TWI610291B - 液晶顯示裝置以及液晶顯示裝置的局部調光方法 - Google Patents

Abstract

一種液晶顯示裝置以及液晶顯示裝置的局部調光方法。液晶顯示裝置的局部調光方法包含：在一液晶顯示面板上顯示具有單個灰度的一影像，檢測在液晶顯示面板的複數個塊中發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷（BU）的一異常塊，以及計算異常塊的調光值。因此，發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的每一區域的調光值可獨立地調整，並且計算的調光值可應用於局部調光。因此，可以減少光線洩漏且還可解決一黑色均勻性缺陷。

Description

液晶顯示裝置以及液晶顯示裝置的局部調光方法

本發明係關於一種液晶顯示裝置以及液晶顯示裝置的局部調光方法。更具體地，本發明關於一種液晶顯示裝置和液晶顯示裝置的局部調光方法，用於解決由於面板的特性而發生的光線洩漏或一黑色均勻性（BU）缺陷。

近來，隨著世界進入資訊時代，用於可視地顯示電資訊訊號的顯示器領域迅速增長。因此，已經開發出了例如薄型化、輕重量、以及低功耗的高性能各種平板顯示裝置，並且正在迅速地替代傳統的陰極射線管（CRT）。

具體地，平面顯示裝置可包含一液晶顯示（LCD）裝置、一有機發光顯示（OLED）裝置、一電泳顯示（EPD）裝置、一電極顯示面板（PDP）裝置、以及一電潤濕顯示（EWD）裝置。特別地，在液晶顯示裝置（LCD）中，具有以矩陣形式排列的複數個液晶單元的一液晶顯示面板透過調整從背光單元提供的光線透射率來顯示一影像。

液晶顯示裝置（LCD）裝置透過使用一電場調整液晶的光透射率來顯示一影像。根據驅動液晶的電場方向，液晶顯示裝置（LCD）裝置可分為一垂直電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）或一水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）。在垂直電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）中，形成在頂基板上的一共同電極和形成在底基板上的一畫素電極設置為彼此面對，並且在它們之間形成的一垂直電場驅動液晶。垂直電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）具有一高孔徑比，但也具有一窄視角。同時，在水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）中，在同一基板上形成的畫素電極和共同電極之間產生的一水平電場可以在一面內切換（IPS）模式中驅動液晶。水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）由於其畫素結構而具有一寬視角和優良的色域。

然而，相比較於垂直電場驅動型液晶顯示裝置（LCD），在水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）中，由於其畫素結構，更容易在液晶顯示面板的邊緣發生光線洩漏。 此外，在水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）中，很可能發生黑色均勻性（BU）缺陷，這意味著一黑色區域不均勻地形成在液晶顯示面板的整個表面上並且部分地出現亮點。

因此，正在進行解決液晶顯示裝置（LCD），特別是水平電場驅動型液晶顯示裝置（LCD）中的光線洩漏和一黑色均勻性缺陷的研究。

本發明要實現的一目的在於提供一種液晶顯示裝置和液晶顯示裝置的局部調光方法，透過將不同的調光值分別應用於出現光線洩漏的一區域和未發生光線洩漏的一區域，能夠減少由於光線洩漏引起的亮度不均勻性。

本發明要實現的另一個目的在於提供一種液晶顯示裝置和液晶顯示裝置的局部調光方法，透過將不同的調光值分別應用於出現黑色不均勻性缺陷的一區域和未出現黑色不均勻性缺陷的一區域，能夠減少由於黑色不均勻性缺陷。

本發明要實現的再一目的在於提供一種液晶顯示裝置和液晶顯示裝置的局部調光方法，透過對每一塊設置不同的亮度、分析輸入資料、以及對每一畫素應用增益，當顯示具有單個灰度的影像時可具有一均勻的亮度。

本發明的目的不限於上述目的，並且從下面的描述中，對於本領域普通技術人員來說，上面沒有提到的其他目的將是顯而易見的。

根據本發明的一實施例，提供了一種液晶顯示裝置的局部調光方法。這種液晶顯示裝置的局部調光方法包含：在一液晶顯示面板上顯示具有單個灰度的一影像，檢測在液晶顯示面板的複數個塊中發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷（BU）的一異常塊，以及計算異常塊的調光值。因此，發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的每一區域的調光值可獨立地調整，並且計算的調光值可應用於局部調光。因此，可以減少光線洩漏且還可解決一黑色均勻性缺陷。

根據本發明的另一實施例，提供了一種液晶顯示裝置。這種液晶顯示裝置包含：一液晶顯示面板，具有複數個畫素，一背光單元，具有複數個光源，以及一局部調光單元，根據灰度調光值驅動背光單元。局部調光單元包含一記憶體，記憶體儲存液晶顯示面板的複數個塊的灰度調光值。局部調光單元的記憶體針對複數塊中發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的異常塊和參考塊儲存不同的灰度調光值。因此，當液晶顯示裝置局部調光時，能夠使用局部調光單元的記憶體中儲存的調光值。然後，能夠調整出現光線洩漏或黑色均勻性缺陷的異常塊的亮度。

根據本發明的再一實施例，提供了一種液晶顯示裝置的局部調光方法。這種液晶顯示裝置的局部調光方法包含：在一液晶顯示面板上顯示具有單個灰度的一影像，測量液晶顯示面板的複數個塊的亮度，以及計算塊中的一中心塊和邊緣塊的調光值。這裡，調光值的計算包含對發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的中心塊和邊緣塊應用不同的調光值。因此，可以獨立計算主要出現光線洩漏或黑色均勻性缺陷的每一邊緣塊的一調光值。因此，這些邊緣塊不提供有相同的調光值，而是分別提供有不同的調光值。因此，可以減少一光線洩漏且還可以解決一黑色均勻性缺陷。

本發明其它示例性實施例的細節將包含在本發明的詳細描述和附圖中。

根據本發明，根據測量的亮度值來調整其中發生光線洩漏的塊和未發生光線洩漏的塊的調光值。因此，可以解決透過常規局部調光方法尚未解決的光線洩漏。

此外，根據本發明，當黑色均勻性不均勻時，不同的調光值分別應用於液晶顯示面板的複數個塊中。因此，可以解決尚未透過常規局部調光方法解決的液晶顯示面板的黑色均勻性缺陷。

