TWI773734B - 用於溫度感測器校準之方法及其積體電路 - Google Patents

用於溫度感測器校準之方法及其積體電路 Download PDF

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賽巴斯汀 特魯羅爾斯
哈 法
昶久 黃
楊恭怡方
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    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/01Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions

Abstract

本發明揭示一種用於校準一溫度感測器之方法及裝置。在一項實施例中,一方法包括分別基於施加至一溫度感測器電路之一部分之第一電壓及第二電壓來產生第一數位值及第二數位值。一算數電路可基於該第一數位值及該第二數位值來導出該第二電壓之值。該方法進一步包括基於該第一電壓及該第二電壓之值來判定一常數之一初始值,及基於初始電壓及至少一個電壓偏移來判定該常數之一最終值。然後可使用該常數來判定該溫度感測器之溫度讀數。

Description

用於溫度感測器校準之方法及其積體電路
本發明係關於積體電路,且更特定而言係關於實施於積體電路中之溫度感測器之校準。
積體電路(IC)時常包含實施於其上以便監測晶片上溫度之溫度感測器。自溫度感測器接收之資訊可用於各種途徑,諸如防止過熱狀況、工作負載分配等等。
與任何量測電路一樣,溫度感測器可時常遭受不準確性。因此,可(例如)以週期性間隔對實施於一IC中之溫度感測器進行校準。校準方法可依據不同類型之感測器而廣泛變化。
IC中所使用之一種類型之溫度感測器已知為一△Vbe感測器(或一矽帶隙溫度感測器)。可藉由跨越(例如)兩個不同PN接面(諸如對應雙極電晶體之基極-射極接面)之電壓來判定由一△Vbe感測器感測到之溫度且基於電壓之間的一差來計算溫度。此類型之感測器之校準可藉由強加一已知溫度且然後導出一常數來進行,該常數在使用時導致匹配所強加溫度之一讀數。
本發明揭示一種用於校準一溫度感測器之方法及裝置。在一項實施例中,一方法包括分別基於施加至一溫度感測器電路之一部分之第一電壓及第二電壓來產生第一數位值及第二數位值。一算數電路可基於該第一數位值及該第二數位值來導出該第二電壓之值。該方法進一步包括基於該第一電壓及該第二電壓之值來判定一常數之一初始值,及基於初始電壓及至少一個電壓偏移來判定該常數之一最終值。然後可使用該常數來判定該溫度感測器之溫度讀數。
在一項實施例中,該溫度感測器係包含一帶隙電路之一類比溫度感測器。該帶隙電路包含第一二極體及第二二極體,其中該第二二極體大於該第一二極體。該等二極體可以各種方式實施,包含實際二極體、使用雙極電晶體之PN接面等。溫度感測器亦包含類比轉數位轉換(ADC)電路,該類比轉數位轉換(ADC)電路經組態以接收來自帶隙電路之電壓以及上文所論述之第一電壓及第二電壓(其中該第一電壓係自上面實施有該溫度感測器之IC外部之一源提供,而第二電壓係自IC內部之一源提供)。算數電路經耦合以自ADC電路接收數位值且執行計算以校準溫度感測器並自該溫度感測器獲得溫度讀數。
各種方法及裝置實施例可在不必提供一已知溫度之情況下達成溫度感測器之校準。在某些情形中,強加一已知溫度可係困難的(若並非不可能)。然而,提供一已知電壓(例如,第一電壓)可明顯地更容易。
儘管易於對本文中所揭示之實施例做出各種修改及替代形式,但其特定實施例係以實例方式展示於圖式中且將在本文中詳細地闡述。然而,應理解,圖式及對其之詳細說明並非意欲將申請專利範圍之範疇限制於所揭示之特定形式。相反地,本申請案意欲涵蓋歸屬於如由隨附申請專利範圍所界定之本申請案之揭示內容之精神及範疇內之所有修改、等效形式及替代形式。
