TWI699895B - 顯示裝置 - Google Patents
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Abstract
一種顯示裝置,包含:第一基板、第二基板以及設置於所述第一基板和所述第二基板之間顯示分子層;第二基板的顯示區設置複數個薄膜電晶體;複數個數據端子設置於所述第二基板的周邊區,並與所述薄膜電晶體耦接;絕緣層覆蓋於數據端子;信號墊藉由形成於所述絕緣層的接觸孔與所述數據端子耦接;其中所述信號墊向所述顯示區方向與所述數據端子錯開設置。
Description
本發明係有關於顯示裝置領域,特別係有關於顯示裝置中信號墊的設計以及一種採用信號墊的顯示裝置。
液晶顯示裝置(LCD,Liquid Crystal Display)包含第一基板、第二基板和顯示分子材料等。在顯示裝置的生產過程中,對第一基板的電特性進行檢查係較為重要的步驟。先前技術通常係透過陣列測試器(Array Tester)利用治具接觸測試端子(Array Test Pad,AT Pad),將測試信號寫入第一基板內像素並讀取電信號以進行檢測分析。該測試端子包含信號墊和數據端子,其中信號墊透過信號墊與數據端子之間絕緣層的接觸孔耦接。當第一基板與第二基板貼合後,理論上信號墊會被密封體完全覆蓋,但在實際生產中,受到密封體塗佈精度影響,使部分產品的信號墊沒有被完全覆蓋而部分裸露在空氣中。在產品使用過程中,空氣中的水氣會與信號墊發生電化學反應導致信號墊的腐蝕,影響成品率。
本發明實施例涉及一種顯示裝置,包含:第一基板,包含相鄰的顯示區和周邊區;第二基板,包含複數個彩色濾光結構,且所述彩色濾光結構對應於所述顯示區而設置;密封體,設置於所述周邊區;顯示分子層,設置於所述第一基板和所述第二基板之間;薄膜電晶體,設置於所述第一基板;數據端子,設置於所述第一基板,且耦接於所述薄膜電晶體;絕緣層,覆蓋於數據端子;信號墊,透過接觸孔而連接於所述數據端子,其中所述接觸孔形成於所述絕緣層,且所述密封體覆蓋於所述信號墊;其中,所述信號墊向所述顯示區方向與所述數據端子錯開設置。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述數據端子的外輪廓所圍成的形狀與所述信號墊所圍成的形狀相同。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述信號墊向所述顯示區方向與所述數據端子錯開50~70μm,具體為70μm。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述數據端子和所述信號墊被所述密封體完全覆蓋。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中在垂直投影於所述第一基板的方向上,所述數據端子的部分區域與所述密封體有重疊區域。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中在垂直投影於所述第一基板的方向上,所述密封體的外緣位於所述數據端子的外緣與所述信號墊的外緣之間。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述信號墊為透明導電材料,所述數據端子為金屬材料。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述信號墊的外緣與所述數據端子的外緣之間的最短距離為50~70μm。
本發明實施例所述之顯示裝置,其中所述信號墊的寬度為100μm。
100:第一基板
200:第二基板
300:顯示分子層
400:密封體
500:顯示裝置
101:基板
102:緩衝層
103:第一絕緣層
104:第一金屬層
105:第二絕緣層
106:第二金屬層
107:第三絕緣層
108:第四絕緣層
110:測試端子
111:數據端子
112:信號墊
113:接觸孔
114:開孔
A1:顯示區
