TWI633320B - Magnet detecting device - Google Patents

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TWI633320B
TWI633320B TW106136355A TW106136355A TWI633320B TW I633320 B TWI633320 B TW I633320B TW 106136355 A TW106136355 A TW 106136355A TW 106136355 A TW106136355 A TW 106136355A TW I633320 B TWI633320 B TW I633320B
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王文騰
蔡宗霖
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國立虎尾科技大學
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Abstract

一種磁鐵檢測裝置,包含有:一操作台;一固定板,設於該操作台,該固定板可供放置一膠磁,並藉由一固定手段來固定該膠磁,該固定板之頂面具有一第一檢測區域,而該膠磁係置放於該第一檢測區域;一控制器,具有一顯示單元;一移動平台,設於該操作台並電性連接該控制器而受其控制,該移動平台具有一移動座;以及一高斯探測頭,設於該移動座並隨著該移動座移動,該高斯探測頭係朝向該第一檢測區域並對該膠磁進行偵測,該高斯探測頭自該膠磁偵測得一第一測量值,並將該第一測量值回傳至該控制器且顯示於該顯示單元。

Description

磁鐵檢測裝置
本發明係與磁鐵檢測有關,特別是指一種磁鐵檢測裝置。
膠磁(Rubber magnet)是一種同時具有柔軟耐彎折以及磁吸力的磁鐵,當進行磁通量檢測時,傳統的檢測方法是將膠磁以雙面膠固定於一平面,再以手持高斯計的方式對膠磁表面偵測來進行磁通量檢測。
然而,也因為以手持高斯計的檢測方式,而造成以下缺失:1. 當重複檢測膠磁之磁通量時,每一次檢測結果之間的誤差是較高的。2. 膠磁之磁通量的檢測速度緩慢。3. 膠磁磁通量檢測之測量點定位的穩定性以及精準度較低。
綜上缺失,本申請人為解決上述問題而潛心研究,提供一種磁鐵檢測裝置,能夠有效克服上述人工操作進行膠磁磁通量檢測所遇到的問題。
本發明之主要目的乃在於提供一種磁鐵檢測裝置,其可降低重複檢測膠磁之磁通量時的誤差值。
本發明之另一主要目的乃在於提供一種磁鐵檢測裝置,其可提升膠磁之磁通量的檢測速度。
本發明之再一主要目的乃在於提供一種磁鐵檢測裝置,其可提升膠磁磁通量檢測之測量點的定位穩定性以及精準度。
為了達成上述之目的,本發明提供之一種磁鐵檢測裝置,包含有:一操作台;一固定板,設於該操作台,該固定板可供放置一膠磁,並藉由一固定手段來固定該膠磁,該固定板之頂面具有一第一檢測區域,而該膠磁係置放於該第一檢測區域;一控制器,控制該固定手段來對該膠磁進行固定及釋放的動作,且該控制器具有一顯示單元;一移動平台,設於該操作台並電性連接該控制器而受其控制,該移動平台具有一移動座,該移動座係受該移動平台之驅動而至少於該第一檢測區域上方移動;以及一高斯探測頭,設於該移動座並隨著該移動座移動,該高斯探測頭電性連接該控制器,該高斯探測頭係朝向該第一檢測區域並對該膠磁進行偵測,該高斯探測頭自該膠磁偵測得一第一測量值,並將該第一測量值回傳至該控制器且顯示於該顯示單元。
藉此,本發明可降低重複檢測膠磁之磁通量時的誤差值。
以及,本發明可提升膠磁之磁通量的檢測速度。
另外,本發明可提升膠磁磁通量檢測之測量點定位的穩定性以及精準度。
為了詳細說明本發明之技術特點所在,茲舉以下之第一實施例並配合圖式說明如後,其中:
如第1圖及第2圖所示,本發明第一實施例提供之一種磁鐵檢測裝置10,主要由一操作台11、一固定板21、一控制器31、一移動平台41以及一高斯探測頭51所組成,其中:
該固定板21,設於該操作台11,該固定板21可供放置一膠磁100,並藉由一固定手段23來固定該膠磁100,該固定板21之頂面具有一第一檢測區域B1,而該膠磁100係置放於該第一檢測區域B1。
