TWI747544B

TWI747544B - 觸控面板驅動裝置、觸控面板裝置

Info

Publication number: TWI747544B
Application number: TW109134632A
Authority: TW
Inventors: 藤井正規
Original assignee: 日商雙葉電子工業股份有限公司
Priority date: 2019-10-23
Filing date: 2020-10-06
Publication date: 2021-11-21
Also published as: JP2021068151A; JP7026662B2; TW202117521A

Abstract

[課題] 減少非觸控時的初期的檢測值的偏移，且正確地檢測觸控等所造成的靜電電容的變化。 [解決手段] 接收電路接收來自觸控面板的一對接收訊號線的伴隨操作的電容變化而使波形變化的各接收訊號並予以比較，以此來產生觸控面板操作監視用的檢測值。此時，對應藉由補正電壓發送電路而在掃描的過程中成為選擇狀態的一對接收訊號線，來對該一對接收訊號線以外的接收訊號線發送補正電壓。

Description

觸控面板驅動裝置、觸控面板裝置

本發明是有關於一種觸控面板驅動裝置、觸控面板裝置，特別是有關於一種觸控面板操作檢測用的技術。

有關於觸控面板已知有各種技術，在下述專利文獻1中揭示有一種感測技術，前述感測技術是藉由同時地進行2組(一對發送訊號線及一對接收訊號線)的訊號線(電極)之感測來進行觸控操作位置的檢測，以提升影像解析度。

又，在下述專利文獻2中揭示有所謂的單層方式的構造，前述構造是設成在X、Y方向的電極配線中不設置電極交叉的部分。先前技術文獻

專利文獻專利文獻1：日本特開2014-219961號公報專利文獻2：日本特開2010-182277號公報

發明欲解決之課題

在觸控面板中維持或提升感測精度是重要的。並且，為了操作之檢測，演變成要進行觸控面板的訊號線的掃描，但是對於靜電電容方式的觸控面板來說，在掃描時，會檢測到來自因應觸控操作所造成的電容變化的訊號線的訊號電壓的變化或者差分。

在此對於藉由一對接收訊號線的訊號的比較來檢測觸控操作的方式時，讓非觸控狀態下的訊號平衡就變得重要。惟，在由於接收訊號線的面板引出配線配置或配線圖樣上的位置等，使得特定部位的配線阻抗或寄生電容形成不同於周邊環境的狀態時，該外部主因在於差動檢測中的一對接收訊號線(接收電極)之間產生電位差，而有衍生訊號值的偏差的情形。如此一來便使檢測精度降低。

在此，在本發明中有一提案，即，提出一種就算在如此的情形下也能抑制檢測精度降低的技術。用以解決課題之手段

本發明之觸控面板驅動裝置是一種對觸控面板依序進行選擇鄰接的一對發送訊號線與鄰接的一對接收訊號線的掃描的觸控面板驅動裝置。並且具備：接收電路，接收來自前述觸控面板的一對接收訊號線的伴隨著操作的電容變化而使波形改變的各接收訊號並予以比較，以此產生觸控面板操作的檢測值；及補正電壓發送電路，對應於前述掃描中成為選擇狀態的一對接收訊號線，來輸出發送至該一對接收訊號線以外的接收訊號線的補正電壓。

又，本發明之觸控面板裝置藉由以上的觸控面板驅動裝置及觸控面板所構成。

在觸控面板裝置中，在一對接收訊號線中產生有非觸控時未取得平衡的狀態，因此會發生有無法做到正確的觸控檢測的情形。為了因應該情形，而構成為能對於一對接收訊號線提供接收訊號值的補正電壓。

在上述之觸控面板驅動裝置中，考慮在前述掃描的過程中，依序藉由多工器選擇一對接收訊號線，來連接到前述接收電路，並且藉由前述多工器選擇成為選擇狀態的一對接收訊號線以外的接收訊號線，來連接到前述補正電壓發送電路。

即，構成為：藉由多工器來選擇連接於接收電路的一對接收訊號線，並且對其他接收訊號線施加補正電壓。

在上述之觸控面板驅動裝置中，考慮能選擇與前述掃描中成為選擇狀態的接收訊號線鄰接的接收訊號線，來作為發送補正電壓的接收訊號線。

即，構成為在藉由掃描而選擇了一對接收訊號線時，能向鄰近其中任一條接收訊號線的接收訊號線提供補正電壓。

在上述之觸控面板驅動裝置中，考慮能選擇未與前述掃描中成為選擇狀態的接收訊號線鄰接的接收訊號線，來作為發送補正電壓的接收訊號線。

即，構成為在藉由掃描而選擇了一對接收訊號線時，能將與其中任一條接收訊號線都未鄰接的接收訊號線利用在補正電壓之施加。

在上述之觸控面板驅動裝置中，考慮能讓前述掃描中成為選擇狀態的一對接收訊號線以外的一條接收訊號線與前述一對接收訊號線的任一條短路，且對與前述一條接收訊號線不同的別條的接收訊號線發送補正電壓。

即，構成為：在藉由掃描而選擇了一對接收訊號線時，讓另一條的接收訊號線來作為選擇狀態的一對接收訊號線的其中一條作動。並且，能對一條接收訊號線，例如對鄰接的別條接收訊號線來發送補正電壓。

在上述之觸控面板驅動裝置中，考慮構成為對每個前述掃描中被選擇的一對發送訊號線及一對接收訊號線的組合，依照至少記憶有補正電壓及補正電壓發送目的地的接收訊號線的補正表，來進行補正電壓的發送。

先作成補正表，該補正表為事先進行校正，讓一對發送訊號線與一對接收訊號線之每組決定好適當的補正動作(補正電壓值及補正電壓發送目的地)。在實際操作時，依照補正表來動作。

發明效果依本發明，對選擇狀態的接收訊號線施加補正電壓，以此能對於一對接收訊號線，補正成已取得非觸控時的訊號位準的平衡的狀態。藉此，形成為在觸控檢測時會產生因應觸控的訊號位準差，能實現適當的觸控檢測動作。

用以實施發明之形態

以下，以下列順序來說明本發明的實施形態。＜1、觸控面板裝置的構成＞＜2、感測動作＞＜3、含有補正動作的感測動作＞＜4、總結及變形例＞

＜1、觸控面板裝置的構成＞在圖1顯示實施形態之觸控面板裝置1的構成例。

觸控面板裝置1在各種機器中作為使用者介面裝置而裝設。在此，所謂各種機器，能想到的是例如電子機器、通訊機器、資訊處理裝置、製造設備機器、工作機械、車輛、航空機、建築設備機器、及其他非常多樣化的領域的機器。觸控面板裝置1在這些多樣化的機器製品中作為於使用者的操作輸入上所使用的操作輸入元件而被採用。

