TWI644577B - Microphone test device - Google Patents
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Abstract
一種麥克風測試裝置，包括基座、上蓋、固定座、浮動接頭、移動裝置、導柱、機台、上隔離墊、壓板、壓板隔離墊、隔音門及線材。浮動接頭向下移動至脫離位置的狀態之下，浮動接頭同時與固定座的頂壁以及上蓋的頂部保持一段距離，配合該等上隔離墊和該等壓板隔離墊，不在同一直線上延伸的基座的線孔和隔音門的線孔，及基座的二密封板和隔音門的二密封板，本發明的麥克風測試裝置可有效防止低頻噪音傳遞給上蓋及基座而進入測試腔室，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
Description
本發明係涉及一種測試機台，特別是一種用以防止低頻噪音進入測試腔室的麥克風測試裝置。
微機電麥克風(MEMS Microphone)是一種使用微機電(Micro Electrical-Mechanical System)技術所製成的麥克風，亦可稱為麥克風晶片(microphone chip)或者矽麥克風(silicon microphone)，主要應用在手機、平板電腦、筆記型電腦、助聽器等小型行動電子產品。
為了檢測此種麥克風的音頻特性，須將待測試麥克風放置在一麥克風測試裝置中，使得待測試麥克風與外在聲源隔絕，並且保持在無低頻噪音的環境，以模擬自由音場。
然而，實際上，習用的麥克風測試裝置容易透過以下幾個部位將低頻噪音傳遞至測試腔室：
一、設於移動裝置的一端的接頭直接接觸上蓋，使得低頻噪音經過移動裝置及接頭傳遞給上蓋而進入測試腔室。
二、基座的底部直接接觸機台的頂部，使得低頻噪音經過機台傳遞給基座而進入測試腔室。
三、基座的線孔和隔音門的線孔在同一直線上延伸，低頻噪音容易從隔音門的線孔直線通過基座的線孔而進入測試腔室。
四、隔音門無法完全固定線材，造成低頻噪音透過線材傳遞至測試腔室。
放置在測試腔室內的待測試麥克風在低頻噪音、雜訊及共振等干擾之下，會影響到待測試麥克風的測試準確性，因此習用的麥克風測試裝置確實有進一步改善之必要。
本發明的主要目的在於提供一種麥克風測試裝置，能夠有效防止低頻噪音透過移動裝置、浮動接頭、機台、壓板、基座的線孔、隔音門的線孔及線材等構件傳遞給上蓋及基座而進入測試腔室，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
本發明的另一目的在於提供一種麥克風測試裝置，浮動接頭能夠平穩地垂直移動，不會晃動，避免在脫離位置的時候因晃動而接觸到固定座，防止低頻噪音經由固定座傳遞給上蓋而進入測試腔室，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
為了達成前述的目的，本發明將提供一種麥克風測試裝置，包括一基座、一上蓋、一固定座、一浮動接頭以及一移動裝置。
上蓋設於基座的頂部並且與基座共同圍構一測試腔室。
固定座具有一頂壁及一側壁，頂壁開設一開口，側壁設於頂壁與上蓋的頂部之間，固定座的頂壁、側壁及上蓋的頂部共同圍構一容室，容室與開口相通；
浮動接頭具有一第一端部及一第二端部，浮動接頭的第一端部設於容室並且其外徑大於固定座的頂壁的開口的內徑，浮動接頭的第二端部穿過固定座的頂壁的開口。
