TWI773996B - 畫作缺陷辨識系統及方法 - Google Patents
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Abstract
一種畫作缺陷辨識系統及方法，包括：可變光源單元，係對畫作提供可變光源；影像擷取單元，係設置於可變光源單元之端部，取得畫作的原始影像以及缺陷影像；影像處理單元，係電性連結影像擷取單元，依據原始影像以及缺陷影像產生缺陷標記影像，包括：影像定位模組，係依據原始影像以及缺陷影像計算後產生定位座標；以及標記模組，依據定位座標，標記缺陷影像於原始影像，並產生缺陷標記影像；以及顯示單元，係電性連結影像處理單元，依據系統設定值或使用者設定值顯示缺陷標記影像。
Description
本發明是有關於一種畫作缺陷辨識系統及方法，且特別是有關於一種利用可變光源取得畫作缺陷後自動標註位置的畫作缺陷辨識系統及方法。
畫作損壞的因素非常繁多，有些是自然劣化的，有些是人為因素的。所謂自然劣化的損壞因素，是指畫家的選材或是繪畫方式未能符合繪畫創作技法，所衍生出來的損壞成因，也就是說當一幅畫作被完成時，就已經註定未來是否易於保存的命運。人為因素的損壞因素就複雜許多，保存環境不佳、天災、展覽時的意外狀況、錯誤的保存修復方式等，而在西方的歷史中還有戰爭或政治、宗教因素之破壞，都是屬於這類損壞的因素，而這些損壞都會造成畫作的損壞或是產生缺陷。
目前繪畫於創作過程或是保存修復過程中產生的缺失，多需透過物理的測試用以找出畫作缺陷，而物理測試包含可見與不可見兩種，可見的測試如影像的照明(切面光、鈉蒸汽等)、影像的放大(攝影的放大、放大照相術、顯微照相術等)，不可見的測試則是指紫外線輻射、紅外線輻射和X光射線，讓我們可以做肉眼看不見的部分之研究，找出畫作缺陷所在之處後並於畫作相關位置上進行註記定位，但在檢查畫作缺陷的過程中，無法確認畫作缺陷的位置，又無法於畫作上直接進行標註，這樣的過程往往造成後續處理困難。
本發明提供一種畫作缺陷辨識系統，其目的在改善
確認畫作缺陷位置的標註方式，透過預先取得全圖影像後，再透過細部檢視畫作是否存在缺陷，當發現畫作具有缺陷時儲存該缺陷畫面，並透過畫作缺陷辨識系統即時運算後，於預先取得的全圖影像中即時標註記號，用以簡化畫作缺陷找尋的流程，並有效減少後續缺陷標註所需的時間
本發明的一種畫作缺陷辨識系統，包括：一可變光源單元，係對一畫作提供可變光源；一影像擷取單元，係設置於該可變光源單元之一端部，取得該畫作的一原始影像以及一缺陷影像；一影像處理單元，係電性連結該影像擷取單元，依據該原始影像以及該缺陷影像產生一缺陷標記影像，包括：一影像定位模組，係依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標；以及一標記模組，依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生該缺陷標記影像；以及一顯示單元，係電性連結該影像處理單元，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
在本發明之一實施例中，上述之畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
在本發明之一實施例中，上述之可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
在本發明之一實施例中，上述之可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
在本發明之一實施例中，上述之影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
在本發明之一實施例中，上述之影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
在本發明之一實施例中，上述之影像定位模組，係
透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
在本發明之一實施例中，上述之影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
在本發明之一實施例中，上述之顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
本發明還提供了一種畫作缺陷辨識系統的方法，其中包括：利用一可變光源單元，對一畫作提供可變光源；利用一影像擷取單元取得該畫作的一原始影像以及一缺陷影像；透過一影像處理單元中的一影像定位模組依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標；透過該影像處理單元中的一標記模組依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生該缺陷標記影像；以及利用一顯示單元，係電性連結該影像處理單元，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
在本發明之一實施例中，上述之畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
在本發明之一實施例中，上述之可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
在本發明之一實施例中，上述之可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
在本發明之一實施例中，上述之影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
在本發明之一實施例中，上述之影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
在本發明之一實施例中，上述之影像定位模組，係透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