在圖1中顯示有觸控面板裝置1與製品側MCU(微控制單元，Micro Control Unit)90，而所謂製品側MCU90是指裝設觸控面板裝置1的機器中的控制裝置。觸控面板裝置1構成為進行對製品側MCU90供給使用者的觸控面板操作之資訊的動作。

觸控面板裝置1包括：觸控面板2及觸控面板驅動裝置3。

觸控面板驅動裝置3具有：感測器IC(積體電路，Integrated Circuit)4及MCU5。

該觸控面板驅動裝置3經由觸控面板側連接端子部31而與觸控面板2連接。觸控面板驅動裝置3，透過該連接，來進行觸控面板2的驅動(感測)。

又，作為操作輸入元件而搭載於機器時，觸控面板驅動裝置3經由製品側連接端子部32來與製品側MCU90連接。觸控面板驅動裝置3藉由該連接而將所感測到的操作資訊發送至製品側MCU90。

觸控面板驅動裝置3中的感測器IC4具有發送電路41、接收電路42、多工器43、介面暫存器電路44、電源電路45及補正電壓發送電路46。

感測器IC4的發送電路41對藉由多工器43所選擇的觸控面板2中的端子輸出發送訊號。又，接收電路42從藉由多工器43所選擇的觸控面板2中的端子接收訊號，並且進行必要的比較處理等。

在圖2中示意地顯示發送電路41、接收電路42、補正電壓發送電路46、多工器43與觸控面板2的連接狀態。

觸控面板2在形成觸控面的面板平面中，配設有作為發送側的電極之n條發送訊號線21-1至21-n。

又，同樣地在面板平面中，配設有作為接收側的電極之m條接收訊號線22-1至22-m。

另，在不特別區別發送訊號線21-1、…、21-n、接收訊號線22-1、…、22-m的情況下，是統稱並表記為「發送訊號線21」、「接收訊號線22」。

發送訊號線21-1、…、21-n、與接收訊號線22-1、…、22-m，如圖所示，既有交叉配置的情形，如上述之專利文獻2所示，也有配設成不產生交叉的情形，作為所謂的單層構造。無論為何種情形，均在配設發送訊號線21與接收訊號線22的範圍內形成觸控操作面，並且形成為藉由觸控操作時的電容變化來檢測操作位置的構造。

雖然在圖中僅例示有一部分在發送訊號線21與接收訊號線22之間所產生的電容(電容C22、C23、C32、C33)，但是在觸控操作面的整體上存在有在發送訊號線21與接收訊號線22之間所產生的電容(例如交叉位置中的電容)，而形成藉由接收電路42來檢測已藉由觸控操作而產生電容變化的位置。

發送電路41對藉由多工器43所選擇的發送訊號線21-1、…、21-n輸出發送訊號。在本實施形態中，多工器43進行在各個時間點逐一選擇各2條相鄰的發送訊號線21的掃描。

接收電路42接收來自藉由多工器43所選擇的接收訊號線22-1…22-m的接收訊號。在本實施形態中，多工器43在各時間點逐一選擇各2條相鄰的接收訊號線22。

針對藉由發送電路41、接收電路42所進行的感測動作將於後文描述。

補正電壓發送電路46經由多工器43，而對所需的接收訊號線22施加補正電壓。具體來說，多工器43選擇與藉由上述的掃描而成為選擇狀態的一對接收訊號線22不同且掃描時成為非選擇狀態的接收訊號線，作為補正電壓發送目的地，並且與補正電壓發送電路46連接。

另，針對補正電壓發送電路46所進行的補正電壓施加動作等容後詳述。

回到圖1來說明。在感測器IC4的介面暫存器電路44中，是藉由MCU5將對發送電路41、多工器43、接收電路42、電源電路45及補正電壓發送電路46的各種設定資訊寫入。

發送電路41、多工器43、接收電路42、電源電路45、補正電壓發送電路46分別藉由記憶於介面暫存器電路44的設定資訊而使動作受到控制。

又，在介面暫存器電路44中，是設為可記憶藉由接收電路42所檢測的檢測值(在說明上也稱為「RAW值」)，而可以供MCU5取得。

電源電路45是產生驅動電壓AVCC，並且供給至發送電路41、接收電路42、補正電壓發送電路46。雖然將於後文描述，發送電路41是將利用了驅動電壓AVCC的脈衝，施加於多工器43所選擇的發送訊號線21。

又，接收電路42在感測動作之時，也是對藉由多工器43所選擇的接收訊號線22施加驅動電壓AVCC。

補正電壓發送電路46對藉由多工器43所選擇的接收訊號線22，施加驅動電壓AVCC。

MCU5進行感測器IC4的設定、控制。具體而言，MCU5對介面暫存器電路44寫入必要的設定資訊，以此控制感測器IC4的各部分的動作。

又，MCU5將來自接收電路42的RAW值從介面暫存器電路44讀出以取得。接著，MCU5使用RAW值來進行座標計算，並且進行將作為使用者的觸控操作位置資訊的座標值發送至製品側MCU90的處理。

在圖1中概括地顯示了RAM區域、ROM區域、非揮發性記憶區域，作為MCU5中的記憶體5a。此記憶體5a用來記憶對介面暫存器電路44提供的設定資訊。又，記憶體5a亦可將所檢測出的RAW值或者因應於此的觸控操作位置資訊的座標值，作為暫時性的記憶區域來使用。

＜2.感測動作＞說明以上的構成之由觸控面板裝置1所進行的感測動作。

首先，藉由圖3來說明發送電路41、接收電路42相對於觸控面板2的動作。在圖中是於觸控面板2中顯示有2條發送訊號線21-2、21-3、及2條接收訊號線22-2、22-3。

在本實施形態的情形下，是成為下述構成：藉由對如之前的圖2所示的發送訊號線21、接收訊號線22，讓發送電路41與接收電路42各自對每相鄰的2條逐一進行發送、接收，以進行觸控操作的檢測。亦即，將一對發送訊號線21與一對接收訊號線22之2條×2條設為基本單元(cell)，並且依序以單元單位來進行檢測掃描。在圖3中是形成為顯示有其中1個單元部分。

發送電路41是對2條發送訊號線21(在圖的情況下為21-2、21-3)，從驅動器411、412輸出驅動電壓AVCC1。亦即，將驅動器411、412的輸出即發送訊號T+、T –供給至藉由多工器43所選擇的發送訊號線21-2、21-3。