移動裝置設於浮動接頭的第二端部並且驅動浮動接頭垂直移動於一接觸位置及一脫離位置之間，當浮動接頭位於接觸位置時，浮動接頭的第一端部的頂面接觸固定座的頂壁，使得移動裝置能夠藉由浮動接頭以及固定座移動上蓋靠近或者遠離基座，當上蓋移動至基座的頂部時，移動裝置進一步驅動浮動接頭向下移動至脫離位置，使得浮動接頭的第一端部的頂面脫離固定座的頂壁而與固定座的頂壁保持一段距離，同時與上蓋的頂部保持一段距離。
較佳地，固定座的頂壁與浮動接頭的第一端部的其中之一開設一導引孔，麥克風測試裝置更包括一導柱，導柱設於固定座的頂壁與浮動接頭的第一端部的另一者並且可移動於導引孔中。
較佳地，固定座的頂壁開設二導引孔，該二導引孔位於開口的相對二側，浮動接頭的第一端部開設二貫穿其頂、底面的穿孔，麥克風測試裝置包括二導柱，該二導柱分別插設於浮動接頭的第一端部的二穿孔並且可移動於固定座的頂壁的二導引孔中。
較佳地，固定座的頂壁的開口具有一內環平面及一內環斜面，內環斜面位於內環平面與固定座的頂壁的底面之間，該二導引孔分別貫穿固定座的頂壁的頂面及底面，浮動接頭的第一端部的頂面具有一上環平面、一外環斜面及一下環平面，浮動接頭的第一端部的外環斜面位於上環平面與下環平面之間，該二穿孔貫穿浮動接頭的第一端部的下環平面；其中，當浮動接頭位於接觸位置時，浮動接頭的第一端部的頂面的外環斜面接觸固定座的頂壁的開口的內環斜面，浮動接頭的第一端部的頂面的下環平面接觸固定座的頂壁的底面，當浮動接頭位於該脫離位置時，浮動接頭的第一端部的頂面的外環斜面遠離固定座的頂壁的開口的內環斜面，浮動接頭的第一端部的頂面的下環平面遠離固定座的頂壁的底面。
較佳地，麥克風測試裝置更包括一機台及複數上隔離墊，該等上隔離墊設於基座的底面與機台的頂面之間。
較佳地，基座具有四個外側面，基座的其中二位置相對的外側面的底部邊緣分別向外延伸出二平台，該等上隔離墊設於基座的二平台的底面與機台的頂面之間。
較佳地，麥克風測試裝置更包括複數壓板及複數壓板隔離墊，各壓板具有一縱板及一橫板，該等壓板的縱板設於機台的頂面，該等壓板的橫板分別從該等壓板的縱板的內側橫向延伸至基座的二平台的上方，該等壓板隔離墊設於該等壓板的橫板的底面與基座的二平台的頂面之間。
較佳地，基座的一側開設一線孔，線孔與測試腔室相通，麥克風測試裝置更包括一隔音門及一線材，隔音門設於該基座的一側並且開設一線孔，基座的線孔的與隔音門的線孔在不同一直線上延伸，線材穿過隔音門的線孔之後，先彎折，再穿過基座的線孔進入測試腔室。
較佳地，基座的一側開設一通孔並且具有二密封板，基座的二密封板設於基座的通孔並且分別在相鄰側凹設一缺口，基座的二密封板的二缺口組合形成基座的線孔，基座的線孔的直徑等於線材的外徑，使得基座的二密封板緊緊地夾住線材。
較佳地，隔音門遠離基座的一側開設一通孔並且具有二密封板，隔音門的二密封板設於隔音門的通孔並且分別在相鄰側凹設一缺口，隔音門的二密封板的二缺口組合形成隔音門的線孔，隔音門的線孔的直徑等於線材的外徑，使得隔音門的二密封板緊緊地夾住線材。
本發明的功效在於，浮動接頭向下移動至脫離位置的狀態之下，配合該等上隔離墊和該等壓板隔離墊，不在同一直線上的延伸的基座的線孔和隔音門的線孔，以及基座的二密封板和隔音門的二密封板，能夠有效防止低頻噪音透過移動裝置、浮動接頭、機台、壓板、基座的線孔、隔音門的線孔及線材等構件傳遞給上蓋及基座而進入測試腔室，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。此外，浮動接頭能夠透過導柱在導引孔中移動而平穩地垂直移動，不會晃動，避免在脫離位置的時候因晃動而接觸到固定座，防止低頻噪音經由固定座傳遞給上蓋而進入測試腔室，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
