TWI742595B - 漫射光測試站 - Google Patents

漫射光測試站 Download PDF

Info

Publication number
TWI742595B
TWI742595B TW109111282A TW109111282A TWI742595B TW I742595 B TWI742595 B TW I742595B TW 109111282 A TW109111282 A TW 109111282A TW 109111282 A TW109111282 A TW 109111282A TW I742595 B TWI742595 B TW I742595B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
optical receiver
light
receiver assembly
light source
assembly
Prior art date
Application number
TW109111282A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202102889A (zh
Inventor
琛 盧
馬修 湯馬斯 萊恩哈特
家 王
麥可 夏岡
Original Assignee
美商威摩有限責任公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 美商威摩有限責任公司 filed Critical 美商威摩有限責任公司
Publication of TW202102889A publication Critical patent/TW202102889A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI742595B publication Critical patent/TWI742595B/zh

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0238Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor or optical parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0411Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0437Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using masks, aperture plates, spatial light modulators, spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0488Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B43/00Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

本發明揭示用於一漫射光測試站之方法、系統及裝置。在一態樣中,該漫射光測試站包含:一照明總成,其包含:一空間延伸光源;及一或多個光學元件,其或其等經配置以將來自該空間延伸光源之一光束沿一光學路徑導引至一光學接收器總成,該光學接收器總成包含經構形以接納一透鏡模組及將該透鏡模組定位於該拋物面鏡下游之該光學路徑中,使得該透鏡模組將來自該空間延伸光源之該光束聚焦至一影像平面之一透鏡插座;及一可移動框架,其支撐該光學接收器總成,該可移動框架包含一或多個可調整對準載台以相對於該照明總成定位該光學接收器總成,使得該照明總成之該光學路徑在該光學接收器總成之一視野內。