再者，驅動電壓AVCC1為圖1的電源電路45所產生的驅動電壓AVCC本身、或依據驅動電壓AVCC的電壓。

在此情況下，如圖示，發送電路41將來自驅動器411的發送訊號T+於閒置(Idle)期間中設為低位準(以下表記為「L位準」)。例如設為0V。並且，在接下來的作動(Active)期間中設為高位準(以下表記為「H位準」)。在此情況下，作為H位準的訊號具體而言是進行驅動電壓AVCC1的施加。

又，發送電路41將來自另一個驅動器412的發送訊號T–於閒置期間設為H位準(驅動電壓AVCC1的施加)，並且將接下來的作動期間設為L位準。

在此，閒置期間是讓接收訊號R+、R–的電位穩定的期間，作動期間是感測接收訊號R+、R–的電位變化的期間。

在此閒置期間、作動期間中，接收電路42是接收藉由多工器43所選擇的2個接收訊號線22(在圖的情況下為22-3、22-2)的接收訊號R+、R–。

接收電路42具備：比較器421、基準電容部422、開關423、425、測量用電容部424、及運算控制部426。

來自2個接收訊號線22的接收訊號R＋、R－在比較器421所接收。比較器421比較接收訊號R＋、R－的電位，將其比較結果以H位準或者L位準來輸出到運算控制部426。

於構成基準電容部422的電容器的一端施加了驅動電壓AVCC2。驅動電壓AVCC2為圖1的電源電路45所產生的驅動電壓AVCC本身，或者基於驅動電壓AVCC的電壓。於構成基準電容部422的電容器的另一端，經由開關423的端子Ta而連接於比較器421的+輸入端子。

又，在測量用電容部424的一端施加有驅動電壓AVCC2。此測量用電容部424的另一端經由開關425的端子Ta而連接於比較器421的–輸入端子。

開關423、425在閒置期間中選擇端子Ti。因此，在閒置期間中將比較器421的+輸入端子(接收訊號線22-3)、–輸入端子(接收訊號線22-2)進行接地連接，且接收訊號R+、R–成為接地電位。

開關423、425在作動期間中選擇端子Ta。因此，在作動期間中是對比較器421的＋輸入端子(接收訊號線22-3)、–輸入端子(接收訊號線22-2)施加驅動電壓AVCC2。

在圖3中是以實線來顯示該單元為非觸控狀態時的接收訊號R+、R–的波形。在閒置期間，讓開關423、425選擇端子Ti，藉此讓接收訊號R+、R–在某個電位(接地電位)穩定。

當到了作動期間時，讓開關423、425選擇端子Ta，以此來對接收訊號線22-3、22-2施加驅動電壓AVCC2。藉此，接收訊號R+、R–的電位為上升ΔV。在非觸控的狀態下，此ΔV的電位上升是一起發生於接收訊號R+、R–。

另一方面，在發送電路41側，當成為作動期間時，如上述，發送訊號T+上升，且發送訊號T–下降。藉此，在有觸控操作的情況下，會使接收訊號R+、R–的電位上升的程度變化。

假設對電容C22帶來影響的A1位置已被觸控時，如虛線所示，會使接收訊號R–的電位在作動期間中上升相當於ΔVH。

又，假設讓電容C32變化的A2位置已被觸控時，如虛線所示，會使接收訊號R–的電位在作動期間中上升相當於ΔVL。

像這些這樣，因應於對該單元的觸控操作位置，而讓接收訊號R-的電位變化量變得比接收訊號R+的電位變化量(ΔV)更大或更小。

比較器421是形成為對像這樣的接收訊號R+、R–進行比較。

另，雖然也可以構成為將如此變化的接收訊號R+、R–的電位差分本身作為RAW值(檢測結果)來輸出，但是在本實施形態中，接收電路42是構成為進行測量用電容部424的設定變更，以便讓運算控制部426取得接收訊號R+、R–的電壓平衡，而得到RAW值。

運算控制部426依照已寫入介面暫存器電路44的設定資訊，來進行開關423、425的開啟/關閉或者測量用電容部424的電容值的切換處理。又，監視比較器421的輸出，以後述的處理來算出RAW值。以運算控制部426所算出的RAW值被寫入介面暫存器電路44，以此構成為能讓MCU5來取得。

在以上的圖3中，以可變電容電容器的記號所表示的測量用電容部424，例如如圖4所示，藉由複數個電容部CM(CM0至CM7)與開關SW(SW0至SW7)所構成。

再者，圖4是顯示已將開關423、425連接於端子Ta的狀態(作動期間)下的等效電路，並且省略開關423、425的圖示。各電容部CM0至CM7是在驅動電壓AVCC2的電位與比較器421的–輸入端子之間並聯地連接。又，對於各電容部CM0至CM7各自串聯地連接有開關SW0至SW7。亦即，為可以藉由開關SW0至SW7的開啟/關閉，來變更對接收訊號R–帶來影響的電容部CM之構成。

又，開關SW0至SW7是各自利用例如FET(場效電晶體，Field effect transistor)等之開關元件所構成，但也有設置複數個開關元件，來作為1個開關SW。

各電容部CM0至CM7的電容值是設為例如電容部CM0＝2fF(毫微微法拉，femtofarad)、CM1＝4fF、CM2＝8fF、CM3＝16fF、CM4＝32fF、CM5＝64fF、CM6＝128fF、CM7＝256fF。

另，在圖4中，各電容部CM0至CM7分別藉由1個電容器來構成，但各電容部CM0至CM7全部或者一部分亦可構成為藉由複數個電容器所構成，且使合成電容成為上述的電容值。

電容部CM0至CM7是以位元“0”至位元“7”之8位元之值來進行選擇。電容部CM0及開關SW0是作為位元0來發揮功能，電容部CM1及開關SW1是作為位元“1”來發揮功能，…，電容部CM7及開關SW7是作為位元“7”來發揮功能。

並且，作為8位元之值可賦予0(＝「00000000」)至255(＝「11111111」)之電容設定值。電容設定值是MCU5寫入介面暫存器電路44的一個設定資訊。

在接收電路42中，因應於此8位元的電容設定值，來將開關SW0~SW7開啟/關閉。亦即，開關SW0至SW7對應的位元若為「0」時會成為關閉，若為「1」時會成為開啟。藉此，可讓測量用電容部424整體的電容值在0fF至510fF的範圍中以可分成256個階段的方式來改變。

另一方面，接收訊號R+側的基準電容部422的電容器之電容值是設為例如256fF。

如上述，接收訊號R–是根據觸控的有無及位置來改變作動期間的波形之電位上升的程度。且變得比接收訊號R+的波形上升程度(ΔV)更大或更小。

在圖4的構成中，可以藉由逐步變更測量用電容部424的電容設定值，來使接收訊號R–的波形之電位上升程度變化，並且可以找出例如成為與接收訊號R+同等的測量用電容部424的電容設定值。