此外，根據本發明，當不同的調光值分別施加到液晶顯示面板的複數個塊時，分析輸入資料並同時應用增益。因此，可以從複數個塊獲得均勻的亮度。

本發明的效果不限於上述效果，並且各種其他效果包含在本說明書中。

根據下面參考附圖描述的示例性實施例，將更清楚地理解本發明的優點和特徵，以及用於實現該優點和特徵的方法。然而，本發明不限於以下的示例性實施例，而是可以各種不同的形式實現。提供本發明的這些示例性實施例僅是為了完成本發明的公開並且對本領域普通技術人員充分地提供本發明涉及的範疇，並且本發明將由所附的專利申請範圍限定。

在用於描述本發明的示例性實施例的附圖中所示的形狀、尺寸、比率、角度、數量等僅是示例性的，本發明不限於此。在本說明書中，相同的附圖標記通常表示相同的元件。此外，在以下描述中，可省略對已知技術的詳細解釋，以避免不必要地模糊本發明的主題。除非與用語「僅」一起使用，否則本文使用的用語例如「具有」、「包含」、以及「由…組成」通常允許添加其他組件。除非另有明確說明，任何對單數的引用可包含複數。

即使沒有明確說明，組件也解釋為包含一通常的誤差範圍。

當兩個部分之間的位置關係使用例如「上」、「上方」、「下方」、以及「下一個」的用語描述時，除非使用這些用語與用於「緊接」、「直接」一起使用，否則一個或多個部分可位於這兩個部分之間。

當一元件或層稱為位於另一元件或層「上」時，這個元件或層可直接在另一元件或層上，或者可存在中間元件或層。

儘管用於語「第一」、「第二」等用於描述各種部件，但是這些部件不受這些用語的限制。這些用語僅用於將一個組件與其他組件區分開。因此，以下提及的第一組件可以是本發明的技術概念中的第二組件。

在整個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。

由於為了便於解釋而表示出了附圖中所示每個部件的尺寸和厚度，本發明不一定限於所示的每個部件的尺寸和厚度。

本發明的各種實施例的特徵可部分地或完全地彼此結合或組合，並且可在技術上以各種方式互鎖和操作，並且本發明的實施例可彼此獨立地或相互關聯地執行。

在下文中，將參照附圖詳細描述本發明的各種示例性實施例。

圖1係為用於解釋根據本發明的一示例性實施例的一液晶顯示裝置的方框圖。圖2係為等效地表示圖1所示的一液晶顯示面板的一畫素陣列的一部分的電路圖。請參考圖1及圖2，一液晶顯示裝置100包含一液晶顯示面板140、一背光單元160、具有一局部調光單元111的一定時控制器110、一資料驅動器120、一閘極驅動器130、以及一系統板150。

液晶顯示面板140是一水平電場驅動型液晶顯示面板。它是一面內切換（IPS）面板，其中形成在同一基板上的畫素電極和共同電極之間的一水平電場在面內切換（IPS）模式下驅動液晶。然而，本發明不限於此，並且液晶顯示面板140可以是用作一邊緣場切換（FFS）面板的一水平電場驅動型液晶顯示面板。

液晶顯示面板140具有其中一液晶層設置在彼此面對的基板之間的結構。在液晶顯示面板140的一底基板上，複數個資料線DL和複數個閘極線GL彼此交叉。由於資料線DL和閘極線GL之間的交叉結構，液晶單元Clc以矩陣形式設置在液晶顯示面板140上，如圖2所示，從而定義複數個畫素。在液晶顯示面板140的底基板上，可形成資料線DL、閘極線GL、薄膜電晶體TFT、連接到薄膜電晶體TFT的液晶單元Clc的畫素電極、連接到共同電壓線Vcom的共同電極、以及一儲存電容器Cst。此外，在液晶顯示面板140的頂基板上，可形成一黑矩陣和一濾色器。

一偏振板可附裝至液晶顯示面板140的頂基板和底基板中的每一個。此外，用於設置液晶之預傾斜角的一配向膜可形成在與液晶相接觸的液晶顯示面板140的頂基板和底基板內。

資料驅動器120可包含複數個源極驅動積體電路(IC)。資料驅動器120可在定時控制器110的控制下閂鎖數位視訊資料R'G'B'。此外，資料驅動器120可使用正/負伽馬補償電壓將數位視訊資料R'G'B'轉換為正/負類比資料電壓，然後將正/負類比資料電壓提供給資料線DL。

閘極驅動器130可包含複數個閘極驅動積體電路(IC)。閘極驅動器130可包括一移位暫存器、一電平移位器、以及一輸出緩衝器，其中電平移位器用於將移位暫存器的輸出訊號的擺幅寬度轉換為適於驅動液晶單元Clc的薄膜電晶體TFT的擺幅寬度。閘極驅動器130包含複數個閘極驅動積體電路(IC)，並且因此可順次輸出分別具有大約1個水平周期之脈波寬度的閘極脈波(或掃描脈波)，並將閘極脈波提供給閘極線GL。

定時控制器110可控制資料驅動器120和閘極驅動器130。定時控制器110可通過一介面，例如一低電壓差分訊號(LVDS)介面和一轉換最小化差分訊號(TMDS)介面，從系統板150接收數位視訊資料RGB和定時訊號Vsync、Hsync、DE、以及DCLK。定時訊號Vsync、Hsync、DE、以及DCLK可包含一垂直同步訊號Vsync、一水平同步訊號Hsync、一資料使能訊號DE、以及一點時脈訊號DCLK。定時控制器110可根據從系統板150輸入的定時訊號Vsync、Hsync、DE、以及DCLK來產生用於控制資料驅動器120和閘極驅動器130之作業定時的資料定時控制訊號DDC和閘極定時控制訊號GDC。

一資料定時控制訊號DDC可包含一源極起始脈波SSP、一源極採樣時脈SSC、一源極輸出使能訊號SOE、以及一極性控制訊號POL。源極起始脈波SSP可控制資料驅動器120的一資料採樣作業的開始定時。源極採樣時脈SSC可根據上升沿或下降沿來控制資料驅動器120內的資料採樣作業。如果定時控制器110和資料驅動器120之間的訊號傳輸系統為一微型LVDS介面，則可省去源極起始脈波SSP和源極採樣時脈SSC。極性控制訊號POL可以在n（n係為正整數）個水平周期反轉從資料驅動器120輸出的資料電壓的極性。源極輸出使能訊號SOE可控制資料驅動器120的輸出定時。

