TWI764379B - 光學長度量測裝置 - Google Patents

Abstract

一種利用光學方法的長度量測裝置，係包括一光源模組，用以照亮待測表面；一光學取像模組，用以將受照亮之待測表面圖案聚焦在特定成像面；一感測模組，用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號；一控制模組，可驅動光源模組並接收感測模組輸出的位移訊號，經計算後得到長度與方向之量測資訊，再將此資訊揭示於裝置的顯示模組上，或藉由無線傳輸模組將資訊傳送至外部裝置。該量測裝置所量測之物件長度不受形狀之限制，亦不受物件表面特性所影響，具有可量測立體物件線形軌跡之特點，包含直線、折線或任意曲線之長度，更可提供路徑或軌跡之方向資訊。

Description

光學長度量測裝置

本發明係關於一種量測裝置；特別關於一種可量測立體物件線形軌跡長度的裝置，該裝置係利用光學方法對待測物進行取像，經由偵測影像移動而得到位移訊號，計算出長度之量測值，並作顯示；特別是可用於直線、折線或任意曲線之長度量測，更可提供路徑或軌跡之方向資訊。

長度量測是非常基本但重要的技術，傳統的方式是採用尺規進行量測，若為硬式尺規，僅能量測平面的直線距離；若為軟式尺規，例如皮尺，雖可以量測非平面或非直線的長度，但因為尺規需與待測物貼合，故兩者間是否緊密吻合，會影響量測結果的精確與否。隨著科技的發展，利用尺規的接觸式量測方式漸漸被非接觸式的光學量測所取代，例如以計算光束飛行時間(time of flight)的雷射測距裝置，可以直接將光束照射目標處即可計算出直線距離，但是因為光束是直線前進，故這類的量測裝置通常僅能量測直線長度，無法對任何非直線之物件進行量測。

非直線物件的量測常常是工程上不可避免的需求，特別是針對具有任意外型之立體物件，表面之軌跡長度量測並不容易。雖可透過光學掃描得到物件立體外型進而分析待測物之線形軌跡長度，然而其架構 複雜，處理過程繁瑣，並不實用。例如：有利用擷取光學干涉條紋(interference fringe)，經相位還原後得到待測物之立體形貌、或以投射結構光束(structured light)，經相移(phase shift)或計算條紋變形量而得到待測物之立體形貌、更有利用視差(parallax)原理，以多個取像裝置擷取多張影像，並經三角量測原理計算出待測物之立體形貌等技術。這些方法主要是用於立體物件之三維掃描，若僅用於線形軌跡長度量測，則顯得複雜而不實用。因此，發展專用的量測工具更顯務實且必要。

為達成上述的線形軌跡長度量測目的，曾有國外研究者發展出接觸式的量測方法，利用一特定滾輪機構連結計數器，藉由滾輪繞行待測物之轉動圈數以計算出對應的長度量測值。例如揭露於2018年5月3日公告的美國專利申請案第US2018/0120081A1號即是一例，請參照「圖1」，說明習知長度量測裝置10設計滾輪11架構於筆式裝置的一端，利用裝置端點觸壓待測物件且移動裝置來帶動滾輪11之旋轉，所移動之軌跡長度可以由內部計數器計算滾輪11轉動圈數乘上滾輪圓周而得到。此技術具有量測任意物件之立體表面線形軌跡長度的特點，滾輪11可以繞行任何表面，不受直線量測之約束，只要裝置所掃過的軌跡，其路徑長度皆可被計算出來。然而，該創作之滾輪11需與待測物表面接觸方可運作，故表面特性影響量測結果甚鉅，存在若干缺點，例如，若待測物件過於光滑導致與滾輪11間摩擦力不足，則滾輪11繞行移動時發生滑行、待測物之表面粗糙度太大或起伏變化劇烈，亦可能造成與滾輪11無法緊密接觸貼合。這些情形得到的量測值無法呈現待測物的真實路徑長度，使得該創作的使用場合受到限制。此外，以滾輪11繞行的量測方式，僅能得到路徑之長度量測值，無法 提供軌跡之方向資訊。因此，為解決這些問題，採用非接觸式的量測方式，特別是採用光學架構應是可行的方法。

鑑於上述說明，已知的長度量測裝置無法量測立體物件之線形軌跡長度，雖有國外創作提出利用滾輪11架構，以繞行待測物的方法計算滾輪圓周掃過的軌跡長度值，但因滾輪11與物件接觸面間的摩擦力與表面特性等因素，該創作量測精度受使用場合所限制，且無法提供路徑或軌跡之方向資訊，因此需發展一創新的非接觸式量測架構，以解決這些問題。