該控制器31,控制該固定手段23來對該膠磁100進行固定及釋放的動作,且該控制器31具有一顯示單元33,於本實施例中該控制器31係為電腦主機,而該顯示單元33係為電腦螢幕。於其餘實施例中,該控制器31亦可為掌上型電腦(Personal Digital Assistant, PDA)、平板手機(Phablet)或平板電腦(Tablet)...等實施態樣,而該顯示單元33即為掌上型電腦、平板手機或平板電腦內建之螢幕,故該控制器31之實施型態不應僅以本實施例為限。
於本實施例中,該固定手段23係藉由於該固定板21之內部形成一內部空間R以及該固定板21之頂面設有複數孔25以及配合一抽氣裝置27所達成,該固定板21之內部空間R係與該複數孔25連通,該控制器31係控制該抽氣裝置27對該固定板21之內部空間R抽氣,使該複數孔25產生吸力來吸住該膠磁100。
另外,請參閱第2圖及第4圖所示,該固定板21之頂面具有一第二檢測區域B2,該第二檢測區域B2係用以置放該膠磁100;以及更具有一拉力檢測裝置61設於該操作台11,且該拉力檢測裝置61電性連接該控制器31並受其控制,該拉力檢測裝置61具有一Z軸移動平台63以及一拉力計65,該拉力計65係設於該Z軸移動平台63而可受驅動沿Z軸方向位移,該拉力計65具有一磁吸物67,該磁吸物67係位於該第二檢測區域B2上方,該磁吸物67係用以被該膠磁100吸住來供該拉力計65測得一磁拉力值(圖中未示)並傳送至該控制器31,以及將該磁拉力值顯示於該顯示單元33;其中,該第二檢測區域B2與該第一檢測區域B1不相重疊。於其餘實施例中,該第二檢測區域B2亦可用以置放一另一膠磁(圖中未示)並進行磁吸力檢測,由此可見,該拉力計65並非僅限於該膠磁100磁吸力測量,亦可針對該另一膠磁進行磁吸力測量,故該拉力計65之配合使用應不僅以本實施例為限。
該移動平台41,設於該操作台11並電性連接該控制器31而受其控制,該移動平台41具有一移動座43,該移動座43係受該移動平台41之驅動而至少於該第一檢測區域B1上方移動。於本實施例中,該移動平台41係為X軸移動平台,驅動該移動座43沿X方向位移,於其餘實施例中,該移動平台41亦可為其它軸向的移動平台,故該移動平台41之位移方向應不僅以本實施例為限。
該高斯探測頭51,設於該移動座43並隨著該移動座43移動,該高斯探測頭51電性連接該控制器31,該高斯探測頭51係朝向該第一檢測區域B1並對該膠磁100進行偵測,該高斯探測頭51自該膠磁100偵測得一第一測量值(圖中未示),並將該第一測量值回傳至該控制器31且顯示於該顯示單元33。於本實施例中,該移動座43會於該第一檢測區域B1上方以每次移動預定距離的方式進行多次移動,而每次移動該高斯探測頭51皆會對該膠磁100進行偵測一次,因此,該高斯探測頭51係測得複數個該第一測量值;另外,該控制器31具有儲存資料的功能,可用以儲存該第一測量值,且該控制器31可供調閱已儲存的該第一測量值並再次顯示於該顯示單元33。然而,於其餘實施例中,該高斯探測頭51亦可藉由該控制器31來設定對該膠磁100的偵測頻率 (如:該移動座43每次移動該高斯探測頭51會對該膠磁100進行複數次的偵測),故該高斯探測頭51的偵測模式應不僅以本實施例為限。
於本實施例中,更具有一固定座71,該固定座71係設於該操作台11,該固定座71具有一固定槽73,該固定槽73係用以固定一圓柱形磁鐵99,該高斯探測頭51隨該移動座43移動而靠近該固定槽73於預定距離時,該高斯探測頭51係偵測一第二測量值(圖中未示),該高斯探測頭51將該第二測量值回傳至該控制器31且顯示於該顯示單元33,同時也可將該第二測量值儲存於該控制器31且可供調閱並再次顯示於該顯示單元33。由此可知,藉由該固定座71之設置可提供該圓柱形磁鐵99之固定效果,且藉由該高斯探測頭51對該圓柱形磁鐵99的偵測,可使本發明具有對該圓柱形磁鐵99之磁通量的檢測功能。但是,若磁通量檢測流程中,並不需進行該圓柱形磁鐵99之磁通量檢測,則可不設置該固定座71,因此,該固定座71之設置並非本發明之必要元件。
以上說明本發明第一實施例之結構,接著,以下接續說明本發明第一實施例之使用狀態。