本發明包含對「一項實施例」、「一特定實施例」、「某些實施例」、「各種實施例」或「一實施例」之參考。片語「在一項實施例中」、「在一特定實施例中」、「在某些實施例中」、「在各種實施例中」或「在一實施例中」之出現未必係指同一實施例。可以與本發明一致之任何適合方式組合特定特徵、結構或特性。
在本發明內,不同實體(其可不同地稱為「單元」、「電路」其他組件等)可闡述或主張為「經組態」以執行一或多項任務或操作。此公式化-[實體]經組態以[執行一或多項任務]-在本文中用於係指結構(亦即,某些實體結構,諸如一電子電路)。更具體而言,此公式化用於指示此結 構經配置以在操作期間執行一或多項任務。可認為一結構「經組態以」執行某項任務,即使該結構當前未進行操作。「經組態以將信用分配至複數個處理器核心之一信用分配電路」意欲涵蓋(舉例而言)具有在操作期間執行此功能之電路之一積體電路,即使所討論之該積體電路當前未被使用(例如,未將一電力供應連接至該積體電路)。因此,闡述或陳述為「經組態以」執行某項任務之一實體係指某些實體物件,諸如一裝置、電路、儲存可執行程式指令以實施該任務之記憶體等。此片語在本文中並不用於係指某些無形物件。
術語「經組態以」並非意欲係指「可經組態以」。一未經程式化FPGA(舉例而言)將不認為係「經組態以」執行某種特定功能,儘管該未經程式化FPGA可在程式化之後「可經組態以」執行彼功能。
隨附申請專利範圍中陳述一結構「經組態以」執行一或多項任務明確地意欲不針對彼技術方案要素調用35 U.S.C.§ 112(f)。因此,如提出申請之本申請案中之技術方案中之任何者皆不意欲解釋為具有構件加功能要素。若申請人希望在審查期間調用112(f)條款,則此將使用「用於[執行一功能]之構件」建構來陳述技術方案要素。
如本文中所使用,術語「基於」用於闡述影響一判定之一或多個因子。此術語並不消除額外因子可影響判定之可能性。亦即,一判定可單獨地基於特定因子或基於特定因子以及其他非特定因子。考量片語「基於B判定A」。此片語規定B係用於判定A或影響A之判定之一因子。此片語並不消除A之判定亦可基於某個其他因子,諸如C。此片語亦意欲涵蓋其中單獨地基於B來判定A之一實施例。如本文中所使用,片語「基於」與片語「至少部分地基於」同義。
如本文中所使用,片語「回應於」闡述觸發一效應之一或多個因子。此片語並不消除額外因子可影響或以其他方式觸發該效應之可能性。亦即,一效應可單獨地回應於彼等因子或可回應於特定因子以及其他非特定因子。考量片語「回應於B執行A」。此片語規定B係觸發A之執行之一因子。此片語並不消除亦可回應於某個其他因子(諸如C)而執行A。此片語亦意欲涵蓋其中單獨地回應於B而執行A之一實施例。
如本文中所使用,術語「第一」、「第二」等係用於在名詞之前作為該等名詞之標籤,且並不暗示任何類型之次序(例如,空間次序、時間次序、邏輯次序等),除非另外陳述。舉例而言,在具有八個暫存器之一暫存器堆中,術語「第一暫存器」及「第二暫存器」可用於係指八個暫存器中之任何兩者,且不(舉例而言)僅限於係指邏輯暫存器0及1。
當在申請專利範圍中使用時,術語「或」用作一包含性「或」而非排他性「或」。舉例而言,片語「x、y或z中之至少一者」意指x、y及z中之任一者以及其任何組合。
在以下說明中,陳述眾多特定細節以提供對所揭示實施例之一透徹理解。然而,熟習此項技術者將認識到可在無此等特定細節之情況下實踐所揭示實施例之態樣。在某些例項中,未詳細展示眾所周知之電路、結構、信號、電腦程式指令及技術以避免使所揭示實施例模糊。
10:積體電路
15:功能電路區塊
16:功能電路區塊
17:功能電路區塊
21:溫度感測器
211:帶隙電路
212:選擇電路
213:類比轉數位轉換器
215:電流鏡
221:計數器
223:電壓轉脈衝寬度轉換器
225:算數電路
227:控制電路/專用控制電路
235:放大器
R1:電阻器
R2:電阻器
T1:雙極電晶體/電晶體
TX:雙極電晶體/電晶體