例如，將圖4的接收訊號R–的虛線所示的波形Sg1設為初始狀態時，若將測量用電容部424的電容降低，接收訊號R–會如波形Sg2所示地變得比波形Sg1更小。又，若將測量用電容部424的電容增大，接收訊號R–會如波形Sg3所示地變得比波形Sg1更大。

亦即，在比較器421中接收訊號R+、R–的電壓位準成為同等時的測量用電容部424的電容設定值，是成為與相當於由觸控所造成之接收訊號R–的電壓變化之值等效。因此，一邊觀察比較器421的輸出，且一邊讓測量用電容部424的電容設定值逐步變化，來搜尋使接收訊號R+、R–的作動期間的電壓成為同等的電容設定值。如此一來，可以讓搜尋出的電容設定值成為作為觸控操作的感測資訊的RAW值。

以圖5來說明以上的感測動作的具體順序。此圖5是顯示依據MCU5已寫入介面暫存器電路44的各種設定資訊，且主要是在發送電路41、接收電路42進行的處理。

在圖5中，步驟S100至S109的環路處理是顯示對於1個單元(2條發送訊號線21與2條接收訊號線22之組)的感測之順序。另，在得到RAW值之前，電容設定值是取8個階段之不同的值(從初始狀態開始變更7次)。

在步驟S100中，首先令變數n作為初始值，而設定為n＝7。又，接收電路42根據MCU5的指示(電容設定值)，將測量用電容部424的電容值設定為256fF。亦即，設為電容設定值＝128(＝10000000)，並藉由只有位元“7”為「1」，而僅將開關SW7設為開啟。

在步驟S101中進行閒置期間的設定。

在發送電路41中，來自驅動器411的發送訊號T+是設為L位準，且發送訊號T–是設為H位準(＝驅動電壓AVCC1)。

在接收電路42中，是將開關423、425連接於端子Ti。藉此，比較器421的+輸入端子、–輸入端子是進行接地連接。

接著在步驟S102中，是藉由經過預定的期間，以進行從閒置期間至作動期間的切換。

在發送電路41中，來自驅動器411的發送訊號T+是設為H位準(＝驅動電壓AVCC1)，且來自驅動器412的發送訊號T–是設為L位準。

在接收電路42中，將開關423、425連接於端子Ta。藉此，比較器421的+輸入端子透過基準電容部422而連接於驅動電壓AVCC2，–輸入端子透過測量用電容部424而連接於驅動電壓AVCC2。

雖然當成為作動期間時，會使接收訊號R+、R–上升ΔV，但是會因發送訊號T+上升且發送訊號T–下降，以此而產生接收訊號R–的變化(上升量成為ΔVH或ΔVL)，其中前述接收訊號R–的變化是因應於對於檢測中的單元之觸控操作的有無或觸控操作位置之變化。

在步驟S103中，比較器421比較接收訊號R+、R–，並輸出比較結果。從比較器421為：若(接收訊號R+)＞(接收訊號R–)，可得到H位準輸出，若(接收訊號R＋)＜(接收訊號R–)，可得到L位準輸出。

步驟S104是因應於比較器421的輸出而將處理分開進行。

若比較器421的輸出為H位準，在步驟S105中進行測量用電容部424的電容切換。在此情況下，是在已將位元“n”的開關設為開啟的狀態下，將位元“n–1”的開關設為開啟。

到那之前如上述，在初始狀態下設為電容設定值＝「10000000」而僅將位元“7”設為開啟時，接著設為電容設定值＝「11000000」而將位元“7”與位元“6”設為開啟。亦即，將開關SW7、SW6設為開啟，使測量用電容部424的電容值成為384fF。

並且，在步驟S107中，若為變數n＞0，則在步驟S108中將變數n遞減(decrement)並且返回到步驟S101。亦即，在已將測量用電容部424的電容增大後，進行閒置期間、作動期間的動作，並確認比較器421的輸出。

又，在步驟S104中，若比較器421的輸出為L位準，則在步驟S106中進行測量用電容部424的電容切換。在此情況下，將位元“n”的開關設為關閉，並且將位元“n–1”的開關設為開啟。

若在那之前在初始狀態下設為電容設定值＝「10000000」而僅將位元“7”設為開啟時，接著是設為電容設定值＝「01000000」，而將位元“7”設為關閉，且將位元“6”設為開啟。亦即，將開關SW7設為關閉，並且將開關SW6設為開啟，使測量用電容部424的電容值成為128fF。

接著，在步驟S107中，若為變數n＞0，則在步驟S108中將變數n遞減(decrement)，並且返回到步驟S101。亦即，在已將測量用電容部424的電容變小後，進行閒置期間、作動期間的動作，並且確認比較器421的輸出。

藉由將此處理進行到成為變數n＝0為止，藉此來判定已達到接收訊號R–的作動期間的電壓值與接收訊號R+的作動期間的電壓值取得平衡時的電容設定值。

另，在變數n＝0時的步驟S105、S106中，由於位元“n–1”並不存在，因此不進行位元“n–1”的處理。

在步驟S107中已成為變數n＝0後，即前進至步驟S109，且接收電路42會算出RAW值。這會成為下述之處理：在測量用電容部424中取已成為開啟的開關SW的位元之2的乘冪的總和。例如假設在最後已設為開關SW5、SW3、SW2成為開啟後，即成為2⁵ ＋2³ ＋2² ＝44，而成為RAW值＝44。

如此求出的RAW值是透過介面暫存器電路44作為1個單元的檢測值而被MCU5所取得。

針對觸控面板2中的各單元(2條發送訊號線21與2條接收訊號線22之組)可同樣地進行圖5的處理，而求出RAW值。

MCU5是取得針對各單元的RAW值，並且進行觸控操作位置的座標計算，而將所求出的座標值發送至製品側MCU90。

另，在步驟S101中進行停止補正電壓的處理，來作為閒置期間的設定，在步驟S102中，以到達作動期間來表示進行施加補正電壓的處理。對此於後文中敘述。

在本實施形態中，藉由取接收訊號R+、R-的差分來作為如以上的感測動作，藉此可以使所取得的RAW值變得難以受到來自外部環境的影響，且可以提升觸控操作的檢測精度。

尤其是構成為在非觸控時，已取得接收訊號R+、R–的電位的平衡，並構成為藉由觸控所造成的電容變化而在接收訊號R+、R–的電位上產生差異。將此進行成使測量用電容部424的電容依序變化，並搜尋可使接收訊號R+、R–取得平衡的電容值，而從指定該電容值的電容設定值中得到RAW值。藉此，可以正確地檢測起因於藉由觸控操作所造成的電容變化之接收訊號R+、R–的差分。