閘極定時控制訊號GDC可包含一閘極起始脈波GSP、一閘極移位時脈GSC、以及一閘極輸出使能訊號GOE。閘極起始脈波GSP可控制一第一閘極脈波的定時。閘極移位時脈GSC為用於移位閘極起始脈波GSP的一時脈訊號。閘極輸出使能訊號GOE可控制閘極驅動器130的輸出定時。

定時控制器110可將一輸入影像映射到液晶顯示面板140的複數個塊，並且分析每個塊中的影像資料和背光之間的相關性。定時控制器110根據影像資料和一背光之間的相關性輸出用於局部調光的背光單元160的一調光訊號DIM，並且補償每個塊的資料。

定時控制器110可包含一局部調光單元111，以輸出用於局部調光的背光單元160的調光訊號DIM。然而，本發明不限於此，並且局部調光單元111可實現為與定時控制器110分離的一組件。局部調光單元111包含一記憶體，記憶體中儲存用於液晶顯示面板140的複數個塊的灰度調光值。記憶體可儲存這些塊中發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的一異常塊和一參考塊的不同的灰度調光值。局部調光單元111可根據一調光值輸出調光訊號DIM以驅動背光單元160。稍後將參考圖3A至8B描述局部調光單元111的更多細節。

系統板150將數位視訊資料RGB提供給定時控制器110。系統板150包含一廣播訊號接收電路、一外部裝置介面電路、一圖形處理電路等。因此，系統板150配置為從廣播訊號或從外部設備輸入的輸入源接收視訊資料，將視訊資料轉換為數位資料，並且將數位資料提供給定時控制器110。系統板150可將例如垂直同步訊號Vsync、水平同步訊號Hsync、資料使能訊號DE、以及點時脈訊號DCLK的定時訊號提供給定時控制器110。

背光單元160可包含複數個光源。背光單元160可實現為一直下型背光單元或一邊緣型背光單元。直下型背光單元具有其中在液晶顯示面板140下層疊複數個光學片和一擴散板的結構，並且複數個光源設置在擴散板下方。直下型背光單元可透過將複數個光源設置在擴散板下方並單獨地控制這些光源來實現局部調光。邊緣型背光單元具有其中光源設置為面對一導光板的一側表面的結構，並且複數個光學片設置在液晶顯示面板140和導光板之間。這些光學片包含至少一個棱鏡片和至少一個擴散片。因此，光學片擴散從擴散板入射的光線，並以與液晶顯示面板140的一光入射表面大致垂直的角度折射光線的行進路徑。這些光學片可包含一雙亮度增強膜（DBEF）。

在下文中，將參照圖3A至圖8描述根據本發明一示例性實施例的用於最小化液晶顯示面板140中的光線洩漏和黑色均勻性缺陷的局部調光方法。

圖3A係為用於說明圖1所示的液晶顯示面板的複數個塊的示例性圖式。

如圖3A所示，液晶顯示面板140包含用於局部調光的複數個塊B11至B57。塊B11至B57彼此不是物理分離的，而是用於虛擬分離液晶顯示面板140的整個區域的虛擬塊。圖3A表示出液晶顯示面板140包含五（5）列（row）和七（7）行（column）的多個塊B11至B57，但是不限於此。液晶顯示面板140可包含一定數量的列和一定數量的行的複數個塊。這些塊B11至B57的每一個可包含i ´ j（i和j係為等於或大於1的正整數）個畫素。每個畫素可包含用於三（3）原色或更多原色的子畫素，並且每個子畫素可包含一液晶單元Clc。

圖3B係為用於說明由光線洩漏引起之問題的示例性圖式。圖3C係為說明由黑色均勻性缺陷引起的問題的示例性圖式。圖3B及圖3C係為用於解釋當在液晶顯示面板140上顯示具有一單個灰度級的影像時，分別發生光線洩漏和黑色均勻性缺陷之情況的示例性圖式。每個塊B11至B57中的陰影線表示從相應塊測量的一亮度值。也就是說，具有相同陰影的塊是從中測量到相同亮度值的塊，具有不同陰影的塊是從中測量不同亮度值的塊。此外，沒有陰影的塊是正常塊。這裡，具有一單個灰度的影像係指與整個影像的灰度相同的一影像。

請參考圖3B，一光線洩漏可出現在液晶顯示面板140中。在這種情況下，在液晶顯示面板140之邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57和在液晶顯示面板140之中心的一塊B34的亮度之間可不相同。具體地，即使具有一特定灰度的影像顯示於液晶顯示面板140上，如果在液晶顯示面板140的邊緣發生光線洩漏，則從液晶顯示面板140之邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57測量的亮度值可與從在液晶顯示面板140之中心的塊B34測量的亮度不相同。在這種情況下，用戶可能在液晶顯示面板140的邊緣和中心之間具有不同的視覺。因此，需要減少光線洩漏。

然後，如圖3C所示，一黑色均勻性缺陷可出現於液晶顯示面板140中。在這種情況下，在液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57之間可能存在亮度差異。具體地，即使具有一特定灰度的影像顯示於液晶顯示面板140上，然由於黑色均勻性在液晶顯示面板140上不均勻，因此可以從多個塊B11至B57測量各種亮度值。特別地，可以從液晶顯示面板140之邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57測量到不同的亮度值。如果在液晶顯示面板140中發生黑色均勻性缺陷並且如這樣從多個塊B11至B57測量不同的亮度值，則用戶可能具有一視覺、一對比度(CR)、黑色灰度影像的灰度表達上的問題。因此，需要解決黑色均勻性缺陷。

在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置100的局部調光的方法中，將一調光值獨立地施加到發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的異常塊上，以使得最小化光線洩漏和解決黑色均勻性缺陷。