Description

漫射光測試站
本說明書係關於攝影機之漫射光效能。漫射光通常係指一光學系統中之不需要的光且通常負面影響系統效能。例如,在攝影機系統中,漫射光可減小系統之感測器中之一信雜比及/或可減小對比率。在涉及使用光學系統來監測戶外環境的許多應用中,太陽係漫射光之一重要來源。
本說明書描述有關用以特徵化漫射光條件下之一攝影機之效能之一漫射光測試站之技術。
一般而言,本說明書中所描述之標的之一新穎態樣可體現在一種漫射光測試裝置中,該裝置包含:一照明總成,其包含:一空間延伸光源;及一或多個光學元件,其或其等經配置以將來自該空間延伸光源之一光束沿一光學路徑導引,其中該照明總成包含配置於該光學路徑中之一拋物面鏡,且其中該拋物面鏡處之該光束之一直徑大於該拋物面鏡之一橫向尺寸。該漫射光測試裝置亦包含一光學接收器總成,該光學接收器總成包含經構形以接納一透鏡模組及將該透鏡模組定位於該拋物面鏡下游之該光學路徑中,使得該透鏡模組將來自該空間延伸光源之該光束聚焦至一 影像平面之一透鏡插座。一可移動框架支撐該光學接收器總成,其中該可移動框架包含一或多個可調整對準載台,且其中該等可調整對準載台相對於該照明總成定位該光學接收器總成,使得該照明總成之該光學路徑在該光學接收器總成之一視野內。
此態樣之其他實施例包含在電腦儲存器件上編碼之經組態以執行方法之動作之對應方法及電腦程式。
此等及其他實施例可各視情況包含以下特徵之一或多者。該拋物面鏡可為一偏軸式拋物面鏡,其中該偏軸式拋物面鏡偏軸達至少30°度、至少60°度或至少90°度。該光學接收器總成之感測器可為(例如)一互補金屬氧化物半導體(CMOS)攝影機。在一些實施方案中,該等可調整對準載台可在一或多個維度上調整以在一角度範圍內定位該光學接收器總成。該透鏡插座可為用以將該透鏡模組固持在適當位置之一加壓夾具(compression fixture)。在一些實施方案中,該一或多個光學元件進一步包含一或多個中性密度濾光器。
在一些實施方案中,該光學接收器總成包含經構形以接納一攝影機模組及將該攝影機模組定位於該拋物面鏡下游之該光學路徑中,使得來自該照明總成之該光束聚焦至該攝影機模組處之一影像平面。
在一些實施方案中,來自該空間延伸光源之該光束變跡,從而形成跨一直徑之一均勻光束。該空間延伸光源可在一角度範圍內可調整,且可具有一0.5°度角範圍。允許來自該照明總成之該光束(例如)在該光學接收器總成之一漫射光測試期間到達該光學接收器總成。
在一些實施方案中,該漫射光測試站進一步包含與該照明總成及該光學接收器總成資料通信且可操作以執行執行一漫射光測試之該 等操作之一控制單元。
一般而言,本說明書中所描述之標的之另一新穎態樣可體現在用於判定一光學接收器總成之漫射光效能之方法中,該方法包含:使用一或多個可調整對準載台對準在包含一拋物面鏡之一照明總成下游之一光學路徑中之該光學接收器總成,其中對準該光學接收器總成包含將來自該照明總成之一空間延伸光源之一光束聚焦至該光學接收器總成之一感測器之一影像平面;自多個不同光強度選擇該空間延伸光源之一第一光強度;使該光學接收器總成曝露於該第一光強度下之來自該空間延伸光源之光;當使該光學接收器總成曝露於該第一光強度下之光時,藉由該光學接收器總成之該感測器擷取影像資料;及基於經擷取之影像資料判定該光學接收器總成之效能度量。
此等及其他實施例可各視情況包含以下特徵之一或多者。在一些實施方案中,判定該光學接收器總成之漫射光效能進一步包含判定該光學接收器總成之一視野內之該空間延伸光源之多個入射角下之該光學接收器總成之漫射光效能。
在一些實施方案中,選擇來自該空間延伸光源之多個光強度之該第一光強度包含使用一中性密度濾光器使來自該空間延伸光源之該光束衰減。
可實施本說明書中所描述之標的之特定實施例以實現以下優點之一或多者。本技術之一優點係其可用於校準包含一透鏡及(若干)感測器(例如,一CMOS感測器)之一攝影機總成之漫射光效能。特定言之,攝影機總成之效能可藉由使用無限之一空間延伸源照明攝影機總成以(例如)模擬太陽、高光束或類似者之照明條件而在漫射光條件下量測。裝置 可用於模擬攝影機在其等之下由各種不同光源(例如,一高強度光源(如太陽)、一紅外源、一超光譜源等等)照明之條件。模擬各種漫射光照明條件可助於開發(例如)攝影機總成之一拒斥比以在包含漫射光源之曝光條件下改良攝影機效能。一漫射光測試站可係可調整的以接納各種透鏡類型以適應(例如)來自不同製造商之不同形狀之透鏡之快速評估。
在附圖及以下描述中闡述本說明書中所描述之標的之一或多個實施例之細節。標的之其他特徵、態樣及優點將自描述、圖式及技術方案變得顯而易見。
100:方塊圖
102:照明總成
103:聚焦光學器件
104:光學元件
106:光束
108:光學路徑
110:拋物面鏡
112:直徑
114:橫向尺寸
116:光圈
118:濾光器
120:光源
122:液體光導管
200:方塊圖
202:光學接收器總成
204:透鏡插座
205:透鏡模組
206:光束
207:視野
208:光學路徑
210:影像平面
212:感測器
214:透鏡夾具
215:可移動框架
216a:可調整對準載台
216b:可調整對準載台
218:支撐件
300:方塊圖
302:漫射光測試站
304:外殼
306:照明總成
308:光學接收器總成
310:偏軸式拋物面(OAP)鏡
312:光束
314:光學路徑
316:視野
318a:可調整對準載台
318b:可調整對準載台
320:入射角
322:感測器
324:距離
326:控制器
327:控制指令
328:資料收集模組
330:成像資料
332:透鏡模組
400:示意圖
402:光學接收器總成
404:透鏡插座
405:透鏡模組
406:透鏡夾具
407:長度
408:感測器
409:內徑
410:光束
412:光學路徑
414:可移動框架
416a:可調整對準載台
416b:可調整對準載台
418:支撐件
500:實例
502:透鏡夾具
504:附接點
506:透鏡插座
508:透鏡蓋
510:透鏡模組
512:加壓螺釘
514:鉸鏈
516:內徑
518:內表面
520:外表面
602a:光學接收器總成
602b:光學接收器總成
604a:透鏡模組
604b:透鏡模組
606a:透鏡插座
606b:透鏡插座
607:鏡筒長度
608:鏡筒
609:內徑
610:套筒
611:長度
612:印刷電路板(PCB)基座
613a:透鏡夾具
613b:透鏡夾具
614:感測器
615:內徑
616:內徑
617:外徑
700:程序
702:步驟
704:步驟
706:步驟
708:步驟
710:步驟
712:步驟
圖1係一漫射光測試站之一照明總成之一實例之一方塊圖。
圖2係漫射光測試站之一接收總成之一實例之一方塊圖。
圖3係漫射光測試站之一實例之一方塊圖。
圖4係漫射光測試站之光學接收器總成之一實例之一示意圖。
圖5係光學接收器總成之一透鏡夾具之一實例之一示意圖。
圖6係光學接收器總成之實例之示意圖。
圖7係用於使用漫射光測試站執行一漫射光測試之一實例性程序之一流程圖。
相關申請案之交叉參考
本申請案係關於2019年4月2日申請之美國專利申請案第16/373,437號(代理人檔案號碼44027-0032001)。美國專利申請案第16/373,437號之全部內容係以引用的方式併入本文中。
概述
本專利申請案之技術係用於在漫射光條件下特徵化一攝影機之效能之一漫射光測試站。技術利用無限成像之一空間延伸光源來量測攝影機上之漫射光效應且產生攝影機之一拒斥比。
更特定言之,技術併入一空間延伸光源以特徵化一攝影機之漫射光效能以模擬(例如)當太陽或另一高強度光源落入攝影機之視野內時攝影機之操作。可在一範圍內(例如,0.1°度至5°度)選擇空間延伸光源之一角範圍。例如,可選擇空間延伸光源之角範圍以模擬當太陽落入攝影機之視野內時,例如,可選擇0.5°度之一角範圍以模擬當自地球觀看時太陽之角範圍。
測試站包含:一光源,其包含一高強度燈(例如,一6500k源、一紅外850nm源、超光譜源等等);一偏軸式拋物面鏡;及兩個旋轉載台,其等用以調整空間延伸光源在攝影機處之一入射角。光源經組態使得自光源發射之光束過度照射(overfill)攝影機之透鏡以確保光束之均勻性及降低邊緣效應。另外,偏軸式拋物面鏡可經配置以適應其方向高度不平行於攝影機之光學軸之來自光源之一光束,其中拋物面鏡可大於15°度偏軸(例如,30°或以上、60°或以上或諸如90°偏軸)。
可在使用各種中性密度(ND)濾光器來衰減延伸光源的情況下使用漫射光測試站藉由量測延伸光源對於攝影機感測器(例如,一CMOS感測器)之效能之影響而判定拒斥比。延伸光源對於攝影機感測器 之效能之影響可藉由一量測度量分類為(例如)來自光源之一中心點之光之一擴散。在一些實施方案中,來自光源之中心點之光之擴散可特徵化為來自光源之中心點之光之一徑向擴散。
漫射光測試站
圖1係一漫射光測試站之一照明總成102之一實例之一方塊圖100。照明總成102包含塑形及/或過濾來自光源之光以呈現無限之一空間延伸光源至一測試中光學系統之光學元件104。光學元件104包含一液體光導管122以自一光源120接收光,且將一光束106自光源沿一光學路徑108導引至包含測試中光學系統之一接收器總成。
光學元件104額外包含將自光導管122發射之光聚焦至由一光圈116提供之一孔徑之一聚焦光學器件103(例如,一透鏡)。光束106在由一拋物面鏡110(其亦朝向接收器總成反射光束)準直之前自光圈116發散。拋物面鏡110定位於其中拋物面鏡110處之光束106之一直徑112大於拋物面鏡110之一橫向尺寸114之一點處之發散光束中。因此,光束106過度照射拋物面鏡110,該拋物面鏡110用以藉由僅朝向接收器總成導引光束之中央部分而使光束變跡。結果係,照明總成102跨其整個直徑遞送實質上均勻強度之一準直光束至接收器總成,從而從接收器總成之一成像系統之角度呈現至接收器總成之無限之一空間延伸光源。例如,在離開照明總成之光束之直徑可在自約1mm至約100mm(例如,自約1mm至約50mm、自約1mm至約20mm、自約1mm至約10mm、自約1mm至約5mm)之範圍內之情況中。在一些實例中,光束直徑係38.1mm(1.5吋)。離開照明總成102之光束之強度可跨其直徑變動達小於50%(例如,達30%或更少、達20%或更少、達10%或更少、達5%或更少)。
拋物面鏡可具有一焦距範圍,其中焦距可部分地取決於來自光源及光學元件104之入射光之一角度以及光學元件104與拋物面鏡110之間的一距離。選擇拋物面鏡110之焦距,使得來自光源及光學元件104之一扇光過度照射拋物面鏡之一孔徑。拋物面鏡110之焦距可在(例如)自3吋至15吋之範圍內。在一實例中,一光束直徑係1.5吋且拋物面鏡之一焦距係6吋。在另一實例中,一光束直徑係3吋且拋物面鏡之一焦距係12吋。
拋物面鏡110可為一偏軸式拋物面(OAP)鏡。例如,對應於鏡之表面形狀之拋物線之對稱軸不與通過對稱軸上之鏡之焦點之一中心射線同軸。一OAP鏡自對稱軸移位之程度可藉由自鏡反射之前及之後由中心射線對向之角度特徵化。OAP鏡110可偏軸達15°或更多(例如,30°或更多、60°或更多,諸如90°偏軸)。另外,光圈116可定位於OAP鏡110之焦點處。