另，作為從接收電路42施加驅動電壓AVCC2來對所選擇的接收訊號線22充電之理由主要有2個。

其中1個理由是觸控面板2為單層構造時的情形。在單層構造的情況下，在非觸控的狀態下，發送訊號線21與接收訊號線22之間幾乎不會產生電容。亦即，發送訊號線21與接收訊號線22之間(電極間)處於絕緣狀態。但是即使在非觸控狀態下，仍然必須設為使接收訊號波形在作動期間上升。為此而發送驅動電壓AVCC2，藉此以進行成即使是對單層的情況也對應並良好地完成上述的感測動作。

又，另1個理由並不限定於單層之情形。在上述的感測方式中，雖然是形成能觀察到已進入作動期間後的接收訊號R-的電位上升幅度之情形，但是對由發送訊號T–的下降所造成的影響也欲掌握。亦即，必須也觀測圖3中以虛線表示的ΔVL的電位上升。當作動期間中的非觸控狀態下的接收訊號R+、R–的電位為0V時，在受到下降的影響之情況下，會使接收訊號R–的電位成為負值，而成為在接收電路42中難以處理的電位。於是，設成先讓接收訊號R–的電位提高以免成為0V以下，且為了容易且適當地觀測由發送訊號T-的下降的影響所造成的接收波形的電位，因而施加有驅動電壓AVCC2。

＜3、含有補正動作的感測動作＞依據以上的基本動作，來說明包含補正動作的感測動作。

如上述，作為RAW來說，例如在“0”迄至“255”的範圍中檢測。在這情況下，將接收訊號R+側的基準電容部422設為256fF，亦即，始終固定為作為RAW值的中心值的“128”，通常，在非觸控狀態下，一對接收訊號線22的訊號值是在中心值的“128”來取得平衡的狀態。

亦即，在非觸控狀態下，如圖3、圖4中以實線所示，接收訊號R+、R–任一者都是在作動期間於發生ΔV的電位上升的狀態來取得平衡。

另一方面，由於面板引出配線配置或感測器圖樣(發送電路41及接收訊號線22的配線圖樣)的位置，也會在非觸控狀態下，有未能讓一對接收訊號線22的接收訊號值在“128”取得平衡的狀況發生的情形。

例如由於面板引出配線配置或者配線圖樣位置，而使特定部位的配線阻抗或寄生電容形成不同於周邊環境的狀態時，可以想到因為該外部主因會在於差動檢測中的一對接收訊號線(接收電極)之間產生電位差，而有衍生訊號值的偏差的情形。

並且，當該一對接收訊號線22的電位差變得極大，超過了接收訊號值的範圍，就能想到其已完全偏移而變成“0”或者“255”等範圍的最大值或最小值的狀態。

如此，在非觸控狀態的接收訊號值已偏移而接近於範圍的上限或者下限的狀態下被觸控時，在觸控所造成的訊號變化之途中，接收訊號值會到達範圍的最大值或者最小值，而無法檢測觸控當中正確的變化量。

尤其在非觸控狀態的初期當中，接收訊號值已經變成為範圍的最大值或者最小值時，就會變成即使觸控了也完全無法得到訊號的變化的狀況。

當藉由觸控操作使原本應該得到的接收訊號值的變化量由於初期狀態的偏移而不能充分得到時，變成不能對於手指的動作來獲得訊號的變化，降低了座標檢測的精度或者解析度。

該現象有大多發生在感測器圖樣的配置狀態與中心部不同的邊緣部或者角落部的單元的傾向。又，即使在匯集了引線(leading wire)的軟性電路板的鄰近單元等也會有發生的情況。

在此，在本實施形態中，為了減少或者解決由於如此的非觸控狀態下的接收訊號值有了偏移的情形所造成的不良影響，便進行補正動作，以使接收訊號值在中心值附近取得平衡。

具體來說，將與掃描時已成為選擇狀態的一對接收訊號線22不同的接收訊號線22設定為補正電壓發送通道，對該接收訊號線22施加預定的補正電壓。

此時，因為在於補正電壓發送目的地所設定的接收訊號線22與使用在掃描的一對接收訊號線22的其中一者之間存在寄生電容，所以可透過該寄生電容而對掃描中的接收訊號線22施加電壓。

如此就構成為：透過寄生電容而對掃描中的接收訊號線22施加電壓，以此取得掃描中的一對接收訊號線22中的接收訊號值R+、R–的平衡(在非觸控狀態下的平衡)。

為了實現該構成，就讓多工器43在掃描時，逐一選擇補正電壓發送目的地的接收訊號線22。

在圖6顯示一例。該圖6和前面的圖3同樣，顯示了在感測掃描中，藉由多工器43而讓一對發送訊號線21-2、21-3與一對接收訊號線22-2、22-3處於選擇狀態時的狀態。

此時，多工器43例如選擇鄰接於接收訊號線22-3的接收訊號線22-4來作為補正電壓發送目的地。

在該狀態下補正電壓發送電路46輸出補正電壓Vc，以此對接收訊號線22-4施加補正電壓Vc。接著，經由接收訊號線22-3與接收訊號線22-4之間的寄生電容Cr34，而變成將補正電壓Vc提供給接收訊號線22-3。在這情況下，補正接收訊號值R+，而能達到接收訊號值R+、R–取得平衡的狀態。

雖未圖示，在下一個單元的掃描時序，一對接收訊號線22-3、22-4成為選擇狀態，但此時，多工器43例如選擇鄰接於接收訊號線22-4的接收訊號線22-5來作為補正電壓發送目的地。在該狀態下，補正電壓發送電路46輸出補正電壓Vc，以此能對接收訊號線22-5施加補正電壓Vc，透過接收訊號線22-4與接收訊號線22-5之間的寄生電容，而將補正電壓Vc提供給接收訊號線22-4，來補正接收訊號值R+。

另，以上是說明了補正接收訊號值R+的例子，但亦可補正接收訊號值R-側。例如在圖6的掃描狀態中，多工器43例如選擇鄰接於接收訊號線22-2的接收訊號線22-1來作為補正電壓發送目的地，在該狀態下補正電壓發送電路46輸出補正電壓Vc。藉此，能透過接收訊號線22-2與接收訊號線22-1之間的寄生電容，將補正電壓Vc提供給接收訊號線22-2，來補正接收訊號值R–。

