TWI627415B - 測試用纜線及使用其的測試方法 - Google Patents

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Abstract

測試用纜線及使用其的測試方法。測試用纜線包括一通用串列匯流排（USB）接頭、一測試端接頭及一開關電路。通用串列匯流排接頭耦接至一電子裝置，並且具有一第一資料接腳對及一第二資料接腳對。測試端接頭耦接至一測試治具，且具有一測試資料接腳對及一第一控制接腳，測試治具用以輸出一第一控制信號至第一控制接腳。開關電路耦接第一資料接腳對、第二資料接腳對、測試資料接腳對及第一控制接腳，並且開關電路依據第一控制信號將測試資料接腳對耦接至第一資料接腳對或第二資料接腳對。

Description

測試用纜線及使用其的測試方法
本發明是有關於一種測試用纜線，且特別是有關於一種用於通用串列匯流排(USB)3.0 C型介面的測試用纜線及使用其的測試方法。
通用串列匯流排(Universal Series Bus，USB)介面己廣泛應用於手機、數位相機、平板電腦、筆記型電腦等電子裝置中，其中通用串列匯流排介面除了可以傳輸資料之外，更可用於電力傳輸功能。由於通用串列匯流排介面的蓬勃發展，具有正反插功能的通用串列匯流排3.0 C型介面於是被提出。然而，由於通用串列匯流排3.0 C型介面具有正反插的功能，因此會導致介面測試上的困難。因此，如何在不用重新插拔的情況下完整測試電子裝置上的通用串列匯流排3.0 C型介面則成為設計測試系統的一個課題。
本發明提供一種測試用纜線及使用其的測試方法，可在不重新插拔的情況下，將測試信號依序提供至待測的接腳，以降低測試成本。
本發明的測試用纜線，包括一通用串列匯流排(USB)接頭、一測試端接頭及一開關電路。通用串列匯流排接頭耦接至一電子裝置，並且具有一第一資料接腳對及一第二資料接腳對。測試端接頭耦接至一測試治具，且具有一測試資料接腳對及一第一控制接腳，測試治具用以輸出一第一控制信號至第一控制接腳。開關電路耦接第一資料接腳對、第二資料接腳對、測試資料接腳對及第一控制接腳，並且開關電路依據第一控制信號將測試資料接腳對耦接至第一資料接腳對或第二資料接腳對。
本發明的測試方法，包括下列步驟。透過一如上所述的測試用纜線耦接一測試治具與一電子裝置。在一第一測試階段，依據第一控制信號耦接測試資料接腳對至第一資料接腳對，電子裝置透過測試用纜線的第一資料接腳對提供一第一測試信號至測試治具，並且透過第一資料接腳對接收測試治具對應第一測試信號輸出的一第一回饋信號，比對第一測試信號與第一回饋信號是否相同，以判斷第一資料接腳對是否正常。在一第二測試階段，設定第一控制信號耦接測試資料接腳對至第二資料接腳對，電子裝置透過測試用纜線的第二資料接腳對提供第一測試信號至測試治具，並且透過第二資料接腳對接收測試治具對應第一測試信號輸出的一第二回饋信號，比對第一測試信號與第二回饋信號是否 相同，以判斷第二資料接腳對是否正常。
基於上述，本發明實施例的測試用纜線及使用所述測試用纜線耦接一測試治具與一電子裝置的測試方法，其測試用纜線具有開關電路，以使測試信號可以自不同側的通用串列匯流排接頭的接腳對依序傳送到測試治具，而測試治具亦可傳送對應所述測試信號的回饋信號透過不同側的通用串列匯流排接頭的資料接腳對至電子裝置，藉由比對所述測試信號及所述回饋信號是否相同，以判斷接腳對是否正常。藉此，可在不用重新插拔的情況下，測試通用串列匯流排介面中的所有資料介面，以降低測試的困難度。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
1、2‧‧‧測試系統
10‧‧‧電子裝置
11‧‧‧應用程式
20、30‧‧‧測試治具
100、200‧‧‧測試用纜線
110‧‧‧通用串列匯流排接頭
120、220‧‧‧開關電路
130、230‧‧‧測試端接頭
A1~A12、B1~B12、P1~P24、T1~T10‧‧‧接腳
CGND‧‧‧共同接地電壓
PDT‧‧‧測試資料接腳對
PDX1‧‧‧第一資料接腳對
PDX2‧‧‧第二資料接腳對
PRT、PRT1、PRT2‧‧‧接收測試接腳對
PRX1‧‧‧第一接收接腳對
PRX2‧‧‧第二接收接腳對
PTT、PTT1、PTT2‧‧‧傳送測試接腳對
PTX1‧‧‧第一傳送接腳對
PTX2‧‧‧第二傳送接腳對
SCL1‧‧‧第一控制信號
SCL2‧‧‧第二控制信號
SF1+、SF1-、SF2+、SF2-、SF3+、SF3-、SF4+、SF4-‧‧‧回饋信號
ST1+、ST1-、ST2+、ST2-‧‧‧測試信號
SW1+、SW1-、SW2+、SW2-‧‧‧切換信號
S310、S320、S330、S340、S350‧‧‧步驟
圖1為依據本發明一實施例的測試系統的系統示意圖。
圖2為依據本發明另一實施例的測試系統的系統示意圖。
圖3為依據本發明一實施例中對電子裝置進行測試的測試方法的流程圖。
圖1為依據本發明一實施例的測試系統的系統示意圖。 請參照圖1，在本實施例中，測試系統1包括電子裝置10、測試用纜線100及測試治具20。測試用纜線100用以耦接測電子裝置10及測試治具20，並且包括通用串列匯流排(USB)接頭110、開關電路120及測試端接頭130，其中電子裝置10在此為待測試目標，通用串列匯流排接頭110在此以通用串列匯流排C型接頭為例。