圖4係為解釋根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光的方法的流程圖。

首先，在液晶顯示面板140上顯示具有一單個灰度的影像（S10）。

液晶顯示面板140以單個灰度顯示影像，以便測量液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57的亮度。也就是說，具有能夠在液晶顯示面板140上顯示的從最低灰度到最高灰度範圍中一個灰度的影像在液晶顯示面板140上顯示。舉例而言，在液晶顯示面板140上顯示具有從0到255的一特定灰度的影像。因此，可以根據顯示在液晶顯示面板140上的影像的灰度來檢測發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的一異常塊。

此外，液晶顯示面板140可順次顯示複數個影像，每個影像具有從最低灰度到最高灰度範圍的一個灰度。舉例而言，分別具有從0到255範圍中一個灰度的多個影像可以在液晶顯示面板140上顯示。因此，可根據能夠在液晶顯示面板140上顯示的每個灰度，檢測發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的一異常塊。這裡，可以各種方式設置要在液晶顯示面板140上顯示的複數個影像的灰度的順序。也就是說，液晶顯示面板140可按照從0到255的灰度順序顯示複數個影像，或者可按照從255到0的灰度順序顯示複數個影像。另外，液晶顯示面板140可隨機地顯示分別具有從0到255的一個灰度的複數個影像。

然後，在液晶顯示面板140的這些塊B11至B57中檢測發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的一異常塊（S20）。將參考圖5A更詳細地描述檢測異常塊的過程。

圖5A係為解釋根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，液晶顯示面板的掃描過程的透視圖。

首先，當如上所述在液晶顯示面板140上顯示具有一單個灰度的影像時，對液晶顯示面板140執行一掃描處理。如圖5A所示，當在液晶顯示面板140上顯示具有一單個灰度的影像時，可使用一掃描儀900對液晶顯示面板140進行一表面掃描處理。作為表面掃描處理的結果，可測量液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57的亮度值。

在本發明的一示例性實施例中，對液晶顯示面板140的掃描處理可作為與液晶顯示面板140的製造過程一在線處理來執行。也就是說，掃描儀900可設置在用於生產液晶顯示面板140的生產線上，並且當液晶顯示面板140對應於掃描儀900設置時，顯示一影像。然後，在液晶顯示面板140沿著生產線移動時，可使用設置在生產線上的掃描儀900對液晶顯示面板140進行掃描處理。這樣，如果掃描處理作為液晶顯示面板140的製造過程中的在線處理進行，則能夠通過液晶顯示面板140的自動生產更有效地進行掃描過程。

在本發明的另一示例性實施例中，對液晶顯示面板140的掃描處理可與液晶顯示面板140的製造過程分開執行。也就是說，在完成液晶顯示面板140的生成之後，掃描處理可使用掃描儀900作為液晶顯示面板140的一單獨過程來執行。

通過上述掃描處理，可測量塊B11至B57相對於在液晶顯示面板140上顯示的影像之灰度的亮度值。舉例而言，如果顯示在液晶顯示面板140上的影像具有一第一灰度，則可測量這些塊B11至B57相對於第一灰度的亮度值。這裡，一特定值的亮度值可以是從特定塊測量的亮度值的一平均值。然而，本發明不限於此。一特定值的亮度值可定義為各種亮度值的模式，或者可以另一種方式定義。

此外，如上所述，如果分別具有從最低灰度到最高灰度範圍中一個灰度的複數個影像顯示於液晶顯示面板140上，則可在顯示每個影像的同時執行掃描處理。因此，可針對每個灰度從液晶顯示面板140的塊B11至B57測量亮度值。舉例而言，可以按照從0到255的灰度順序順次地顯示複數個影像的同時執行掃描處理。因此，可測量液晶顯示面板140的塊B11到B57相對於從0到255的每個灰度的亮度值。

然後，根據通過掃描處理測量的亮度值，在塊B11至B57之中檢測一異常塊。將參考圖5B及圖5C更詳細地描述檢測一異常塊的過程。

圖5B係為說明在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第一灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取之亮度值的示例性圖式。圖5B係為表示透過在液晶顯示面板140上顯示具有第一灰度的影像並執行掃描處理而獲取之亮度值的示例性圖式。每個塊B11至B57的陰影表示從相應塊測量的亮度值。也就是說，具有相同陰影的塊為測量到相同亮度值的塊，具有不同陰影的塊為測量到不同亮度值的塊。此外，沒有陰影的塊為正常塊。

根據通過掃描處理測量的亮度值，可以在塊B11至B57之中檢測關於第一灰度的一異常塊。塊B11至B57中的異常塊可以是具有與參考塊RB之亮度值不同的亮度值的一塊。這裡，參考塊RB可以是塊B11至B57中的液晶顯示面板140之中心塊B34。光線洩漏和黑色均勻性缺陷主要發生於液晶顯示面板140的邊緣。因此，液晶顯示面板140之中心的塊B34很可能是正常塊。因此，異常塊的數量可以從液晶顯示面板140的中心向邊緣增加。因此，用於檢測異常塊的參考塊RB可以是塊B11至B57中位於液晶顯示面板140之中心的塊B34。

在複數個塊B11到B57中，具有與參考塊RB的亮度值不同亮度值的塊檢測為相對於第一灰度的一異常塊。舉例而言，在圖5B所示的示例性實施例中，陰影塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57檢測為相對於第一灰度的異常塊。

圖5C係為用於說明在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有一第二灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取之亮度值的示例性圖式。圖5C係為表示透過在液晶顯示面板140上顯示具有第二灰度的影像並執行掃描處理而獲取之亮度值的示例性圖式。每個塊B11至B57中的陰影表示從相應塊測量的一亮度值。也就是說，具有相同陰影的塊為測量到相同亮度值的塊，具有不同陰影的塊為側量到不同亮度值的塊。此外，沒有陰影的塊為正常塊。

根據通過掃描處理測量的亮度值，可以在塊B11至B57之中檢測關於第一灰度的一異常塊。也就是說，可以在從能夠在液晶顯示面板140上顯示的最低灰度到最高灰度範圍的複數個灰度中，檢測關於與第一灰度不同的第二灰度的一異常塊。關於第二灰度檢測一異常塊的處理與關於第一灰度檢測一異常塊的處理大致相同。也就是說，一異常塊可以是複數個塊B11至B57中具有與參考塊RB的亮度值不同亮度值的一塊。參考塊RB可以是複數個塊B11至B57中的液晶顯示面板140之中心的塊B34。