像這樣也可補正接收訊號值R+、R–任一者。依情況也可從補正電壓發送電路46輸出2個系統的補正電壓，來補正接收訊號值R+、R–兩者。在以下敘述的各例中該等的事項是同樣的。

又，補正電壓發送目的地並非限定在鄰接於掃描中選擇狀態的接收訊號線22的接收訊號線22，亦可藉由補正的位準，來選擇2條相鄰的接收訊號線22或者3條相鄰的接收訊號線22等。

例如在圖7中，與圖6同樣，顯示了在一對接收訊號線22-2、22-3處於選擇狀態時，多工器43，如以粗線所示，選擇接收訊號線22-5來作為補正電壓發送目的地的狀態。即使如此構成，亦可透過寄生電容Cr34、Cr45，來對接收訊號線22-3施加補正電壓。

又，亦可將複數條接收訊號線22作為補正電壓發送目的地。例如在圖7中以虛線所示，將接收訊號線22-4、22-5作為補正電壓發送目的地。

在這情況下，亦可將補正電壓Vc提供給掃描中的接收訊號線22-3。

因此構成為將補正電壓發送目的地的接收訊號線22設定為何者，或者設定為幾條，藉此也都能調整對於接收訊號值R+或者接收訊號值R-的補正電壓量。

又，雖想把鄰接於掃描中的一對接收訊號線22的接收訊號線22當作為補正電壓發送目的地，但是也會有不能將鄰接的接收訊號線22作為補正電壓發送目的地的情形，或者不存在鄰接的接收訊號線22的情形。

例如，圖8顯示在面板端部的單元掃描時，藉由掃描而使接收訊號線22-1、22-2處於選擇狀態的情形。另，在該圖8中，亦顯示著在構成掃描中的單元的發送訊號線21-2、21-3與接收訊號線22-1、22-2之間所產生的電容C21、C22、C31、C32。

此時，對於接收訊號線22-1，就算想要提供補正電壓Vc，也不存在鄰接的接收訊號線22。

在此使用2條在掃描而未成為選擇狀態的接收訊號線22。在圖8中，例如顯示使用接收訊號線22-6、22-7的例子。

多工器43例如將接收訊號線22-6設定為與掃描中的接收訊號線22-1相同的接收通道。藉此，使接收訊號線22-1、22-6電性短路。

其次，令鄰接於接收訊號線22-6的接收訊號線22-7設定為補正電壓發送目的地，並施加來自補正電壓發送電路46的補正電壓Vc。

此時，透過接收訊號線22-6、22-7之間的寄生電容Cr67，對接收訊號線22-6(及接收訊號線22-1)施加補正電壓，而補正接收訊號值R+。

另，當然此時，補正電壓發送目的地不是鄰接於接收訊號線22-6，亦可為旁邊的另一條的接收訊號線22，亦可為複數條接收訊號線22。

如以上的例子，補正非觸控狀態中的接收訊號值(R+或者R–)，藉此可以確保接收訊號值R+、R–在中心值“128”附近取得平衡的狀態，能正確地檢測觸控所得到的接收訊號值變化量。

藉此，可準確地獲得隨著觸控時的手指的動作所得到的訊號的變化，可確保座標計算檢測的精度(準確性，accuracy)或者座標解析度。

可是如上的補正動作必須因應於各單元來執行。這是因為依單元的不同，訊號取得平衡或者未取得平衡的狀況各有不同，又非平衡的量也是不同的緣故。

在此，觸控面板裝置1的面板製造後的調整步驟中，進行校準(calibration)，產生適於各單元的補正動作資訊，先作好補正表。

圖9顯示補正表的例子。

例如在補正表中，依照各個單元(一對發送訊號線21與一對接收訊號線22的組合)之每一個來記憶藉由校準所決定的適當的資訊，作為補正有無、補正電壓、發送目的地訊號線、補正對象、短路訊號線之各項目。

在圖9中，以各單元來說，使用發送訊號線21及接收訊號線22的符號，表示該等的組合。

因此，圖9的第1個顯示發送訊號線21-1、21-2、接收訊號線22-1、22-2之組合的單元的補正資訊，第2個成為發送訊號線21-1、21-2、接收訊號線22-2、22-3之組合的單元的補正資訊。

補正有無的資訊，例如為顯示針對單元是否須要補正的旗標。在原本觸控時已取得訊號平衡的單元，就不需要補正動作，因此成為表示不要補正的單元的資訊。

補正電壓的資訊是顯示對應該單元，從補正電壓發送電路46輸出的補正電壓值。例如構成為能以發送電路41之驅動電壓AVCC1為基準，設定為1倍、1/2倍、1/4倍等。

發送目的地訊號線的資訊為顯示作為補正電壓發送目的地的1條或者複數條的接收訊號線22。例如記憶使用相對於掃描中的接收訊號線22而鄰接的接收訊號線22、進行在1條中相鄰的接收訊號線22，或者，又，複數條之接收訊號線22等的設定。

補正對象的資訊為要把接收訊號值R+、R–之哪一者(或者兩者)作為補正對象的資訊。

短路訊號線的資訊，如圖8所示，在進行補正電壓的施加時，為顯示對掃描中的接收訊號線22短路的接收訊號線22的資訊。

例如，如此的補正表藉由校準而設定，並記憶於MCU5的記憶體5a。

該補正表被轉送至介面暫存器電路44，來作為感測動作的1個設定資訊。

接著，在掃描時，對每一個掃描中的單元，補正電壓發送電路46因應於補正電壓的資訊，輸出補正電壓Vc，又，多工器43因應於補正電壓發送目的地或短路訊號線的資訊來逐一切換連接狀態。

圖10顯示從感測掃描開始的感測器IC4的處理的流程。

步驟S201顯示一對發送訊號線21的選擇處理。基於預定的列選擇時序訊號，讓多工器43選擇一對發送訊號線21。

步驟S202顯示一對接收訊號線22的選擇處理。基於預定的行選擇時序訊號，讓多工器43選擇一對接收訊號線22。

在以上的步驟S201、S202中選擇1個單元。

在步驟S203，進行因應於補正表的處理。具體來說，針對在掃描中已成為選擇中的單元，基於補正表中的補正有無的資訊，來判定是否要補正，如果要補正時，在補正表中確認針對該單元的補正電壓Vc的值，設定在補正電壓發送電路46。