通用串列匯流排接頭110耦接至電子裝置10的通用串列匯流排連接座(未繪示)，並且依照USB Type-C規範，通用串列匯流排接頭110具有24根接腳，即接腳A1~A12及B1~B12，而通用串列匯流排接頭110中接腳的功能(即方塊中所示文字)可參照USB Type-C規範，在此僅對相關的接腳作說明，以簡化說明書。其中，通用串列匯流排接頭110的24根接腳與電子裝置10的通用串列匯流排連接座的24個腳位直接耦接，亦即通用串列匯流排連接座的24個腳位的功能相同於通用串列匯流排接頭110中24根接腳的功能。
進一步來說，通用串列匯流排接頭110中具有通用串列匯流排2.0資料介面及通用串列匯流排3.0資料介面，其中通用串列匯流排2.0資料介面包括由接腳A7及A6形成的第一資料接腳對PDX1、以及接腳B7及B6形成的第二資料接腳對PDX2，通用串列匯流排3.0資料介面包括由接腳A2及A3形成的第一傳送接腳對PTX1、接腳B10及B11形成的第一接收接腳對PRX1、接腳B2及B3形成的第二傳送接腳對PTX2、接腳A10及A11形成的 第二接收接腳對PRX2。
開關電路120耦接至第一資料接腳對PDX1及第二資料接腳對PDX2。測試端接頭130耦接至測試治具20，在此測試端接頭130是以具有24個接腳的排針型接頭(即接腳P1~P24)，其中測試端接頭130的24個接腳是直接耦接至測試治具20的通用串列匯流排連接座(未繪示)，也就是說，測試端接頭130的24根接腳與測試治具20的通用串列匯流排連接座的24個腳位直接耦接，亦即通用串列匯流排連接座的24個腳位的功能相同於測試端接頭130中24根接腳的功能。其中測試端接頭130的接腳P11、P12、P13、P14是直接耦接至開關電路120，而其餘接腳皆直接耦接至通用串列匯流排接頭110中對應的接腳(如方塊中所示標號)。
在此，接腳P3及P5形成傳送測試接腳對PTT1(對應第一傳送測試接腳對)，接腳P4及P6形成接收測試接腳對PRT1(對應第一接收測試接腳對)，接腳P20及P22形成傳送測試接腳對PTT2(對應第二傳送測試接腳對)，並且接腳P19及P21形成接收測試接腳對PRT2(對應第二接收測試接腳對)。此外，接腳P11及P13形成測試資料接腳對PDT，並且接腳P11及P13耦接至測試治具20以分別傳送測試信號ST1+及ST1-，其中測試信號ST1+及ST1-用以形成一差動信號(亦即第一測試信號)。
並且，接腳P12(對應開關電源接腳)耦接測試治具20以接收並傳送運作電壓(在此以3.3V為例)至開關電路120。接腳P14(對應第一控制接腳)耦接測試治具20以接收測試治具20 所提供的第一控制信號SCL1至開關電路120。此外，接腳P3、P5、P20及P22耦接至測試治具20以分別傳送測試信號ST2+及ST2-，其中測試信號ST2+及ST2-亦用以形成一差動信號(亦即第二測試信號)。
在本實施例中，以通用串列匯流排2.0資料介面來說，開關電路120依據第一控制信號SCL1將測試資料接腳對PDT耦接至第一資料接腳對PDX1或第二資料接腳對PDX2。舉例來說，當第一控制信號SCL1為第一邏輯準位(例如為“H”)時，測試資料接腳對PDT的接腳P11耦接至第一資料接腳對PDX1的接腳A6，測試資料接腳對PDT的接腳P13耦接至第一資料接腳對PDX1的接腳A7；當第一控制信號SCL1為第二邏輯準位(例如為“L”)時，測試資料接腳對PDT的接腳P11耦接至第二資料接腳對PDX2的接腳B6，測試資料接腳對PDT的接腳P13耦接至第二資料接腳對PDX2的接腳B7。
表一繪示測試系統1的四個測試階段(以I~IV來表示)。在本實施例中，電子裝置10可執行應用程式11，以進行通用串列 匯流排介面的測試，亦即指示測試治具20設定第一控制信號SCL1且接收測試信號ST1+、ST1-、ST2+及ST2-。
參照表一所示，在測試階段I(對應第三測試階段)，電子裝置10會將測試信號ST2+及ST2-提供至第一傳送接腳對PTX1，並且第一傳送接腳對PTX1透過線路直接耦接至傳送測試接腳對PTT1，以將測試信號ST2+及ST2-透過傳送測試接腳對PTT1傳送至測試治具20。當測試治具20接收到測試信號ST2+及ST2-時，會形成回饋信號SF3+及SF3-後傳送至接收測試接腳對PRT1，並且接收測試接腳對PRT1透過線路直接耦接至第一接收接腳對PRX1，亦即回饋信號SF3+及SF3-透過接收測試接腳對PRT1及第一接收接腳對PRX1傳送至電子裝置10，其中回饋信號SF3+及SF3-用以形成一差動信號(亦即第三回饋信號)。
依據上述，測試信號ST2+及ST2-及回饋信號SF3+及SF3-應該是相同的信號，亦即測試信號ST2+及ST2-所傳送的內容與回饋信號SF3+及SF3-所傳送的內容應為相同，並且應用程式11可比對測試信號ST2+及ST2-及回饋信號SF3+及SF3-是否相同。換言之，當回饋信號SF3+及SF3-相同於測試信號ST2+及ST2-時，應用程式11可判斷第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1為正常；當回饋信號SF3+及SF3-不同於測試信號ST2+及ST2-時，應用程式11可判斷第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1為異常。
其中，上述所示信號的相同或不同可以是指整個信號來 進行比對、或是將信號解碼後所取得的內容來進行比對，此可依據本領域知識者而定，本發明實施例不以此為限。