V1:電壓
Vext:外部電壓/電壓
Vinternal:電壓節點
Vos:偏移電壓
Vref:參考電壓
Vsource:外部電壓供應器/電壓供應器
VX:電壓
以下詳細說明說明參考附圖,現在簡略闡述該等附圖。
圖1係圖解說明一積體電路(IC)之一項實施例之一實體佈局之一圖式,該積體電路上實施有若干個溫度感測器。
圖2係一溫度感測器及相關聯電路之一項實施例之一方塊圖。
圖3係圖解說明一溫度感測器之一項實施例之細節之一圖式。
圖4係用於校準一單個溫度感測器之一方法之一項實施例之一流程圖。
圖5係用於校準彼此緊密接近之一對溫度感測器之一方法之一項實施例的一流程圖。
圖6係圖解說明用於判定來自一溫度感測器之一溫度讀數之一方法之一項實施例的一流程圖。
優先權資訊
本申請案主張於20l7年3月30日提出申請之標題為「Statistical Temperature Sensor Calibration Apparatus and Methodology」之美國臨時專利申請案第62/478,975號之優先權,該美國臨時專利申請案據此以引 用方式如同在本文中充分且完整陳述一般全部併入本文中。
現在轉至圖1,其展示圖解說明一例示性積體電路(IC)之一項實施例之一圖式。在所展示之實施例中,IC 10包含功能電路區塊15、16及17。功能電路區塊中之每一者可執行IC 10之各種功能。舉例而言,功能電路區塊中之一者可係一處理器核心,另一功能電路區塊可係一記憶體控制器,而另一功能電路區塊可係一介面單元。一般而言,事實上IC 10可係任何類型之IC,且功能電路區塊(其可在數目上可大於或少於此處所展示)可執行彼IC之對應功能。
圖1之實施例中所展示之功能電路區塊中之每一者包含至少一個溫度感測器21。此等溫度感測器21可為其他電路(為簡單起見此處未展示)提供溫度讀數,該其他電路可基於此等讀數執行各種動作。舉例而言,IC 10可包含某一種類之電力/熱管理控制電路,該電力/熱管理控制電路在接收到高於一特定臨限值之一溫度讀數之後旋即可降低對應功能電路區塊之工作負載以藉此管理其熱輸出。更一般而言,溫度讀數可提供可用於判定一IC之一給出實施例中之各種各樣之動作以用於控制/管理電力消耗及熱輸出之資訊。
在所展示之實施例中,溫度感測器21係類比溫度感測器。可藉由此等感測器基於該等感測器中所產生電壓來感測溫度。在各種實施例中,且如下文將論述,溫度感測器21可包含產生電壓之一帶隙電路,依據該電壓判定溫度讀數。
溫度感測器21中之每一者可在使用之前經歷一校準程序。校準程序可在IC之初始操作之前執行且亦可在此後之各個間隔處執行。在此特定實施例中,溫度感測器21係類比溫度感測器,其中取得電壓讀數且用基於該 等電壓讀數之一值乘以一常數以得出溫度讀數。因此可執行校準程序以判定此常數值,並且在下文進一步詳細地論述。
應注意,校準程序可取決於溫度感測器21之放置而變化。如上所述,功能電路區塊16及17各自包含溫度感測器21之一單個例項,而功能電路區塊15包含彼此緊密接近的溫度感測器21之兩個例項。單獨實施之溫度感測器(例如,諸如在功能電路區塊16及17中)可作為單個實體校準。相比而言,功能電路區塊15之溫度感測器21之校準可一起校準,其中將來自溫度感測器21中之每一者之電壓讀數考量至對應溫度感測器21之校準中。
圖2係圖解說明一溫度感測器21之一項實施例之一基本架構之一圖式。在所展示之實施例中,溫度感測器21包含一帶隙電路211、一選擇電路212及一類比轉數位轉換器(ADC)213。在所展示之實施例中,選擇電路212經耦合以將四個選定電壓中之一者提供至ADC 213。電壓中之一者(Vext)係自一外部電壓供應器(Vsource)提供之一電壓。電壓Vext可係自由電阻器R1及R2實施之分壓器提供之一已知電壓。電壓供應器Vsource可係(例如)其中電壓被仔細控制之一精確類比電壓供應器。