一般而言,部分地基於使用漫射光測試站測試之光之一波長範圍選擇各自光學元件104之材料。例如,可對於450nm至20μm、350nm至750nm可見波長及/或針對近紅外波長之650nm至1050nm之一寬頻之最佳效能選擇光學元件104。
光學元件104額外包含介於光圈116與鏡110之間的(若干)濾光器118。在一些實施方案中,光圈116係一固定光圈以設定經由一光導(例如,液體光導管122)自一光源120離開之光束106之一點大小。在一實例中,光圈116具有由以下判定之一直徑d=2ftan 0.25°d=2ftan 0.25° (1)
其中d係光圈之直徑且f係拋物面鏡110之焦距。光圈之直 徑d可在(例如)自1mm至10mm之範圍內。在一些實施方案中,光圈之直徑係可調整的,使得光圈之直徑d可在一漫射光測試程序期間調整。
濾光器118係用以更改所傳輸之光之一光學濾光器。濾光器118可為(例如)一中性密度(ND)濾光器、一帶通濾光器、一干涉濾光器、一二色濾光器、一吸收濾光器等等。在一些實施方案中,多個濾光器118被包含於一可調整濾光輪中,其中多個濾光器118之一特定濾光器118可定位於光束106之一路徑內。在一實例中,可選擇多個ND濾光器118(例如,具有各自光學密度(OD)0、1、2、3、4、5及6之ND濾光器),使得可調整光束106以具有一光輸出強度範圍內之可變強度。
一般而言,選擇光源120以提供具有適於模擬測試中之光學系統之漫射光源之一光譜組成及強度之光。寬頻、窄頻或單色源可行。在一些實施例中,光源120可為(例如)一發光二極體(LED)寬光譜源(例如,具有6500K或更暖,例如,2700K至3000K、3500K至4100K或5000K至6500K之一色溫)、一氙氣燈、一紅外850nm源、一超光譜源或類似者。
其他變動亦可行。例如,儘管一液體光導管122將光束106自光源120導引至光學元件104,但可使用其他光導。例如,在一些實施方案中,光束106可經由一光纖束自光源120導引。液體光導管122可相對於光學元件104定位,使得來自光束106之光錐過度照射拋物面鏡110。在特定實施方案中,自由空間光學器件用於將來自光源之光導引至光學元件104。在特定實施方案中,光源120定位為鄰近於光學元件104,使得來自光源120之光束106被導引至光學元件104。
在一些實施方案中,多個光源120可被包含於照明總成102 中,其中一或多個液體光導管122可經定位以將來自多個光源120之一各自光源120之光引導至光學元件104。例如,一照明總成102可包含一6500k LED光源及一紅外850nm光源,其中各光源具有可係互換的以將一選定光源120沿光學路徑108導引至光學元件中之一各自液體光導管122。一光源120可為超光譜光源,例如,包含一波長範圍(例如,用於特徵化一波長範圍(例如,近紅外至紫外波長)內之一攝影機模組及/或透鏡總成之效能)之一多LED光源。
照明總成102可提供沿光學路徑108之直徑在自25mm至100mm之範圍內之一光束寬度之無限之一空間延伸光源。可使用光學元件104引導無限之空間延伸光源以沿光學路徑108將一光束106導引至漫射光測試站之一光學接收器總成,如下文參考圖2所描述。
圖2係漫射光測試站之一光學接收器總成202之一實例之一方塊圖200。光學接收器總成202包含可經調適以接納一透鏡模組205且定位透鏡模組205,使得透鏡模組將一光束206沿光學路徑208聚焦至一影像平面210之一透鏡插座204。影像平面210可對應於一感測器212,其中感測器212擷取聚焦至影像平面210上之光束206之一二維(2D)影像。感測器212可為(例如)一互補金屬氧化物半導體(CMOS)感測器、一電荷耦合器件(CCD)感測器、一光電倍增管或一光電二極體。
光學接收器總成202可利用來自照明總成之光束206之天然發散而非使用光學組件以塑形照明總成之拋物面鏡上游之光束206。光束206在光學接收器總成202處之角光束發散之量部分地取決於延伸源之一角範圍(例如,±0.25°度),其中一角光束發散範圍取決於如由方程式(1)判定之焦距f及光圈直徑d。
光學接收器總成202包含當透鏡模組205由透鏡插座204接納時保持透鏡模組205之一透鏡夾具214。透鏡夾具214包含部分地基於使用漫射光測試站測試之透鏡模組205之尺寸而選擇之多個尺寸(例如,一長度及一內徑)。下文參考圖6討論透鏡插座204之進一步細節。
透鏡夾具214可為一加壓夾具,以將透鏡模組205固持在適當位置且允許光學接收器總成202中之透鏡模組205容易插入及移除。透鏡夾具214包含部分地基於使用漫射光測試站測試之透鏡模組205的尺寸而選擇的多個尺寸(例如,一窗之一內徑、一加壓螺釘之一長度)。參考圖5描述透鏡夾具214之進一步細節。
儘管參考圖2被描繪為一透鏡插座204之單獨組件以接納一透鏡模組205及一感測器212,但光學接收器總成202可替代地包含接納一攝影機模組且將該攝影機模組沿光學路徑208定位於光束206中,使得光束206聚焦至該攝影機模組處之一影像平面之一可調整插座。一攝影機模組可包含一經組裝透鏡及感測器器件,其中該攝影機模組之透鏡經附接至感測器以將一光束206聚焦至該攝影機模組中之感測器的成像平面上。
可部分地基於製造之容易性、與透鏡模組205之材料之相容性,及/或減少漫射光效應來選擇被包含於光學接收器總成中之元件(例如,透鏡插座204及透鏡夾具214)的材料。材料可包含金屬(例如,鋁或鋼)及塑膠(例如,縮醛材料)。被包含於光學接收器總成中之元件可經塗佈有一塗料或類似物質(例如,一無光黑塗料層)或具有一黑色陽極氧化表面(例如,黑色陽極氧化鋁)以減少漫射光效應。
光學接收器總成202包含支撐漫射光測試站中之光學接收器總成202之一可移動框架215。可移動框架215包含一或多個可調整對準 載台216a、216b。可調整對準載台216a、216b可由一支撐件218(例如,一L狀托架、一角托架或類似者)彼此附接。
可調整對準載台216a、216b相對於沿來自照明總成(例如,來自圖1之照明總成102)之光學路徑208之一光束206定位光學接收器總成202。使用可調整對準載台216a、216b定位光學接收器總成202,使得光學路徑208在光學接收器總成202之視野內。可調整對準載台216a、216b可為(例如)旋轉對準載台、俯仰/傾斜對準載台、平移XYZ載台,或提供多個自由度之移動以相對於光學路徑208定位光學接收器總成202之另一類似載台。可調整對準載台216a及216b係可獨立於彼此調整,且可提供偏轉及滾轉以改變光學路徑208至透鏡模組205之入射角。
在一些實施方案中,支撐光學接收器總成202之可移動框架215可(例如)藉由調整光學接收器總成相對於透鏡模組205之視野207內之光學路徑208之位置而在一入射角範圍內調整。入射角範圍可為(例如)相對於透鏡模組205之一垂直軸線及/或一水平軸線之±90°度。入射角範圍可由透鏡模組205之一視野界定。一特定入射角範圍可部分地取決於透鏡模組205之一視野。例如,透鏡模組205可為一廣角透鏡模組,使得漫射光條件下之透鏡模組205及感測器212之效能需要在一入射角範圍內的測試(例如,其中廣角透鏡模組之一視野係180°度)。在一些實施方案中,包含可調整對準載台216a、216b之可移動框架215係可由操作電動對準載台之一控制單元定位之電動對準載台。電動對準載台可包含各種馬達,例如壓電馬達、伺服馬達、線性馬達、步進馬達或類似者。
圖3係漫射光測試站302之一實例之一方塊圖300。一外殼304涵蓋照明總成306(例如,圖1中所描述之照明總成102)及光學接收器 總成308(例如,圖2中所描述之光學接收器總成202)。外殼304可由金屬(例如,鋁、鋼等等)或塑膠材料製成且可塗佈有一非反射或低反射率層(例如,無光黑塗料)。外殼304可完全圍封漫射光測試站302以減少來自周圍光之曝光至一臨限以下(例如,減少周圍光至90%以下)。
如圖3中所描繪,照明總成306及光學接收器總成308相對於彼此依一90°度角配置,其中照明總成306之OAP鏡310係一90°偏軸。照明總成306及光學接收器總成308可替代地藉由利用具有一不同偏軸角(例如,15°度或以上偏軸)之一OAP鏡310依相對於彼此之一不同角度(例如,依大於15°度之一角度)定位。
光束312由OAP鏡310沿光學路徑314自照明總成306導引至光學接收器總成308之一視野316中。可調整對準載台318a、318b可用於調整光學路徑314相對於光學接收器總成308之一入射角320(例如,調整光學接收器總成308之透鏡模組或攝影機模組上之空間延伸光源之一入射角320)。
光學接收器總成308之感測器322(例如,圖2中所描述之學接收器總成202之感測器212)可依與拋物面鏡310相距之一距離324沿光學路徑314定位,使得照明總成306之拋物面鏡310之一徑向角範圍在10-4及10-5之一漫射光光暈內。距離324隨拋物面鏡310之直徑按比例調整,例如,距離324可在0.5米至3米之範圍內。在一實例中,經選擇以達成10-4及10-5之一漫射光光暈之拋物面鏡310之角範圍小於1.5°度。在一實例中,感測器322定位於與拋物面鏡310相距900mm之一距離324處,使得拋物面鏡310之角範圍係1.2°度。
部分地取決於拋物面鏡310與光學接收器總成308之間的一 距離324,由照明總成306提供之無限之空間延伸源可具有自0.1°度至5°度之範圍內之一角範圍。在一實例中,拋物面鏡310與光學接收器總成308之間的一距離324使得無限之空間延伸源具有0.5°度之一角範圍。
在一些實施方案中,距離324可由可調整對準載台318a、318b調整。在一實例中,光學接收器總成308可藉由對準載台318b之一平移移動進一步遠離或靠近拋物面鏡310。
漫射光測試站302包含操作照明總成306之光源(例如,可控制光源之一強度、打開/關閉光源及類似者)之一控制器326。控制器326可額外控制漫射光測試站302之自動化功能性,包含(例如)一自動化濾光輪選擇一濾光器(例如,濾光器118)及/或藉由操作電動可調整對準載台318a、318b而調整光學接收器總成308之一對準。
在一些實施方案中,控制器326包含一資料收集模組328。資料收集模組328可與光學接收器總成之感測器322或一攝影機模組資料通信以自光學接收器總成308之感測器322接收成像資料330。例如,成像資料330可為如由感測器322在感測器322之成像平面處收集之光束312之二維影像。控制器326及資料收集模組328可為可提供控制指令327及記錄與漫射光測試系統302有關之細節之一電腦、行動器件(例如,行動電話、平板電腦或類似者)或類似者之子組件。
在一些實施方案中,控制器326包含用以自資料收集模組328接收所收集之成像資料及判定透鏡模組332(例如,光學接收器總成308之透鏡模組205、感測器322或一攝影機模組)之效能度量之一漫射光測試應用。下文參考圖7進一步詳細討論判定效能度量。
