TWI743646B - 一種導光柱影像的處理方法與裝置 - Google Patents

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Abstract

一種導光柱影像的處理方法與裝置，包含：藉由處理器對一導光柱設計模組進行光學模擬運算以產生對應該導光柱設計模組之第一影像；藉由該處理器根據一輝度分析指令產生對應於第一影像的輝度分析圖；依據輝度分析圖以及複數個光學參數產生第二影像；識別該第二影像中是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據該第二影像修正該導光柱設計模組。

Description

一種導光柱影像的處理方法與裝置
本揭示文件係關於一種影像處理方法與裝置，且特別是關於一種導光柱影像的處理方法與裝置。
由於近年智慧型家電以及電競產品的崛起，視覺效果的需求大幅提升，如何更有效驗證導光柱的設計也越來越重要。
傳統上，導光柱設計在經過光學模擬軟體進行模擬的初步分析後，便由實際製作的模型進行實品缺陷的確認，最後再透過模具品於量產前再次確認方能大量生產。在現有技術中，一般導光柱設計製圖後透過光學模擬軟體出來的分析結果皆以照度分析為依據，因此，常常與實際成品具有差異性。此部分的差異性或是設計上的缺陷需要藉由後續實際模型的製作才能發現，造成整體設計與驗證的時間與成本的增加。
為了解決上述問題，本揭示文件的一些實施例 提供一種導光柱影像的處理方法，其包含：藉由處理器對導光柱設計模組進行光學模擬運算，以產生對應該導光柱設計模組之第一影像；藉由該處理器根據一輝度分析指令產生對應於該第一影像的輝度分析圖：依據該輝度分析圖以及複數個光學參數產生第二影像；識別該第二影像中是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據該第二影像修正該導光柱設計模組。
本揭示文件的另一些實施例提供一種導光柱影像的處理裝置，包含：記憶體以及處理器。記憶體用以儲存導光柱設計模組、輝度分析指令與複數個光學參數。處理器耦接至記憶體並用以：存取記憶體中之導光柱設計模組，並產生對應導光柱設計模組之第一影像；對第一影像執行輝度分析指令以產生輝度分析圖；依據輝度分析圖以及複數個光學參數產生第二影像；識別第二影像中是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據第二影像修正導光柱設計模組。
藉由上述導光柱影像的處理方法能有效減少導光柱整體設計與驗證的時間與成本。
100:影像處理裝置
110:處理器
120:輸入輸出介面(I/O介面)
130:匯流排
140:記憶體
150:指令庫
152:照度分析指令
154:輝度分析指令
160:光學參數
170:導光柱設計模組
200:導光柱影像的處理方法
S201、S202、S203、S204、S205、S206、S207、S208、S209、S210:流程步驟
310:第二影像
311:暗區
320:第三影像
321:暗區
為了讓揭示文件之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的影像處理裝置的示意圖。
第2圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的導光柱影像的處理方法的流程圖。
第3圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的導光柱影像的示意圖。
下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本揭示內容所涵蓋的範圍，而結構運作之描述非用以限制其執行之順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本揭示內容所涵蓋的範圍。此外，圖式僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。為使便於理解，下述說明中相同元件將以相同之符號標示來說明。
關於本文中所使用之『第一』、『第二』、...等，並非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本揭示內容，其僅僅是為了區別以相同技術用語描述的元件或操作而已。
