TWI780443B - Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置 - Google Patents

Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI780443B
TWI780443B TW109119306A TW109119306A TWI780443B TW I780443 B TWI780443 B TW I780443B TW 109119306 A TW109119306 A TW 109119306A TW 109119306 A TW109119306 A TW 109119306A TW I780443 B TWI780443 B TW I780443B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
display panel
oled display
compensation
pixel compensation
block
Prior art date
Application number
TW109119306A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202147292A (zh
Inventor
李鑫輝
樊磊
鄭青佩
Original Assignee
大陸商北京集創北方科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 filed Critical 大陸商北京集創北方科技股份有限公司
Priority to TW109119306A priority Critical patent/TWI780443B/zh
Publication of TW202147292A publication Critical patent/TW202147292A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI780443B publication Critical patent/TWI780443B/zh

Links

Images

Landscapes

  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

本發明主要揭示一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片之中，使該顯示面板驅動晶片能夠依據OLED顯示面板的畫素的當前衰退老化程度而即時、動態地調整出廠時即被寫入快閃記憶體之中的Demura畫素補償表。並且，在該顯示面板驅動晶片下電之後，動態更新的Demura畫素補償表會被回寫至快閃記憶體之中，達成自動更新畫素補償表之功效。如此，依據動態更新的Demura畫素補償表，顯示面板驅動晶片除了可消除該顯示面板驅動晶片舊有的Mura現象之外，亦能夠對應地消除因畫素的有機材料衰退所衍生的新的Mura現象。