接著，在測試階段II(對應第四測試階段)，電子裝置10會將測試信號ST2+及ST2-提供至第二傳送接腳對PTX2，並且第二傳送接腳對PTX2透過線路直接耦接至傳送測試接腳對PTT2，以將測試信號ST2+及ST2-透過傳送測試接腳對PTT2傳送至測試治具20。當測試治具20再接收到測試信號ST2+及ST2-時，則會形成回饋信號SF4+及SF4-後傳送至接收測試接腳對PRT2，並且接收測試接腳對PRT2透過線路直接耦接至第二接收接腳對PRX2，亦即回饋信號SF4+及SF4-透過接收測試接腳對PRT2及第二接收接腳對PRX2傳送至電子裝置10，其中回饋信號SF4+及SF4-用以形成一差動信號(亦即第四回饋信號)。
因此，應用程式11可比對測試信號ST2+及ST2-及回饋信號SF4+及SF4-是否相同。並且，當回饋信號SF4+及SF4-相同於測試信號ST2+及ST2-時，應用程式11可判斷第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2為正常；當回饋信號SF4+及SF4-不同於測試信號ST2+及ST2-時，應用程式11可判斷第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2為異常。
然後，在測試階段III(對應第一測試階段)，第一控制信號SCL1預設為第一邏輯準位“H”，並且電子裝置10將測試信號ST1+及ST1-提供至第一資料接腳對PDX1。此時，測試資料接腳對PDT透過開關電路120耦接至第一資料接腳對PDX1，亦即測 試信號ST1+及ST1-會透過第一資料接腳對PDX1、開關電路120及測試資料接腳對PDT傳送至測試治具20。當測試治具20接收到測試信號ST1+及ST1-時，會形成回饋信號SF1+及SF1-後傳送至測試資料接腳對PDT，亦即回饋信號SF1+及SF1-會透過測試資料接腳對PDT、開關電路120及第一資料接腳對PDX1傳送至電子裝置10，其中回饋信號SF1+及SF1-用以形成一差動信號(亦即第一回饋信號)。
因此，應用程式11可比對測試信號ST1+及ST1-及回饋信號SF1+及SF1-是否相同。並且，當回饋信號SF1+及SF1-相同於測試信號ST1+及ST1-時，應用程式11可判斷第一資料接腳對PDX1為正常；當回饋信號SF1+及SF1-不同於測試信號ST1+及ST1-時，應用程式11可判斷第一資料接腳對PDX1為異常。並且，當第一資料接腳對PDX1為正常時，電子裝置10會透過第一資料接腳對PDX1、開關電路120及測試資料接腳對PDT傳送切換信號SW1+及SW1-至測試治具20，接著測試治具20將第一控制信號SCL1設定為第二邏輯準位“L”，且接著進行測試階段IV(對應第二測試階段)；當第一資料接腳對PDX1為異常時，則可顯示測試異常，並且中斷測試流程，亦即不會進行測試階段IV。其中，切換信號SW1+及SW1-用以形成一差動信號(亦即第一切換信號)。
最後，在測試階段IV，電子裝置10將測試信號ST1+及ST1-提供至第二資料接腳對PDX2。此時，測試資料接腳對PDT 透過開關電路120耦接至第二資料接腳對PDX2，亦即測試信號ST1+及ST1-會透過第二資料接腳對PDX2、開關電路120及測試資料接腳對PDT傳送至測試治具20。當測試治具20再接收到測試信號ST1+及ST1-時，會形成回饋信號SF2+及SF2-後傳送至測試資料接腳對PDT，亦即回饋信號SF2+及SF2-會透過測試資料接腳對PDT、開關電路120及第二資料接腳對PDX2傳送至電子裝置10，其中回饋信號SF2+及SF2-用以形成一差動信號(亦即第二回饋信號)。
因此，應用程式11可比對測試信號ST1+及ST1-及回饋信號SF2+及SF2-是否相同。並且，當回饋信號SF2+及SF2-相同於測試信號ST1+及ST1-時，應用程式11可判斷第二資料接腳對PDX2為正常；當回饋信號SF2+及SF2-不同於測試信號ST1+及ST1-時，應用程式11可判斷第二資料接腳對PDX2為異常。
依據上述，在不同的測試階段中，應用程式11可透過比對測試信號ST2+及ST2-與回饋信號SF3+、SF3-、SF4+及SF4-，來判斷第一傳送接腳對PTX1、第一接收接腳對PRX1、第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2是否為正常，並且應用程式11可透過比對測試信號ST1+及ST1-與回饋信號SF1+、SF1-、SF2+及SF2-，來判斷第一資料接腳對PDX1及第二資料接腳對PDX2是否為正常。藉此，可透過測試用纜線100將測試信號ST1+、ST1-、ST2+及ST2-傳送至電子裝置10的通用串列匯流排介面中的所有資料介面，而不用重新插拔，以降低測試的困難度。
在本實施例中，第一控制信號SCL1預設為第一邏輯準位“H”，但本發明實施例不以此為限。並且，測試階段I與測試階段II的執行順序可互換，並且測試階段III與測試階段IV的執行順序可互換，但測試階段I與測試階段II會早於測試階段III與測試階段IV。