第1圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的影像處理裝置100的示意圖。影像處理裝置100包括處理器110、輸入輸出介面(I/O介面)120、匯流排130以及記憶體140。處理器110、I/O介面120以及記憶體140可藉由匯流排130彼此通訊耦接，藉此協同操作。舉例來說，處理器110可透過匯流排130讀取並執行記憶體140中儲存的程式或指令。此外，I/O介面120可用以作為資料或指令輸入及/或輸出的介面，以供外部的一或多個輸入/輸出裝置(如： 滑鼠、鍵盤、觸控螢幕...等)透過匯流排130傳送或接收指令。
在一些實施例中，處理器110可以由中央處理器(CPU)、微處理器(MCU)或其他合適的處理器來實現。
在一些實施例中，匯流排130可為任何類型的若干匯流排架構中的一或多者，該等匯流排架構包括記憶體匯流排或記憶體控制器、周邊匯流排、視訊匯流排或其他合適的匯流排。
在一些實施例中，記憶體140可包含任何類型的系統記憶體，諸如靜態隨機存取記憶體(static random access memory；SRAM)、動態隨機存取記憶體(dynamic random access memory；DRAM)，或唯讀記憶體(read-only memory；ROM)。
在一些實施例中，記憶體140用以儲存一指令庫150、光學參數160以及導光柱設計模組170。指令庫150包含多組光學模擬分析指令，且在一些實施例中，指令庫150包含照度分析指令152和輝度分析指令154。在一些實施例中，儲存輝度分析指令154的影像處理裝置100係載有程式軟體TracePro，以供處理器110執行輝度分析指令154而產生對應的輝度分析圖，但本揭示內容並不限於此種程式軟體。光學參數160包含亮度、對比度與伽瑪值(gamma)、對比度、亮度、彩度、補償值等等。
在操作上，處理器110可透過匯流排130讀取記憶體140並執行照度分析指令152和輝度分析指令154，以進行對應的運算或處理。另外，由於記憶體140儲存有光學參數160，因此使用者能透過I/O介面120輸入或調整上述光學參數。
在一些實施例中，導光柱設計模組170可預先儲存於記憶體140中，亦可於操作時透過I/O介面120及匯流排130再導入或輸入至記憶體140中儲存。在一些實施例中，導光柱設計模組170包含諸如工程製圖AutoCAD和Pro/ENGINEER所繪製的三維立體模組。在另一些實施例中，導光柱設計模組係根據產品工業設計的外型與內部構造來設計，而其所對應的導光柱的外型、截面積尺寸、彎曲角度以及材質等特徵或參數均會影響該導光柱設計模組的完成度。
影像處理裝置100的實施例可包括其他元件。例如，影像處理裝置100可包括電源、電纜、母板、可移除儲存媒體、外殼等等。儘管未示出，該等其他元件亦可視為影像處理裝置100的一部分。
第2圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的導光柱影像的處理方法200的流程圖。如第2圖所示，處理方法200包含步驟S201、步驟S202、步驟S203、步驟S204、步驟S205、步驟S206、步驟S207、步驟S208、步驟S209以及步驟S210。以下為方便及清楚說明起見，第2圖所示的處理方法200係參照第1圖來做說明，但不以其為 限。
參照第2圖，處理器110對導光柱設計模組170進行光學模擬運算，以產生對應之第一影像(步驟S201)。在一些實施例中，於步驟S201前，處理器110可先藉由匯流排130存取記憶體140中的導光柱設計模組170。在一些實施例中，使用者可透過I/O介面120調整導光柱設計模組170，藉此調整導光柱設計模組170所對應的導光柱的觀測面，並由處理器110對導光柱設計模組170進行光學模擬運算，以產生在該觀測面上導光柱設計模組170所對應的第一影像。
接著，處理器110透過匯流排130存取記憶體140中指令庫150所儲存的照度分析指令152，並根據照度分析指令152運算產生對應於第一影像的照度分析圖(步驟S202)。上述照度分析圖為一全彩分析圖，使用者可透過I/O介面120選擇對該照度分析圖進行調整，例如對解析度、漸變色彩、著色方式、均勻度或是其他參數的調整。