Description

OLED顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置
本發明係關於OLED顯示器的技術領域，尤指一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其能夠有效地消除OLED顯示面板內因子畫素亮度不均所造成各種痕跡的現象。
已知，平面顯示器包含非自發光型平面顯示器以及自發光型平面顯示器，其中，液晶顯示器為使用已久的一種非自發光型平面顯示器，而有機發光二極體(Organic light-emitting diode, OLED)顯示器則為目前受到廣泛應用的一種自發光型平面顯示器。與液晶顯示器相比，OLED顯示器具有諸多優點，包含：高對比度、超輕薄、可彎曲等。
OLED顯示器主要包含一顯示面板驅動晶片、一快閃記憶體以及一OLED顯示面板。由於生産過程的材料差異及/或製程藝誤差等原因，部分的OLED顯示面板會顯示出所謂的Mura現象。其中，Mura是指在OLED顯示面板內因子畫素亮度不均所造成各種痕跡的現象。
目前，Demura方法被廣泛地用於消除所述OLED顯示面板的Mura現象，其提供一Demura畫素補償表於該快閃記憶體之中，供該顯示面板驅動晶片載入使用以執行一畫素補償作業從而消除所述Mura現象。習知的Demura方法包括以下步驟：(1)使用高分辨率和高精度的CCD照像機對OLED顯示器進行面板畫面亮度採集；(2)依據採集資料分析各畫素的顔色分布特徵，並根據相關演算法計算出Mura數據；(3)依據Mura數據及相應的Demura補償算法産生一Demura畫素補償表，並將所述Demura畫素補償表寫入快閃記憶體之中；(4)再次對OLED顯示器進行面板畫面亮度採集，確認Mura現象已消除。
然而，前述之Demura畫素補償表只會在OLED顯示器出廠之時被一次性地寫入快閃記憶體之中，之後便不會再進行變更或修改。必須知道，OLED顯示面板是以有機發光材料作為其紅色子畫素(Sub-pixel)、綠色子畫素和藍色子畫素，而在一個畫素(Pixel)被長時間地高亮度點亮的情況下，有機發光材料會因衰退(Degradation)而老化從而導致其發光效率降低，致使該畫素在相同的驅動電流下無法顯示指定的亮度，最終令OLED顯示面板出現發光不均勻的現象。
更進一步地說明，由於每個子畫素在長時間使用後具有不同的損耗程度，因此，在長時間顯示固定高亮度靜態圖片的情況下，OLED顯示面板上便容易出現新的圖像殘影，被認為是新的Mura現象。實務經驗顯示，出廠時被寫入快閃記憶體的Demura畫素補償表並無法有效地消除前述之新的Mura現象。
由上述說明可知，本領域亟需一種新式的OLED顯示面板之畫素補償方法。
本發明之主要目的在於提供一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片之中，使該顯示面板驅動晶片能夠依據OLED顯示面板的畫素的當前衰退老化程度而即時、動態地調整出廠時即被寫入快閃記憶體之中的Demura畫素補償表，有效地消除Mura現象。
為達成上述目的，本發明提出所述OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片之中，且包括：
(1)在在該顯示面板驅動晶片上電後，將一先前衰退計數值自一外部記憶體載入該顯示面板驅動晶片的一內部記憶體之中；
(2)將該OLED顯示面板劃分為X個顯示區塊，且計算各所述顯示區塊的一區塊平均灰階值，並進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊衰退率；其中各所述顯示區塊皆包含複數個畫素，且X為正整數；
(3)記錄其所述區塊衰退率超過一閥值的至少一所述顯示區塊，且透過內插法和查表法計算出被記錄的所述顯示區塊的一補償計數及一溫度係數，從而依據該補償計數、該溫度係數與該OLED顯示面板之一當前背光率計算出對應於被記錄的所述顯示區塊之一衰退計數增加值；
(4)對該先前衰退計數值與該衰退計數增加值執行一加法運算以獲得一當前衰退計數值，接著配合使用內插法與查表法計算出至少三個衰退補償率)，從而依據至少三個所述衰退補償率對該OLED顯示面板進行一區塊畫素補償作業；以及
(5)在該顯示面板驅動晶片下電後，將所述當前衰退計數值寫入該外部記憶體之中，以取代且成為所述先前衰退計數值。
在一實施例中，所述閥值至少0.5。
在一實施例中，所述區塊平均灰階值以及各所述顯示區塊的該區塊平均灰階值係依一固定採集頻率對該OLED顯示面板進行一畫素亮度採集作業，從而被計算獲得。
在一實施例中，各所述補償計數利用內插法和一第一查找表從而計算獲得，且該第一查找表包含複數個所述區塊衰退率以及對應於複數個所述區塊衰退率的複數個所述補償計數。
在一實施例中，所述溫度係數是利用內插法和一第二查找表從而計算獲得，且該第二查找表包含複數個所述溫度係數以及對應於複數個所述溫度係數的複數個面板溫度。
在一實施例中，所述衰退計數增加值係經由對該補償計數、該溫度係數與該當前背光率依序執行一乘法運算與一整數化處理而獲得。