進而，基於補正表的發送目的地線的資訊，在多工器43中進行補正電壓發送目的地的連接設定。並且，也有基於短路訊號線的資訊的連接設定在多工器43中進行的情形。

以上的說明是構成為針對須進行補正的單元，被設定為感測時進行補正電壓之施加的狀態。

在步驟S204，進行發送電路41及接收電路42的感測處理。這是在圖5說明的處理。

在此，在進行補正時，在圖5的步驟S102中進行補正電壓的施加。即，補正電壓發送電路46輸出補正電壓Vc。

因此，在作動期間中，於已施加補正電壓Vc的狀態下，進行步驟S103的接收訊號值R+、R–的比較。

然後，經過步驟S107、S108而再返回到步驟S101時，即，進入閒置期間時，停止補正電壓發送電路46之補正電壓的輸出。

另，補正電壓Vc亦可讓該單元在掃描中，即，從圖5的步驟S107迄至S109的時點為止持續輸出。

但是，在閒置期間中，如上述，讓接收訊號值R＋、R－成為接地位準，沒有補正電壓Vc的施加所得到的效果，因此如上述，能想到在閒置期間中停止，以此可減少消耗電力。

在圖10的步驟S204中，如圖5所示，當對於1個單元的感測結束時，進入圖10的步驟S205。

接著，這次的單元若不是行掃描的最終組合時，也就是說，若非接收訊號線22-(m-1)、22-m的組合時，返回到步驟S202，前進至下一組合的感測。例如，若這次的單元是接收訊號線22-1、22-2的組合時，則在步驟S202中選擇接收訊號線22-2、22-3的組合，作為下一個單元(此時，發送訊號線21和前一個單元相同，為2條)。

又，這次的單元若為行掃描的最終組合(接收訊號線22-(m-1)、22-m的組合)時，前進至步驟S206，判定掃描是否已結束，若為繼續時，返回到步驟S201，前進至下一組合的感測。

例如，這次的單元若是發送訊號線21-1、21-2的組合時，在步驟S201中，選擇發送訊號線21-2、21-3與接收訊號線22-1、22-2的組合，作為下一個單元。

以上處理反復進行直到成為感測結束(例如觸控面板裝置1的電源關閉)為止。

因此，基於補正表，只針對必須補正的單元，進行補正電壓值或補正電壓發送目的地的連接設定，以進行必要的補正。也就是說，對每一單元來執行因應各單元的接收訊號值R+、R–的平衡用的補正。

＜4、總結及變形例＞依以上的實施形態之觸控面板裝置1或者觸控面板驅動裝置3，就能獲得如下的效果。

實施形態之觸控面板驅動裝置3是一種如下的觸控面板驅動裝置，即，對於觸控面板2而依序進行選擇鄰接的一對發送訊號線21及鄰接的一對接收訊號線22的掃描。並且，接收電路42接收藉由來自觸控面板2的一對接收訊號線22的伴隨著操作的電容變化而使波形變化的各接收訊號R+、R–並予以比較，以此來產生觸控面板操作的檢測值(RAW值)。

進而，觸控面板驅動裝置3具備補正電壓發送電路46，補正電壓發送電路46對應於在掃描的過程中成為選擇狀態的一對接收訊號線22，來輸出發送至該一對接收訊號線22以外的接收訊號線22的補正電壓Vc。

即，在掃描過程中依序逐一選擇一對接收訊號線22，在選擇了某一對接收訊號線22時，把補正電壓施加在掃描中並非選擇狀態的接收訊號線22。藉此，構成為可以透過寄生電容而朝選擇狀態的接收訊號線22施加補正電壓，成為選擇狀態的一對接收訊號線22所得到的接收訊號R+、R–取得位準平衡的狀態。藉此，在接收電路42中，能正確地比較接收訊號R+、R–，來產生檢測值。

因此，能提供以座標檢測精度或者解析度的點來說為精度高的觸控面板裝置1。

並且，亦無須變更接收電路42的構成或者檢測處理方式。

又，就算接收訊號值R+、R–的平衡有了偏移時，也無須變更感測器圖樣或者配線等的觸控面板2側的硬體設計，且能利用感測器IC4的功能來進行補正。

在實施形態中，在掃描的過程當中依序藉由多工器43來選擇一對接收訊號線22，而連接到接收電路42，並且構成為藉由多工器43選擇成為選擇狀態的一對接收訊號線以外的接收訊號線任一者，作為補正電壓發送目的地，來連接到補正電壓發送電路46。

多工器43構成為在感測器IC4之中，能對全部的發送訊號線21及接收訊號線22任意地設定發送及接收，藉此來進行發送訊號線21及接收訊號線22掃描用的選擇。使用該多工器43，構成為對於施加補正電壓的接收訊號線22也能選擇，以此就不會造成接收訊號線22-1至22-n的配線的變更或者複雜化，且能構成為補正電壓的施加。

在實施形態中，構成為可選擇鄰接於在掃描中成為選擇狀態的接收訊號線22的接收訊號線22，作為發送補正電壓的接收訊號線22(參照圖6)。

藉此，透過鄰接訊號線之間的寄生電容，能有效率地提供補正電壓。

又，在實施形態中，也舉了一個例子，即，如圖7所示，使用未鄰接於藉由掃描而處於選擇狀態的一對接收訊號線22的接收訊號線22，來施加補正電壓。

分成：如圖6所示，對鄰接的接收訊號線22施加補正電壓的情形，以及如圖7所示，對不鄰接的接收訊號線22施加補正電壓的情形來實施，以此能對每單元(一對發送訊號線21及一對接收訊號線22的組合)來調整補正效果。也就是說，能實現因應於單元的不同，而一對接收訊號線22的非平衡情況有所不同的情形的補正。

又，也能對複數條接收訊號線22進行補正電壓的施加，透過進行補正電壓施加的接收訊號線的數量，也能實現補正效果的調整。

藉由使用多工器43，可對每單元，輕易地實現發送該等補正電壓Vc的接收訊號線22的選擇或者數量的設定多樣化。

藉由該等構成，可藉由施加補正電壓的訊號線選擇來調整補正效果，以此可減少補正電壓發送電路46產生的補正電壓值的種類，也能帶來簡化電路構成。

另，補正電壓Vc的電壓值以驅動電壓AVCC1為基準而設為1倍、1/2倍、1/4倍等，當然亦可更多階段性地變更。

或者，亦可將補正電壓Vc的電壓值固定，如上述，藉由發送補正電壓Vc的接收訊號線22的選擇或數量的設定，來調整補正位準。尤其是如圖7所示，當選擇性地使用未鄰接於藉由掃描而處於選擇狀態的一對接收訊號線22的接收訊號線22，來施加補正電壓Vc，就算補正電壓Vc本身是以驅動電壓AVCC1為基準的1倍、1/2倍、1/4倍等，亦可更加細微地調整實際施加的補正電壓量。