然後，識別照度分析圖(步驟S203)並判斷照度分析圖中是否存在影像缺陷(步驟S204)。若存在影像缺陷，則依據照度分析圖來修正導光柱設計模組170(步驟S205)中對應的光學缺陷，並由處理器110根據修正後的導光柱設計模組170重新產生對應的第一影像。
在一些實施例中，可透過照度分析圖中的色彩分佈來識別導光柱設計模組170的光學缺陷，例如在照度分析圖中色彩越接近紅色代表越亮而越接近藍色則代表越 暗。舉例來說，導光柱設計模組170中具有多個定位柱，該些定位柱位置佈置不妥當可能會導致後續所完成的導光柱亮度分佈不均勻，進而造成較差的視覺效果。因此，該些佈置不妥當的定位柱位置會在照度分析圖中顯示出偏藍色區域。
回到步驟S204，若影像缺陷不存在，處理器110透過匯流排130存取記憶體140中指令庫150所儲存的輝度分析指令154，並根據該輝度分析指令154運算產生對應於第一影像的輝度分析圖(步驟S206)。舉例來說，使用者可在I/O介面120設定一觀測角度與視野大小，使得處理器110執行輝度分析指令154時能夠運算處理得到在該觀測角度下該視野中每一像素對應的輝度值，並藉由每一像素對應的輝度值從而得出輝度分析圖。在不同實施例中，使用者可藉由設定不同的觀測角度來改變該視野中每一像素對應的輝度值從而產生不同的輝度分析圖。
請一併參照第2圖與第3圖，第3圖為根據本文揭示的一些實施例所繪示的導光柱影像300的示意圖。處理器110依據上述所產生的輝度分析圖並調整光學參數160以產生第二影像310(步驟S207)。在一些實施例中，處理器110除了依據輝度分析圖更調整了光學參數160的目的是為了讓第二影像中的每一個像素的輝度值的差異放大，以更接近肉眼所看到的狀態，並且可以讓第二影像310中出現的影像缺陷更為明顯。所述光學參數160可以例如是伽瑪值為60、對比度為0.9及亮度為0.9，但本揭示內容部以此為限， 光學參數160可以根據不同的環境和不同的產品來設定。
如第3圖所示，在一些實施例中，第二影像310係藉由TracePro軟體中仿真渲染(Photorealistic rendering)的渲染功能所產生。對於散射光學系統來說，仿真渲染能彌補輝度分析圖完全使用逆向追跡而導致效率較差的缺點。因此，第二影像310更能完整模擬出實際導光柱設計模組的樣貌。
接續步驟S207，識別第二影像310(步驟S208)並判斷影像缺陷是否存在(步驟S209)，若影像缺陷存在，則回到步驟S205進行修改導光柱設計模組170中對應的光學缺陷，諸如移動導光柱設計模組170中的多個定位柱的位置等。如第3圖所示，第二影像310中具有影像缺陷如多個暗區311，其中這些暗區311對應於依據導光柱設計模組170所產生的導光柱的光學缺陷。
在一些實施例中，第二影像310中的影像缺陷係由使用者來進行識別。在不同實施例中，對應影像中的影像缺陷亦可由相關的影像識別裝置(未繪示)來進行識別。
在一些實施例中，處理器110比對照度分析圖和第二影像310，並藉由判斷影像中顏色的趨勢以識別第二影像310中的影像缺陷，其中所述影像缺陷包含因為導光柱設計模組170結構設計的缺陷而造成的影像暗區。舉例來說，處理器110先找出照度分析圖中顏色均勻的部分，再判斷此部分在第二影像310中的顏色是否均勻，若是，處理器110判斷第二影像310中不存在影像缺陷；若否，處理器110 判斷第二影像310中存在影像缺陷。
回到步驟S209，若該影像缺陷不存在，則判斷導光柱設計模組170並不存在結構上的缺陷，而結束此導光柱影像的處理方法200(步驟S210)。
在一些實施例中，對應於步驟S209判斷影像缺陷是否存在的步驟，上述方法200可更包含判斷影像缺陷是否可以被清楚識別(亦即存在影像缺陷，但過於模糊)。若該影像缺陷無法被清楚識別，調整光學參數160，並藉由處理器110依據輝度分析圖與重新調整後的光學參數160產生第三影像320。如第3圖所示，其中第三影像320亦包含多個暗區321，這些暗區321同樣對應於依據導光柱設計模組170所產生的導光柱的光學缺陷，且暗區321較暗區311更為明顯。因此，在一些實施例中，若存在於對應影像310中的影像缺陷(如：暗區311的位置)無法被清楚識別，則可藉由在TracePro軟體中仿真渲染(Photorealistic rendering)的渲染功能中調整第二影像310的亮度、對比度或是伽瑪值，進而產生第三影像320，使得第三影像320的暗區321更容易被識別。