此外，測試信號ST1+及ST1-包括以多個通訊協定傳送的多個資料封包，其中這些通訊協定及這些資料封包為符合一通用串列匯流排2.0規範，並且以同一通訊協定(亦即這些通訊協定的其中之一)傳送的多個資料封包具有不同的封包格式。同樣地，測試信號ST2+及ST2-包括以多個通訊協定傳送的多個資料封包，其中這些通訊協定及這些資料封包為符合一通用串列匯流排3.0規範，並且以同一通訊協定(亦即這些通訊協定的其中之一)傳送的多個資料封包具有不同的封包格式。
圖2為依據本發明另一實施例的測試系統的系統示意圖。請參照圖1及圖2，在本實施例中，測試系統2大致相同於測試系統1，其不同之處在於測試用纜線200及測試治具30，其中相同或相似元件使用相同或相似標號。
在本實施例中，測試用纜線200的開關電路220耦接至第一資料接腳對PDX1、第二資料接腳對PDX2、第一傳送接腳對PTX1、第一接收接腳對PRX1、第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2。
測試用纜線200的測試端接頭230耦接至測試治具30， 在此測試端接頭230是以具有20個接腳的排針型接頭(即接腳T1~T20)，其中測試端接頭230的20個接腳是直接耦接至測試治具30，並且接腳T2、T5~T8及T13~T16是直接耦接至開關電路220，而接腳T3、T4、T9~T12、T17及T18直接耦接至通用串列匯流排接頭110中對應的接腳(如方塊中所示標號)，接腳T19自測試治具30接收共同接地電壓CGND。
在此，接腳T5及T7形成測試資料接腳對PDT，並且接腳T5及T7耦接至測試治具30以分別傳送測試信號ST1+及ST1-。接腳T13及T15形成傳送測試接腳對PTT，接腳T14及T16形成接收測試接腳對PRT，並且接腳T13及T15耦接至測試治具30以分別傳送測試信號ST2+及ST2-。
並且，接腳T2(對應開關電源接腳)耦接測試治具30以接收並傳送運作電壓(在此以3.3V為例)至開關電路220。接腳T8(對應第一控制接腳)耦接測試治具30以接收測試治具30所提供的第一控制信號SCL1至開關電路220，接腳T6(對應第二控制接腳)耦接測試治具30以接收測試治具30所提供的第二控制信號SCL2至開關電路220。
在本實施例中，以通用串列匯流排2.0資料介面來說，開關電路220依據第一控制信號SCL1將測試資料接腳對PDT耦接至第一資料接腳對PDX1或第二資料接腳對PDX2。舉例來說，當第一控制信號SCL1為第一邏輯準位(例如為“H”)時，測試資料接腳對PDT的接腳T7耦接至第一資料接腳對PDX1的接腳A6， 測試資料接腳對PDT的接腳T5耦接至第一資料接腳對PDX1的接腳A7；當第一控制信號SCL1為第二邏輯準位(例如為“L”)時，測試資料接腳對PDT的接腳T7耦接至第二資料接腳對PDX2的接腳B6，測試資料接腳對PDT的接腳T5耦接至第二資料接腳對PDX2的接腳B7。
以通用串列匯流排3.0資料介面來說，開關電路220依據第二控制信號SCL2將傳送測試接腳對PTT耦接至第一傳送接腳對PTX1或第二傳送接腳對PTX2且同步將接收測試接腳對PRT耦接至第一接收接腳對PRX1或第二接收接腳對PRX2。舉例來說，當第二控制信號SCL2為第一邏輯準位(例如為“H”)時，傳送測試接腳對PTT的接腳T15耦接至第一傳送接腳對PTX1的接腳A2，傳送測試接腳對PTT的接腳T13耦接至第一傳送接腳對PTX1的接腳A3，接收測試接腳對PRT的接腳T16耦接至第一接收接腳對PRX1的接腳B11，接收測試接腳對PRT的接腳T14耦接至第一接收接腳對PRX1的接腳B10；當第二控制信號SCL2為第二邏輯準位(例如為“L”)時，傳送測試接腳對PTT的接腳T15耦接至第二傳送接腳對PTX2的接腳B2，傳送測試接腳對PTT的接腳T13耦接至第二傳送接腳對PTX2的接腳B3，接收測試接腳對PRT的接腳T16耦接至第二接收接腳對PRX2的接腳A11，接收測試接腳對PRT的接腳T14耦接至第二接收接腳對PRX2的接腳A10。
表二繪示測試系統2的四個測試階段(同樣以I~IV來表示，以便於與前述比對)。在本實施例中，電子裝置10可執行應用程式11，以進行通用串列匯流排介面的測試，亦即指示測試治具30設定第一控制信號SCL1及第二控制信號SCL2且接收測試信號ST1+、ST1-、ST2+及ST2-。
參照表二所示，在測試階段I(對應第三測試階段)，第二控制信號SCL2預設為第一邏輯準位“H”，並且電子裝置10將測試信號ST2+及ST2-提供至第一傳送接腳對PTX1。此時，傳送測試接腳對PTT透過開關電路220耦接至第一傳送接腳對PTX1，接收測試接腳對PRT透過開關電路220耦接至第一接收接腳對PRX1。測試信號ST2+及ST2-會透過第一傳送接腳對PTX1、開關電路220及傳送測試接腳對PTT傳送至測試治具30。當測試治具30接收到測試信號ST2+及ST2-時，會形成回饋信號SF3+及SF3-後傳送至接收測試接腳對PRT，並且接收測試接腳對PRT接收到測試治具30所提供的回饋信號SF3+及SF3-會透過開關電路220及第一接收接腳對PRX1傳送至電子裝置10。應用程式11可比對測試信號ST2+及ST2-及回饋信號SF3+及SF3-是否相同，以判斷 第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1是否為正常。