帶隙電路211經耦合以給選擇電路212之對應輸入提供三個不同電壓。此等電壓中之一第一者係一參考電壓Vref。參考電壓可係(例如)提供至帶隙電路之一供應電壓,且其中參考電壓之精確值在校準之前係未知的。電壓V1及VX可自帶隙電路211中之二極體(例如,PN)接面提供。更特定而言,V1可自一第一二極體接面提供,而VX可自一第二二極體接面提供。第二二極體接面可係第一二極體接面之X倍(例如,15倍)。此可導致跨越二極體接面之不同電壓降。可基於兩個電壓降之間的差來判定一溫 度量測值。
選擇電路212之選定輸入上之電壓可提供至ADC 213。依據此,電壓可轉換成一數位值且提供至算數電路以進一步處理。在校準期間,外部電壓Vext及參考電壓Vref可被提供至ADC 213以在校準程序期間轉換成對應數位值。在取得一溫度讀數期間,電壓V1及VX可被提供至ADC 213以轉換成對應數位值。
圖3係圖解說明具有額外細節之一溫度感測器21之一項實施例之一圖式。在所展示之實施例中,溫度感測器21符合圖2中所展示之溫度感測器21之基本架構。然而,應注意,其他實施例係可能的且涵蓋於彼架構內,且因此圖3之實施例並非意欲限制圖2之實施例。而是,圖3之實施例僅係圖2中所展示之溫度感測器21之諸多可能實施方案中之一者。可能有且預期不歸屬於圖2之範疇內之其他溫度感測器實施例,且因此可對該等其他溫度感測器實施例應用下文所論述之一校準方法之各種實施例。
在所展示之實施例中,帶隙電路211包含兩個雙極電晶體(T1及TX),該兩個雙極電晶體實施其二極體接面。在此特定實施例中,電晶體係PNP電晶體。亦可能有且預期其中以NPN電晶體或其他類型之PN接面(例如,實際二極體)來實施二極體接面之實施例。電晶體T1及TX可各自自電流鏡215在其各別射極端子上接收電流。在此實施例中,自電壓節點Vinternal接收電流鏡215之供應電壓。此節點上之電壓亦可作為參考電壓提供。雖然供應至Vinternal之電壓(例如,諸如Vsource)可係已知的,但諸如實際源與Vinternal之間的IR降之各種因子可係未知的。因此,參考電壓Vref之值在校準之前可係未知的。在校準期間,參考電壓之值可被判定且因此用作得出一常數之一值之一依據。
在所展示之實施例中,電壓V1及VX可分別自T1及TX之射極取得。此等電壓在任何給出時間處之值可取決於流動穿過其各別節點之電流量,繼而該等值可具有對經各別耦合二極體接面之大小之一相依性。因此,針對相同狀況,至T1及TX之各別電流及因此各別電壓V1及VX可不同。此差可用於判定由溫度感測器21感測之一溫度之一讀數。
在此特定實施例中,所展示之實施例中之ADC 213係利用電壓轉脈衝寬度轉換器(VPWC)223及計數器221而實施。取決於自選擇電路212接收之電壓,VPWC 223可產生一脈衝,其中該脈衝之寬度取決於所接收電壓。該脈衝可自放大器235輸出至計數器221。回應於接收一脈衝,計數器221可產生與所接收脈衝之寬度成比例之一計數值。該計數值因此被提供為對應於自選擇電路212輸出之電壓之一數位值。
VPWC包含可係固有的之一偏移電壓Vos。在校準溫度感測器21時,可考量此偏移電壓以便增加總體準確性。在校準之開始處此偏移電壓可係未知的,且因此可在校準之執行期間判定。一旦偏移電壓被判定,其值便可用於調整上文提及之常數之一初始值以便得出一最終較準確值。
來自ADC 213之輸出可提供至算數電路225。在一項實施例中,算數電路225可獨立於溫度感測器21之其他組件而實施。舉例而言,在一項實施例中,算數電路225可係一電力管理或溫度管理電路之部分,該電力管理或溫度管理電路提供如上文所論述之電力及溫度管理及控制功能。此外,溫度感測器21之多個例項可經耦合以給算數電路225提供數位值。然而,可能有且預期其中溫度感測器21之至少某些例項包含專用算數電路之實施例。