以下配合圖式及元件符號對本發明的實施方式做更詳細的說明，俾使熟習該項技藝者在研讀本說明書後能據以實施。
請參閱圖1至圖6，圖1是本發明的麥克風測試裝置的立體圖，圖2是本發明的麥克風測試裝置的另一視角的立體圖，圖3是本發明的麥克風測試裝置的前視圖，圖4是本發明的麥克風測試裝置的的上蓋、固定座、浮動接頭及移動裝置的分解圖，圖5是本發明的麥克風測試裝置的的上蓋、固定座、浮動接頭及移動裝置的另一視角的分解圖，圖6是本發明的麥克風測試裝置的剖視圖。本發明係提供一種麥克風測試裝置，包括一基座10、一上蓋20、一固定座30、一浮動接頭40以及一移動裝置50。
上蓋20設於基座10的頂部並且與基座10共同圍構一測試腔室A。更明確地說，上蓋20開設一貫穿其底部的上腔室21，基座10開設一貫穿其頂部的下腔室11，上蓋20的上腔室21和基座10的下腔室11共同組成所述測試腔室A，如圖1、2、6所示。測試腔室A係用以提供給待測試麥克風(圖未示)放置於其中，並透過一檢測設備(為習知結構，圖未示)檢測待測試麥克風的音頻特性。所述待測試麥克風為微機電麥克風(MEMS Microphone)，是一種使用微機電(Micro Electrical-Mechanical System)技術所製成的麥克風，亦可稱為麥克風晶片(microphone chip)或者矽麥克風(silicon microphone)，主要應用在手機、平板電腦、筆記型電腦、助聽器等小型行動電子產品。
固定座30具有一頂壁31及一側壁32，頂壁31開設一開口311，側壁32設於頂壁31與上蓋20的頂部之間，固定座30的頂壁31、側壁32及上蓋20的頂部共同圍構一容室B，容室B與開口311相通，如圖4至圖6所示。更明確地說，固定座30的頂壁31開設若干孔洞312，若干螺絲(圖未示)穿過該等孔洞312之後螺設於上蓋20的頂部的若干螺孔22，藉以使固定座30固定在上蓋20。
浮動接頭40具有一第一端部41及一第二端部42，浮動接頭40的第一端部41設於容室B並且其外徑大於固定座30的頂壁31的開口311的內徑，浮動接頭40的第二端部42穿過固定座30的頂壁31的開口311，如圖6所示。更詳言之，浮動接頭40的第一端部41的外徑大於浮動接頭40的第二端部42的外徑，浮動接頭40的第二端部42的外徑小於固定座30的頂壁31的開口311的內徑，故浮動接頭40的第二端部42穿過固定座30的頂壁31的開口311。
移動裝置50設於浮動接頭40的第二端部42並且驅動浮動接頭40垂直移動於一接觸位置及一脫離位置之間。更明確地說，移動裝置50懸掛在基座10上方，並且電性連接一控制裝置(圖未示)，以控制驅動浮動接頭40垂直移動及水平移動。
當浮動接頭40位於接觸位置時，浮動接頭40的第一端部41的頂面接觸固定座30的頂壁31，使得移動裝置50能夠藉由浮動接頭40以及固定座30移動上蓋20靠近或者遠離基座10，如圖6所示。
當上蓋20移動至基座10的頂部時，移動裝置50進一步驅動浮動接頭40向下移動至脫離位置，使得浮動接頭40的第一端部41的頂面脫離固定座30的頂壁31而與固定座30的頂壁31保持一段距離，同時與上蓋20的頂部保持一段距離，如圖7所示。換言之，浮動接頭40的第一端部41不接觸固定座30和上蓋20的頂部。藉此，低頻噪音經過移動裝置50和浮動接頭40之後，無法傳遞給固定座30和上蓋20，防止低頻噪音透過固定座30和上蓋20進入測試腔室A，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