A2:周邊區
WM2:數據端子的寬度
WITO:信號墊的寬度
P:塗佈無偏差時密封體的邊緣位置
D:信號墊與數據端子錯開的距離
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、功效與實施例能更明顯易懂,所附圖式之說明如下:圖1係依照先前技術所繪示顯示裝置之俯視示意圖。
圖2係依照先前技術出現密封體未能完全覆蓋信號墊所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。
圖3係依照本發明第一實施例之信號墊與數據端子錯開設置所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。
圖4係依照本發明第一實施例之信號墊與數據端子錯開50~70μm設置所繪示之俯視示意圖。
圖5係依照本發明第二實施例之密封體準確塗佈或向外偏移時所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。
圖6係依照本發明第二實施例之密封體準確塗佈或向外偏移時所繪示之俯視示意圖。
為使本發明的上述目的、特徵和功效能夠更加明顯易懂,下面結合附圖對本發明的具體實施方式做詳細的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細節以便於充分理解本發明。但是本發明能夠以很多不同於在此描述的其他方式來實施,所屬技術領域中具有通常知識者可以在不違背本發明內涵的情況下做類似改進,因此本發明不受下面揭露的具體實施例的限制。
請參閱圖1和圖2。圖1係依照先前技術所繪示顯示裝置之俯視示意圖,圖2係依照先前技術出現密封體未能完全覆蓋信號墊所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。如圖1、2所示,一種顯示裝置500,其結構主要包含第一基板100(如TFT基板)、第二基板200(如CF基板)和顯示分子層300,其中第一基板100包含基板101、緩衝層102、第一絕緣層103、第一金屬層104、第二絕緣層105、第二金屬層106、第三絕緣層107和第四絕緣層108。第一基板100還分為顯示區A1和周邊區A2,第二基板200包含彩色濾光結構與遮光結構,其中彩色濾光結構具有複數種顏色的濾光結構,且遮光結構設置於不同顏色的濾光結構之間,但為圖示能夠清楚表達,將遮光結構、彩色濾光結構而予以省略。
第二基板200的彩色濾光結構係位置對應於第一基板100的顯示區A1而設置,且第一基板100和第二基板200藉由密封體400組立、貼合。顯示分子層300則設置於第一基板100和第二基板200之間,具體來說,顯示區A1與周邊區A2以密封體400為界,而顯示分子層400設置於密封體400內側而對應於顯示區A1。薄膜電晶體(未繪示)設置於第一基板100,且薄膜電晶體
由多層結構所形成,包含第一絕緣層103、第一金屬層104、第二絕緣層105、第二金屬層106等。在第一基板100的周邊區A2設置有測試端子110,而測試端子110包含數據端子111和信號墊112,信號墊112透過由接觸孔113耦接於數據端子111,其中接觸孔113形成於第三絕緣層107和第四絕緣層108。另外,數據端子111也耦接於薄膜電晶體(未繪示),當進行電性測試時,藉由陣列測試器(Array Tester)利用治具接觸信號墊112,進而將測試信號寫入薄膜電晶體(即顯示區的像素)以進行檢測分析。當電性測試完成之後,第一基板100與第二基板200會藉由密封體400而相互組立,如此一來,密封體400會覆蓋信號墊112,進而保護信號墊112不與外界環境接觸,避免被水氣污染而影響良率。
由於密封體400的塗佈精度的限制,先前技術中可能會出現密封體400的塗佈偏差,導致密封體400無法完全覆蓋信號墊112,使信號墊112與環境接觸,導致信號墊112被水氣污染,如圖2所示。於圖2中,虛線P表示為塗佈精準界線,亦即當密封體400塗佈精度符合預期時,則密封體的外緣會實質地對準於塗佈精準界線P。因此,當密封體400塗佈偏差時,密封體的外緣並未對準於塗佈精準界線P而無法覆蓋於信號墊112。於本實施例中,信號墊112為透明導電材料,數據端子111為金屬材料,但本發明不以此為限。