算數電路225可執行用於在校準期間判定常數值以及用於在正常操作 期間判定溫度之各種計算。控制電路227耦合至算數電路225以促進此等單元在操作期間之通信。與算數電路225一樣,控制電路227可獨立於溫度感測器21實施,且可係一電力管理單元之部分或其他類型之電路。然而,可能有且預期其中溫度感測器21中之至少某些溫度感測器包含一專用控制電路227之實施例。
在所展示之實施例中,控制電路227經耦合以給選擇電路212提供一選擇信號。在校準操作期間,控制電路227可選擇外部電壓Vext及參考電壓Vref。在溫度感測操作期間,控制電路可選擇V1及VX。控制電路227亦可為算數電路225指示哪一輸入係當前被選擇電路212所選擇的。
現可進一步詳細地闡述校準操作。在校準之初始部分期間,需要兩個電壓,參考電壓Vref及外部電壓Vext。如先前所述,參考電壓最初可係未知的,而外部電壓係已知的。然而,在校準之開始處,偏移電壓Vos亦係未知的。在控制電路227之控制下,外部電壓及參考電壓各自由選擇電路212選擇且轉換成數位值。使用兩個數位值及外部電壓可導出參考電壓。特定而言,針對所展示之實施例,參考電壓可藉由以下方程式判定:
Figure 107105632-A0305-02-0012-1
其中N ref N ext 係分別對應於參考電壓及外部電壓之數位值。
一旦已判定出參考電壓,便可判定一常數M之一初始值。常數M係用於依據一溫度讀數來判定溫度之一乘法因子。M之初始值可藉由方程式2判定:
Figure 107105632-A0305-02-0012-2
其中q係電子電荷,k係玻爾茲曼常數,η係二極體接面之理想因子(由製造商提供),且X係二極體大小之比率(例如,其中較小二極體=1)。 在一例示性實施例中,其中X=15,方程式2可變成如下:
Figure 107105632-A0305-02-0013-3
一旦計算出M 0 ,然後便可針對偏移電壓調整常數。在考量電壓偏移之情況下,常數M之方程式可寫為:
Figure 107105632-A0305-02-0013-4
其中V os 係偏移電壓。
可使用以下方法判定一單個感測器之初始未知偏移電壓。應注意,在下文之實例中,X=15,指示兩個二極體接面中之較大者係另一者之15倍。然而,此實例可藉由用較大二極體接面與較小二極體接面之另一比率來替換「15」而被更普遍地應用。應進一步注意,R1及R2(此實例適用於其之圖3中所展示之溫度感測器之一實施例之R1及R2)之電阻器值分別係3歐姆及6.5歐姆。假設:
Figure 107105632-A0305-02-0013-5
Figure 107105632-A0305-02-0013-6
Figure 107105632-A0305-02-0013-7
Figure 107105632-A0305-02-0013-8
Figure 107105632-A0305-02-0013-9
依據針對此特定實例由製造商提供之二極體接面之表徵,瞭解了二 極體電壓降Vbe1及Vbe15之斜率、IR降,及理想度:m 1=-1.455mV/℃ m 15=-1.691mV/℃ IR=43mV η=1.0078。
對於一單個溫度感測器,以上導致具有三個未知數之三個方程式之一方程組,該三個未知數中之一者係偏移電壓:
Figure 107105632-A0305-02-0014-10
Figure 107105632-A0305-02-0014-11
N ext =I(V ext +V os )(12)。
對方程式10、11及12之方程組進行求解,給出以下:N os =V os I(13)。
方程式13可對Vos進行求解,且可將此值插入至方程式(4)中以獲得常數M之最終值。另一選擇係,M之最終值可如下求出:
Figure 107105632-A0305-02-0014-12
在獲得M之最終值之情況下,校準溫度感測器。使用常數M,可藉由以下方程式針對本文中所論述之實施例判定溫度:
Figure 107105632-A0305-02-0014-13