本發明係關於一種量測裝置；特別關於一種可量測立體物件線形軌跡長度的裝置，該裝置係利用光學方法對待測物進行取像，經由偵測影像移動而得到位移訊號，計算出長度之量測值，並作顯示；特別是可用於直線、折線或任意曲線之長度量測，更可提供路徑或軌跡之方向資訊。

請參照「圖2」，其說明本發明利用非接觸式的光學方法設計之光學長度量測裝置20基本架構，包括一光源模組21，用以投射照明光束22照亮待測表面23；一光學取像模組24，內含一或多個光學鏡片24a，用以將受照亮之待測表面圖案因漫射(diffuse)之反射光25聚焦在特定成像面；一感測模組26，包含影像感測元件26a與影像處理元件26b，用以將光學取像模組24所會聚的圖案影像作偵測並計算影像移動之方向與位置變化量，轉換成數位訊號輸出；一控制模組27，可驅動光源模組21與感測模組26之運作，並取得感測模組26輸出的數位訊號，經計算後得到長度與方向 之量測數值，再將此數值揭示於此裝置顯示模組28上，或藉由無線傳輸模組27a(例如藍芽或Wifi等)將資訊傳送至外部裝置顯示介面29上。

請參照「圖3」，其揭露本發明長度量測之基本原理。「圖3a」說明光學長度量測裝置20最初放置於待測起始位置時，經光源模組21照亮待測表面23，表面上長度為h之圖案23a發出的圖案反射光25經光學鏡片24a在影像感測元件26a上會聚成長度為h’之實像23b，根據成像原理，該成像系統有固定的放大倍率M，

由於影像感測元件26a為二維之畫素(pixel)所組成，每個畫素長寬尺寸為已知的定值，故影像感測元件26a所偵測到之實像23b長度h’可經由成像系統之放大倍率推算出待測表面23上圖案23a之長度h值。再參照「圖3b」，該圖說明光學長度量測裝置20從起始位置相對於待測表面23向左移動L距離後的成像關係，由於圖案23a相對於光學長度量測裝置20為向右移動L距離，故實像23b在光學長度量測裝置20內之影像感測元件26a上相對地向左移動L’，L與L’之比例仍與上述之放大倍率M值相同，因此經由影像處理元件26b之分析計算，可以推導出光學長度量測裝置20之實際移動距離L。

請再參照「圖4」，該圖說明影像感測元件26a上畫素陣列26c，以及會聚在其上的實像23b之起始聚焦光點23c與移動後聚焦光點23d關係。畫素陣列26c的每一畫素長寬尺寸分別為p _x 與p _y ，聚焦兩光點23c與23d在x軸上相距n _x 個畫素(距離△x’)，y軸相距n _y 個畫素(距離△y’)，可以求出影像感測元件26a上的移動距離L’與實際量距離L分別為：

除了可以計算移動距離外，移動之方向角θ’亦可從x,y軸的移動距離計算判斷得到。

由於光學長度量測裝置20在運作時為持續移動以量測待測物長度，故影像處理元件26b需在實像23b尚未離開影像感測元件26a之感測範圍內前即分析出移動距離與方向，並重新選取新的圖案23a所對應的起始實像23b，並重複上述分析步驟，直到該長度量測任務結束。每次分析得到的長度與方向數值經由輸出端為控制模組27所接收，分析的取樣頻率可以固定，或依裝置的移動速度作改變，可透過控制模組27作聯繫與溝通。控制模組27可將接收到的移動距離值作累計，即可獲得完整路徑的實際總長度。亦可紀錄每次取樣的位移與方向角之量值，作為完整路徑的描述，可提供線形軌跡之路徑與方向分析用途。

由於上述之角度計算僅能獲得平面之移動方向，若待測物為三維物件，則平面之方向計算無法真實描述該立體軌跡與路徑，可藉由加入一方向感測元件(例如以微機電技術所製作的陀螺儀傳感器或角度計)以偵測空間方位，便可以將立體軌跡與路徑之方向資訊完整取得。

本發明效果可改善習知技術的缺點，能量測的物件長度不受形狀所限制，亦不受物件表面特性所影響，具有可量測立體物件線形軌 跡之特點，包含直線、折線或任意曲線之長度。此外，本發明更可提供線形軌跡之路徑與方向資訊，作為軌跡描繪之用途。

