TWI677674B - 物體取樣及檢視裝置 - Google Patents

Abstract

一種物體取樣及檢視裝置包含一取樣單元及一檢視單元，藉由該取樣單元的一針管檢選至少一待檢視物至該檢視單元，並由該檢視單元的一影像截取裝置對該待檢視物進行檢視及截取該待檢視物的影像，以提高取樣效率。

Description

物體取樣及檢視裝置

本發明是關於一種物體取樣及檢視裝置，特別是一種用以選取及檢視微細物體的裝置。

在微細生物(如蟲、蟲卵、浮游生物、蟎等)或微細物質(如種子、金屬粉末、砂石等)實驗研究或認證工作中，必需檢選或分離不同微細生物或微細物質，以準確地取得必要的實驗數據或研究資料。

習知分離或檢選不同微細生物或微細物質，必需藉由檢選人員以毛筆或鑷子將不同微細生物或微細物體分離並檢選，必要時，必需預先以液體清洗微細生物或微細物體，再進行分離或檢選。

由於分離或檢選不同微細生物或微細物體以毛筆或鑷子，因此容易造成微細生物或微細物質不易沾黏於毛筆，或者，無法以鑷子檢選，此外，微細生物或微細物體容易由毛筆或鑷子掉落，因而造成檢選效率無法提升。

本發明的主要目的是以一取樣單元的一針管檢選至少一待檢視物(如微細生物或微細物質)至一檢視單元，並由該檢視單元的一影像截取裝置截取該待檢視物的影像，以提高取樣效率。

本發明之一種物體取樣及檢視裝置包含一基座、一取樣單元及一檢視單元，該取樣單元包含一第一豎軸軌道、一第一載台、一第一驅動模組、一第二載台、一第二驅動模組及一針管，該第一豎軸軌道設置於該基座，該第一載台活動地結合於該第一豎軸軌道，該第一載台選擇性地在該第一豎軸軌道的二端部之間移動，該第一驅動模組設置於該第一載台，該第一驅動模組結合該第二載台，該第一驅動模組用以驅動該第二載台選擇性地在一水平位置轉動，該第二驅動模組設置於該第二載台，該針管結合於該第二驅動模組，該第二驅動模組用以帶動該針管在一通過該水平位置的一豎軸方向選擇性地擺動，以使該針管對至少一待檢視物取樣，該檢視單元包含一第二豎軸軌道、一第三載台、一第一影像截取裝置及一第四載台，該第二豎軸軌道設置於該基座，該第三載台活動地結合於該第二豎軸軌道，且該第三載台選擇性地在該第二豎軸軌道的二端部之間移動，該第一影像截取裝置的一固定部設置於該第三載台，該第四載台設置於該第一影像截取裝置的一末端部，該第四載台用以放置由該針管所取樣的該待檢視物，該第一影像截取裝置用以對放置於該第四載台的該待檢視物截取影像。

本發明藉由該針管檢選該待檢視物(如微細生物或微細物質)，以提高檢選效率，且可防止發生該待檢視物掉落而必需重工，或因體積太小而無法選的問題，必要時，經由該針管輸送液體至該待檢視物，以清洗該待檢視物。

請參閱第1至4圖，一種物體取樣及檢視裝置100，其用以檢選至少一待檢視物O(如微細生物：蟲、蟲卵、浮游生物、蟎等或微細物質：種子、金屬粉末、砂石等)，該物體取樣及檢視裝置100包含一基座110、一取樣單元120、一檢視單元130，在本實施例中，該基座110包含一底板111及一固定架112，該固定架112結合於該底板111。

請參閱第1至4圖，該取樣單元120包含一第一豎軸軌道121、一第一載台122、一第一驅動模組123、一第二載台124、一第二驅動模組125及一針管126，該第一豎軸軌道121設置於該基座110，在本實施例中，該第一豎軸軌道121設置於該基座110的該固定架112，且該第一豎軸軌道121實質上與該底板111垂直，但不以此為限，必要時該第一豎軸軌道121可傾斜地設置於該基座110。