請參閱第1圖至第5圖所示,當進行該膠磁100進行磁通量檢測時,係將該膠磁100置放於該第一檢測區域B1,由該控制器31控制開啟該抽氣裝置27執行對該內部空間R進行抽氣的動作,再藉該複數孔25吸住該膠磁100,使該膠磁100平貼於該固定板21之第一檢測區域B1;接著,藉由該控制器31控制該移動平台41開啟作動且該移動座43沿X方向近行位移,如第3圖所示,當該高斯探測頭51接觸該膠磁100時,該高斯探測頭51係測得該第一測量值,而因為該高斯探測頭51係以每次移動預定距離的方式移動於該第一檢測區域B1,因此,該高斯探測頭51係將每次所測得的該第一測量值回傳至該控制器31且顯示於該顯示單元33,藉此,可達成該膠磁100之磁通量檢測之目的。同時也可將該第一測量值儲存於該控制器31,便於該第一測量值的調閱。
接續,當該膠磁100之磁通量檢測完畢後,藉由該控制器31將該抽氣裝置27關閉,再將該膠磁100由該第一檢測區域B1轉移置放於該第二檢測區域B2,然後,再次藉由該控制器31將該抽氣裝置27開啟後,使該膠磁100平貼於該第二檢測區域B2,再藉由該控制器31控制該拉力檢測裝置61,使該拉力計65沿該Z軸移動平台63朝該膠磁100靠近,當該磁吸物67受該膠磁100吸住並測得該磁拉力值時,該拉力檢測裝置61將該磁拉力值傳送至該控制器31並將該磁拉力值顯示於該顯示單元33,藉此,可達成膠磁該磁吸力檢測之目的。同時也可將該磁拉力值儲存於該控制器31,便於該磁拉力值的調閱。
最後,當進行該圓柱形磁鐵99之磁通量檢測時,係將該圓柱形磁鐵99固定於該固定槽73,當該高斯探測頭51隨著該移動座43移動而靠近該固定槽73於預定距離時,該高斯探測頭51即對該圓柱形磁鐵99進行磁通量偵測,並偵測得該第二測量值回傳至該控制器31並顯示於該顯示單元33,且同時將該第二測量值儲存於該控制器31並可供調閱並再次顯示於該顯示單元33,藉此,藉由該固定座71之設置,可使本發明具有對該圓柱形磁鐵99之磁通量檢測功能。
據此,藉由本發明之磁鐵檢測裝置可達到降低重複檢測膠磁之磁通量時的誤差值之目的。
另外,藉由本發明之磁鐵檢測裝置可達到提升膠磁之磁通量的檢測速度之目的。
以及,藉由本發明之磁鐵檢測裝置可達到提升膠磁磁通量檢測之測量點定位的穩定性以及精準度之目的。
接著,請參閱第6圖至第8圖所示,本發明第二實施例之磁鐵檢測裝置10’主要概同於前第一實施例,其不同之處係在於:
該移動平台41’係為XYZ移動平台,驅動該移動座43’沿XYZ平面位移,藉此增加該移動座43’可移動的空間。
當置放於該第一檢測區域B1’為面積較大的該膠磁100’時(如第7圖所示),由於該控制器31’可控制該移動座43’於XY平面位移,藉此可增加該高斯探測頭51’對該膠磁100’的偵測面積,以符合不同面積的該膠磁100’。
而藉由該控制器31’可控制該移動座43’於Z平面位移,藉此可調整該高斯探測頭51’與該膠磁100’的距離,以符合不同厚度的該膠磁100’(如第8圖所示)。
由此可知,藉由該移動座係沿XYZ平面位移之技術特徵,可有效增加該移動座可移動的空間。
而本第二實施例之其餘結構及所能達成之功效係概同於前第一實施例,容不再贅述。
10‧‧‧磁鐵檢測裝置
11‧‧‧操作台
21‧‧‧固定板
23‧‧‧固定手段
25‧‧‧孔
27‧‧‧抽氣裝置
31‧‧‧控制器
33‧‧‧顯示單元
41‧‧‧移動平台
43‧‧‧移動座
51‧‧‧高斯探測頭
61‧‧‧拉力檢測裝置
63‧‧‧Z軸移動平台
65‧‧‧拉力計
67‧‧‧磁吸物
71‧‧‧固定座
73‧‧‧固定槽
99‧‧‧圓柱形磁鐵
100‧‧‧膠磁
B1‧‧‧第一檢測區域
B2‧‧‧第二檢測區域
R‧‧‧內部空間
10’‧‧‧磁鐵檢測裝置
31’‧‧‧控制器
41’‧‧‧移動平台
43’‧‧‧移動座
51’‧‧‧高斯探測頭
100’‧‧‧膠磁
B1’‧‧‧第一檢測區域
第1圖係本發明第一實施例之立體圖。 第2圖係本發明第一實施例之局部頂視圖。 第3圖係本發明第一實施例之第一使用狀態圖,顯示膠磁進行磁通量檢測。 第4圖係本發明第一實施例之第二使用狀態圖,顯示膠磁進行磁吸力檢測。 第5圖係本發明第一實施例之第三使用狀態圖,顯示圓柱形磁鐵進行磁通量檢測。 第6圖係本發明第二實施例之立體圖。 第7圖係本發明第二實施例之使用狀態圖,顯示膠磁面積較大,而移動塊於XY平面位移狀態。 第8圖係本發明第二實施例之使用狀態圖,顯示膠磁厚度較厚,而移動塊於Z平面位移狀態。