在一實施例中，至少三個所述衰退補償率係利用內插法和對應的至少三個畫素補償表從而計算獲得，所述至少三個畫素補償表儲存於該外部記憶體之中，且各所述畫素補償表皆包含複數個所述衰退補償率以及對應於複數個所述衰退補償率的複數個衰退計數值。
在一實施例中，該外部記憶體為一快閃記憶體，且該內部記憶體為一隨機存取記憶體。
本發明同時提供一種資訊處理裝置，其具有如前所述之OLED顯示器。
在可行的實施例中，所述資訊處理裝置為由智能手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、智能手錶和門禁裝置所組成群組所選擇的一種電子裝置。
為使  貴審查委員能進一步瞭解本發明之結構、特徵、目的、與其優點，茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如後。
本發明的原理在於：本發明的OLED顯示面板能夠使一顯示面板驅動晶片依據OLED顯示面板的當前畫素衰退、老化程度即時、動態地更新一Demura畫素補償表，並且在該顯示面板驅動晶片下電之後，將更新後的Demura畫素補償表回寫至一快閃記憶體之中，以達成自動更新畫素補償表之功效。具體而言，本發明的OLED顯示面板的特徵在於：能夠提供一外部記憶體以儲存一OLED顯示面板的畫素陣列的複數個先前衰退補償率； 依據所述複數個先前衰退補償率、一溫度係數及該OLED顯示面板之一當前背光率計算出複數個衰退補償率增加值，及對所述複數個先前衰退補償率及所述複數個衰退補償率增加值執行一加法運算以獲得複數個當前衰退補償率；以及在該顯示面板驅動晶片下電後將所述複數個當前衰退補償率寫入該外部記憶體中以更新所述複數個先前衰退補償率。
請參照圖1，其顯示應用本發明之一種OLED顯示面板之畫素補償方法的一OLED顯示器的架構圖。如圖1所示，該OLED顯示器1主要包含一顯示面板驅動晶片11、一OLED顯示面板12以及一外部記憶體13。應知道，該OLED顯示面板12包含複數個畫素(pixel)，且每個畫素至少包含三個子畫素(sub-pixel)。圖2顯示本發明之OLED顯示器的一OLED顯示面板的畫素操作在不同灰階值的使用壽命曲線圖。在觀察圖2之後，應可發現，對於長時間顯示不同亮度的各個畫素而言，其有機發光材料因衰退(degradation)而老化的程度也會不同。更詳細地說明，相對於長時間顯示低灰階值的畫素，長時間顯示高灰階值的畫素具有明顯的高衰退率(Degradation ratio)。
必須特別說明的是，Demura方法被廣泛地用於消除OLED顯示面板12的Mura現象，其提供一Demura畫素補償表於該外部記憶體13(亦即，快閃記憶體)之中，供該顯示面板驅動晶片11上電之後載入至其一內部記憶體111，從而利用該Demura畫素補償表對該OLED顯示面板片12執行一畫素補償作業以消除所述Mura現象。其中，該內部記憶體111為一隨機存取記憶體(Random Access Memory, RAM)。請同時參閱圖3，其顯示本發明之OLED顯示器1的外部記憶體13所儲存的一Demura畫素補償表的資料曲線圖。在一般的情況下，包含於該OLED顯示面板12之中的各個畫素由紅色子畫素、綠色子畫素以及藍色子畫素組成，因此儲存於該外部記憶體13之中的該Demura畫素補償表會有三個。
然而，在所述OLED顯示器1出廠使用一段時間之後，有機發光材料的衰退及/或老化會導致前述之Demura畫素補償表無法有效地消除新的Mura現象。因此，本發明提出一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片11，使該顯示面板驅動晶片11能夠依據該OLED顯示面板12的畫素的當前老化程度而即時、動態地調整出廠時即被寫入該外部記憶體13之中的Demura畫素補償表，有效地消除Mura現象。
圖4顯示本發明之一種OLED顯示面板之畫素補償方法的流程圖。如圖4所示，在OLED顯示器1正常工作的情況下，本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法係首先執行步驟S1：在該顯示面板驅動晶片11上電後，將一先前衰退計數值自一外部記憶體13載入該顯示面板驅動晶片11的一內部記憶體111之中。前述說明已經解釋，外部記憶體13之中儲存有出廠時寫入的Demura畫素補償表，故此，應可理解所謂的“先前衰退計數值”即為圖3所示資料曲線圖之中的橫坐標資料。舉例而言，若所述先前衰退計數值(Degradation_count)為20000，則其對應的(亮度)衰退補償率(D_ratio)則為1.2。
如圖1與圖4所示，載入所述先前衰退計數值之後，方法流程接著執行步驟S2：將該OLED顯示面板12劃分為X個顯示區塊121，且計算各所述顯示區塊121的一區塊平均灰階值，並進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊(亮度)衰退率。其中，各所述顯示區塊121皆包含複數個畫素，且X為正整數。