請參閱第1至4圖，該第一載台122活動地結合於該第一豎軸軌道121，該第一載台122能選擇性地在該第一豎軸軌道121的二端部121a之間移動，在本實施例中，該第一豎軸軌道121選自於一螺桿，該第一載台122活動地囓接於該第一豎軸軌道121，較佳地，該取樣單元120另包含一第一驅動馬達127及一第一限位架129，該第一驅動馬達127及該第一豎軸軌道121設置於該第一限位架129，在本實施例中，該第一豎軸軌道121以該第一限位架129設置於該基座110的該固定架112，該第一驅動馬達127結合於該第一豎軸軌道121，該第一驅動馬達127用以帶動該第一豎軸軌道121轉動，該第一限位架129用以限制該第一載台122，使該第一載台122無法隨著該第一豎軸軌道121轉動，以使該第一載台122沿著該第一豎軸軌道121選擇性地移動。

請參閱第1至4圖，該第一驅動模組123設置於該第一載台122，在本實施例中，該第一驅動模組123設置於該第一載台122的一上表面122a，該第二載台124設置於該第一載台122的一下表面122b，該第一驅動模組123結合該第二載台124，該第一驅動模組123用以驅動該第二載台124選擇性地在一水平位置X轉動，該第一驅動模組123選自於馬達、氣壓幫浦等。

請參閱第1至4圖，該第二驅動模組125設置於該第二載台124，該第二驅動模組125隨著該第二載台124轉動，該針管126結合於該第二驅動模組125，該第二驅動模組125用以驅動該針管126在一通過該水平位置X的一豎軸Y方向選擇性地擺動，該第二驅動模組125選自於馬達、氣壓幫浦等。

請參閱第1至4圖，該物體取樣及檢視裝置100另包含一第五載台140，該第五載台140用以放置複數個待檢視物O，以供該針管126對該些待檢視物O的至少一待檢視物O取樣，在本實施例中，藉由該第一驅動模組123驅動該第二載台124選擇性地在該水平位置X轉動，以及藉由該第二驅動模組125驅動該針管126在該豎軸Y方向選擇性地擺動，以使該針管126能選取該待檢視物O，較佳地，該針管126結合一導通管128，該導通管128連通該針管126及一幫浦(圖未繪出)，該幫浦選自於氣壓幫浦或液壓幫浦，該幫浦用以提供一負壓氣體至該導通管128，該導通管128用以傳送該負壓氣體至該針管126，以使該針管126藉由該負壓氣體吸取該些待檢視物O的至少一待檢視物O，或者，該幫浦用以提供一液體至該導通管128，該導通管128並將該液體傳送至該針管126，藉由該針管126噴出該液體，以清洗該些待檢視物O，該針管126的內徑選自於0.16mm，但不以此為限。

請參閱第1至4圖，該檢視單元130包含一第二豎軸軌道131、一第三載台132、一第一影像截取裝置133及一第四載台134，該第二豎軸軌道131設置於該基座110，在本實施例中，該第二豎軸軌道131設置於該基座110的該固定架112，且該第二豎軸軌道131實質上與該底板111垂直，但不以此為限，必要時該第二豎軸軌道131可傾斜地設置於該基座110。

請參閱第1至4圖，該第三載台132活動地結合於該第二豎軸軌道131，該第三載台132能選擇性地在該第二豎軸軌道131的二端部131a之間移動，在本實施例中，該第二豎軸軌道131選自於一螺桿，該第三載台132活動地囓接於該第二豎軸軌道131，較佳地，該檢視單元130另包含一第二驅動馬達136及一第二限位架137，該第二驅動馬達136及該第二豎軸軌道131設置於該第二限位架137，在本實施例中，該第二豎軸軌道131藉由該第二限位架137設置於該基座110的該固定架112，該第二驅動馬達136結合於該第二豎軸軌道131，該第二驅動馬達136用以帶動該第二豎軸軌道131轉動，該第二限位架137用以限制該第三載台132，使該第三載台132無法隨著該第二豎軸軌道131轉動，以使該第三載台132沿著該第二豎軸軌道131選擇性地移動。

請參閱第1至4圖，該第一影像截取裝置133的一固定部133a設置於該第三載台132，該第四載台134設置於該第一影像截取裝置133的一末端部133b，該第四載台134用以放置由該針管126所取樣的該待檢視物O，該第一影像截取裝置133用以對放置於該第四載台134的該待檢視物O截取影像。

請參閱第1至4圖，較佳地，該檢視單元130另包含一第二影像截取裝置135，該第二影像截取裝置135設置於該第三載台132，當該針管126藉由該負壓氣體吸取該些待檢視物O的至少一待檢視物O時，該第二影像截取裝置135用以截取該針管126選取放置於該第五載台140的該些待檢視物O的影像，該第一影像截取裝置133及該第二影像截取裝置135選自於電子顯微鏡。