在具有不同於第一灰度的第二灰度的影像的同時，從複數個塊B11至B57測量亮度。因此，關於第一灰度的一異常塊可以與關於第二灰度的一異常塊不相同。也就是說，一光線洩漏和一黑色均勻性缺陷可根據液晶顯示面板140上顯示的影像的灰度以不同的方式發生。因此，當根據如圖5B所示顯示具有第一灰度之影像時測量的亮度檢測到的一異常塊和當如圖5所示，顯示具有第二灰度之影像時測量的亮度檢測到的一異常塊不相同。舉例而言，圖5B中檢測為一第二異常塊AB2的塊B23可以在圖5C中不檢測為一異常塊。此外，在圖5B中未檢測為一異常塊的塊B36，可在圖5C中檢測為一第三異常塊AB3。然而，複數個塊B11至B57中的一些塊，例如一塊B11可檢測為圖5B及圖5C兩者中的第一異常塊AB1。

圖5B及圖5C表示關於第一灰度的一異常塊與關於第二灰度的一異常塊不相同，但是關於第一灰度的一異常塊可以與關於第二灰度的一異常塊相同。不管是否具有一異常塊，即不管是否光線洩漏和黑色均勻性缺陷發生於液晶顯示面板140之中，對於每個液晶顯示面板140情況可以是不同的。因此，在一特定的液晶顯示器面板140中，關於第一灰度的一異常塊可不同於關於第二灰度的一異常塊。在另一液晶顯示面板140中，關於第一灰度的一異常塊可以與關於第二灰度的一異常塊相同。

可按照與上述相同的方式，在多複數個塊B11至B57之中檢測關於從最低灰度到最高灰度中每個灰度的一異常塊。也就是說，上述檢測過程可關於從0到255的每個灰度重複執行，以關於所有灰度檢測異常塊。

然後，計算異常塊的一調光值（S30）。

根據針對每個灰度測量的亮度計算異常塊的一調光值。也就是說，對於其中發生光線洩漏並測量出與參考塊RB之亮度不同的亮度或者發生黑色均勻性缺陷的一異常塊，應用與參考塊RB的調光曲線不相同的一調光曲線。因此，計算一異常塊的調光值，使得液晶顯示面板140的所有塊B11至B57在相同灰度級具有相同的亮度，並且確保黑色均勻性。因此，作為複數個塊B11至B57之中心的塊B34的參考塊RB可具有與位於邊緣且其中出現一光線洩漏或一黑色均勻性缺陷的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57不同的調光值。

以下等式用於計算一異常塊的一調光值。

[等式]

異常塊的調光值=（從異常塊測量的亮度/從參考塊測量的亮度）*參考塊的調光值

可具有用於液晶顯示裝置100的一參考調光曲線，以便以局部調光方式驅動液晶顯示裝置100。參考調光曲線係指參考塊RB的一調光曲線。這裡，即使如上所述具有相同灰度的影像顯示於液晶顯示面板140上，但由於一光線洩漏和一黑色均勻性缺陷，也可從每個塊B11至B57中測量到不同的亮度。因此，在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示面板140的局部調光的方法中，可以使用上述等式不同的調光值分別應用於異常塊和參考塊RB。

舉例而言，從參考塊RB測量的關於第一灰度的亮度可以是Y1，從異常塊測量的關於第一灰度的亮度可以是Y2，並且用於參考塊RB關於第一灰度的調光值可以為X％。在這種情況下，異常塊關於第一灰度的調光值計算為（Y2 / Y1）* X％。舉例而言，從參考塊RB測量的關於第一灰度的亮度可相比較於從異常塊測量的亮度更高。在這種情況下，異常塊關於第一灰度的調光值相比較於參考塊RB關於第一灰度的調光值更低。與此相反，從參考塊RB測量的關於第一灰度的亮度可相比較於從異常塊測量的亮度更低。在這種情況下，關於第一灰度的異常塊的調光值相比較於關於第一灰度的參考塊RB的調光值更高。

可針對每個灰度重複執行使用上述等式計算異常塊的調光值的過程。舉例而言，可使用上述等式針對從0到255的每個灰度計算檢測為異常塊的一塊的調光值。因此，可計算對於塊B11至B57中每一個的一特定調光值，並且可以將其表示為一調光曲線。

此外，當使用上述等式計算用於異常塊的調光值時，可將調光值獨立地施加到在邊緣的每個塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57。舉例而言，從在邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57中，分別從一塊B11和一塊B17測量不同的亮度值。因此，一第一調光值可施加到塊B11，並且不同於第一調光值的一第二調光值可施加到塊B17。因此，不同的調光曲線可分別應用於塊B11和塊B17。

圖6A係為表示一參考塊之調光曲線的實例的圖式。圖6B係為表示一異常塊的調光曲線的實例的圖式。舉例而言，圖6A表示圖5B及圖5C中所示的參考塊RB的調光曲線的實例，以及圖6B表示圖5B及圖5C中表示為第一異常塊AB1的塊B11的調光曲線的實例。在圖6A及圖6B中，X軸表示一塊代表值，即一輸入影像的灰度，Y軸表示一調光值（％）。在圖6B中，透過一虛線表示用於參考塊RB的一調光曲線，並且透過用於比較的一實線表示用於第一異常塊AB1的一調光曲線。

如上所述，當使用上述等式計算針對每一灰度的異常塊的調光值時，如圖6B所示，不同的調光曲線可分別應用於第一異常塊AB1和參考塊RB。舉例而言，在如圖6B所示低於A的一灰度，第一異常塊AB1的一調光值可高於參考塊RB的一調光值。此外，在A和B之間的灰度，第一異常塊AB1的一調光值可低於參考塊RB的一調光值。此外，在高於B的一灰度，第一異常塊AB1的一調光值可高於參考塊RB的一調光值。

此外，可以為每個異常塊設置一不同的調光曲線。也就是說，如上所述，一異常塊在每個灰度可具有不同的亮度，並且在一特定灰度檢測為異常塊的塊一可檢測為另一灰度的一正常塊。因此，可以為液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57中的每一個塊設置一不同的調光曲線。