在本發明之一實施例中，上述之影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
在本發明之一實施例中，上述之顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
本發明的效果在於，透過預先取得全圖影像後，再透過細部檢視畫作是否存在缺陷，當發現畫作具有缺陷時儲存該缺陷畫面，並透過畫作缺陷辨識系統計時運算後，於預先取得的全圖影像中即時標註記號，用以簡化畫作缺陷找尋的流程，並有效減少後續標註所需的時間。
110:可變光源單元
120:影像擷取單元
130:影像處理單元
131:影像定位模組
132:標記模組
140:顯示單元
S210~S250:步驟流程
310:可變光源單元
311:畫作
320:影像擷取單元
330:影像處理單元
340:顯示單元
圖1是根據本發明之一種畫作缺陷辨識系統的方塊圖。
圖2是根據本發明之一種畫作缺陷辨識系統的流程圖。
圖3是根據本發明之一種畫作缺陷辨識系統的裝置圖。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1是本發明之一種畫作缺陷辨識系統的方塊圖。在圖1中，畫作缺陷辨識系統包括：一可變光源單元110，係對一畫作提供可變光源；一影像擷取單元120，係設置於該可變光源單元110之一端部，取得該畫作的一原始影像以及一缺陷影像；一影像處理單元130，係電性連結該影像擷取單元120，依據該原始影像以及該缺陷影像產生一缺陷標記影像，包括：一影像定位模組131，係依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標；以及一標記模組132，依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生該缺陷標記影像；以及一顯示單元140，係電性連結該影像處理單元130，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
於本實施例中，該畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
於本實施例中，該可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
於本實施例中，該可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
於本實施例中，該影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
於本實施例中，該影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
圖2是根據本發明之一種畫作缺陷辨識系統的整合流程圖，步驟流程如下；
步驟S210：利用一可變光源單元，對一畫作提供可變光源。
步驟S220：利用一影像擷取單元取得該畫作的一原始影像以及一缺陷影像。
步驟S230：透過一影像處理單元中的一影像定位模組依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標。
步驟S240：透過該影像處理單元中的一標記模組依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生該缺陷標
記影像。
步驟S250：利用一顯示單元，係電性連結該影像處理單元，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
於本實施例中，該畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
於本實施例中，該可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
於本實施例中，該可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
於本實施例中，該影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
於本實施例中，該影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
圖3是本發明之一種畫作缺陷辨識系統的裝置圖。在圖3中，畫作缺陷辨識系統包括：一可變光源單元310，係對一畫作311提供可變光源；一影像擷取單元320，係設置於該可變光源單元310之一端部，取得該畫作311的一原始影像以及一缺陷影像；一影像處理單元330，係電性連結該影像擷取單元320，依據該原始影像以及該缺陷影像產生一缺陷標記影像；以及一顯
示單元340，係電性連結該影像處理單元330，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
於本實施例中，該畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
於本實施例中，該可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
於本實施例中，該可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
於本實施例中，該影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
於本實施例中，該影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
於本實施例中，該顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