圖4係漫射光測試站之光學接收器總成402之一實例之一示 意圖400。如上文參考圖2中所描繪之光學接收器總成202所描述,光學接收器總成402包含一透鏡插座404以接納由一透鏡夾具406固持在適當位置之一透鏡模組405。選擇透鏡插座404之尺寸(例如,一長度407)以將透鏡模組405定位為與感測器408相距一距離,使得沿來自照明總成之光學路徑412之一光束410聚焦於感測器408之一影像平面處。
光學接收器總成402額外包含一可移動框架414,該可移動框架414包含由一支撐件418附接之可調整對準載台416a、416b。可調整對準載台416a及416b可為一相同類型之對準載台(例如,兩者均係旋轉載台)或各為一不同類型之對準載台(例如,其中416a係一旋轉載台而416b係一平移XYZ載台)。在一實例中,對準載台416a及416b係控制光學接收器總成402之一偏轉及滾轉及控制透鏡模組405處之光束410之一入射角之旋轉載台。
儘管框架414在圖4中被描繪為具有兩個可調整對準載台416a及416b,但框架414可包含更多或更少可調整對準載台(例如,一對準載台或三個對準載台)以調整光學接收器總成402相對於光學路徑412及照明總成之一位置。
圖5係光學接收器總成(例如,光學接收器總成202及光學接收器總成402)之一透鏡夾具502之一實例500之一示意圖。透鏡夾具502包含至透鏡插座506之附接點504。透鏡夾具502包含由一加壓螺釘512抵靠一透鏡模組510加壓以將透鏡模組510固持為固定在透鏡插座506內之一透鏡蓋508。透鏡蓋508可自縮醛材料或另一塑膠製造(例如,研磨)以減少對透鏡模組510之損壞且具有重複使用下之改良磨損性質。可選擇加壓螺釘512以防止透鏡蓋508在透鏡模組510上方之過度擰緊以減少歸因於透鏡 模組510之扭曲之透鏡模組510之色差。加壓螺釘512可包含(例如)一低扭矩不銹鋼M3螺桿端或另一類似材料及螺紋數及用於將透鏡蓋508擰緊於透鏡模組510上方之一相容螺母。
透鏡蓋508附接至一鉸鏈514,其中透鏡蓋508可在鉸鏈514上自一敞開位置(以(例如)接納一透鏡模組510)樞轉至一閉合位置(以(例如)將透鏡模組510固定在適當位置)。在一實例中,鉸鏈514允許透鏡蓋508相對於透鏡插座506中之經安裝透鏡模組510之一表面樞轉達90°度或以上。可將透鏡蓋508之一內徑516部分地選擇為大於透鏡模組510之輸入孔徑之外徑且可使內徑516、409在(例如)5mm至100mm之直徑範圍內。透鏡蓋508之一內表面518在圖5中被描繪為與透鏡模組510之一外表面520齊平放置之一扁平圓盤。在一些實施方案中,透鏡蓋508可包含一擴孔或另一表面特徵(例如,一加襯墊特徵)以容納透鏡模組510之一位置。
在一些實施方案中,透鏡夾具502包含一或多個調整點以相對於一感測器(例如,感測器408)之一位置沿透鏡模組之光學軸移動透鏡模組510。透鏡夾具502之一或多個調整點可用於使透鏡模組510之一後焦距與一感測器位置對準。
圖6係光學接收器總成602a、602b之實例之示意圖,其中各光學接收器總成602a、602b經構形以接納一各自透鏡模組604a及604b。透鏡模組604a、604b可各具有不同操作及物理特性(例如,焦距、物理尺寸、視野等等)。透鏡模組之物理尺寸可包含透鏡模組之一鏡筒長度、跨透鏡模組之鏡筒長度之透鏡模組之多個直徑、不同螺紋或其他附接機構。透鏡模組直徑可在(例如)14.9mm與50mm之間變動。透鏡模組之 總長度可在(例如)48mm與91.5mm之間變動。透鏡模組之一視野可在(例如)±90°度變動以界定一半球視野。
在一些實施方案中,透鏡模組可具有小於14.9mm或大於50mm之直徑以及小於48mm或大於91.5mm之長度。漫射光測試站可係可調整的以(例如)藉由調整感測器(例如,感測器212)在對準載台(例如,對準載台216a)上之一固定位置而接納變化大小及變化焦距之透鏡模組。
各透鏡模組604a、604b之不同操作及物理特性可分別需要不同透鏡插座606a及606b,使得各透鏡模組604a及604b可由各自透鏡插座容納於光學接收器總成中。透鏡插座606a及606b可各包含多個組件,例如,鏡筒608、套筒610及印刷電路板(PCB)基座612。光學接收器總成602a、602b額外包含透鏡夾具613(例如,圖5中所描述之透鏡夾具502)。可選擇透鏡插座606a、606b及透鏡夾具613a、613b之多個組件之各者以適應安裝至光學接收器總成602a、602b中之各自透鏡模組604a、604b之操作及物理特性。
為了討論的清楚起見,此處更詳細討論包含透鏡插座606a及透鏡夾具613a之組件之光學接收器總成602a之細節,其中所提供之細節可適用於透鏡插座606b且更一般而言適用於包含安裝至光學接收器總成中之一給定透鏡模組之一透鏡插座及透鏡夾具之一給定光學接收器總成。
選擇鏡筒608及套筒610以部分地基於透鏡模組604a之特定實體及操作特性而包含於光學接收器總成602a中。可選擇鏡筒608、套筒610及PCB基座612之尺寸(包含長度607、611、內徑及外徑609、615、617、及安裝附件)以相對於光學接收器總成602a定位透鏡模組604a,使 得當透鏡模組604a安裝於光學接收器總成602a中時,透鏡模組604a之成像平面與一感測器614重疊。
選擇鏡筒608及套筒610之尺寸,使得套筒610滑動配合至鏡筒608中且其中當透鏡模組安裝於光學接收器總成602a中時,透鏡模組604a之一部分由套筒610接納且由套筒610固定。可基於所安裝之透鏡模組604a之總長度而選擇鏡筒608之尺寸(例如,一鏡筒長度607)。例如,對於具有一總長度(例如,介於48mm與91.5mm之間)之一透鏡模組604a,鏡筒608之鏡筒長度607可為48mm至91.5mm。可基於透鏡模組之一外徑而選擇套筒610之內徑615之尺寸。例如,對於在套筒610將固定於其中之透鏡模組之一區段上方具有14.9mm與50mm之間的一外徑之一透鏡模組604a,套筒610將具有14.9mm與50mm之間的一內徑615。
PCB基座612之尺寸可部分地取決於透鏡模組604a之實體及操作特性以及感測器614之特性。例如,選擇PCB基座512之一內徑616以適應通過PCB基座612之內徑之透鏡模組604a之一外徑。可部分地基於感測器組件之尺寸(例如,感測器614上之感測器組件之高度、寬度及長度以及感測器614之感測器基座之尺寸)而選擇PCB基座612。PCB基座612可包含用於將經組裝之光學接收器總成602a安裝至一框架(例如,如上文在圖4中所描述之框架414)之沿PCB基座612之一底表面之螺孔(例如,兩個M6螺孔)。
可使用透鏡插座606a之各自元件之間的螺孔或通孔安裝及/或黏著劑(例如,氰基丙烯酸酯或其他類似黏著劑)組裝包含鏡筒608、套筒610及PCB基座612之透鏡插座606a。例如,套筒610可滑動配合於鏡筒608內部且使用數滴氰基丙烯酸酯黏著劑黏著。透鏡夾具613a可藉由自透 鏡夾具613a插入鏡筒608上之對應螺孔中之螺釘(例如,M4螺釘)而安裝至透鏡插座606a。鏡筒608可藉由自PCB基座612插入鏡筒608上之對應螺孔中之螺釘(例如,M5螺釘)而安裝至PCB基座612。
感測器614亦可經選擇以與一特定透鏡模組604a相容。感測器614可經選擇以(例如)包含若干像素、像素之一大小/密度、一敏感度範圍、一波長範圍及類似者。感測器614使用(例如)感測器614上至PCB基座之螺孔中之通孔安裝至PCB基座612,使得感測器614與透鏡模組604a之成像平面對準。
光學接收器總成602a、602b之組件一般經選擇以產生一不透光系統,使得進入光學接收器總成602a、602b之光受限於來自一照明總成(例如,照明總成306)之光。
在一些實施方案中,透鏡模組之一保護玻璃蓋之變化材料、厚度及透射/反射性質可產生透鏡模組之漫射光效應,其可使用本文所描述之漫射光測試站量測。
漫射光測試之實例性程序
圖7係用於利用漫射光測試站來特徵化漫射光條件下之一透鏡模組之效能之一實例性程序700之一流程圖。
一光學接收器總成相對於一照明總成定位,使得照明總成之一光學路徑在光學接收器總成之一視野內(702)。如上文參考圖3所描述,光學接收器總成308與來自漫射光測試站302中之照明總成306之光束312(例如,空間延伸光源)之光學路徑314對準。對準可使用一或多個可調整對準載台318a、318b執行以將透鏡模組332之視野316定位於光學路徑314內且使得透鏡模組332形成感測器322上之一影像平面。
外殼304可配置為包圍漫射光測試站302,使得至感測器322之周圍光曝露減少達一臨限量(例如,達90%或以上)。可在開始一測試程序之前將一基線或暗量測用作為參考以(例如)建立感測器322之一基線信雜比。
選擇來自光源(例如,空間延伸光源312)之多個可能光強度之一特定光強度(704)。可使用(例如)一ND濾光器或另一形式之光束強度衰減選擇特定光強度。在一實例中,可使用具有4.0之一光學密度值之一ND濾光器使光強度衰減。在另一實例中,可使用具有1.0之一光學密度值之一ND濾光器使光強度衰減。在又一實例中,可藉由調整光源功率達5%或以上、50%或以上或75%或以上或類似者使光強度衰減。
使光學接收器總成曝露於空間延伸光源之特定光強度(706)。光學接收器總成308可藉由開啟光源(例如,光源120)而曝露於空間延伸光源312。在一些實施方案中,來自照明總成306之空間延伸光源可藉由打開一快門(例如,打開光圈116)而曝露於光學接收器總成308,從而移除一光束擋塊(例如,作為濾光器118之部分)或光束312之另一偏轉。
當光學接收器總成曝露於特定強度之光源時,由光學接收器總成擷取空間延伸光源之成像資料(708)。入射於光學接收器總成308之感測器322上之光曝露可為(例如)數秒。成像資料330可由感測器322擷取且由資料收集模組328收集。成像資料330可包含量測漫射光之相對強度對比感測器322之二維影像之像素。
在收集特定光強度之成像資料之後,可(例如)使用一快門或其他偏轉方法阻擋光束312到達光學接收器總成308。可選擇多個強度之光之下一光強度以(例如)使用一不同濾光器118及/或調暗光源120之一 強度而測試。例如,可使用照明總成306之一濾光輪將一光學密度3.0 ND濾光器118插入光學路徑314中以減小光源之光強度。
與特定光強度(例如,所使用之一特定ND濾光器)或光源之一強度減小有關之資料可被傳達至資料收集模組328以與特定光強度之所收集成像資料330合併作為後設資料。在一些實施方案中,後設資料包含所測試之光之(若干)波長,及使用漫射光測試站302之測試中透鏡模組332及/或感測器322之特性。
透過程序量測來自不同可能光強度之若干不同光強度,如以上步驟702至708中所描述(710)。可藉由使用各具有一不同光學密度值之多個經校準ND濾光器使光源之強度衰減及/或降低感測器322之一曝光而量測多個光強度。待量測之不同光強度之數目可為(例如)4個或4個以上不同光強度、2個或2個以上不同光強度或類似者。例如,若使用5.0之一光學密度值之一ND濾光器擷取1之相對強度,則可使用分別具有光學強度(OD)1.0及OD 0.0之ND濾光器量測等於非衰減光源之10-4及10-5之相對強度下之光源之範圍。