請參閱圖3。圖3係依照本發明第一實施例之信號墊與數據端子錯開設置所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。如圖3所示,本發明第一實施例所涉及的一種顯示裝置510,其結構主要包含第一基板100(如TFT基板)、第二基板200(如CF基板)和
顯示分子層300,其中第一基板100包含基板101、緩衝層102、第一絕緣層103、第一金屬層104、第二絕緣層105、第二金屬層106、第三絕緣層107和第四絕緣層108。第一基板100進一步可分為顯示區A1和周邊區A2,第二基板200包含彩色濾光結構與遮光結構,其中彩色濾光結構具有複數種顏色的濾光結構,且遮光結構設置於不同顏色的濾光結構之間,但為圖示能夠清楚表達,將遮光結構、彩色濾光結構而予以省略。第二基板200的彩色濾光結構係位置對應於第一基板100的顯示區A1而設置,且第一基板100和第二基板200藉由密封體400組立、貼合。顯示分子層300則設置於TFT基板100和CF基板200之間,具體來說,顯示區A1與周邊區A2以密封體400為界,而顯示分子層400設置於密封體400內側而對應於顯示區A1。薄膜電晶體(未繪示)設置於第一基板100,且薄膜電晶體由多層結構所形成,包含第一絕緣層103、第一金屬層104、第二絕緣層105、第二金屬層106等。在第一基板100的周邊區A2設置有測試端子110,所述測試端子110包含數據端子111和信號墊112,信號墊112透過接觸孔113耦接於數據端子111。另外,數據端子111也耦接於薄膜電晶體(未繪示),當進行電性測試時,藉由陣列測試器(Array Tester)利用治具接觸信號墊112,進而將測試信號寫入薄膜電晶體(即顯示區的像素)以進行檢測分析。當電性測試完成之後,第一基板100與第二基板200會藉由密封體400而相互組立。
於本實施例中,將信號墊112與數據端子111之間調整為錯開設置,使信號墊112到密封體400邊緣距離拉長,向顯示區A1方向偏移距離D(如以圖2相比),以增加容納密封體塗佈偏
差的預留空間,使得信號墊112與數據端子111在垂直投影方向上部分重疊,且部分不重疊。如圖3所示之實施例中,當密封體400在塗佈精準度有偏差的情況下,即密封體400的外緣沒有對準於塗佈精準界線P,使得密封體400相對於塗佈精準界線而言,往顯示區A1靠近。然而,於本實施例中,將信號墊112與數據端子111之間為錯開設置,使得信號墊112的外緣相比於數據端子11的外緣更靠近顯示區A1。因此,一旦密封體400塗佈偏差時,依舊可以覆蓋於信號墊112,避免發生腐蝕問題。
請同時參閱圖4,圖4係依照本發明第一實施例之信號墊與數據端子錯開50~70μm設置所繪示之俯視示意圖。為了能夠清楚表達信號墊112、數據端子111與密封體400的相對位置關係,圖4僅將部分元件繪示出來,但從上述段落與圖2中,可以理解信號墊112、數據端子111與密封體400之外,尚有其他層別。請同時對應圖3與圖4的實施例,信號墊112與數據端子111為錯開設置,使得信號墊112與數據端子在垂直投影方向上,有部分面積重疊、部分面積不重疊。如此一來,密封體400外緣處於信號墊112外緣與數據端子111外緣之間,即在垂直投影方向上,密封體400可以覆蓋信號墊112,且沒有完全覆蓋數據端子111。同時為考慮信號墊112與數據端子111耦接的可靠性,以及產品製程問題,同時兼顧窄邊框機型的應用,本實施例採用數據端子111的寬度WM2與信號墊112的寬度WITO相等,即信號墊112的面積保持不變,使得在垂直投影方向上,信號墊112外輪廓所圍成的面積與數據端子111外輪廓所圍成的面積相同和形狀相同。
請再次參閱圖4,圖4係依照本發明第一實施例之信