繼續地，方法流程接著執行步驟S3：記錄其所述區塊衰退率超過一閥值的至少一所述顯示區塊121，且透過內插法和查表法計算出被記錄的所述顯示區塊121的一補償計數及一溫度係數，並取得該OLED顯示面板12之一當前背光率，從而依據該補償計數、該溫度係數與該當前背光率計算出對應於被記錄的所述顯示區塊121之一衰退計數增加值(Degradation_count_add)。舉例而言，所述閥值例如為0.5，但不以此為限。簡單地說，區塊衰退率高於0.5(亦即，50%)的顯示區塊121會被記錄下來，亦即這些顯示區塊121需要執行畫素補償。
更詳細地說明，前述之區塊平均灰階值以及各所述顯示區塊121的區塊平均灰階值係依一固定採集頻率對該OLED顯示面板12進行一畫素亮度採集作業，從而被計算獲得。其中，所述固定採集頻率例如為每分鐘一次，但不以此為限。值得說明的是，所述畫素亮度採集作業係利用包含光二極體、CMOS攝像頭、CCD攝像頭、或環境光感測器組的一光感測單元予以完成。舉例而言，就整合在智慧型手機及/或平板電腦的OLED顯示器1而言，其顯示面板12還會進一步包含複數個光二極體，而該複數個光二極體用以與一指紋檢測晶片配合以實現屏下指紋感測。因此，可控制這些光二極體依一固定採集頻率對該OLED顯示面板12進行一畫素亮度採集作業，從而3完成所述區塊平均灰階值、各所述區塊平均灰階值以及X個所述區塊衰退率的計算。
請參閱圖5，其顯示本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法所使用的一第一查找表的資料曲線圖。執行步驟S3時，各所述補償計數是利用內插法和一第一查找表從而計算獲得。如圖5所示，該第一查找表包含複數個所述區塊衰退率以及對應於複數個所述區塊衰退率的複數個所述補償計數。舉例而言，在所計算而得的區塊衰退率為1.25的情況下，透過第一查找表可查找到與區塊衰退率為1.0和1.5相對應的補償計數的兩個數值，之後利用內插法即可計算出與區塊衰退率為1.25相對應的補償計數之數值。
請同時參閱圖6，其顯示本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法所使用的一第二查找表的資料曲線圖。執行步驟S3時，所述溫度係數是利用內插法和一第二查找表從而計算獲得。如圖6所示，該第二查找表包含複數個所述溫度係數以及對應於複數個所述溫度係數的複數個面板溫度。舉例而言，在由溫度感測器所測得之當前面板溫度為30℃的情況下，透過第二查找表可查找到與面板溫度為20℃和40℃相對應的溫度係數的兩個數值，之後利用內插法即可計算出與當前面板溫度為30℃相對應的溫度係數之數值。
另一方面，前述步驟S3之中所使用的當前背光率為Ratio of digital brightness value (DBV)，亦即一般OLED顯示器1的功能選項中的背光調整條(adjusting bar)的當前數值。在獲得該補償計數、該溫度係數與該當前背光率的相關數值之後，所述衰退計數增加值(Degradation_count_add)即可透過對該補償計數、該溫度係數與該當前背光率依序執行一乘法運算與一整數化處理而獲得。
計算出所述衰退計數增加值(Degradation_count_add)之後，方法流程便接著執行步驟S4：對所述先前衰退計數值和所述衰退計數增加值執行一加法運算以獲得一當前衰退計數值，接著配合使用內插法與查表法計算出至少三個衰退補償率(D_ratio)，從而依據至少三個所述衰退補償率對該OLED顯示面板12進行一區塊畫素補償作業。更詳細地說明，數學式(1)：Degradation_count (當前)＝Degradation_count (先前)＋ Degradation_count_add用以計算所謂的“當前衰退計數值”。
如圖3所示，若所述先前衰退計數值為20000，則在圖3所示之Demura畫素補償表之中可查找到與其對應的(亮度)衰退補償率為1.2。進一步地，若經過即時、動態計算後得知所述衰退計數增加值為5000，則在利用前述之數學式(1)計算之後可獲得所述當前衰退計數值為25000。此時，查找圖3所示的Demura畫素補償表可知，在一衰退計數值為30000的情況下，與其相對應的(亮度)衰退補償率為1.4。故此，對於所述當前衰退計數值為25000，可利用內插法計算出與其相對應的(亮度)衰退補償率則為1.3。更詳細地說明，由於一個畫素至少包含紅色子畫素、綠色子畫素和藍色子畫素，因此於步驟S4之中，至少三個所述衰退補償率是利用內插法和對應的至少三個Demura畫素補償表從而計算獲得。由圖3可知，各所述Demura畫素補償表皆包含複數個所述衰退補償率(D_ratio)以及對應於複數個所述衰退補償率的複數個衰退計數 (Degradation_count)值。
在完成畫素補償作業之後，對於該OLED顯示面板12用以顯示琥珀色(Amber)的一個所述顯示區塊121所包含的畫素而言，其RGB灰階例如由(255,191,0)補償為(255,191+1,0)。或者，對於該OLED顯示面板12用以顯示查特酒綠(Chartreuse)的一個所述顯示區塊121所包含的畫素而言，其RGB灰階例如由(127,255,0)補償為(127+2,255,0)。
