:步驟 108:步驟 110:步驟 220:路徑 220a:反應器容器及反應器內部零件 220b:步驟 220c:步驟 222:路徑 222a:反應器系統及組件 222b:步驟 222c:步驟 224:路徑 224a:步驟 224b:步驟 224c:步驟 226:路徑 226a:土壤 226b:步驟 226c:步驟
隨後所附申請專利範圍中特別闡述本說明書所述多個具體例的各種特徵。然而，根據以下結合附圖的實施方式可瞭解組織和操作方法的各種具體例及其優點：
圖1為展示本揭示之方法的流程圖，及
圖2為展示本揭示之多個實施例的流程圖。
在數個圖式中，對應的參考編號表示對應的部件。本文中所陳述之例證以一種形式說明本揭示之各種具體例，且此類例證並不被視為以任何方式限制本揭示之範圍。
100:方法
102:步驟
104:步驟
106:步驟
108:步驟
110:步驟

Claims (19)

  1. 一種用於減少放射性污染廢料之方法，該方法包含：處理該放射性污染廢料之放射性污染表面，其中該等放射性污染表面經一表面處理劑處理；處理該放射性污染廢料之放射性污染子表面，其中該等放射性污染子表面經一表面/子表面處理劑處理；固結放射性污染土壤廢料；使用即時掃描技術對該放射性污染廢料及/或該放射性污染土壤廢料進行分類，其中該分類係至少部分地基於放射性污染之一臨限值，且其中經分類廢料係基於該分類而分選；及至少部分地基於該分類而經由不同處置途徑中之至少一者處置該放射性污染廢料及/或該放射性污染土壤廢料。
  2. 如請求項1之方法，其中該方法導致基於類別之廢料的量之減少，包含自第一污染臨限值至第二較低污染臨限值減少放射性污染廢料。
  3. 如請求項2之方法，其中處置減少之該放射性污染廢料，包含經由對應於經減少之廢料的廢料類別的一處置途徑進行處置。
  4. 如請求項1之方法，其進一步包含熱解廢料及焚化廢料中之至少一者。
  5. 如請求項1之方法，其進一步包含在處理及固結步驟之前特徵界定廢料之放射性污染程度。
  6. 如請求項1之方法，其中該即時掃描技術用以在該固結步驟期間固結土壤廢料。
  7. 如請求項6之方法，其中該即時掃描技術包含： 一輻射偵測器，其經組態以量測廢料之放射性；及一傳送帶系統，其經組態以基於所量測之放射性而分離廢料。
  8. 如請求項7之方法，其進一步包含使用該即時掃描技術進行以下操作中之至少一者：對在該等處理步驟中之至少一者中處理的非土壤廢料進行分類；及固結非土壤廢料。
  9. 如請求項1之方法，其中處理放射性污染表面包含拆卸組件及在一浴槽中處理該等組件。
  10. 如請求項1之方法，其進一步包含撕碎及壓碎廢料中之至少一者。
  11. 如請求項1之方法，其中該表面/子表面處理劑及該表面處理劑中之至少一者係經由一自動化程序施加。
  12. 如請求項1之方法，其中該表面/子表面處理劑及該表面處理劑中之至少一者包含一鹽、一界面活性劑、一酸、一螯合劑、一濕潤劑及一吸收性凝膠中之至少一者。
  13. 如請求項1之方法，其進一步包含膠結液體及固體廢料中之至少一者。
  14. 如請求項3之方法，其進一步包含熱解廢料及焚化廢料中之至少一者。
  15. 如請求項3之方法，其進一步包含在處理及固結步驟之前特徵界定廢料之放射性污染程度。
  16. 如請求項3之方法，其中該即時掃描技術包含：一輻射偵測器，其經組態以量測廢料之放射性；及一傳送帶系統，其經組態以基於所量測之放射性而分離廢料。
  17. 如請求項3之方法，其中處理放射性污染表面包含拆 卸組件及在一浴槽中處理該等組件。
  18. 如請求項3之方法，其進一步包含撕碎及壓碎廢料中之至少一者。
  19. 如請求項3之方法，其進一步包含膠結液體及固體廢料中之至少一者。
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