或,針對一般實施例判定溫度:
Figure 107105632-A0305-02-0014-14
方程式16有效地陳述:溫度等於一常數乘以二極體電壓降之間的差與參考電壓之一比率。
如先前所述,在其中兩個單獨溫度感測器實施為彼此緊密實體接近之例項中,可一前一後地執行其各別偏移電壓之判定以改良計算之準確 性。再次,使用其中較大二極體接面係較小二極體接面之15倍之例示性溫度感測器實施例中,可使用上文之方程式5至方程式9開始各別偏移電壓之判定。另外,對於此特定實施例,可使用上文給出之m 1 m 15 IRη之值。依據此,可獲得具有六個未知數之六個方程式之一方程組(其中感測器之各別電壓偏移係未知數中之兩者;t sa 係指一第一溫度感測器,而t sb 係指第二溫度感測器):
Figure 107105632-A0305-02-0015-15
Figure 107105632-A0305-02-0015-16
Figure 107105632-A0305-02-0015-21
Figure 107105632-A0305-02-0015-17
Figure 107105632-A0305-02-0015-18
Figure 107105632-A0305-02-0015-22
依據上文,可使用V os 之對應值及方程式13計算每一感測器之N os 。然後可將此等值插入至上文之方程式14之等效形式中以產生毗鄰溫度感測器中之每一者之常數:
Figure 107105632-A0305-02-0015-19
Figure 107105632-A0305-02-0015-20
上文所論述之各種校準方法可概括於圖4及圖5之方法實施例中。分別在圖4及圖5中圖解說明之方法400及500可針對上文所論述之感測器之各種實施例且利用上文所論述之硬體中之各種其他部分執行。然而,可能有且預期亦可針對其他感測器實施例且利用其他硬件類型執行校準。此等實施例因此可歸屬於本發明之範疇內。此外,在各種實施例中,上文所論述之計算中之某些計算可使用軟體或韌體執行,該等各種實施例亦視為歸 屬於本發明之範疇內。
現在轉至圖4,展示用於校準一單個溫度感測器之一方法之一項實施例之一流程圖。方法400包含將一已知外部電壓施加至溫度感測器且產生一對應第一數位值(方塊405)。該方法進一步包含施加一未知內部參考電壓且基於該未知內部參考電壓產生一第二數位值(方塊410)。此等步驟之次序可依據不同實施例而變化。
在已產生外部電壓及參考電壓兩者之數位值之後,可基於此等數位值導出參考電壓(方塊415)。使用上文之方程式1,用第二數位值對第一數位值之比率乘以已知外部電壓從而得出參考電壓。
在已判定出參考電壓之後,可判定常數之一初始值(方塊420)。在一項實施例中,可使用如上文呈現之方程式(2)來判定常數之初始值。
方法400進一步包含判定一初始未知偏移電壓之一值(方塊425),在上文之實施例中,該初始未知偏移電壓存在於VPWC 223中。在其中針對一單個感測器判定偏移電壓之一項實施例中,可使用上文呈現之各種方程式來判定該感測器之偏移電壓。在判定出感測器之偏移電壓之後,可使用其值(或其數位等效形式)來判定常數之最終值(方塊430)。參考上文之方程式,可基於所判定偏移電壓使用方程式(4)或(14)來判定常數之最終值。在判定出溫度感測器之最終常數值之後,其校準完成。
圖5圖解說明用於校準實施為彼此緊密實體接近(例如,彼此毗鄰)之兩個溫度感測器之一方法之一項實施例。方法500包含將一已知外部電壓施加至溫度感測器中之每一者(方塊505)且產生對應數位值。該方法亦包含將一對應未知參考電壓施加至溫度感測器且針對每一者產生數位值(方塊510)。基於所產生數位值,可針對每一溫度感測器計算參考電壓之實際 值(方塊515)。在針對兩個感測器中之每一者計算參考電壓之後,針對每一者計算一常數之對應初始值(方塊520)。