如圖1與圖4所示，在完成畫素補償作業之後，方法流程最終執行步驟S5：在該顯示面板驅動晶片11下電後，將所述當前衰退計數值寫入該外部記憶體13之中，以取代且成為所述先前衰退計數值。換句話說，在下一次OLED顯示器1正常工作的情況下，主機處理器(例如GPU)傳送一輸入影像至顯示面板驅動晶片11的影像緩存單元112。此時，顯示面板驅動晶片11的處理單元113執行本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法執行步驟S1：在該顯示面板驅動晶片11上電後，將所述先前衰退計數值自外部記憶體13載入顯示面板驅動晶片11的內部記憶體111之中，而後重複執行步驟S2-S5。如此設計，對於整合有本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法的顯示面板驅動晶片11而言，其在上電之後便能夠依據OLED顯示面板11的畫素的當前衰退(degradation)老化程度而即時、動態地調整出廠時即被寫入快閃記憶體之中的Demura畫素補償表，進以依據動態更新後的Demura畫素補償表而對OLED顯示面板11執行一區塊畫素補償，終而有效地消除新/舊Mura現象。
如此，上述已完整且清楚地說明本發明之一種OLED顯示面板之畫素補償方法；並且，經由上述可得知本發明具有下列優點：
(1)本發明揭示一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片之中，使該顯示面板驅動晶片能夠依據OLED顯示面板的畫素的當前衰退老化程度而即時、動態地調整出廠時即被寫入快閃記憶體之中的Demura畫素補償表，有效地消除Mura現象。
(2)本發明同時揭示一種資訊處理裝置，其具有如前所述之應用有本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法的一OLED顯示器。並且，該資訊處理裝置可為智能手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、智能手錶、或門禁裝置。
必須加以強調的是，前述本案所揭示者乃為較佳實施例，舉凡局部之變更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所易於推知者，俱不脫本案之專利權範疇。
綜上所陳，本案無論目的、手段與功效，皆顯示其迥異於習知技術，且其首先發明合於實用，確實符合發明之專利要件，懇請  貴審查委員明察，並早日賜予專利俾嘉惠社會，是為至禱。
1:OLED顯示器 11:顯示面板驅動晶片 111:內部記憶體 112:影像緩存單元 113:處理單元 12:OLED顯示面板 121:顯示區塊 13:外部記憶體 S1:在該顯示面板驅動晶片上電後，將一先前衰退計數值自一外部記憶體載入該顯示面板驅動晶片的一內部記憶體之中 S2: 將該OLED顯示面板劃分為X個顯示區塊，且計算各所述顯示區塊的一區塊平均灰階值，並進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊衰退率； S3:記錄其所述區塊衰退率超過一閥值的至少一所述顯示區塊，且透過內插法和查表法計算出被記錄的所述顯示區塊的一補償計數及一溫度係數，從而依據該補償計數、該溫度係數與該OLED顯示面板之一當前背光率計算出對應於被記錄的所述顯示區塊之一衰退計數增加值 S4:對該先前衰退計數值與該衰退計數增加值執行一加法運算以獲得一當前衰退計數值，接著配合使用內插法與查表法計算出至少三個衰退補償率，從而依據至少三個所述衰退補償率對該OLED顯示面板進行一區塊畫素補償作業 S5:在該顯示面板驅動晶片下電後，將所述當前衰退計數值寫入該外部記憶體之中，以取代且成為所述先前衰退計數值
圖1為應用本發明之一種OLED顯示面板之畫素補償方法的一OLED顯示器的架構圖； 圖2為本發明之OLED顯示器的一OLED顯示面板的畫素操作在不同灰階值的使用壽命曲線圖； 圖3為本發明之OLED顯示器的一外部記憶體所儲存的一Demura畫素補償表的資料曲線圖； 圖4為本發明之一種OLED顯示面板之畫素補償方法的流程圖； 圖5為本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法所使用的一第一查找表的資料曲線圖；以及 圖6為本發明之OLED顯示面板之畫素補償方法所使用的一第二查找表的資料曲線圖。
S1:在該顯示面板驅動晶片上電後，將一先前衰退計數值自一外部記憶體載入該顯示面板驅動晶片的一內部記憶體之中
S2:將該OLED顯示面板劃分為X個顯示區塊，且計算各所述顯示區塊的一區塊平均灰階值，並進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊衰退率
S3:記錄其所述區塊衰退率超過一閥值的至少一所述顯示區塊，且透過內插法和查表法計算出被記錄的所述顯示區塊的一補償計數及一溫度係數，從而依據該補償計數、該溫度係數與該OLED顯示面板之一當前背光率計算出對應於被記錄的所述顯示區塊之一衰退計數增加值
S4:對該先前衰退計數值與該衰退計數增加值執行一加法運算以獲得一當前衰退計數值，接著配合使用內插法與查表法計算出至少三個衰退補償率，從而依據至少三個所述衰退補償率對該OLED顯示面板進行一區塊畫素補償作業
S5:在該顯示面板驅動晶片下電後，將所述當前衰退計數值寫入該外部記憶體之中，以取代且成為所述先前衰退計數值