綜上所述，本發明可透過預先取得全圖影像後，再透過細部檢視畫作是否存在缺陷，當發現畫作具有缺陷時儲存該缺陷畫面，並透過畫作缺陷辨識系統計時運算後，於預先取得的全圖影像中即時標註記號，用以簡化畫作缺陷找尋的流程，並有效減少後續標註所需的時間。
雖然本發明以前述實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，所作更動與潤飾之等效替換，仍為本發明之專利保護範圍
內。
110:可變光源單元
120:影像擷取單元
130:影像處理單元
131:影像定位模組
132:標記模組
140:顯示單元
Claims (9)
- 一種畫作缺陷辨識系統，包括：一可變光源單元，係對一畫作提供可變光源；一影像擷取單元，係設置於該可變光源單元之一端部，取得該畫作的一全圖影像資訊，其中該全圖影像資訊更包括一原始影像以及一缺陷影像；一影像處理單元，係電性連結該影像擷取單元，依據該原始影像以及該缺陷影像產生一缺陷標記影像，包括：一影像定位模組，係依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標；以及一標記模組，依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生該缺陷標記影像；以及一顯示單元，係電性連結該影像處理單元，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像；其中，該畫作缺陷辨識系統更包括一儲存單元，用以儲存該原始影像、該缺陷影像以及該缺陷標記影像。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該可變光源單元，係用以提供不同頻譜的光源，包括一紫外光(UV)。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該可變光源單元，係包括複數個燈組，以及一光源控制模組。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該影像擷取單元，係透過該可變光源單元於該畫作上提供可變光源後顯示一畫作缺陷，以取得該缺陷影像。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該影像處理單元更產生一缺陷對照表，該缺陷對照表係包括該缺陷標記影像中的一缺陷資訊以及一缺陷座標。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該影像定位模組，係透過模糊演算法計算出該缺陷影像位於該原 始影像中座標。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該影像定位模組，係透過全圖比對計算出該缺陷影像位於該原始影像中座標。
- 如申請專利範圍第1項所述的一種畫作缺陷辨識系統，其中該顯示單元，係依據該系統設定值或該使用者設定值顯示該缺陷標記影像的一全圖或一局部放大圖。
- 一種畫作缺陷辨識系統的方法，其中包括：利用一可變光源單元，對一畫作提供可變光源；利用一影像擷取單元取得該畫作的一原始影像以及一缺陷影像；透過一影像處理單元中的一影像定位模組依據該原始影像以及該缺陷影像計算後產生一定位座標；透過該影像處理單元中的一標記模組依據該定位座標，標記該缺陷影像於該原始影像，並產生一缺陷標記影像；以及利用一顯示單元，係電性連結該影像處理單元，依據一系統設定值或一使用者設定值顯示該缺陷標記影像。
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| TW109118138A TWI773996B (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 畫作缺陷辨識系統及方法 |
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101957915A (zh) * | 2010-09-16 | 2011-01-26 | 北京优纳科技有限公司 | 字画扫描设备及鉴定方法 |
| CN104982026A (zh) * | 2014-02-03 | 2015-10-14 | 株式会社隆创 | 图像检查装置和图像检查程序 |
| CN106338487A (zh) * | 2016-09-29 | 2017-01-18 | 北京建筑大学 | 一种字画鉴别方法和装置 |
| TWI671711B (zh) * | 2018-05-29 | 2019-09-11 | 崑山科技大學 | 模擬畫作於環境空間中的光線分佈之裝置及方法 |
| TWM601820U (zh) * | 2020-05-29 | 2020-09-21 | 正修學校財團法人正修科技大學 | 畫作缺陷辨識系統 |
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2020
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101957915A (zh) * | 2010-09-16 | 2011-01-26 | 北京优纳科技有限公司 | 字画扫描设备及鉴定方法 |
| CN104982026A (zh) * | 2014-02-03 | 2015-10-14 | 株式会社隆创 | 图像检查装置和图像检查程序 |
| CN106338487A (zh) * | 2016-09-29 | 2017-01-18 | 北京建筑大学 | 一种字画鉴别方法和装置 |
| TWI671711B (zh) * | 2018-05-29 | 2019-09-11 | 崑山科技大學 | 模擬畫作於環境空間中的光線分佈之裝置及方法 |
| TWM601820U (zh) * | 2020-05-29 | 2020-09-21 | 正修學校財團法人正修科技大學 | 畫作缺陷辨識系統 |
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