較佳地，固定座30的頂壁31與浮動接頭40的第一端部41的其中之一開設一導引孔313；本發明的麥克風測試裝置更包括一導柱60，導柱60設於固定座30的頂壁31與浮動接頭40的第一端部41的另一者並且可移動於導引孔313中，藉以使浮動接頭40能夠平穩地垂直移動，完全沒有晃動的可能性，避免浮動接頭40在脫離位置的時候因晃動而側向碰觸固定座30的頂壁31，藉以防止低頻噪音由此方式經由固定座30傳遞給上蓋20而進入測試腔室A，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
在較佳實施例中，固定座30的頂壁31開設二導引孔313，該二導引孔313位於開口311的相對二側；浮動接頭40的第一端部41開設二貫穿其頂、底面的穿孔411；本發明的麥克風測試裝置包括二導柱60，該二導柱60分別插設於浮動接頭40的第一端部41的二穿孔411並且可移動於固定座30的頂壁31的二導引孔313中，藉以使浮動接頭40能夠以更平穩的狀態垂直移動，如圖4至圖7所示。具體來說，固定座30的頂壁31的開口311具有一內環平面3111及內環斜面3112，內環斜面3112位於內環平面3111與固定座30的頂壁31的底面之間，該二導引孔313分別貫穿固定座30的頂壁31的頂面及底面；浮動接頭40的第一端部41的頂面具有一上環平面412、一外環斜面413及一下環平面414，該二穿孔411貫穿浮動接頭40的第一端部41的下環平面414。當浮動接頭40位於接觸位置時，浮動接頭40的第一端部41的頂面的外環斜面413接觸固定座30的頂壁的開口的內環斜面3112，浮動接頭40的第一端部41的頂面的下環平面414接觸固定座30的頂壁31的底面，如圖6所示，使得移動裝置50能夠藉由浮動接頭40以及固定座30移動上蓋20靠近或者遠離基座10。當浮動接頭40位於脫離位置時，浮動接頭40的第一端部41的頂面的外環斜面413遠離固定座30的頂壁31的開口311的內環斜面3112，浮動接頭40的第一端部41的頂面的下環平面414遠離固定座30的頂壁31的底面，如圖7所示。
請參閱圖3、圖8及圖9，圖3是本發明的麥克風測試裝置的前視圖，圖8是本發明的麥克風測試裝置的基座的分解圖，圖9是本發明的麥克風測試裝置的基座的另一視角的分解圖。本發明的麥克風測試裝置更包括一機台70及複數上隔離墊80。該等上隔離墊80設於基座10的底面與機台70的頂面之間。具體而言，基座10具有四個外側面，基座10的其中二位置相對的外側面的底部邊緣分別向外延伸出二平台12，該等上隔離墊80設於基座10的二平台12的底面與機台70的頂面之間。藉此，低頻噪音或者任何振動波經過機台70之後被該等上隔離墊80所吸收，從而減少低頻噪音透過機台70傳遞給基座10而進入測試腔室A的效果，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
在較佳實施例中，本發明的麥克風測試裝置更包括複數壓板90及複數壓板隔離墊100，如圖3、8及9所示。各壓板90具有一縱板91及一橫板92，該等壓板90的縱板91設於機台70的頂面，該等壓板90的橫板92分別從該等壓板90的縱板91的內側橫向延伸至基座10的二平台12的上方。該等壓板隔離墊100設於該等壓板90的橫板92的底面與基座10的二平台12的頂面之間。藉此，該等壓板90能夠協助基座10定位在機台70上，而且低頻噪音或者任何振動波從機台70傳遞給該等壓板90之後被該等壓板隔離墊100所吸收，從而減少低頻噪音透過該等壓板90傳遞給基座10而進入測試腔室A的效果，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