在一些不同實施例中，照度分析的相關步驟S202、步驟S203以及步驟S204可以被省略。舉例來說，接續步驟S201後，處理器110根據該輝度分析指令154運算產生對應於第一影像的輝度分析圖(步驟S206)並根據光學參數160產生與之對應的第二影像310(步驟S207)。
雖然本揭示內容已以實施方式揭露如上，然其並 非用以限定本揭示內容，任何本領域具通常知識者，在不脫離本揭示內容之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本揭示內容之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
200‧‧‧導光柱影像的處理方法
S201、S202、S203、S204、S205、S206、S207、S208、S209、S210‧‧‧導光柱影像的處理方法的流程步驟

Claims (10)

  1. 一種導光柱影像的處理方法，包含：藉由一處理器對一導光柱設計模組進行一光學模擬運算，以產生對應該導光柱設計模組之一第一影像；藉由該處理器對該第一影像執行一輝度分析指令以產生一輝度分析圖；依據該輝度分析圖以及複數個光學參數產生一第二影像；識別該第二影像中是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據該第二影像修正該導光柱設計模組。
  2. 如請求項1所述的導光柱影像的處理方法，其中識別該第二影像中的影像缺陷的步驟包含：識別該第二影像中對應該導光柱設計模組之光學缺陷的多個暗區。
  3. 如請求項1所述的導光柱影像的處理方法，在藉由該處理器對該第一影像執行該輝度分析指令以產生該輝度分析圖的步驟前更包含：藉由該處理器對該第一影像執行一照度分析指令以產生一照度分析圖；識別該照度分析圖是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據該照度分析圖修正該導光柱設 計模組，並產生對應於修正後之該導光柱設計模組之該第一影像。
  4. 如請求項3所述的導光柱影像的處理方法，其中識別該第二影像中是否存在影像缺陷更包含：比對該第二影像和該照度分析圖；以及依據該第二影像中顏色的趨勢以及該照度分析圖中顏色的趨勢識別第二影像中的影像缺陷。
  5. 如請求項1所述的導光柱影像的處理方法，其中在藉由該處理器對該第一影像執行該輝度分析指令以產生該輝度分析圖的步驟前更包含：藉由該處理器對該第一影像執行一照度分析指令以產生一照度分析圖；識別該照度分析圖是否存在影像缺陷；以及若該照度分析圖不存在影像缺陷時，藉由一影像處理裝置處理該第一影像。
  6. 如請求項1所述的導光柱影像的處理方法，更包含：當該第二影像中的影像缺陷無法被識別時，進一步調整該些光學參數；依據該輝度分析圖以及調整後之該些光學參數產生一第三影像；以及識別該第三影像中的影像缺陷。
  7. 如請求項1所述的導光柱影像的處理方法，其中該些光學參數包含亮度、對比度及伽瑪值。
  8. 一種影像處理裝置，包含：一記憶體，用以儲存一導光柱設計模組、一輝度分析指令與複數個光學參數；以及一處理器，耦接該記憶體，並用以：存取該記憶體中之該導光柱設計模組，並產生對應該導光柱設計模組之一第一影像；對該第一影像執行該輝度分析指令，以產生一輝度分析圖；依據該輝度分析圖以及該記憶體中之該些光學參數產生一第二影像；識別該第二影像中是否存在影像缺陷；以及若存在影像缺陷，依據該第二影像修正該導光柱設計模組。
  9. 如請求項8所述的影像處理裝置，其中該記憶體中更包含一照度分析指令，該處理器更用以：對該第一影像執行該照度分析指令，以產生一照度分析圖；識別該照度分析圖是否存在影像缺陷；以及 若存在影像缺陷，依據該照度分析圖修正該導光柱設計模組，並產生對應於修正後之該導光柱設計模組之該第一影像。
  10. 如請求項8所述的影像處理裝置，其中該影像處理裝置更包含：一輸入輸出介面，用以經操作以調整該記憶體中所儲存的該些光學參數，其中該些光學參數包含亮度、對比度及伽瑪值。
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