然後，所計算的調光值可儲存在液晶顯示裝置100中。

具體地，針對每個灰度的液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57計算的調光值可儲存在驅動背光單元160的局部調光單元111中。也就是說，計算的調光值可以儲存在局部調光單元111的記憶體中。然而，本發明不限於此。計算的調光值可儲存在局部調光單元111可訪問以驅動背光單元160的某一記憶體中。

圖7係為用於解釋由根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法設置的，一局部調光驅動方法的流程圖。

首先，局部調光單元111接收輸入資料（S110）。

液晶顯示裝置100的定時控制器110從系統板150接收輸入資料，即數位視訊資料RGB。這裡，輸入資料定義為關於一輸入影像的一圖框的資料。如果局部調光單元111包含在如圖1所示的定時控制器110中，則局部調光單元111可使用由定時控制器110接收的輸入資料。如果局部調光單元111設置在定時控制器110外部，則局部調光單元111可以從定時控制器110接收輸入資料。

然後，局部調光單元111基於輸入資料為每個塊B11至B57設置一代表值（S120）。

局部調光單元111透過分析液晶顯示面板140的每個塊的輸入資料來為每個塊設置一代表值。局部調光單元111可從輸入資料檢測來自圖框的每個畫素的最大灰度值，以及各個塊B11至B57中包含的每個畫素的平均最大灰度值。因此，可以將每個塊的平均值設置為一塊代表值。然而，本發明不限於此。每個塊的模式可設置為一塊代表值，或者可使用另一種方法來設置一塊代表值。

然後，局部調光單元111根據與代表值相對應的一調光值，針對每個塊B11至B57控制背光單元160（S130）。

如上所述，針對每個灰度對液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57所計算的調光值可儲存在局部調光單元111中，例如儲存在局部調光單元111的記憶體中。然後，局部調光單元111可根據與儲存在記憶體中的一塊代表值相對應的調光值，針對複數個塊B11至B57中的每一個確定每個塊的一局部調光值。局部調光單元111可使用針對每個塊確定的局部調光值，對於液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57中的每一個塊驅動背光單元160，並且因此控制每個塊的一背光亮度。

然後，局部調光單元111根據複數個光源的光線分佈資料計算複數個畫素的增益值（S140）。

舉例而言，局部調光單元111選擇先前設置為每個塊的一調光值的光線分佈資料，並計算一特定塊中的每個畫素的光線量。光線分佈資料可計算為一特定畫素的光線量與在局部調光期間從與特定畫素相鄰的畫素到達此特定畫素的光線量的總和。否則，可透過使用每個塊的調光值執行局部調光，通過測量每個畫素之亮度的一在前實驗來計算光線分佈資料。當整個背光具有作為根據光線分佈資料的一第一總光線量的最大亮度時，局部調光單元111可從特定畫素附近的複數個光源計算到達一特定畫素的光線量的總和。此外，當根據透過將每個塊的調光值與來自複數個光源的到達特定塊的每個光線量相乘並將結果相加，來調整背光的亮度時，局部調光單元111可從複數個相鄰光源計算到達特定畫素的一第二總光量。然後，局部調光單元111可使用第一總光線量與第二總光線量的比率來計算特定畫素的一增益值。然而，計算一增益值的上述處理是示例性的，並且可以各種方式修改。

然後，局部調光單元111根據增益值補償輸入資料（S150）。

局部調光單元111使用針對複數個畫素中每一個畫素計算的一增益值來補償相應畫素的輸入資料。舉例而言，局部調光單元111可透過將複數個畫素中每一個畫素的輸入資料和為相應畫素計算的一增益值相乘來補償輸入資料。如上所述補償的輸入資料，即數位視訊資料R'G'B'可以通過定時控制器110提供給資料驅動器120。

如上所述，一光線洩漏和一黑色均勻性缺陷可出現於液晶顯示面板140中。特別地，在液晶顯示面板140之邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57和在中心的塊B34可具有不同的亮度。如果存在這樣的亮度差異，則用戶可具有一視覺感知、一對比度（CR）、一影像的灰度表達的問題。特別地，如果液晶顯示裝置100的液晶顯示面板140為例如一面內切換（IPS）面板的一水平電場驅動型液晶顯示面板，則很可能發生一光線洩漏或一黑色均勻性缺陷。

因此，在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置100和液晶顯示裝置的局部調光方法中，可針對其中出現光線洩漏或黑色均勻性缺陷，並且在相同灰度下測量到與參考塊RB，即正常塊的亮度具有不同亮度值的異常塊單獨設置一調光值。這個調光值可儲存在記憶體中。因此，當驅動液晶顯示裝置100時，考慮到光線洩漏或黑色均勻性缺陷，將儲存在記憶體中的調光曲線施加到複數個塊B11至B57中的每一個塊。然後，補償每個畫素的輸入資料。因此，可減少液晶顯示面板140中的光線洩漏，並且可提高黑色均勻性。因此，如果在液晶顯示裝置100的液晶顯示面板140上顯示一單個灰度的影像，則可以從液晶顯示面板140的複數個塊B11至B57測量相同的亮度值。

圖8A係為在根據本發明另一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第一灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取的亮度值的示例性圖式。圖8A係為表示透過在液晶顯示面板140上顯示具有第一灰度的影像並執行掃描處理而獲取的亮度值的示例性圖式。圖8A表示在確定參考塊RB的方法中，與圖5B所示的示例性實施例不同的一示例性實施例。

塊B11至B57中的一異常塊可以是具有與從參考塊RB測量的亮度不相同的亮度的塊。這裡，參考塊RB可以是具有與從複數個塊B11至B57分別測量的亮度中模式相對應的一亮度的塊。一光線洩漏和一黑色均勻性缺陷主要發生在液晶顯示面板140的邊緣。因此，液晶顯示面板140的中心周圍設置的大部分塊很可能為正常塊。因此，當單個灰度的影像顯示於液液晶顯示面板140上時，具有與測量的亮度值中的模式對應的亮度值的塊可以是參考塊RB。在圖8A所示的本發明的示例性實施例中，在複數個塊B11至B57中，無陰影的塊B22、B24、B25、B26、B32、B33、B34、B35、B36、B43、B44、以及B46的數量最大。因此，無陰影的塊B22、B24、B25、B26、B32、B33、B34、B35、B36、B43、B44、以及B46可定義為參考塊RB。