針對光學接收器總成,自成像資料判定效能度量(712)。在多個強度之各強度被曝露於包含透鏡模組332及感測器322的光學接收器總成308之後,基於所擷取之影像來判定效能度量。效能度量特徵化漫射光條件下之攝影機的效能(例如,一眩光擴散函數)。
攝影機之效能可藉由一拒斥比來量化,其中拒斥比使用(例如)空間延伸光源312之多個減小強度來量測低於一原始源強度之一比率之光之一徑向範圍。拒斥比計算在藉由感測器322擷取之二維(2D)影像上方具有高於一指定相對強度之一強度之光源的範圍。在上文參考步驟710呈 現之實例中,光源之強度可使用多個經校準ND濾光器來衰減及/或降低感測器322之一曝光,以使用5.0之光學密度值之一ND濾光器來擷取1之一相對強度,使得可使用分別具有光學強度(OD)1.0及OD 0.0之ND濾光器來量測等於非衰減光源之10-4及10-5之相對強度下之光源的範圍。接著,2D影像中之源的範圍係量測為自源之一中心點之最遠範圍的半徑。拒斥比量測可用於界定一延伸源拒斥比(ESRR)。
在一些實施方案中,攝影機之效能可藉由描述空間延伸光源對透鏡模組332及感測器322之空間效應之一眩光擴散函數來量化,其中漫射光引起光源在高強度下擴散於感測器322上方。藉由(例如)使用具有不同光學密度之多個ND濾光器使光源衰減來量測多個數量級之光強度。在各衰減光強度下擷取一影像,並產生相對強度對比攝影機像素之一標繪圖。
基於程序700所判定之效能度量可被用於補償標稱操作條件下之一車輛上之一攝影機的漫射光條件。例如,效能度量可用於補償當太陽在攝影機之視野內時來自太陽的眩光。在另一實例中,效能度量可用於補償一紅外光源下一攝影機之飽和度(例如,當一自主或半自主車輛之一LIDAR系統在LIDAR偵測中利用一850nm光源時)。
光學接收器總成之各種組件(例如,透鏡模組、外殼、PCB基座、感測器等等)之效能可被分析以隔離一特定角度下之漫射光的來源。可藉由利用設計選擇(例如,透鏡重新設計、塗層/材料、表面塗黑、光學組件之額外阻擋或類似者)來改良光學接收器總成之漫射光效能。
在一些實施方案中,可使用上述程序700量測之一角度範圍。例如,漫射光測試站302之光學接收器308之一對準可經調整以依一 不同入射角320相對於測試中透鏡模組332之一視野316定位光學路徑314。在一些實施方案中,調整光學路徑至透鏡模組之視野之一入射角可藉由使用光學接收器總成308之一或多個旋轉載台318a、318b來執行。
在一些實施方案中,多個光源之漫射光條件下之一攝影機之效能可由漫射光測試站302測試。例如,如參考圖1所描述之光源302可包含多個不同光源,例如,一寬頻6500k源及一紅外850nm源可被併入光源120中,其中各光源繼而可用於照明總成102中(例如,其中液體光導管122可經調整以將來自不同光源之光導引至光學元件104中或一不同液體光導管122(例如,與光源120之一(若干)特定波長相容)可用於各光源120以導引一光源120用於光學元件104中。
在一些實施方案中,漫射光測試站可用於量測一透鏡之色差及色差可在一透鏡模組及/或攝影機模組中如何產生漫射光效應。
在一些實施方案中,漫射光測試站可包含一超光譜光源以量測漫射光效應對一透鏡模組及/或攝影機模組之波長相依性。
儘管上文參考圖1至圖6被描述為一固定照明總成及可調整光學接收器總成,但在一些實施例中,光學接收器總成固定在適當位置而照明總成可定位於多個軸上。在一些實施例中,照明總成及光學接收器總成可各定位於相對於彼此之各自軸上。
本說明書中所描述之標的及操作之實施例可在數位電子電路或電腦軟體、韌體或硬體(包含本說明書中所揭示之結構及其等之結構等效物或其等之一或多者之組合)中實施。本說明書中所描述之標的之實施例可被實施為編碼於電腦儲存媒體上以由資料處理裝置執行或控制資料處理裝置之操作之一或多個電腦程式(即,電腦程式指令之一或多個模 組)。
一電腦儲存媒體可為或包含於一電腦可讀儲存器件、一電腦可讀儲存基板、一隨機或串列存取記憶體陣列或器件或其等之一或多者之一組合中。再者,儘管一電腦儲存媒體並非一傳播信號,但一電腦儲存媒體可為在一人工產生之傳播信號中編碼之電腦程式指令之一源或目的地。電腦儲存媒體亦可為或被包含於一或多個單獨實體組件或媒體(例如,多個CD、磁碟或其他儲存器件)。
本說明書中所描述之操作可被實施為由一資料處理裝置對儲存於一或多個電腦可讀儲存器件上或自其他源接收之資料執行之操作。
術語「資料處理裝置」涵蓋用於處理資料之所有種類之裝置、器件及機器,包含(舉實例而言)一可程式化處理器、一電腦、一系統單晶片或前述之多者或組合。裝置可包含專用邏輯電路(例如,一FPGA(場可程式化閘陣列)或一ASIC(特定應用積體電路))。除硬體之外,裝置亦可包含產生討論中之電腦程式之一執行環境之程式碼(例如,構成處理器韌體、一協定堆疊、一資料庫管理系統、一作業系統、一跨平台執行環境、一虛擬機或其等之一或多者之一組合之程式碼)。裝置及執行環境可實現各種不同運算模型基礎設施,諸如網路服務、分佈式運算及網格運算基礎設施。
一電腦程式(亦被稱為一程式、軟體、軟體應用程式、指令碼或程式碼)可以任何形式程式設計語言(包含編譯語言或解譯語言、宣告語言或程序語言)撰寫,且其可以任何形式部署,包含作為一獨立程式或作為一模組、組件、子常式、物件或適合於用於一運算環境中之其他單元。一電腦程式可但不需要對應於一檔案系統中之一檔案。一程式可儲存 於保持其他程式或資料(例如,儲存於一標記語言文件中之一或多個指令碼)之一檔案之一部分中、專用於討論中之程式之一單一檔案中或多個協調檔案(例如,儲存程式碼之一或多個模組、子程式或部分之檔案)中。一電腦程式可經部署以在一電腦上或在定位於一位點處或跨多個位點分佈且藉由一通信網路互連之多個電腦上執行。
本說明書中所描述之程序及邏輯流程可由一或多個可程式化處理器執行,該一或多個可程式化處理器執行一或多個電腦程式以藉由對輸入資料進行操作及產生輸出而執行動作。程序及邏輯流程亦可由專用邏輯電路,例如,一FPGA(場可程式化閘陣列)或一ASIC(特定應用積體電路)執行且裝置亦可實施為專用邏輯電路,例如,一FPGA(場可程式化閘陣列)或一ASIC(特定應用積體電路)。
適合於執行一電腦程式之處理器包含(舉實例而言)通用微處理器及專用微處理器兩者,及任何種類之數位電腦之任一或多個處理器。通常,一處理器將自一唯讀記憶體或一隨機存取記憶體或兩者接收指令及資料。一電腦之基本元件係用於根據指令執行動作之一處理器及用於儲存指令及資料之一或多個記憶體器件。通常,一電腦亦將包含或操作性耦合以自用於儲存資料之一或多個大容量儲存器件(例如,磁碟、磁光碟或光碟)接收資料或將資料傳送至用於儲存資料之一或多個大容量儲存器件(例如,磁碟、磁光碟或光碟)或兩者。然而,一電腦不需要具有此等器件。再者,一電腦可嵌入另一器件(例如,(僅舉數例)一行動電話、一個人數位助理(PDA)、一行動音訊或視訊播放器、一遊戲控制台、一全球定位系統(GPS)接收器或一可攜式儲存器件(例如,一通用串列匯流排(USB)隨身碟))中。適合於儲存電腦程式指令及資料之器件包含所有形式之非揮 發性記憶體、媒體及記憶體器件,包含(舉實例而言)半導體記憶體器件(例如,EPROM、EEPROM及快閃記憶體器件);磁碟(例如,內部硬碟或可移除磁碟);磁光碟;及CDROM及DVD-ROM光碟。處理器及記憶體可由專用邏輯電路補充或被併入專用邏輯電路中。
為提供與一使用者之互動,本說明書中所描述之標的之實施例可在具有用於顯示資訊給使用者之一顯示器件(例如,一CRT(陰極射線管)或LCD(液晶顯示器)監視器)及使用者可藉由其提供輸入至電腦之一鍵盤及一指向器件(例如,一滑鼠或一軌跡球)之一電腦上實施。其他種類之器件亦可用於提供與一使用者之互動;例如,提供給使用者之回饋可為任何形式之感覺回饋,例如,視覺回饋、聽覺回饋或觸覺回饋;且來自使用者之輸入可以任何形式接收,包含聲音輸入、語音輸入或觸覺輸入。另外,一電腦可藉由發送文件至由使用者使用之一器件及自由使用者使用之一器件接收文件而與一使用者互動;例如,藉由回應於自一使用者之使用者器件上之一網頁瀏覽器接收之請求而發送網頁至該網頁瀏覽器。
本說明書中所描述之標的之實施例可在包含一後端組件(例如,作為一資料伺服器)或包含一中介軟體組件(例如,一應用程序伺服器)或包含一前端組件(例如,具有一使用者可透過其與本說明書中所描述之標的之一實施方案互動之一圖形使用者介面或一網頁瀏覽器之一使用者電腦)或一或多個此等後端、中介軟體或前端組件之任何組合之一運算系統中實施。系統之組件可由任何形式或媒體之數位資料通信(例如,一通信網路)互連。通信網路之實例包含一區域網路(「LAN」)及一廣域網路(「WAN」)、一跨網路(例如,網際網路)及同級間網路(例如,特定同級間網路)。
運算系統可包含使用者及伺服器。一使用者及伺服器通常彼此遠離且通常透過一通信網路互動。使用者及伺服器之關係憑藉在各自電腦上運行且彼此具有一使用者-伺服器關係之電腦程式產生。在一些實施例中,一伺服器傳輸資料(例如,一HTML頁面)至一使用者器件(例如,為了顯示資料給與使用者器件互動之一使用者且自與使用者器件互動之一使用者接收使用者輸入之目的)。在使用者器件處產生之資料(例如,使用者互動之一結果)可自伺服器處之使用者器件接收。
儘管本說明書含有許多具體實施細節,但此等不應被解釋為限制任何特徵或可主張之內容之範疇,而應被解釋為描述特定於特定實施例之特徵。本說明書中在單獨實施例之內文中所描述之特定特徵亦可在一單一實施例中組合實施。相反地,在一單一實施例之內文中描述之各種特徵亦可在多個實施例中單獨實施或在任何適合子組合中實施。再者,儘管特徵可在上文被描述為以特定組合作用且甚至最初如此主張,但來自一所主張組合之一或多個特徵可在一些情況中自組合刪除,且所主張組合可能係關於一子組合或一子組合之變型。
類似地,儘管操作在圖式中以一特定順序描繪,但此不應被理解為需要此等操作以所展示之特定順序或依依次順序執行,或執行所有所繪示操作以達成所要結果。在特定情況中,多任務及平行處理可係有利的。再者,各種系統組件在上述實施例中之分離不應被理解為在所有實施例中需要此分離,且應理解所描述之程式組件及系統通常可在一單一軟體產品中整合在一起或封裝為多個軟體產品。
因此,已描述標的之特定實施例。其他實施例在以下發明申請專利範圍之範疇內。在一些情況中,發明申請專利範圍中所敘述之動 作可以一不同順序執行且仍達成所要結果。另外,附圖中描繪之程序未必需要所展示之特定順序或依次順序以達成所要結果。在特定實施方案中,多任務及平行處理可係有利的。
100:方塊圖
102:照明總成
103:聚焦光學器件
104:光學元件
106:光束
108:光學路徑
110:拋物面鏡
112:直徑
114:橫向尺寸
116:光圈
118:濾光器
120:光源
122:液體光導管