10:習知長度量測裝置

11:滾輪

20:光學長度量測裝置

21:光源模組

22:照明光束

23:待測表面

23a:圖案

23b:實像

23c:起始聚焦光點

23d:移動後聚焦光點

24:光學取像模組

24a:光學鏡片

25:圖案反射光

26:感測模組

26a:影像感測元件

26b:影像處理元件

26c:畫素陣列

26d:方向感測元件

27:控制模組

27a:無線傳輸模組

28:裝置顯示模組

29:外部裝置顯示介面

30:光纖耦合模組

31:光纖導光模組

32:記憶儲存模組

33:支撐及指示機構

〔圖1〕係美國專利申請案第US2018/0120081A1揭露之長度量測裝置示意圖。

〔圖2〕係本光學長度量測裝置基本架構圖。

〔圖3〕係本發明之長度量測基本原理介紹。

〔圖4〕係本發明之影像感測元件上影像位移說明。

〔圖5〕係本發明之第一實施例架構圖。

〔圖6〕係本發明之第二實施例架構圖。

〔圖7〕係本發明之第三實施例架構圖。

〔圖8〕係本發明之第四實施例架構圖。

〔圖9〕係本發明之第一實施例附加支撐及指示機構圖。

請參照「圖5」，其說明本發明之第一實施例，光學長度量測裝置20包括一光源模組21，可以是採用發光二極體(light emitting diode,LED)或雷射二極體(laser diode,LD)元件(波長可為任意值，並不受限)，搭配光學鏡片以有效收集發光元件發散之光線成為照明光束22，投射至待測表面23，並使待測表面23產生各方向之反射光，部分圖案反射光25經光學取像模組24所收集。該光學取像模組24內含一或多個光學鏡片24a，用以將受照亮之圖案反射光25聚焦在感測模組26之影像感測元件26a上面，經影像感 測元件26a之光電訊號轉換後，影像處理元件26b進行影像處理，將光學取像模組24所會聚的圖案影像作偵測並計算影像移動之方向與位置變化量，轉換成數位訊號輸出。控制模組27，可驅動光源模組21與感測模組26之運作，並取得感測模組26輸出的數位訊號，經計算後得到長度與方向之量測數值，再將此數值揭示於此裝置顯示模組28上。裝置顯示模組28可顯示經計算的長度值，或每次移動的x軸與y軸位移量及方向角度值。

請參照「圖6」，其說明本發明之第二實施例，光學長度量測裝置20包括一光源模組21，可以是採用發光二極體或雷射二極體元件(波長可為任意值，並不受限)，搭配光學鏡片以有效收集發光元件發散之光線成為照明光束22，投射至待測表面23，並使待測表面23產生各方向之反射光，部分圖案反射光25經光學取像模組24所收集。該光學取像模組24內含一或多個光學鏡片24a，用以將受照亮之圖案反射光25聚焦在感測模組26之影像感測元件26a上面，經影像感測元件26a之光電訊號轉換後，影像處理元件26b進行影像處理，將光學取像模組24所會聚的圖案影像作偵測並計算影像移動之方向與位置變化量，轉換成數位訊號輸出。控制模組27，可驅動光源模組21與感測模組26之運作，並取得感測模組26輸出的數位訊號，經計算後得到長度與方向之量測數值，再將此數值藉由無線傳輸模組27a將資訊傳送至外部裝置顯示介面29上。外部裝置顯示介面29可顯示經計算的長度值，或每次移動的x軸與y軸位移量及方向角度值。

請參照「圖7」，其說明本發明之第三實施例，光學長度量測裝置20包括一光源模組21，可以是採用發光二極體或雷射二極體元件(波長可為任意值，並不受限)，搭配光學鏡片以有效收集發光元件發散之光線 成為照明光束22，該照明光束22經由光纖耦合模組30導入光纖導光模組31內，最後投射至待測表面23，並使待測表面23產生各方向之反射光，部分圖案反射光25經光纖導光模組31之引導至光纖耦合模組30後，為光學取像模組24所收集。該光學取像模組24內含一或多個光學鏡片24a，用以將受照亮之圖案反射光25聚焦在感測模組26之影像感測元件26a上面，經影像感測元件26a之光電訊號轉換後，影像處理元件26b進行影像處理，將光學取像模組24所會聚的圖案影像作偵測並計算影像移動之方向與位置變化量，轉換成數位訊號輸出。控制模組27，可驅動光源模組21與感測模組26之運作，並取得感測模組26輸出的數位訊號，經計算後得到長度與方向之量測數值，再將此數值揭示於此裝置顯示模組28上。裝置顯示模組28可顯示經計算的長度值，或每次移動的x軸與y軸位移量及方向角度值。本實施例有別於前述第一與第二實施例，只要藉由光纖導光模組31掃描待測表面23，不須移動光學長度量測裝置20本體即可獲得量測結果。