方法500進一步包含針對兩個感測器中之每一者判定偏移電壓(方塊525)。對於感測器中之每一者,將經各別判定之偏移電壓(或其對應數位等效形式)施加至一適當方程式以判定最終常數值(方塊530)。在判定出其各別最終常數值之後,溫度感測器之校準旋即完成。
圖6係圖解說明用於判定來自一溫度感測器之一溫度讀數之一方法之一項實施例的一流程圖。方法600可用於判定根據上文所論述之各種校準方法校準之溫度感測器之溫度讀數。
方法600包含獲得跨越一帶隙電路之第一(方塊605)及第二(方塊610)二極體接面之電壓。二極體接面可具有不同大小,且可以不同方式實施(例如,藉由二極體、藉由一雙極電晶體之PN接面等)。出於計算目的,所獲得電壓值亦可轉換成數位域。
在獲得電壓值之後,判定兩個電壓值之間的一差(方塊615)。然後用此差除以參考電壓(或等效數位值以用於執行數位域之計算)以判定一商數(方塊620)。然後可藉由用該商數乘以在溫度感測器之校準中所獲得之常數(方塊625)來判定感測溫度之值。
一旦完全瞭解上文之揭示內容,熟習此項技術者便將明瞭眾多變化及修改。意欲將以下申請專利範圍解釋為囊括所有此類變化及修改。
10:積體電路
15:功能電路區塊
16:功能電路區塊
17:功能電路區塊
21:溫度感測器

Claims (20)

  1. 一種用於溫度感測器校準之方法,其包括:分別基於施加至實施於一積體電路(IC)上之一第一溫度感測器之一部分之第一電壓及第二電壓來產生第一數位值及第二數位值;基於該第一數位值及該第二數位值來導出該第二電壓之一值;至少部分地基於導出自該第一數位值及該第二數位值之該第二電壓之該值來判定一常數之一初始值;基於該常數之該初始值及獨立於該第一電壓及該第二電壓之至少一個電壓偏移來判定該常數之一最終值;及在判定出該最終值之後,使用該常數來計算由該第一溫度感測器感測到之溫度。
  2. 如請求項1之方法,其進一步包括:藉由對具有N個未知變數之N個方程式之一方程組進行求解來判定該至少一個電壓偏移,其中N係一整數值;及藉由用該初始值乘以導出自該第一數位值及該第二數位值之該第二電壓之該值對該第一電壓與該至少一個電壓偏移之間的一差之一比率來判定該常數之該最終值。
  3. 如請求項1之方法,其中該第一電壓之值係一已知電壓,且其中該第二電壓之該值在導出之前係未知的。
  4. 如請求項1之方法,其中該第一電壓係自該IC外部之一源提供,且其中該第二電壓係自該IC內部之一源提供。
  5. 如請求項1之方法,其進一步包括:分別基於第三電壓及第四電壓來獲得第三數位值及第四數位值,其中該第三電壓及該第四電壓係由該溫度感測器之一帶隙電路提供。
  6. 如請求項5之方法,其進一步包括:判定該第三數位值與該第四數位值之間的一差;判定用該差除以該第二數位值之一商數;及藉由用該常數之該最終值乘以該商數來判定一溫度讀數。
  7. 如請求項5之方法,其進一步包括:該帶隙電路跨越一第一二極體接面產生該第三電壓;及該帶隙電路跨越一第二二極體接面產生該第四電壓;其中該第二二極體接面大於該第一二極體接面。
  8. 如請求項1之方法,其進一步包括:針對實施於該IC上緊密接近於該第一溫度感測器之一第二溫度感測器重複一常數之一初始值之該產生、該導出及該判定;及針對該第一溫度感測器及該第二溫度感測器中之每一者基於該至少一個電壓偏移,該至少一個電壓偏移與該第一溫度感測器相關聯,以及與該第二溫度感測器相關聯之一第二電壓偏移以判定對應常數之最終值。
  9. 如請求項1之方法,其中導出該第二電壓之該值包括用該第一電壓之值乘以該第二數位值對該第一數位值之一比率。
  10. 如請求項1之方法,其進一步包括一算數電路接收該第一數位值及該第二數位值、導出該第二電壓之該值且判定該常數之該初始值及該最終值。