當第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1為正常時，電子裝置10會透過第一傳送接腳對PTX1、開關電路220及傳送測試接腳對PTT傳送切換信號SW2+及SW2-至測試治具30，接著測試治具30將第二控制信號SCL2設定為第二邏輯準位“L”，且接著進行測試階段II(對應第四測試階段)；當第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1為異常時，則可顯示測試異常，並且中斷測試流程，亦即不會進行測試階段II。其中，切換信號SW2+及SW2-用以形成一差動信號(亦即第二切換信號)。
接著，在測試階段II，電子裝置10將測試信號ST2+及ST2-提供至第二傳送接腳對PTX2。此時，傳送測試接腳對PTT透過開關電路220耦接至第二傳送接腳對PTX2，接收測試接腳對PRT透過開關電路220耦接至第二接收接腳對PRX2。而測試信號ST2+及ST2-會透過第二傳送接腳對PTX2、開關電路220及傳送測試接腳對PTT傳送至測試治具30。當測試治具30接收到測試信號ST2+及ST2-時，會形成回饋信號SF4+及SF4-後傳送至接收測試接腳對PRT，並且接收測試接腳對PRT接收到測試治具30所提供的回饋信號SF4+及SF4-會透過開關電路220及第二接收接腳對PRX2傳送至電子裝置10。應用程式11可比對測試信號ST2+及ST2-及回饋信號SF4+及SF4-是否相同，以判斷第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2是否為正常。
然後，在測試階段III(對應第一測試階段)，第一控制信 號SCL1預設為第一邏輯準位“H”，並且電子裝置10將測試信號ST1+及ST1-提供至第一資料接腳對PDX1。此時，測試資料接腳對PDT透過開關電路220耦接至第一資料接腳對PDX1，亦即測試信號ST1+及ST1-會透過第一資料接腳對PDX1、開關電路220及測試資料接腳對PDT傳送至測試治具30。當測試治具30接收到測試信號ST1+及ST1-時，會形成回饋信號SF1+及SF1後傳送至測試資料接腳對PDT，測試資料接腳對PDT接收到測試治具30所提供的回饋信號SF1+及SF1-會透過開關電路220及第一資料接腳對PDX1傳送至電子裝置10。應用程式11可比對測試信號ST1+及ST1-及回饋信號SF1+及SF1-是否相同，以判斷第一資料接腳對PDX1是否為正常。
當第一資料接腳對PDX1為正常時，電子裝置10會透過第一資料接腳對PDX1、開關電路220及測試資料接腳對PDT傳送切換信號SW1+及SW1-(亦即第一切換信號)至測試治具30，接著測試治具30將第一控制信號SCL1設定為第二邏輯準位“L”，且接著進行測試階段IV(對應第二測試階段)；當第一資料接腳對PDX1為異常時，則可顯示測試異常，並且中斷測試流程，亦即不會進行測試階段IV。
最後，在測試階段IV，電子裝置10將測試信號ST1+及ST1-提供至第二資料接腳對PDX2。此時，測試資料接腳對PDT透過開關電路220耦接至第二資料接腳對PDX2，亦即測試信號ST1+及ST1-會透過第二資料接腳對PDX2、開關電路220及測試 資料接腳對PDT傳送至測試治具30。當測試治具30接收到測試信號ST1+及ST1-時，會形成回饋信號SF2+及SF2-後傳送至測試資料接腳對PDT，而測試資料接腳對PDT接收到測試治具30所提供的回饋信號SF2+及SF2-會透過開關電路220及第二資料接腳對PDX2傳送至電子裝置10。應用程式11可比對測試信號ST1+及ST1-及回饋信號SF2+及SF2-是否相同，以判斷第二資料接腳對PDX2是否為正常。
在本實施例中，第一控制信號SCL1及第二控制信號SCL2皆預設為第一邏輯準位“H”，但本發明實施例不以此為限。
圖3為依據本發明一實施例中對電子裝置進行測試的測試方法的流程圖。請參照圖3，在本實施例中，測試方法包括下列步驟。在步驟S310中，會透過測試用纜線耦接測試治具與電子裝置，其中測試用纜線一端耦接測試治具，另一端耦接電子裝置。在步驟S320中，在測試階段I(對應第三測試階段)，透過測試用纜線自電子裝置USB Type-C介面的第一傳送接腳對PTX1(對應接腳A2及A3)提供第二測試信號(對應USB 3.0測試信號)至測試治具，並且自電子裝置USB Type-C介面的第一接收接腳對PRX1(對應接腳B10及B11)接收回饋信號以判斷第一傳送接腳對PTX1及第一接收接腳對PRX1的傳輸功能是否正常。
在步驟S330中，在測試階段II(對應第四測試階段)，透過測試用纜線自電子裝置USB Type-C介面的第二傳送接腳對PTX2(對應接腳B2及B3)提供第二測試信號(對應USB 3.0測 試信號)至測試治具，並且自電子裝置USB Type-C介面的第二接收接腳對PRX2(對應接腳A10及A11)接收回饋信號以判斷第二傳送接腳對PTX2及第二接收接腳對PRX2的傳輸功能是否正常。
在步驟S340中，在測試階段III(對應第一測試階段)，電子裝置透過測試用纜線的第一資料接腳對PDX1(對應接腳A6及A7)提供第一測試信號(對應USB 2.0測試信號)至測試治具，並且測試治具對應第一測試信號輸出的回饋信號透過第一資料接腳對PDX1傳送至電子裝置，以判斷第一資料接腳對PDX1的傳輸功能是否正常。
在步驟S350中，在測試階段IV(對應第二測試階段)，電子裝置透過測試用纜線的第二資料接腳對PDX2(對應接腳B6及B7)提供第一測試信號(對應USB 2.0測試信號)至測試治具，並且測試治具對應第一測試信號輸出的回饋信號透過第二資料接腳對PDX2傳送至電子裝置，以判斷第二資料接腳對PDX2的傳輸功能是否正常。