Claims (20)

  1. 一種漫射光測試裝置,其包括:一照明總成,其包括:一空間延伸光源;及一或多個光學元件,其或其等經配置以將來自該空間延伸光源之一光束沿一光學路徑導引,該照明總成包括經配置於該光學路徑中之一拋物面鏡,其中該拋物面鏡處之該光束之一直徑大於該拋物面鏡之一橫向尺寸;一光學接收器總成,其包括經構形以接納一透鏡模組及將該透鏡模組定位於該拋物面鏡下游之該光學路徑中,使得該透鏡模組將來自該空間延伸光源之該光束聚焦至一影像平面之一透鏡插座;及一可移動框架,其支撐該光學接收器總成,該可移動框架包括一或多個可調整對準載台,其中該等可調整對準載台相對於該照明總成定位該光學接收器總成,使得該照明總成之該光學路徑在該光學接收器總成之一視野內。
  2. 如請求項1之裝置,其中拋物面鏡係一偏軸式拋物面鏡。
  3. 如請求項2之裝置,其中該偏軸式拋物面鏡偏軸達30°度、60°度,或90°度。
  4. 如請求項1之裝置,其中來自該空間延伸光源之該光束經變跡,從而形成跨一直徑之一均勻光束。
  5. 如請求項1之裝置,其中該空間延伸光源在一角度範圍內係可調整。
  6. 如請求項5之裝置,其中該空間延伸光源具有一0.5°度角範圍。
  7. 如請求項1之裝置,其中該一或多個光學元件進一步包含一或多個中性密度濾光器。
  8. 如請求項1之裝置,其中允許來自該照明總成之該光束到達該光學接收器總成。
  9. 如請求項1之裝置,進一步包括與該照明總成及光學接收器總成資料通信且可操作以執行執行一漫射光測試之操作之一控制單元。
  10. 如請求項1之裝置,其中該光學接收器總成包含一感測器,其係一CMOS攝影機。
  11. 如請求項1之裝置,其中該透鏡插座包括一加壓夾具。
  12. 如請求項1之裝置,其中該光學接收器包括經構形以接納一攝影機模組且將該攝影機模組定位於該拋物面鏡下游之該光學路徑中,使得來自該照明總成之該光束聚焦至該攝影機模組處之一影像平面之一可調整插座。
  13. 如請求項1之裝置,其中該等可調整對準載台可在一或多個維度上調 整,以在一角度範圍內定位該光學接收器總成。
  14. 一種用於判定一光學接收器總成之漫射光效能之方法,其包括:使用一或多個可調整對準載台來對準在包含一拋物面鏡之一照明總成下游之一光學路徑中之該光學接收器總成,其中對準該光學接收器總成包括將來自該照明總成之一空間延伸光源之一光束聚焦至該光學接收器總成之一感測器之一影像平面;自複數個不同光強度選擇該空間延伸光源之一第一光強度;使該光學接收器總成曝露於該第一光強度下之來自該空間延伸光源之該光;當使該光學接收器總成曝露於該第一光強度下之該光時,藉由該光學接收器總成之該感測器來擷取影像資料;及基於該經擷取影像資料來判定該光學接收器總成之效能度量。
  15. 如請求項14之方法,其中選擇來自該空間延伸光源之該複數個光強度之該第一光強度包括使用一中性密度濾光器使來自該空間延伸光源之該光束衰減。
  16. 如請求項14之方法,其中判定該光學接收器總成之漫射光效能進一步包括判定該光學接收器總成之一視野內之該空間延伸光源之複數個入射角下之該光學接收器總成的漫射光效能。
  17. 如請求項14之方法,其中該拋物面鏡係一偏軸式拋物面鏡。
  18. 如請求項14之方法,其中來自該空間延伸光源之該光束經變跡,從而形成跨一直徑之一均勻光束。
  19. 如請求項14之方法,其中該空間延伸光源在一角度範圍內係可調整。
  20. 如請求項14之方法,其中對準該光學接收器總成包括在一或多個自由度中調整該等可調整對準載台,以在一角度範圍內定位該光學接收器總成。
TW109111282A 2019-04-02 2020-04-01 漫射光測試站 TWI742595B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/373,437 2019-04-02
US16/373,437 US11635326B2 (en) 2019-04-02 2019-04-02 Stray-light testing station