Claims (5)

  1. 一種磁鐵檢測裝置,包含有:一操作台;一固定板,設於該操作台,該固定板之內部形成一內部空間、且該固定板之頂面設有複數孔,該固定板之內部空間係與該複數孔連通,該固定板可供放置一膠磁,該固定板之頂面具有一第一檢測區域,而該膠磁係置放於該第一檢測區域,該固定板之頂面具有一第二檢測區域,該第二檢測區域係用以置放該膠磁或一另一膠磁;一抽氣裝置,連通該固定板之內部空間,並藉由對該固定板之內部空間抽氣,使該複數孔產生吸力來吸住該膠磁;一控制器,控制該抽氣裝置的開啟與關閉,以對該膠磁進行固定及釋放的動作,且該控制器具有一顯示單元;一移動平台,設於該操作台並電性連接該控制器而受其控制,該移動平台具有一移動座,該移動座係受該移動平台之驅動而至少於該第一檢測區域上方移動;一高斯探測頭,設於該移動座並隨著該移動座移動,該高斯探測頭電性連接該控制器,該高斯探測頭係朝向該第一檢測區域並對該膠磁進行偵測,該高斯探測頭自該膠磁偵測得一第一測量值,並將該第一測量值回傳至該控制器且顯示於該顯示單元;以及一拉力檢測裝置,設於該操作台,該拉力檢測裝置電性連接該控制器並受其控制,該磁拉力檢測裝置具有一Z軸移動平台以及一拉力計,該拉力計係設於該Z軸移動平台而可受驅動沿Z軸方向位移,該拉力計具有一磁吸物,該磁吸物 係位於該第二檢測區域上方,該磁吸物係用以被該膠磁或該另一膠磁吸住來供該拉力計測得一磁拉力值並傳送至該控制器,且將該磁拉力值顯示於該顯示單元。
  2. 依據申請專利範圍第1項之磁鐵檢測裝置,其中:該移動平台係為X軸移動平台,驅動該移動座沿X方向位移。
  3. 依據申請專利範圍第1項之磁鐵檢測裝置,其中:更具有一固定座,該固定座係設於該操作台,該固定座具有一固定槽,該固定槽係用以固定一圓柱形磁鐵,該高斯探測頭隨該移動座移動而靠近該固定槽於預定距離時,該高斯探測頭係偵測一第二測量值,該高斯探測頭將該第二測量值回傳至該控制器且顯示於該顯示單元。
  4. 依據申請專利範圍第1項之磁鐵檢測裝置,其中:該移動平台係為XYZ移動平台,驅動該移動座沿XYZ平面位移。
  5. 依據申請專利範圍第1項之磁鐵檢測裝置,其中:該第二檢測區域與該第一檢測區域不相重疊。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111896899B (zh) * 2020-07-06 2021-06-11 苏州佳祺仕信息科技有限公司 一种高斯检测探头

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW524313U (en) * 2001-11-01 2003-03-11 Ming-Fa Lu Magnetic bar detecting device of rubber magnetic bar forming machine
EP1939643A2 (en) * 2006-12-20 2008-07-02 Heraeus, Inc. Apparatus for a magnetic field detector holding assembly for a pass-through flux (PTF) measurement stand
US20130200882A1 (en) * 2012-02-03 2013-08-08 Research In Motion Limited Methods and devices for detecting magnetic interference affecting the operation of a magnetometer
CN105203973A (zh) * 2015-09-18 2015-12-30 中国科学院电工研究所 一种弱磁性检测装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW524313U (en) * 2001-11-01 2003-03-11 Ming-Fa Lu Magnetic bar detecting device of rubber magnetic bar forming machine
EP1939643A2 (en) * 2006-12-20 2008-07-02 Heraeus, Inc. Apparatus for a magnetic field detector holding assembly for a pass-through flux (PTF) measurement stand
US20130200882A1 (en) * 2012-02-03 2013-08-08 Research In Motion Limited Methods and devices for detecting magnetic interference affecting the operation of a magnetometer
CN105203973A (zh) * 2015-09-18 2015-12-30 中国科学院电工研究所 一种弱磁性检测装置

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