其中，步驟S310、S320、S330、S340及S350的順序為用以說明，本發明實施例不以此為限。並且，步驟S310、S320、S330、S340及S350的細節可參照圖1及圖2實施例所示，在此則不再贅述。
綜上所述，本發明實施例的測試用纜線及使用其的測試方法，其測試用纜線具有開關電路，以使測試信號可以自不同側 的通用串列匯流排接頭的資料接腳對依序傳送到測試治具。藉此，可在不用重新插拔的情況下，測試通用串列匯流排介面中的所有資料介面，以降低測試的困難度。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

Claims (24)

  1. 一種測試用纜線，包括： 一通用串列匯流排（USB）接頭，耦接至一電子裝置，並且具有一第一資料接腳對及一第二資料接腳對； 一測試端接頭，耦接至一測試治具，且具有一測試資料接腳對及一第一控制接腳，該測試治具用以輸出一第一控制信號至該第一控制接腳；以及 一開關電路，耦接該第一資料接腳對、該第二資料接腳對、該測試資料接腳對及該第一控制接腳，並且該開關電路依據該第一控制信號將該測試資料接腳對耦接至該第一資料接腳對或該第二資料接腳對。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中在一第一測試階段，依據該第一控制信號耦接該測試資料接腳對至該第一資料接腳對，該電子裝置提供一第一測試信號透過該第一資料接腳對及該測試資料接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第一資料接腳對及該測試資料接腳對接收該測試治具對應該第一測試信號輸出的一第一回饋信號，比對該第一測試信號與該第一回饋信號是否相同，以判斷該第一資料接腳對是否正常，在一第二測試階段，設定該第一控制信號耦接該測試資料接腳對至該第二資料接腳對，該電子裝置提供該第一測試信號透過該第二資料接腳對及該測試資料接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第二資料接腳對及該測試資料接腳對接收該測試治具對應該第一測試信號輸出的一第二回饋信號，比對該第一測試信號與該第二回饋信號是否相同，以判斷該第二資料接腳對是否正常。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的測試用纜線，其中當判斷該第一資料接腳對為正常時，該電子裝置提供一第一切換信號透過該第一資料接腳對傳送至該測試治具，以設定該第一控制信號。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的測試用纜線，其中當該第一回饋信號相同於該第一測試信號時，判斷該第一資料接腳對為正常，當該第一回饋信號不同於該第一測試信號時，判斷該第一資料接腳對為異常，當該第二回饋信號相同於該第一測試信號時，判斷該第二資料接腳對為正常，並且當該第二回饋信號不同於該第一測試信號時，判斷該第二資料接腳對為異常。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中該第一資料接腳對及該第二資料接腳對分別為一通用串列匯流排2.0資料介面。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中該通用串列匯流排接頭更具有一第一傳送接腳對、一第二傳送接腳對、一第一接收接腳對及一第二接收接腳對，該測試端接頭更具有一傳送測試接腳對、一接收測試接腳對及一第二控制接腳，該開關電路更耦接該第一傳送接腳對、該第二傳送接腳對、該第一接收接腳對及該第二接收接腳對、該傳送測試接腳對、該接收測試接腳對及該第二控制接腳，該測試治具用以輸出一第二控制信號至該第二控制接腳，並且該開關電路依據該第二控制信號將該傳送測試接腳對耦接至該第一傳送接腳對或該第二傳送接腳對且同步將該接收測試接腳對耦接至該第一接收接腳對或該第二接收接腳對。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的測試用纜線，其中在一第三測試階段，依據該第二控制信號耦接該傳送測試接腳對至該第一傳送接腳對且同步耦接該接收測試接腳對至該第一接收接腳對，該電子裝置提供一第二測試信號透過該第一傳送接腳對及該傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第一接收接腳對及該接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第三回饋信號，比對該第二測試信號與該第三回饋信號是否相同，以判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對是否正常，在一第四測試階段，設定該第二控制信號將該傳送測試接腳對耦接至該第二傳送接腳對且同步將該接收測試接腳對耦接至該第二接收接腳對，該電子裝置提供該第二測試信號透過該第二傳送接腳對及該傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第二接收接腳對及該接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第四回饋信號，比對該第二測試信號與該第四回饋信號是否相同，以判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對是否正常。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的測試用纜線，其中當判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為正常時，該電子裝置提供一第二切換信號透過該第一傳送接腳對傳送至該測試治具，以設定該第二控制信號。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中該測試端接頭為一排針型接頭。