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202102889A TW202102889A (zh) 2021-01-16
TWI742595B true TWI742595B (zh) 2021-10-11

Family

ID=72661560

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109111282A TWI742595B (zh) 2019-04-02 2020-04-01 漫射光測試站
TW110134233A TWI792561B (zh) 2019-04-02 2020-04-01 效能度量測試裝置及用於判定一光學接收器總成之一效能度量之方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW110134233A TWI792561B (zh) 2019-04-02 2020-04-01 效能度量測試裝置及用於判定一光學接收器總成之一效能度量之方法

Country Status (5)

Country Link
US (3) US11635326B2 (zh)
EP (1) EP3928158A4 (zh)
CN (1) CN113661443B (zh)
TW (2) TWI742595B (zh)
WO (1) WO2020205425A1 (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11635326B2 (en) * 2019-04-02 2023-04-25 Waymo Llc Stray-light testing station
CN113976481A (zh) * 2021-10-25 2022-01-28 江西省兆驰光电有限公司 基于发光角度分选led方法、系统、计算机及存储介质
TWI812062B (zh) * 2021-11-05 2023-08-11 大立光電股份有限公司 光學鏡頭及電子裝置
CN114236510B (zh) * 2021-12-02 2023-06-23 桂林理工大学 水深测量激光雷达透过率杂光测试系统
CN115773865B (zh) * 2022-12-16 2024-05-28 江苏第三代半导体研究院有限公司 一种光学测试设备及测试方法
CN117871053A (zh) * 2024-01-12 2024-04-12 苏州艾微视图像科技有限公司 一种镜头的测试设备及测试方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200928335A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Measuring system for stray light of lens
TW201137509A (en) * 2010-04-30 2011-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Lens flare testing device and method for testing lens flare
KR20130096233A (ko) * 2010-08-05 2013-08-29 오르보테크 엘티디. 조명 시스템
US20130258323A1 (en) * 2010-07-14 2013-10-03 William P. Kuhn Device and Method for Subaperture Stray Light Detection and Diagnosis
US20170280135A1 (en) * 2016-03-22 2017-09-28 The Lightco Inc. Camera calibration apparatus and methods
EP3291552A1 (en) * 2016-08-31 2018-03-07 Autoliv Development AB Stray light effect testing of a camera