Claims (9)

  1. 一種OLED顯示面板之畫素補償方法，其應用於一顯示面板驅動晶片，且包括：在該顯示面板驅動晶片上電後，將一先前衰退計數值自一外部記憶體載入該顯示面板驅動晶片的一內部記憶體之中；將該OLED顯示面板劃分為X個顯示區塊，且計算各所述顯示區塊的一區塊平均灰階值，並進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊衰退率；其中各所述顯示區塊皆包含複數個畫素，且X為正整數；記錄其所述區塊衰退率超過一閥值的至少一所述顯示區塊，且透過內插法和查表法計算出被記錄的所述顯示區塊的一補償計數及一溫度係數，從而依據該補償計數、該溫度係數與該OLED顯示面板之一當前背光率計算出對應於被記錄的所述顯示區塊之一衰退計數增加值；對該先前衰退計數值與該衰退計數增加值執行一加法運算以獲得一當前衰退計數值，接著配合使用內插法與查表法計算出至少三個衰退補償率，從而依據至少三個所述衰退補償率對該OLED顯示面板進行一區塊畫素補償作業；以及在該顯示面板驅動晶片下電後，將所述當前衰退計數值寫入該外部記憶體之中，以取代且成為所述先前衰退計數值。
  2. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，所述閥值至少0.5。
  3. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，所述區塊平均灰階值以及各所述顯示區塊的該區塊平均灰階值係依一固定採集頻率對該OLED顯示面板進行一畫素亮度採集作業，從而被計算獲得。
  4. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，各所述補償計數利用內插法和一第一查找表從而計算獲得，且該第一查找表包含複數個所述區塊衰退率以及對應於複數個所述區塊衰退率的複數個所述補償計數。
  5. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，所述溫度係數是利用內插法和一第二查找表從而計算獲得，且該第二查找表包含複數個所述溫度係數以及對應於複數個所述溫度係數的複數個面板溫度。
  6. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，所述衰退計數增加值係經由對該補償計數、該溫度係數與該當前背光率依序執行一乘法運算與一整數化處理而獲得。
  7. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，至少三個所述衰退補償率係利用內插法和對應的至少三個畫素補償表從而計算獲得，所述至少三個畫素補償表儲存於該外部記憶體之中，且各所述畫素補償表皆包含複數個所述衰退補償率以及對應於複數個所述衰退補償率的複數個衰退計數值。
  8. 如請求項1所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，其中，該外部記憶體為一快閃記憶體，且該內部記憶體為一隨機存取記憶體。
  9. 一種資訊處理裝置，其具有如請求項1至請求項8中任一項所述之顯示面板驅動晶片及OLED顯示面板以執行如請求項1至請求項8中任一項所述之OLED顯示面板之畫素補償方法，且所述之資訊處理裝置係由智能手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、智能手錶和門禁裝置所組成群組所選擇的一種電子裝置。
TW109119306A 2020-06-09 2020-06-09 Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置 TWI780443B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW109119306A TWI780443B (zh) 2020-06-09 2020-06-09 Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW109119306A TWI780443B (zh) 2020-06-09 2020-06-09 Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202147292A TW202147292A (zh) 2021-12-16
TWI780443B true TWI780443B (zh) 2022-10-11