號墊與數據端子錯開50~70μm設置所繪示之俯視示意圖。於本發明的另一實施例中,信號墊112與數據端子111彼此錯開的距離為D(即圖3中的偏移距離D),而D落在50μm至70μm之間。詳細來說,距離D為信號墊112外緣與數據端子111外緣之間最短之距離。當50μmD70μm時,如圖4所示。信號墊112向顯示區A1方向偏移,其邊緣到密封體400邊緣的距離增加超過50μm,此時信號墊112覆蓋接觸孔113,使得信號墊112依然可以透過接觸孔113與數據端子111保持耦接,圖3中虛線部分表示數據端子的部分外輪廓(被信號墊112覆蓋而用虛線來表達)。當密封體400的塗佈滿足小於50μm的精度要求時,即使密封體400的塗佈達到了最大偏移,即密封體400塗佈時向顯示區A1方向偏移為50μm時,依然可以確保信號墊112被密封體400完全覆蓋,或者,信號墊112的部分結構被密封體400覆蓋(其剩餘部分處於顯示區A1內)。如此一來,信號墊112不與外界環境接觸,避免了信號墊112被水氣污染。
於本發明的又一實施例中,數據端子111的寬度WM2與信號墊112的寬度WITO相等且均為100μm。當50μmD70μm時,如圖4所示。信號墊112向顯示區A1方向偏移,此時數據端子111與信號墊112保持寬度為30~50μm的重疊區域,使得信號墊112依然可以藉由接觸孔113與數據端子111保持耦接。
請參閱圖5。圖5係依照本發明第二實施例之密封體準確塗佈或向外偏移時所繪示顯示裝置之局部剖面示意圖。如圖5所示,本發明第二實施例所涉及的一種顯示裝置,其中顯示裝置的架構與上述圖3的實施例相同,在此不贅述。於本實施例中,將
信號墊112與數據端子111的間調整為錯開設置,使信號墊112到密封體400邊緣距離拉長,向顯示區A1方向偏移距離D,以增加容納密封體塗佈偏差的預留空間。本實施例與圖3的實施例的差異在於:密封體400的塗佈精準度為符合設定的情況下,即密封體400的外緣為實質地對準於塗佈精準界線P。換句話說,於本發明的實施例中,不論密封體400係塗佈精準度為符合設定(如圖5的實施例)或係有偏差(如圖3的實施例)的情況下,均可確保信號墊112的外緣能夠被密封體400所覆蓋,也就不會出現信號墊112腐蝕問題。
請同時參閱圖6。圖6係依照本發明第二實施例之密封體準確塗佈或向外偏移時所繪示之俯視示意圖。為了能夠清楚表達信號墊112、數據端子111與密封體400的相對位置關係,圖6僅將部分元件繪示出來,但從上述段落與圖5中,可以理解信號墊112、數據端子111與密封體400之外,尚有其他層別。請同時對應圖5與圖6之實施例,信號墊112與數據端子111為錯開設置,使得信號墊112與數據端子在垂直投影方向上,有部分面積重疊、部分面積不重疊。如此一來,密封體400外緣處於信號墊112外緣與數據端子111外緣以外,即在垂直投影方向上,密封體400覆蓋信號墊112與數據端子111。換句話說,本實施例中,當密封體400在塗佈精準度為符合設定或偏移方向為朝向周邊區A2的情況下,信號墊112被密封體400完全覆蓋,或者,信號墊112的部分結構被密封體400覆蓋(其剩餘部分處於顯示區A1內)。如此一來,信號墊112不與外界環境接觸,避免了信號墊112被水氣污染。
請再次參閱圖6。圖6係依照本發明第二實施例之密
封體準確塗佈或向外偏移時所繪示之俯視示意圖。本實施例中,設置信號墊112與數據端子111的形狀和面積保持一致,並將信號墊112向顯示區A1方向與數據端子111錯開50~70μm(即圖6中距離D落在50μm至70μm之間)。此時信號墊112透過接觸孔113與數據端子111保持耦接,且信號墊112被密封體400完全覆蓋,或信號墊112的部分結構被密封體400覆蓋(其剩餘部分處於顯示區A1內),以避免了信號墊112被水氣污染。