在較佳實施例中，本發明的麥克風測試裝置更包括複數下隔離墊200，如圖3、8及9所示。該等下隔離墊200設於機台70底部的複數支撐腳71的底部。藉此，地板所傳來的低頻噪音或者任何振動波被該等下隔離墊200所吸收，從而減少低頻噪音透過機台70傳遞給基座10而進入測試腔室A的效果，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
請參閱圖10，圖10是本發明的麥克風測試裝置的基座的線孔和隔音門的線孔交錯分佈的剖視圖。在較佳實施例中，基座10的一側開設一線孔13，線孔13與測試腔室A相通；本發明的麥克風測試裝置更包括一隔音門300及一線材400，隔音門300設於基座10的一側並且開設一線孔301。更詳言之，基座10的線孔13是開設在基座10的另外二側之一，與該二平台12位於基座10的不同側，隔音門300與基座10的線孔13位在基座10的同一側。重要的是，基座10的線孔13與隔音門300的線孔301不在同一直線上延伸，也就是說，基座10的線孔13的延伸方向和隔音門300的線孔301的延伸方向是錯開的。更明確地說，基座10的線孔13的一軸線平行於隔音門300的線孔301的一軸線，基座10的線孔13的軸線不重疊於隔音門300的線孔301的軸線。線材400穿過隔音門300的線孔301之後，先彎折，再穿過基座10的線孔13進入測試腔室A，並且電性連接位在測試腔室A內部的檢測設備。藉此，低頻噪音通過隔音門300的線孔301之後，無法直線通過基座10的線孔13而進入測試腔室A，反而會撞擊到基座10的外側壁而減弱，提升待測試麥克風的測試準確性。
在本實施例中，隔音門300內部開設一中空腔室302，隔音門300的中空腔室302與基座10的線孔13及隔音門300的線孔301相通。是以，隔音門300的中空腔室302能夠提供足夠的空間給予線材400輕鬆彎折，因此線材400在穿過隔音門300的線孔301之後，容易在隔音門300的中空腔室302中彎折成Z字形，再穿過基座10的線孔13進入測試腔室A。
較佳地，基座10的一側開設一通孔14並且具有二密封板15。基座10的二密封板15設於基座10的通孔14並且分別在相鄰側凹設一缺口，基座10的二密封板15的二缺口組合形成基座10的線孔13。基座10的線孔13的直徑等於線材400的外徑，使得基座10的二密封板15緊緊地夾住線材400，藉以提供密封效果，並可防止低頻噪音藉由線材400進入測試腔室A，提升待測試麥克風的測試準確性。
較佳地，隔音門300遠離基座10的一側開設一通孔303並且具有二密封板304304。隔音門300的二密封板304設於隔音門300的通孔303並且分別在相鄰側凹設一缺口，隔音門300的二密封板304的二缺口組合形成隔音門300的線孔301。隔音門300的線孔301的直徑等於線材400的外徑，使得隔音門300的二密封板304緊緊地夾住線材400，藉以提供密封效果，並可防止低頻噪音藉由線材400進入測試腔室A，提升待測試麥克風的測試準確性。