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4102580A (en) * 1976-12-29 1978-07-25 Nasa System for the measurement of ultra-low stray light levels
US7728845B2 (en) * 1996-02-26 2010-06-01 Rah Color Technologies Llc Color calibration of color image rendering devices
GB0204603D0 (en) * 2002-02-27 2002-04-10 Univ Sussex The Pattern recognition system
US7557910B2 (en) * 2004-12-19 2009-07-07 Kla-Tencor Corporation System and method for controlling a beam source in a workpiece surface inspection system
TWI376498B (en) 2006-04-14 2012-11-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Lens flare testing machine and method
US7579601B2 (en) * 2007-02-27 2009-08-25 Metrosol, Inc. Spectrometer with moveable detector element
CN100526829C (zh) 2007-10-11 2009-08-12 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种杂光测试仪
CN101452200B (zh) 2007-11-30 2010-11-10 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镜头杂散光检测系统
EP2098849B1 (en) 2008-03-04 2013-05-15 Selex Es S.P.A Test apparatus usable to measure stray light in electro-optical apparatuses
CN102175431A (zh) 2011-01-28 2011-09-07 哈尔滨工业大学 大动态范围点源杂光透射系数测量装置
DE102011076133A1 (de) 2011-05-19 2012-11-22 Robert Bosch Gmbh Prüfvorrichtung für eine Kamera sowie ein Verfahren zur Prüfung einer Kamera
US9871971B2 (en) * 2011-08-02 2018-01-16 Magma Electronics Inc. Vehicle vision system with light baffling system
US8981272B2 (en) * 2011-08-04 2015-03-17 Masdar Institute Of Science And Technology Radiometers having an opaque, elongated member rotationally obstructing a light path to a light detector for measuring circumsolar profiles
US9491451B2 (en) * 2011-11-15 2016-11-08 Magna Electronics Inc. Calibration system and method for vehicular surround vision system
TW201323847A (zh) * 2011-12-13 2013-06-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 相機卡膠的測試方法
CN102749184B (zh) 2012-07-06 2015-01-07 中国科学院西安光学精密机械研究所 大视场杂散光pst测试方法及装置
WO2014159727A1 (en) 2013-03-14 2014-10-02 Drs Rsta, Inc. Method and system for controlling stray light reflections in an optical system
CN103234734B (zh) 2013-04-09 2016-06-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 大口径杂散光测试装置及测试方法
CN203479497U (zh) 2013-08-26 2014-03-12 中国科学院西安光学精密机械研究所 杂光系数和点源透过率复合测试系统
US9451247B2 (en) * 2013-11-25 2016-09-20 Ul Llc Camera test apparatus
WO2016018327A1 (en) * 2014-07-31 2016-02-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Camera alignment based on an image captured by the camera that contains a reference marker
WO2016049259A1 (en) * 2014-09-24 2016-03-31 Atkinson Don Evaluation apparatus using uniform illumination and data capture
CN105181303B (zh) 2015-10-26 2017-10-27 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 无限远共轭距显微物镜杂散光测试仪及测试精度调节方法
CN105738295A (zh) 2015-12-10 2016-07-06 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率测量装置
US10048696B2 (en) * 2015-12-22 2018-08-14 Uber Technologies, Inc. Intelligent lens masking system for an autonomous vehicle
CN107466475B (zh) 2017-04-28 2019-02-26 香港应用科技研究院有限公司 用于检查透光光学组件的设备和方法
US9948837B1 (en) * 2017-05-01 2018-04-17 Logitech Europe S.A. Modular video camera system
CN207396016U (zh) 2017-09-29 2018-05-22 苏州大学 一种镜头全视场的杂散光测试装置
US10558873B2 (en) * 2017-12-14 2020-02-11 Waymo Llc Methods and systems for controlling extent of light encountered by an image capture device of a self-driving vehicle
DE102018204438B3 (de) * 2018-03-22 2019-05-02 Conti Temic Microelectronic Gmbh Vorrichtung mit einer Sensorbaugruppe und einer Streulichtblende
CN108982061B (zh) 2018-06-12 2020-05-12 哈尔滨工业大学 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法
US10983050B2 (en) * 2018-07-30 2021-04-20 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Diffuse reflectance apparatus
US11635326B2 (en) * 2019-04-02 2023-04-25 Waymo Llc Stray-light testing station
US10791324B1 (en) * 2019-04-17 2020-09-29 Waymo Llc On-car stray-light testing cart

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200928335A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Measuring system for stray light of lens
TW201137509A (en) * 2010-04-30 2011-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Lens flare testing device and method for testing lens flare
US20130258323A1 (en) * 2010-07-14 2013-10-03 William P. Kuhn Device and Method for Subaperture Stray Light Detection and Diagnosis
KR20130096233A (ko) * 2010-08-05 2013-08-29 오르보테크 엘티디. 조명 시스템
US20170280135A1 (en) * 2016-03-22 2017-09-28 The Lightco Inc. Camera calibration apparatus and methods
EP3291552A1 (en) * 2016-08-31 2018-03-07 Autoliv Development AB Stray light effect testing of a camera

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020205425A1 (en) 2020-10-08
US20240183707A1 (en) 2024-06-06
CN113661443A (zh) 2021-11-16
TW202201061A (zh) 2022-01-01
TW202102889A (zh) 2021-01-16
EP3928158A4 (en) 2022-11-30
US20200319022A1 (en) 2020-10-08
CN113661443B (zh) 2023-03-14
US11933666B2 (en) 2024-03-19
US11635326B2 (en) 2023-04-25
EP3928158A1 (en) 2021-12-29
US20230213379A1 (en) 2023-07-06
TWI792561B (zh) 2023-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI742595B (zh) 漫射光測試站
KR102171418B1 (ko) 휴대용 분광계
TWI746944B (zh) 用於特徵化彎曲部件的稜鏡耦合系統及方法
US11022760B2 (en) Portable industrial fiber optic inspection scope
US7456950B2 (en) Spectroscope with spatial resolution control
CN111174911B (zh) 一种空间光学相机任意地物绝对辐射定标方法
CN1896706A (zh) 大口径光电系统野外现场辐射定标的方法及装置
FR2986337A1 (fr) Systeme optique destine a mesurer la brdf, bsdf et bdtf
Chonis et al. Mass production of volume phase holographic gratings for the VIRUS spectrograph array
CN103698005A (zh) 自校准光源光谱调谐器
CN109269640A (zh) 微型光纤光谱仪的装调方法
Frostig et al. Stray light analysis and reduction for IFU spectrograph LLAMAS
Landini et al. The optimization of the inverted occulter of the Solar Orbiter/METIS coronagraph/spectrometer
CN206594055U (zh) 水分测定装置
Zhao et al. Visible smartphone spectrometer based on the transmission grating
CN211927696U (zh) 一种快速空间反射率分布测量装置
Luo et al. Simulation and experimental research on the uniformity of the surface light source out from the integrating sphere
Mahavarkar et al. Designing a sky-scanning Fabry–Perot interferometer system with a large size integrating sphere
Su et al. Spectral and spectral sampling analysis of the spectral imaging system based on the light-field architecture
TWI545310B (zh) 光分佈量測儀
Koshel et al. Illumination system design in a project-based course
JP5483015B2 (ja) 光分析装置の拡散反射用アタッチメント
Huang et al. Stray light analysis for optical splitting system of micro-biochemical analyzer
CN114383814A (zh) 一种镜头宽光谱透过率测量装置和方法
Cáceres Image acquisition and processing for multi-channel spectral imaging