  11. 一種積體電路(IC),其包括:一選擇電路,其經耦合以分別在第一輸入、第二輸入、第三輸入及第四輸入上接收第一電壓、第二電壓、第三電壓及第四電壓;一帶隙電路,其經耦合以將該第三電壓及該第四電壓提供至該選擇電路;類比轉數位轉換電路,其經組態以分別基於接收自該選擇電路之該第一電壓、該第二電壓、該第三電壓及該第四電壓來產生第一數位值、第二數位值、第三數位值及第四數位值;及算數電路,其經組態以:基於該第一數位值及該第二數位值來導出該第二電壓之一值;基於該第二電壓來判定一常數之一初始值;基於該初始值及獨立於該第一電壓及該第二電壓之一第一電壓偏移來判定該常數一最終值,該電壓偏移與包括該選擇電路、該帶隙電路、及該類比轉數位轉換電路之一第一溫度感測器相關聯;及在判定出該常數之該最終值之後,基於該第三數位值及該第四數 位值以及該常數之該最終值來判定一溫度。
  12. 如請求項11之積體電路,其中該第一電壓係自該IC外部之一源提供,其中該第一電壓之一值係已知的,其中該第二電壓之該值在由該算數電路導出之前係未知的,且其中該第二電壓係自該IC內部之一源提供。
  13. 如請求項11之積體電路,其中該帶隙電路包含經組態以產生該第一電壓之一第一二極體接面及經組態以產生該第二電壓之一第二二極體接面,其中該第二二極體接面大於該第一二極體接面。
  14. 如請求項11之積體電路,其中該算數電路經組態以藉由以下步驟來判定該溫度:計算該第三數位值與該第四數位值之間的一差;計算用該差除以該第二數位值之一商數;及藉由用該常數之該最終值乘以該商數來計算該溫度。
  15. 如請求項11之積體電路,其中該IC進一步包含與該第一溫度感測器實質上相同且緊密接近之一第二溫度感測器,且其中該算數電路進一步經組態以:判定與該第二溫度感測器相關聯之一第二電壓偏移;及針對該第一溫度感測器判定該常數之該最終值,且針對該第二溫度感測器基於該第一電壓偏移及該第二電壓偏移來判定一常數之一最終值。
  16. 如請求項11之積體電路,其進一步包括經組態以產生施加至該選擇電路之選擇信號之一控制電路,其中該控制電路經組態以致使選擇該第一輸入、該第二輸入、該第三輸入或該第四輸入中之一者。
  17. 如請求項11之積體電路,其中該算數電路經組態以藉由以下步驟來計算該溫度:計算該第三數位值與該第四數位值之間的一差;計算用該差除以該第二數位值之一商數;及藉由用該常數之該最終值乘以該商數來計算該溫度。
  18. 一種用於溫度感測器校準之方法,其包括:將一第一電壓施加至一第一溫度感測器之一部分,其中該第一電壓係自上面實施有該第一溫度感測器之一積體電路(IC)外部之一源提供,且其中該第一電壓之一值係一已知值;將一第二電壓施加至該第一溫度感測器之該部分,其中該第二電壓係自該IC上之一源提供,且其中該第二電壓之一值最初係未知的;分別基於施加該第一電壓及該第二電壓來產生第一數位值及第二數位值;基於該第一數位值及該第二數位值來導出該第二電壓之一值;基於該第二電壓之該值來計算一常數之一初始值;基於該初始值及獨立於該第一電壓及該第二電壓之至少一個電壓偏移來計算該常數之一最終值;及在判定出該最終值之後,使用該常數來計算由該第一溫度感測器感 測之溫度。
  19. 如請求項18之方法,其進一步包括:分別基於第三電壓及第四電壓而自一帶隙電路獲得第三數位值及第四數位值,其中該第三電壓及該第四電壓係跨越該帶隙電路之一第一二極體接面及一第二二極體接面而產生,且其中該第二二極體接面大於該第一二極體接面;計算該第三數位值與該第四數位值之間的一差;計算用該差除以該第二數位值之一商數;及藉由用該常數之該最終值乘以該商數來計算一溫度值。
  20. 如請求項18之方法,其進一步包括:用該第一電壓之該值乘以該第二數位值對該第一數位值之一比率以獲得該常數之該初始值;藉由對具有N個未知變數之N個方程式之一方程組進行求解來判定該至少一個電壓偏移,其中N係一整數值;及藉由用該常數之該初始值乘以該第二電壓之該值對該第一電壓與該至少一個電壓偏移之間的一差之一比率來計算該常數之該最終值。
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