綜上所述，本發明的麥克風測試裝置在浮動接頭40向下移動至脫離位置的狀態之下，配合該等上隔離墊80、該等壓板隔離墊100和該等下隔離墊200，以及基座10的二密封板15和隔音門300的二密封板304，能夠有效防止低頻噪音透過移動裝置50、浮動接頭40、機台70、壓板90、基座10的線孔13、隔音門300的線孔301及線材400等構件傳遞給上蓋20及基座10而進入測試腔室A，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
再者，浮動接頭40能夠透過導柱60在導引孔313中移動而平穩地垂直移動，不會晃動，避免浮動接頭40在脫離位置的時候接觸到固定座30，防止低頻噪音經由固定座30傳遞給上蓋20而進入測試腔室A，避免雜訊及共振干擾測試，提升待測試麥克風的測試準確性。
以上所述者僅為用以解釋本發明的較佳實施例，並非企圖據以對本發明做任何形式上的限制，是以，凡有在相同的創作精神下所作有關本發明的任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護的範疇。
10‧‧‧基座
11‧‧‧下腔室
12‧‧‧平台
13‧‧‧線孔
14‧‧‧通孔
15‧‧‧密封板
20‧‧‧上蓋
21‧‧‧上腔室
22‧‧‧螺孔
30‧‧‧固定座
31‧‧‧頂壁
311‧‧‧開口
3111‧‧‧內環平面
3112‧‧‧內環斜面
312‧‧‧孔洞
313‧‧‧導引孔
32‧‧‧側壁
40‧‧‧浮動接頭
41‧‧‧第一端部
411‧‧‧穿孔
412‧‧‧上環平面
413‧‧‧外環斜面
414‧‧‧下環平面
42‧‧‧第二端部
50‧‧‧移動裝置
60‧‧‧導柱
70‧‧‧機台
71‧‧‧支撐腳
80‧‧‧上隔離墊
90‧‧‧壓板
91‧‧‧縱板
92‧‧‧橫板
100‧‧‧壓板隔離墊
200‧‧‧下隔離墊
300‧‧‧隔音門
301‧‧‧線孔
302‧‧‧中空腔室
303‧‧‧通孔
304‧‧‧密封板
400‧‧‧線材
A‧‧‧測試腔室
B‧‧‧容室
圖1是本發明的麥克風測試裝置的立體圖。 圖2是本發明的麥克風測試裝置的另一視角的立體圖。 圖3是本發明的麥克風測試裝置的前視圖。 圖4是本發明的麥克風測試裝置的的上蓋、固定座、浮動接頭及移動裝置的分解圖。 圖5是本發明的麥克風測試裝置的的上蓋、固定座、浮動接頭及移動裝置的另一視角的分解圖。 圖6是本發明的麥克風測試裝置的剖視圖。 圖7是本發明的麥克風測試裝置的浮動接頭向下移動至脫離位置的剖視圖。 圖8是本發明的麥克風測試裝置的基座的分解圖。 圖9是本發明的麥克風測試裝置的基座的另一視角的分解圖。 圖10是本發明的麥克風測試裝置的基座的線孔和隔音門的線孔交錯分佈的剖視圖。
Claims (10)
- 一種麥克風測試裝置，包括： 一基座； 一上蓋，設於該基座的頂部並且與該基座共同圍構一測試腔室； 一固定座，具有一頂壁及一側壁，該頂壁開設一開口，該側壁設於該頂壁與該上蓋的頂部之間，該固定座的頂壁、側壁及該上蓋的頂部共同圍構一容室，該容室與該開口相通； 一浮動接頭，具有一第一端部及一第二端部，該浮動接頭的第一端部設於該容室並且其外徑大於該固定座的頂壁的開口的內徑，該浮動接頭的第二端部穿過該固定座的頂壁的開口；以及 一移動裝置，設於該浮動接頭的第二端部並且驅動該浮動接頭垂直移動於一接觸位置及一脫離位置之間，當該浮動接頭位於該接觸位置時，該浮動接頭的第一端部的頂面接觸該固定座的頂壁，使得該移動裝置能夠藉由該浮動接頭以及該固定座移動該上蓋靠近或者遠離該基座，當該上蓋移動至該基座的頂部時，該移動裝置進一步驅動該浮動接頭向下移動至該脫離位置，使得該浮動接頭的第一端部的頂面脫離該固定座的頂壁而與該固定座的頂壁保持一段距離，同時與該上蓋的頂部保持一段距離。