請參閱第1至4圖，該物體取樣及檢視裝置100另包一第一軸向軌道150、一第三限位架150a、一第二軸向軌道160及一第四限位架160a，該第二軸向軌道160以該第四限位架160a設置於該基座110，該第五載台140活動地結合於該第一軸向軌道150，該第一軸向軌道150以該第三限位架150a活動地結合於該第二軸向軌道160，在本實施例中，該第一軸向軌道150及該第二軸向軌道160選自於一螺桿，較佳地，該物體取樣及檢視裝置100另包一第三驅動馬達170及一第四驅動馬達180，該第三驅動馬達170結合該第一軸向軌道150，該第四驅動馬達180結合該第二軸向軌道160，該第三驅動馬達170用以帶動該第一軸向軌道150轉動，該第三限位架150a用以限制該第五載台140，使該第五載台140無法隨著該第一軸向軌道150轉動，以使該第一軸向軌道150驅動該第五載台140沿著該第一軸向軌道150選擇性地移動，該第四驅動馬達180用以帶動該第二軸向軌道160轉動，該第四限位架160a用以限制該第三限位架150a，使該第三限位架150a無法隨著該第二軸向軌道160轉動，以使該第二軸向軌道160驅動該第一軸向軌道150沿著該第二軸向軌道160選擇性地移動，進而使該第五載台140移動至該第二影像截取裝置135下方，以利操作人員藉由該第二影像截取裝置135檢視該針管126選取放置於該第五載台140的該些待檢視物O，在本實施例中，該第一軸向軌道150為一橫向軌道，該第二軸向軌道160為一縱向軌道。

請參閱第3及4圖，較佳地，該第四載台134至該底板111之間具有一第一間距D1，該第五載台140至該底板111之間具有一第二間距D2，該第一間距D1大於該第二間距D2，以使該第一軸向軌道150及該第二軸向軌道160移動該第五載台140時，該第四載台134不會對該第五載台140產生干涉，以避免該第四載台134撞擊該第五載台140。

本發明藉由該針管126檢選該待檢視物O(如微細生物或微細物質)，以提高檢選效率，且可防止發生該待檢視物O掉落而必需重工的問題，或因體積太小而無法選的問題。

本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準，任何熟知此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內所作之任何變化與修改，均屬於本發明之保護範圍。

100‧‧‧物體取樣及檢視裝置

110‧‧‧基座

111‧‧‧底板

112‧‧‧固定架

120‧‧‧取樣單元

121‧‧‧第一豎軸軌道

121a‧‧‧端部

122‧‧‧第一載台

122a‧‧‧上表面

122b‧‧‧下表面

123‧‧‧第一驅動模組

124‧‧‧第二載台

125‧‧‧第二驅動模組

126‧‧‧針管

127‧‧‧第一驅動馬達

128‧‧‧導通管

129‧‧‧第一限位架

130‧‧‧檢視單元

131‧‧‧第二豎軸軌道

131a‧‧‧端部

132‧‧‧第三載台

133‧‧‧第一影像截取裝置

133a‧‧‧固定部

133b‧‧‧末端部

134‧‧‧第四載台

135‧‧‧第二影像截取裝置

136‧‧‧第二驅動馬達

137‧‧‧第二限位架

140‧‧‧該第五載台

150‧‧‧第一軸向軌道

150a‧‧‧第三限位架

160‧‧‧第二軸向軌道

160a‧‧‧第四限位架

170‧‧‧第三驅動馬達

180‧‧‧第四驅動馬達

D1‧‧‧第一間距

D2‧‧‧第二間距

O‧‧‧待檢視物

X‧‧‧水平位置

Y‧‧‧豎軸

第1圖：本發明之物體取樣及檢視裝置的立體圖。
第2圖：本發明之物體取樣及檢視裝置的另一立體圖。
第3圖：本發明之物體取樣及檢視裝置的側視圖。
第4圖：本發明之物體取樣及檢視裝置的另一側視圖。

Claims (14)