具有與從塊B11到B57中的參考塊RB測量的亮度不相同亮度的一塊檢測為關於第一灰度的異常塊。舉例而言，在圖8A所示的示例性實施例中，陰影塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B23、B27、B31、B37、B41、B42、B45、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56以及B57的全部塊檢測為關於第一灰度的異常塊。

圖8B係為說明在根據本發明另一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第二灰度級的影像並掃描液晶顯示面板而獲取的亮度值的示例性圖式。圖8B係為表示透過在液晶顯示面板140上顯示具有第二灰度的影像並執行掃描處理而獲取的亮度值的示例性圖。圖8B表示在確定參考塊RB的方法中，與圖5C所示的示例性實施例不同的一示例性實施例。

塊B11至B57中的一異常塊可以是具有與從參考塊RB測量的亮度不相同的亮度的塊。如上所述，參考塊RB可以是具有與從複數個塊B11至B57分別測量的亮度中模式相對應的一亮度的塊。因此，在圖8B所示的本發明示例性實施例中，無陰影的塊B22、B23、B24、B26、B32、B33、B34、B35、B42、B43、B44、B45、以及B46在複數個塊B11至B57中數量最大。因此，無陰影的塊B22、B23、B24、B26、B32、B33、B34、B35、B42、B43、B44、B45、以及B46可定義為參考塊RB。

在根據本發明另一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光的方法中，具有與複數個塊B11至B57分別測量的亮度模式相對應亮度的塊設置為參考塊RB。也就是說，一光線洩漏和一黑色均勻性缺陷主要出現在液晶顯示面板140之邊緣的塊B11、B12、B13、B14、B15、B16、B17、B21、B27、B31、B37、B41、B47、B51、B52、B53、B54、B55、B56、以及B57中，因此，大多數塊很可能是正常塊。因此，具有與此模式相對應的亮度的塊可定義為參考塊RB。因此，即使一黑色均勻性缺陷出現在液晶顯示面板140的中心的塊中，也可正常地檢測一異常塊，並且還可能正常地計算異常塊的一調光值。

根據本發明的示例性實施例的液晶顯示裝置和液晶顯示裝置的局部調光方法還可描述如下。

液晶顯示裝置的局部調光的方法可包含在一液晶顯示面板上顯示具有單個灰度的一影像，檢測在液晶顯示面板的複數個塊中出現一光線洩漏或一黑色均勻性（BU）缺陷的一異常塊，以及計算異常塊的一調光值。

根據本發明的另一方面，影像的顯示可包含顯示複數個影像，每個影像具有從最低灰度到最高灰度範圍的一個灰度。異常塊的檢測可包含關於每個灰度來檢測複數個塊中的異常塊。

根據本發明的再一方面，計算異常塊的調光值可包含計算關於每個灰度的異常塊的調光值。

根據本發明的又一方面，異常塊的檢測可包含透過掃描其上顯示影像的液晶顯示面板，來測量複數個塊中的每一個塊的亮度。

根據本發明的又一方面，異常塊的檢測可包含：將與從複數個塊中的參考塊測量的亮度不同的塊檢測為異常塊。

根據本發明的又一方面，計算異常塊的調光值可包含使用以下等式計算異常塊的一調光值。

[等式]

異常塊的調光值=（從異常塊測量的亮度/從參考塊測量的亮度）*參考塊的調光值

根據本發明的又一方面，參考塊可以是複數個塊中的液晶顯示面板的中心的塊。

根據本發明的又一方面，參考塊可以是具有與從複數塊分別測量的亮度模式相對應的亮度的塊。

一液晶顯示裝置可包含：一液晶顯示面板，具有複數個畫素，一背光單元，具有複數個光源，以及一局部調光單元，包含一記憶體，在這個記憶體中儲存用於液晶面板的複數個塊的灰度調光值，並且根據灰度調光值驅動背光單元。記憶體儲存發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的異常塊和複數個塊中的參考塊的不同灰度調光值。

根據本發明的又一方面，局部調光單元可配置為接收用於液晶顯示面板的輸入資料，根據輸入資料設置用於複數個塊中每一個塊的一代表值，根據與代表值相對應的調光值，對於每個塊控制背光單元。根據複數個光源的光線分佈資料計算所述這些畫素的增益值，並且根據增益值補償輸入資料。

根據本發明的又一方面，異常塊的數量可以從液晶顯示面板的中心到邊緣增加。

根據本發明的又一方面，液晶顯示面板可為一面內切換（IPS）面板。

根據本發明的又一方面，液晶顯示裝置還包含用於控制液晶顯示面板之驅動的一定時控制器。局部調光單元可包含在定時控制器中。

根據本發明的又一方面，如果具有一單個灰度的影像顯示在液晶顯示面板上，則可以從複數個塊測量相同的亮度值。

一液晶顯示裝置的局部調光方法可包含在液晶顯示面板上顯示具有一單個灰度的影像，測量液晶顯示面板的複數個塊的亮度，並且計算這些塊中中心塊和邊緣塊的調光值。調光值的計算可包含向出現光線洩漏或黑色均勻性缺陷的中心塊和邊緣塊提供不同的調光值。

根據本發明的又一方面，將不同調光值提供於中心塊和邊緣塊可包含獨立地對每個邊緣塊提供調光值。

根據本發明的又一方面，對每個邊緣塊值獨立地提供調光值可包含將第一調光值應用於一些邊緣塊，並將與第一調光值不相同的一第二調光值應用於一些其他的邊緣塊。

儘管已經參照附圖詳細描述了本發明的示例性實施例，但是本發明不限於此，並且可以在不脫離本發明的技術概念的情況下以許多不同的形式實施。因此，提供本發明的示例性實施例僅是為了說明的目的，而不是要限製本發明的技術概念。本發明的技術概念的範圍不限於此。本發明的保護範圍應當基於以下的專利申請範圍來解釋，並且在其等同範圍內的所有技術概念應當解釋為落入本發明的範圍內。