  10. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中該測試端接頭更包括一開關電源接腳，該開關電路耦接該開關電源接腳以接收一運作電壓。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線，其中該通用串列匯流排接頭更具有一第一傳送接腳對、一第二傳送接腳對、一第一接收接腳對及一第二接收接腳對，該測試端接頭更具有一第一傳送測試接腳對、一第二傳送測試接腳對、一第一接收測試接腳對及一第二接收測試接腳對，其中該第一傳送接腳對直接耦接該第一傳送測試接腳對，該第二傳送接腳對直接耦接該第二傳送測試接腳對，該第一接收接腳對直接耦接該第一接收測試接腳對，並且該第二接收接腳對直接耦接第二接收測試接腳對。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的測試用纜線，其中在一第三測試階段，該電子裝置提供一第二測試信號透過該第一傳送接腳對及該第一傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第一接收接腳對及該第一接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第三回饋信號，比對該第二測試信號與該第三回饋信號是否相同，以判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對是否正常，在一第四測試階段，該電子裝置提供該第二測試信號透過該第二傳送接腳對及該第二傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且該電子裝置透過該第二接收接腳對及該第二接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第四回饋信號，比對該第二測試信號與該第四回饋信號是否相同，以判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對是否正常。
  13. 如申請專利範圍第7項或第12項所述的測試用纜線，其中當該第三回饋信號相同於該第二測試信號時，判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為正常，當該第三回饋信號不同於該第二測試信號時，判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為異常，當該第四回饋信號相同於該第二測試信號時，判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對為正常，並且當該第四回饋信號不同於該第二測試信號時，判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對為異常。
  14. 如申請專利範圍第6項或第11項所述的測試用纜線，其中該第一資料接腳對及該第二資料接腳對分別為一通用串列匯流排2.0資料介面，該第一傳送接腳對、該第二傳送接腳對、該第一接收接腳對及該第二接收接腳對分別對應一通用串列匯流排3.0資料介面。
  15. 一種測試方法，包括： 透過一如申請專利範圍第1項所述的測試用纜線耦接一測試治具與一電子裝置； 在一第一測試階段，依據該第一控制信號耦接該測試資料接腳對至該第一資料接腳對，該電子裝置提供一第一測試信號透過該測試用纜線的該第一資料接腳對及該測試資料接腳對傳送至該測試治具，並且透過該第一資料接腳對及該測試資料接腳對接收該測試治具對應該第一測試信號輸出的一第一回饋信號，比對該第一測試信號與該第一回饋信號是否相同，以判斷該第一資料接腳對是否正常；以及 在一第二測試階段，設定該第一控制信號耦接該測試資料接腳對至該第二資料接腳對，該電子裝置提供該第一測試信號透過該測試用纜線的該第二資料接腳對及該測試資料接腳對傳送至該測試治具，並且透過該第二資料接腳對及該測試資料接腳對接收該測試治具對應該第一測試信號輸出的一第二回饋信號，比對該第一測試信號與該第二回饋信號是否相同，以判斷該第二資料接腳對是否正常。
  16. 如申請專利範圍第15項所述的測試方法，更包括： 當判斷該第一資料接腳對為正常時，該電子裝置提供一第一切換信號透過該第一資料接腳對傳送至該測試治具，以設定該第一控制信號。
  17. 如申請專利範圍第15項所述的測試方法，其中該第一資料接腳對及該第二資料接腳對分別為一通用串列匯流排2.0資料介面。