請參照「圖8」，其說明本發明之第四實施例。本實施例主要目的是為了取得完整的三維移動方向資訊，在第一實施例之感測模組26中額外加入一方向感測元件26d，該方向感測元件26d可以偵測空間方位，並經由控制模組27的驅動，將計算出來的長度與方向資料存放於記憶儲存模組32內，並於裝置顯示模組28上作顯示。

請參照「圖9」，由於光學取像模組24之成像物距在路徑掃描之量測過程需保持定值方能使放大倍率維持不變，進而穩定量測數值之精確程度，故可在前述各實施例之光學長度量測裝置20最前端照明光束22之出光口處設計支撐及指示機構33，除可穩定光學取像模組24之物像關係 外，亦可作為路徑掃描之軌跡定位或標示，其外型可為各種形式，在此不多詳述。

雖然本發明已以較佳之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

20:光學長度量測裝置

21:光源模組

22:照明光束

23:待測表面

24:光學取像模組

24a:光學鏡片

25:圖案反射光

26:感測模組

26a:影像感測元件

26b:影像處理元件

27:控制模組

28:裝置顯示模組

Claims (10)

1. 一種利用光學方法的長度量測裝置，可以量測直線、折線或任意曲線之長度，提供軌跡方向資訊，包括：

   一光源模組，用以發出照明光束至待測表面；

   一光學取像模組，用以將受照亮之待測表面圖案聚焦在特定成像面；

   一感測模組，用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號；

   一控制模組，用以驅動光源模組及接收感測模組輸出的位移訊號，經計算後得到長度與方向資訊並作顯示；

   一裝置顯示模組，用以將控制模組計算後的長度與方向資訊作顯示。
2. 如請求項1之長度量測裝置，其光源模組內含發光元件與光學鏡片，可以有效收集發光元件發散之光線成為照明光束。
3. 如請求項1之長度量測裝置，其光學取像模組內含一個或一個以上光學鏡片，可以對待測表面之圖案產生實像成像，其物像關係可為放大或縮小倍率。
4. 如請求項1之長度量測裝置，其感測模組內含影像感測元件與影像處理元件，影像感測元件可對聚焦影像進行光電轉換，影像處理元件可對影像變化進行分析處理。
5. 如請求項1之長度量測裝置，其裝置前端照明光束之出光口處具有支撐及指示機構。
6. 一種利用光學方法的長度量測裝置，可以量測直線、折線或任意曲線之長度，提供軌跡方向資訊，包括：

   一光源模組，用以發出照明光束至待測表面；

   一光學取像模組，用以將受照亮之待測表面圖案聚焦在特定成像面；

   一感測模組，用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號；

   一控制模組，用以驅動光源模組及接收感測模組輸出的位移訊號，經計算後得到長度與方向資訊並經無線傳輸方式傳送至外部裝置介面作顯示。
7. 一種利用光學方法的長度量測裝置，可以量測直線、折線或任意曲線之長度，提供軌跡方向資訊，包括：

   一光源模組，用以發出照明光束；

   一光纖耦合及導光模組，用以將光源模組發出之照明光束引導至待測表面，並將待測表面反射光引導回來；

   一光學取像模組，用以將光纖耦合及導光模組引導回來之待測表面圖案反射光聚焦在特定成像面；

   一感測模組，用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號；

   一控制模組，用以驅動光源模組及接收感測模組輸出的位移訊號，經計算後得到長度與方向資訊並作顯示；

   一裝置顯示模組，用以將控制模組計算後的長度與方向資訊作顯示。
8. 如請求項7之長度量測裝置，其光纖耦合及導光模組內含光纖耦合模組及光纖導光模組，光纖耦合模組用以將光束耦合至光纖內，光纖導光模組用以將光束進行傳導。
9. 一種利用光學方法的長度量測裝置，可以量測直線、折線或任意曲線之長度，提供軌跡方向資訊，包括：

   一光源模組，用以發出照明光束至待測表面；

   一光學取像模組，用以將受照亮之待測表面圖案聚焦在特定成像面；

   一感測模組，用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號並偵測立體方向以得到空間方位訊號；

   一控制模組，用以驅動光源模組及接收感測模組輸出的位移與方向訊號，經計算後得到長度與方向資訊並作顯示與儲存；

   一裝置顯示模組，用以將控制模組計算後的長度與方向資訊作顯示；

   一記憶儲存模組，用以將控制模組計算後的長度與方向資訊作記憶與儲存。
10. 如請求項9之長度量測裝置，其感測模組內含影像感測元件、影像處理元件、方向感測元件，影像感測元件可對聚焦影像進行光電轉換，影像處理元件可對影像變化進行分析處理，方向感測元件可以偵測空間方位。

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