1. 一種物體取樣及檢視裝置，包含：
   一基座；
   一取樣單元，包含一第一豎軸軌道、一第一載台、一第一驅動模組、一第二載台、一第二驅動模組及一針管，該第一豎軸軌道設置於該基座，該第一載台活動地結合於該第一豎軸軌道，該第一載台選擇性地在該第一豎軸軌道的二端部之間移動，該第一驅動模組設置於該第一載台，該第一驅動模組結合該第二載台，該第一驅動模組用以驅動該第二載台選擇性地在一水平位置轉動，該第二驅動模組設置於該第二載台，該針管結合於該第二驅動模組，該第二驅動模組用以帶動該針管在一通過該水平位置的一豎軸方向選擇性地擺動，以使該針管對至少一待檢視物取樣；以及
   一檢視單元，包含一第二豎軸軌道、一第三載台、一第一影像截取裝置及一第四載台，該第二豎軸軌道設置於該基座，該第三載台活動地結合於該第二豎軸軌道，且該第三載台選擇性地在該第二豎軸軌道的二端部之間移動，該第一影像截取裝置的一固定部設置於該第三載台，該第四載台設置於該第一影像截取裝置的一末端部，該第四載台用以放置由該針管所取樣的該待檢視物，該第一影像截取裝置用以對放置於該第四載台的該待檢視物截取影像。
2. 如申請專利範圍第1項所述之物體取樣及檢視裝置，其另包含一第五載台，該第五載台用以放置複數個待檢視物，以供該針管對至少一待檢視物取樣，該檢視單元另包含一第二影像截取裝置，該第二影像截取裝置設置於該第三載台，該第二影像截取裝置用以截取該針管選取放置於該第五載台的該些待檢視物的影像。
3. 如申請專利範圍第2項所述之物體取樣及檢視裝置，另包一第一軸向軌道，該第五載台活動地結合於該第一軸向軌道，該第五載台沿著該第一軸向軌道選擇性地移動至該第二影像截取裝置下方。
4. 如申請專利範圍第3項所述之物體取樣及檢視裝置，另包一第二軸向軌道，該第二軸向軌道設置於該基座，該第一軸向軌道活動地結合於該第二軸向軌道，該第一軸向軌道沿著該第二軸向軌道選擇性移動，以使該第五載台選擇性地移動至該第二影像截取裝置下方。
5. 如申請專利範圍第3項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該第一軸向軌道為一橫向軌道。
6. 如申請專利範圍第4項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該第二軸向軌道為一縱向軌道。
7. 如申請專利範圍第2項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該基座包含一底板，該第四載台至該底板之間具有一第一間距，該第五載台至該底板之間具有一第二間距，該第一間距大於該第二間距。
8. 如申請專利範圍第1項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該基座包含一底板及一固定架，該固定架結合於該底板，該第一豎軸軌道及第二豎軸軌道設置於該固定架。
9. 如申請專利範圍第1或項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該取樣單元另包含一第一限位架，該第一豎軸軌道設置於該第一限位架，該第一限位架用以限制該第一載台，使該第一載台無法隨著該第一豎軸軌道轉動。
10. 如申請專利範圍第9項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該取樣單元另包含一第一驅動馬達，且該第一豎軸軌道選自於一螺桿，該第一載台活動地囓接於該第一豎軸軌道，該第一驅動馬達帶動該第一豎軸軌道轉動，以使該第一載台沿著該第一豎軸軌道選擇性地移動。
11. 如申請專利範圍第1項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該檢視單元另包含一第二限位架，該第二豎軸軌道設置於該第二限位架，該第二限位架用以限制該第三載台，使該第三載台無法隨著該第二豎軸軌道轉動。
12. 如申請專利範圍第1項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該檢視單元另包含一第二驅動馬達，且該第二豎軸軌道為一螺桿，該第三載台活動地囓接於該第二豎軸軌道，該第二驅動馬達帶動該第二豎軸軌道轉動，以使該第三載台沿著該第二豎軸軌道選擇性地移動。
13. 如申請專利範圍第1項所述之物體取樣及檢視裝置，其中該針管結合一導通管，該導通管連通該針管，該導通管用以傳送一負壓氣體或一液體至該針管。
14. 如申請專利範圍第4項所述之物體取樣及檢視裝置，其另包含一第三限位架及一第四限位架，該第二軸向軌道以該第四限位架設置於該基座，該第一軸向軌道以該第三限位架活動地結合於該第二軸向軌道，該第三限位架用以限制該第五載台，使該第五載台無法隨著該第一軸向軌道轉動，該第四限位架用以限制該第三限位架，使該第三限位架無法隨著該第二軸向軌道轉動。