- 如申請專利範圍第1項所述的麥克風測試裝置，其中，該固定座的頂壁與該浮動接頭的第一端部的其中之一開設一導引孔，該麥克風測試裝置更包括一導柱，該導柱設於該固定座的頂壁與該浮動接頭的第一端部的另一者並且可移動於該導引孔中。
- 如申請專利範圍第2項所述的麥克風測試裝置，其中，該固定座的頂壁開設二導引孔，該二導引孔位於該開口的相對二側，該浮動接頭的第一端部開設二貫穿其頂、底面的穿孔，該麥克風測試裝置包括二導柱，該二導柱分別插設於該浮動接頭的第一端部的二穿孔並且可移動於該固定座的頂壁的二導引孔中。
- 如申請專利範圍第3項所述的麥克風測試裝置，其中，該固定座的頂壁的開口具有一內環平面及一內環斜面，該內環斜面位於該內環平面與該固定座的頂壁的底面之間，該二導引孔分別貫穿該固定座的頂壁的頂面及底面，該浮動接頭的第一端部的頂面具有一上環平面、一外環斜面及一下環平面，該浮動接頭的第一端部的外環斜面位於該上環平面與該下環平面之間，該二穿孔貫穿該浮動接頭的第一端部的下環平面； 其中，當該浮動接頭位於該接觸位置時，該浮動接頭的第一端部的頂面的外環斜面接觸該固定座的頂壁的開口的內環斜面，該浮動接頭的第一端部的頂面的下環平面接觸該固定座的頂壁的底面，當該浮動接頭位於該脫離位置時，該浮動接頭的第一端部的頂面的外環斜面遠離該固定座的頂壁的開口的內環斜面，該浮動接頭的第一端部的頂面的下環平面遠離該固定座的頂壁的底面。
- 如申請專利範圍第1項所述的麥克風測試裝置，更包括一機台及複數上隔離墊，該等上隔離墊設於該基座的底面與該機台的頂面之間。
- 如申請專利範圍第5項所述的麥克風測試裝置，其中，該基座具有四個外側面，該基座的其中二位置相對的外側面的底部邊緣分別向外延伸出二平台，該等上隔離墊設於該基座的二平台的底面與該機台的頂面之間。
- 如申請專利範圍第6項所述的麥克風測試裝置，更包括複數壓板及複數壓板隔離墊，各壓板具有一縱板及一橫板，該等壓板的縱板設於該機台的頂面，該等壓板的橫板分別從該等壓板的縱板的內側橫向延伸至該基座的二平台的上方，該等壓板隔離墊設於該等壓板的橫板的底面與該基座的二平台的頂面之間。
- 如申請專利範圍第1項所述的麥克風測試裝置，其中，該基座的一側開設一線孔，該線孔與該測試腔室相通，該麥克風測試裝置更包括一隔音門及一線材，該隔音門設於該基座的一側並且開設一線孔，該基座的線孔的與該隔音門的線孔在不同一直線上延伸，該線材穿過該隔音門的線孔之後，先彎折，再穿過該基座的線孔進入該測試腔室。
- 如申請專利範圍第8項所述的麥克風測試裝置，其中，該基座的一側開設一通孔並且具有二密封板，該基座的二密封板設於該基座的通孔並且分別在相鄰側凹設一缺口，該基座的二密封板的二缺口組合形成該基座的線孔，該基座的線孔的直徑等於該線材的外徑，使得該基座的二密封板緊緊地夾住該線材。
- 如申請專利範圍第8項所述的麥克風測試裝置，其中，該隔音門遠離該基座的一側開設一通孔並且具有二密封板，該隔音門的二密封板設於該隔音門的通孔並且分別在相鄰側凹設一缺口，該隔音門的二密封板的二缺口組合形成該隔音門的線孔，該隔音門的線孔的直徑等於該線材的外徑，使得該隔音門的二密封板緊緊地夾住該線材。
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2017
- 2017-10-11 TW TW106134755A patent/TWI644577B/zh active
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