100‧‧‧液晶顯示裝置

110‧‧‧定時控制器

111‧‧‧局部調光單元

120‧‧‧資料驅動器

130‧‧‧閘極驅動器

140‧‧‧液晶顯示面板

150‧‧‧系統板

160‧‧‧背光單元

900‧‧‧掃描儀

DL‧‧‧資料線

GL‧‧‧閘極線

DDC‧‧‧資料定時控制訊號

GDC‧‧‧閘極定時控制訊號

RGB‧‧‧數位視訊資料

R'G'B'‧‧‧數位視訊資料

Hsync‧‧‧水平同步訊號

Vsync‧‧‧垂直同步訊號

DE‧‧‧資料使能訊號

DCLK‧‧‧點時脈訊號

DIM‧‧‧調光訊號

Vcom‧‧‧共同電壓線

Clc‧‧‧液晶單元

Cst‧‧‧儲存電容器

TFT‧‧‧薄膜電晶體

SSP‧‧‧源極起始脈波

SSC‧‧‧源極採樣時脈

SOE‧‧‧源極輸出使能訊號

POL‧‧‧極性控制訊號

GSP‧‧‧閘極起始脈波

GSC‧‧‧閘極移位時脈

GOE‧‧‧閘極輸出使能訊號

AB1‧‧‧第一異常塊

AB2‧‧‧第二異常塊

AB3‧‧‧第三異常塊

RB‧‧‧參考塊

B11…B57‧‧‧塊

圖1係為用於解釋根據本發明的一示例性實施例的一液晶顯示裝置的方框圖； 圖2係為等效地表示圖1所示的一液晶顯示面板的一畫素陣列的一部分的電路圖； 圖3A係為用於說明圖1所示的液晶顯示面板的複數個塊的示例性圖式； 圖3B係為用於說明由光線洩漏引起之問題的示例性圖式； 圖3C係為說明由黑色均勻性缺陷引起的問題的示例性圖式； 圖4係為解釋根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光的方法的流程圖； 圖5A係為解釋根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，液晶顯示面板的掃描過程的透視圖； 圖5B係為說明在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第一灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取之亮度值的示例性圖式； 圖5C係為用於說明在根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有一第二灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取之亮度值的示例性圖式； 圖6A係為表示一參考塊之調光曲線的實例的圖式； 圖6B係為表示一異常塊的調光曲線的實例的圖式； 圖7係為用於解釋由根據本發明一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法設置的，一局部調光驅動方法的流程圖； 圖8A係為在根據本發明另一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第一灰度的影像並掃描液晶顯示面板而獲取的亮度值的示例性圖式；以及 圖8B係為說明在根據本發明另一示例性實施例的液晶顯示裝置的局部調光方法中，透過在液晶顯示面板上顯示具有第二灰度級的影像並掃描液晶顯示面板而獲取的亮度值的示例性圖式。

Claims (17)

1. 一種液晶顯示裝置的局部調光方法，包含以下步驟：在一液晶顯示面板上顯示具有一單個灰度的一影像；檢測在該液晶顯示面板的複數個塊之中發生一光線洩漏或一黑色均勻性缺陷的一異常塊；以及計算該異常塊的一調光值。
2. 如請求項1所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中該影像的顯示包含顯示複數個影像，每一該些影像具有從最低灰度到最高灰度的一個灰度，以及該異常塊的檢測包含相對於每個灰度來檢測該些塊中的該異常塊。
3. 如請求項2所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中計算該異常塊的該調光值包含：針對每個灰度計算該異常塊的一調光值。
4. 如請求項1所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中檢測該異常塊包含透過掃描其上顯示該影像的該液晶顯示面板測量該些塊中的每一個塊的亮度。
5. 如請求項4所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中該異常塊的檢測包含將具有與該些塊中的一參考塊測量的亮度不同亮度的一塊檢測作為一異常塊。
6. 如請求項5所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中計算該異常塊的該調光值包含使用以下等式計算該異常塊的該調光值：異常塊的調光值=（從異常塊測量的亮度/從參考塊測量的亮度）*參考塊的調光值。
7. 如請求項5所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中該參考塊是該些塊中位於該液晶顯示面板的中心的一塊。
8. 如請求項5所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中，該參考塊是具有的亮度與從該些塊分別測量的亮度中的一模式相對應的塊。
9. 一種液晶顯示裝置，包含：一液晶顯示面板，具有複數個畫素；一背光單元，具有複數個光源；以及一局部調光單元，包含一記憶體，該記憶體用於儲存該液晶顯示面板的具有一單個灰度的複數個塊的灰度調光值，並且根據該些灰度調光值驅動該背光單元，其中該記憶體針對該些塊中發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的異常塊和參考塊儲存不同的灰度調光值。
10. 如請求項9所述之液晶顯示裝置，其中該局部調光單元配置為：接收用於該液晶顯示面板的輸入資料，根據該輸入資料對該些塊中的每一個塊設置一代表值，根據與該代表值相對應的一調光值，相對於該些塊中的每一個塊控制該背光單元，根據該些光源的光線分佈資料計算該些畫素的增益值，以及基於該些增益值來補償該輸入資料。
11. 如請求項9所述之液晶顯示裝置，其中該些異常塊的數量從該液晶顯示面板的中心朝向邊緣增加。
12. 如請求項9所述之液晶顯示裝置，其中該液晶顯示面板為一面內切換型面板。
13. 如請求項9所述之液晶顯示裝置，更包含：一定時控制器，用於控制該液晶顯示面板的驅動，其中該局部調光單元包含於該定時控制器中。
14. 如請求項9所述之液晶顯示裝置，其中如果具有單個灰度的一影像顯示於該液晶顯示面板上，則從該些塊測量相同的亮度值。
15. 一種液晶顯示裝置的局部調光方法，包含以下步驟：在一液晶顯示面板上顯示具有一單個灰度的一影像；測量該液晶顯示面板的複數個塊的亮度；以及計算該些塊中的一中心塊和邊緣塊的調光值，其中調光值的計算包含對發生光線洩漏或黑色均勻性缺陷的該中心塊和該些邊緣塊應用不同的調光值。
16. 如請求項15所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中對該中心塊和該些邊緣塊提供不同的調光值包含獨立地對每一該些邊緣塊應用調光值。
17. 如請求項16所述之液晶顯示裝置的局部調光方法，其中對每一該些邊緣塊獨立地應用調光值包含：將一第一調光值應用於一些邊緣塊，並且將與該第一調光值不相同的一第二調光值應用於一些其他邊緣塊。