在實施形態中，構成了以下形態，即，讓掃描中成為選擇狀態的一對接收訊號線22以外的一條接收訊號線22與選擇狀態的一對接收訊號線22的任一條短路，且對與一條接收訊號線22不同的另外別條接收訊號線22發送補正電壓Vc(參考圖8)。

藉此，可以使用與藉由掃描而呈選擇狀態的一對接收訊號線22間隔的接收訊號線22，來進行補正電壓施加。例如就算是像在不能選擇鄰接於一對接收訊號線22的接收訊號線22作為補正電壓發送目的地(或者不存在)的時候，亦能進行補正。

在實施形態中，構成了以下形態，即，對於每個藉由掃描所選擇的一對發送訊號線21與一對接收訊號線22的組合，依照補正電壓與記憶有補正電壓發送目的地的接收訊號線(發送目的地訊號線)的補正表，來進行補正電壓的發送。

藉此，來實現因應每單元(一對發送訊號線21與一對接收訊號線22的組合)的非平衡狀況、或者補正的必要與否、配線位置等的適當補正。

具體來說，補正電壓發送電路46以各單元的時序來輸出已藉補正表來指定的電壓值，多工器43以各單元的時序來選擇已藉補正表來指定的發送目的地的接收訊號線22時即可，能以負荷較小的處理來實現因應各單元的補正動作。

另，在實施形態的觸控面板裝置1中，說明了進行實際上觸控面板表面的觸控操作的形態，但本發明亦包括進行與觸控同等的操作，即對應於所謂懸停感測(hover sensing；非接觸式接近操作)的觸控面板裝置，此時，與上述同樣地亦可適用補正動作。即，在本發明及實施形態中所提到的「觸控」亦包括非接觸接近操作狀態。

又，實施形態的構成或者動作只是一個例子。本發明能想到其他各式各樣的構成例、動作例。

接收電路42或者測量用電容部424不限於圖3所示的構成。

接收電路42及補正電壓發送電路46構成為經由共通的多工器43而與接收訊號線22連接，但亦可構成為各自以獨立的切換電路來切換對於接收訊號線22的連接狀態。

1:觸控面板裝置 2:觸控面板 21,21-1,…,21-m:發送訊號線 22,22-1,...,22-n:接收訊號線 3:觸控面板驅動裝置 31:觸控面板側連接端子部 32:製品側連接端子部 4:感測器IC 41:發送電路 411,412:驅動器 42:接收電路 421:比較器 422:基準電容部 423,425:開關 424:測量用電容部 426:運算控制部 43:多工器 44:介面暫存器電路 45:電源電路 451:充電幫浦電路 452:LDO 453:DAC 46:補正電壓發送電路 5:MCU 5a:記憶體 70:基準電壓產生電路 71:差動放大器 72,74:可變電阻部 73:電阻 75:緩衝放大器 90:製品側MCU A1,A2:位置 AVCC:驅動電壓 C22,C23,C32,C33:電容 CM0至CM7:電容部 Cr34,Cr45,Cr67:寄生電容 R+,R–:接收訊號值 S100至S109:步驟 Sg1,Sg2,Sg3:波形 SW0至SW7:開關 Ta,Ti:端子 T+,T–:發送訊號 V:電壓 Vc:補正電壓

圖1是本發明之實施形態之觸控面板裝置的方塊圖。圖2是實施形態之觸控面板的訊號線構造的說明圖。圖3是實施形態的感測動作的說明圖。圖4是實施形態的測量用電容部的說明圖。圖5是實施形態的感測動作順序的流程圖。圖6是實施形態的對鄰接訊號線的補正電壓發送的說明圖。圖7是實施形態的對非鄰接訊號之補正電壓發送的說明圖。圖8是實施形態的非鄰接訊號線的短路及補正電壓發送的說明圖。圖9是實施形態的補正表的說明圖。圖10是包含實施形態的補正動作的感測處理的流程圖。

2:觸控面板

21-2,21-3:發送訊號線

22-1,22-2,22-3,22-4,22-5,22-6:接收訊號線

41:發送電路

421:比較器

43:多工器

46:補正電壓發送電路

C22,C23,C32,C33:電容

Cr34:寄生電容

R+,R-:接收訊號值

Vc:補正電壓

Claims

一種觸控面板驅動裝置，對觸控面板依序進行選擇鄰接的一對發送訊號線與鄰接的一對接收訊號線的掃描，前述觸控面板驅動裝置具備：接收電路，接收來自前述觸控面板的前述一對接收訊號線的伴隨著操作的電容變化而使波形改變的各接收訊號並予以比較，以此產生觸控面板操作的檢測值；及補正電壓發送電路，對應於前述掃描中成為選擇狀態的前述一對接收訊號線，來輸出發送至該一對接收訊號線以外的接收訊號線的補正電壓。
如請求項1之觸控面板驅動裝置，其中在前述掃描的過程中，依序藉由多工器選擇前述一對接收訊號線，來連接到前述接收電路，並且藉由前述多工器選擇成為前述選擇狀態的前述一對接收訊號線以外的前述接收訊號線，來連接到前述補正電壓發送電路。
如請求項1或2之觸控面板驅動裝置，其構成為能選擇與前述掃描中成為前述選擇狀態的前述接收訊號線鄰接的接收訊號線，來作為發送前述補正電壓的前述接收訊號線。
如請求項1或2之觸控面板驅動裝置，其構成為能選擇未與前述掃描中成為前述選擇狀態的前述接收訊號線鄰接的接收訊號線，來作為發送前述補正電壓的前述接收訊號線。
如請求項1或2之觸控面板驅動裝置，其構成為能讓前述掃描中成為前述選擇狀態的前述一對接收訊號線以外的一條接收訊號線與前述一對接收訊號線的任一條短路，且對與前述一條接收訊號線不同的別條的接收訊號線發送前述補正電壓。
如請求項1或2之觸控面板驅動裝置，其構成為對每個前述掃描中被選擇的前述一對發送訊號線及前述一對接收訊號線的組合，依照至少記憶有前述補正電壓及補正電壓發送目的地的前述接收訊號線的補正表，來進行前述補正電壓的發送。
一種觸控面板裝置，包含有：觸控面板；及觸控面板驅動裝置，對前述觸控面板依序進行選擇鄰接的一對發送訊號線與鄰接的一對接收訊號線的掃描；前述觸控面板驅動裝置具備：接收電路，接收來自前述觸控面板的前述一對接收訊號線的伴隨著操作的電容變化而使波形改變的各接收訊號並予以比較，以此產生觸控面板操作的檢測值；及補正電壓發送電路，對應於前述掃描中成為選擇狀態的前述一對接收訊號線，來輸出發送至該一對接收訊號線以外的接收訊號線的補正電壓。