  18. 如申請專利範圍第15項所述的測試方法，更包括： 當該第一回饋信號相同於該第一測試信號時，判斷該第一資料接腳對為正常； 當該第一回饋信號不同於該第一測試信號時，判斷該第一資料接腳對為異常； 當該第二回饋信號相同於該第一測試信號時，判斷該第二資料接腳對為正常；以及 當該第二回饋信號不同於該第一測試信號時，判斷該第二資料接腳對為異常。
  19. 如申請專利範圍第15項所述的測試方法，其中該通用串列匯流排接頭更具有一第一傳送接腳對、一第二傳送接腳對、一第一接收接腳對及一第二接收接腳對，該測試端接頭更具有一傳送測試接腳對、一接收測試接腳對及一第二控制接腳，該開關電路更耦接該第一傳送接腳對、該第二傳送接腳對、該第一接收接腳對及該第二接收接腳對、該傳送測試接腳對、該接收測試接腳對及該第二控制接腳，該測試治具用以輸出一第二控制信號至該第二控制接腳，該測試方法更包括： 在一第三測試階段，依據該第二控制信號將該傳送測試接腳對耦接至該第一傳送接腳對且同步將該接收測試接腳對耦接至該第一接收接腳對，該電子裝置提供一第二測試信號透過該測試用纜線的該第一傳送接腳對及該傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且透過該第一接收接腳對及該接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第三回饋信號，比對該第二測試信號與該第三回饋信號是否相同，以判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對是否正常；以及 在一第四測試階段，設定該第二控制信號以將該傳送測試接腳對耦接至該第二傳送接腳對且同步將該接收測試接腳對耦接至該第二接收接腳對，該電子裝置提供該第二測試信號透過該測試用纜線的該第二傳送接腳對及該傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且透過該第二接收接腳對及該接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第四回饋信號，比對該第二測試信號與該第四回饋信號是否相同，以判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對是否正常。
  20. 如申請專利範圍第19項所述的測試方法，更包括： 當判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為正常時，該電子裝置提供一第二切換信號透過該第一傳送接腳對傳送至該測試治具，以設定該第二控制信號。
  21. 如申請專利範圍第15項所述的測試方法，其中該通用串列匯流排接頭更具有一第一傳送接腳對、一第二傳送接腳對、一第一接收接腳對及一第二接收接腳對，該測試端接頭更具有一第一傳送測試接腳對、一第二傳送測試接腳對、一第一接收測試接腳對及一第二接收測試接腳對，其中該第一傳送接腳對直接耦接該第一傳送測試接腳對，該第二傳送接腳對直接耦接該第二傳送測試接腳對，該第一接收接腳對直接耦接該第一接收測試接腳對，並且該第二接收接腳對直接耦接第二接收測試接腳對，該測試方法更包括： 在一第三測試階段，該電子裝置提供一第二測試信號透過該測試用纜線的該第一傳送接腳對及該第一傳送測試接腳對傳送至該測試治具，並且透過該第一接收接腳對及該第一接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第三回饋信號，比對該第二測試信號與該第三回饋信號是否相同，以判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對是否正常；以及 在一第四測試階段，該電子裝置提供該第二測試信號透過該測試用纜線的該第二傳送接腳對及該第二傳送測試接腳對至該測試治具，並且透過該第二接收接腳對及該第二接收測試接腳對接收該測試治具對應該第二測試信號輸出的一第四回饋信號，比對該第二測試信號與該第四回饋信號是否相同，以判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對是否正常。
  22. 如申請專利範圍第19項或第21項所述的測試方法，其中該第一資料接腳對及該第二資料接腳對分別為一通用串列匯流排2.0資料介面，該第一傳送接腳對、該第二傳送接腳對、該第一接收接腳對及該第二接收接腳對分別對應一通用串列匯流排3.0資料介面。
  23. 如申請專利範圍第19項或第21項所述的測試方法，更包括： 當該第三回饋信號相同於該第二測試信號時，判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為正常； 當該第三回饋信號不同於該第二測試信號時，判斷該第一傳送接腳對及該第一接收接腳對為異常； 當該第四回饋信號相同於該第二測試信號時，判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對為正常；以及 當該第四回饋信號不同於該第二測試信號時，判斷該第二傳送接腳對及該第二接收接腳對為異常。
  24. 如申請專利範圍第19項或第21項所述的測試方法，其中該第三測試階段及該第四測試階段早於該第一測試階段及該第二測試階段。
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