在另一些實施例中,數據端子還設置有開口114,信號墊112與數據端子111錯開設置時,從垂直投影方向上,信號墊112與開口114部分重疊或不重疊,如圖6所示之開口114顯示的虛線部分即為開口114與信號墊112部分重疊的狀態,但本發明不以此為限。此外,於圖4與圖6之實施例中,為了便於說明而將密封體400繪示為矩形結構,但所屬技術領域中具有通常知識者應可理解密封體400在實際的應用中,通常會以封閉形狀(如口字型)環繞顯示區A1。同時,圖4與圖6分別繪示出3個與1個測試端子,僅為方便說明,但本發明不以此為限。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
200‧‧‧第二基板
300‧‧‧顯示分子層
400‧‧‧密封體
101‧‧‧基板
102‧‧‧緩衝層
103‧‧‧第一絕緣層
104‧‧‧第一金屬層
105‧‧‧第二絕緣層
106‧‧‧第二金屬層
107‧‧‧第三絕緣層
108‧‧‧第四絕緣層
110‧‧‧測試端子
111‧‧‧數據端子
112‧‧‧信號墊
113‧‧‧接觸孔
A1‧‧‧顯示區
A2‧‧‧周邊區
P‧‧‧塗佈無偏差時密封體的邊緣位置
D‧‧‧信號墊與數據端子錯開的距離
Claims (13)
- 一種顯示裝置,包含:一第一基板,包含相鄰的一顯示區和一周邊區;一第二基板,包含複數個彩色濾光結構,且該些彩色濾光結構對應於該顯示區而設置;一密封體,設置於該周邊區;一顯示分子層,設置於該第一基板和該第二基板之間;一薄膜電晶體,設置於該第一基板;一數據端子,設置於該第一基板,且耦接於該薄膜電晶體;一絕緣層,覆蓋於該數據端子;以及一信號墊,設置於該第一基板,該絕緣層位於該信號墊與該數據端子之間,且該密封體直接覆蓋於該信號墊,其中一接觸孔形成於該絕緣層,使得該信號墊與該數據端子透過該接觸孔而電性連接;其中,該信號墊在往該顯示區方向與該數據端子錯開設置。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該數據端子的外輪廓所圍成的形狀與該信號墊所圍成的形狀相同。
- 如請求項1之顯示裝置,其特徵在於,該信號墊向該顯示區方向與該數據端子錯開50~70μm。
- 如請求項2之顯示裝置,其中該信號墊向該顯示區方向與該數據端子錯開70μm。
- 如請求項1或2或3之顯示裝置,其中該 數據端子和該信號墊被該密封體完全覆蓋。
- 如請求項1或2或3之顯示裝置,其中在垂直投影於該第一基板的方向上,該數據端子的部分區域與該密封體有重疊區域。
- 如請求項1之顯示裝置,其中在垂直投影於該第一基板的方向上,該密封體的外緣位於該數據端子的外緣與該信號墊的外緣之間。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該信號墊為透明導電材料,該數據端子為金屬材料。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該信號墊的外緣與該數據端子的外緣之間的最短距離為50~70μm。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該信號墊的寬度為100μm。
- 一種顯示裝置,包含:一第一基板,包含相鄰的一顯示區和一周邊區;一第二基板,包含複數個彩色濾光結構,且該些彩色濾光結構對應於該顯示區而設置;一密封體,設置於該周邊區;一顯示分子層,設置於該第一基板和該第二基板之間;一薄膜電晶體,設置於該第一基板;一數據端子,設置於該第一基板,且耦接於該薄膜電晶體;一絕緣層,覆蓋於該數據端子;以及一信號墊,設置於該第一基板,該絕緣層位於該信號墊與該數據端子之間,且該密封體直接覆蓋於該信號墊, 其中一接觸孔形成於該絕緣層,使得該信號墊與該數據端子透過該接觸孔而電性連接;其中,於一垂直投影方向上,該信號墊與該數據端子的面積為部分重疊。
- 如請求項11之顯示裝置,其中該數據端子的外輪廓所圍成的形狀與該信號墊所圍成的形狀相同。
- 如請求項11之顯示裝置,其中在垂直投影於該第一基板的方向上,該密封體的外緣位於該數據端子的外緣與該信號墊的外緣之間。
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