Family

ID=80783791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109119306A TWI780443B (zh) 2020-06-09 2020-06-09 Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI780443B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI832572B (zh) * 2022-11-22 2024-02-11 大陸商集創北方（珠海）科技有限公司 顯示數據補償方法、顯示裝置以及資訊處理裝置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109256096A (zh) * 2018-11-14 2019-01-22 成都中电熊猫显示科技有限公司 显示亮度补偿方法、装置及设备
CN110444152A (zh) * 2018-05-02 2019-11-12 京东方科技集团股份有限公司 光学补偿方法及装置、显示装置、显示方法及存储介质

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110444152A (zh) * 2018-05-02 2019-11-12 京东方科技集团股份有限公司 光学补偿方法及装置、显示装置、显示方法及存储介质
CN109256096A (zh) * 2018-11-14 2019-01-22 成都中电熊猫显示科技有限公司 显示亮度补偿方法、装置及设备

Also Published As

Publication number Publication date
TW202147292A (zh) 2021-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111599307B (zh) Oled显示面板的像素补偿方法及信息处理装置
US20210074222A1 (en) Display Driving Method and Device, Compression and Decompression Methods and Devices, Display Device and Storage Medium
JP6945877B2 (ja) 表示装置及び画像データ補正方法
US10755633B2 (en) Compensation method and compensation device, display apparatus, display method and storage medium
US20200219433A1 (en) Method of generating correction data for display device, and display device storing correction data
CN109147716A (zh) 数据处理方法、显示驱动芯片和显示设备
US10636365B2 (en) Device and method for image correction
CN110570817A (zh) 一种amoled像素均匀性补偿方法
TWI780443B (zh) Oled顯示面板之畫素補償方法及利用其之資訊處理裝置
TWI692893B (zh) 智慧分組畫面補償方法及利用其之顯示裝置
CN114582284A (zh) 一种显示驱动方法、显示驱动器以及显示装置
US20230343269A1 (en) Temperature-Based Pixel Drive Compensation
CN115064118B (zh) 显示面板的驱动方法、驱动装置及显示装置
WO2023221333A1 (zh) 数据处理方法及装置、显示面板补偿方法及装置
US20210383735A1 (en) Display driver integrated circuit (ddi) chip and display apparatus
US20210280111A1 (en) Method of generating correction data for display device, test device, and display device
CN104464591A (zh) 图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置
CN112331138B (zh) 补偿图像的像素值的电子设备
US10991283B2 (en) Decimated burn-in compensation with pixel shifting
TWI804281B (zh) Oled顯示面板之亮度補償方法、oled顯示裝置、及資訊處理裝置
TWI773274B (zh) Oled顯示面板之畫素補償方法、oled顯示裝置、及資訊處理裝置
CN112562594A (zh) Amoled显示模组的压降补偿方法及装置
TWI795118B (zh) 初始化電壓動態調整方法、oled顯示裝置、及資訊處理裝置
CN110880299B (zh) 画面显示方法及画面显示装置
TWI795961B (zh) 自發光顯示面板之畫素補償方法、平面顯示裝置及資訊處理裝置

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent