TWI572860B - 摔落測試裝置 - Google Patents

摔落測試裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI572860B
TWI572860B TW101142713A TW101142713A TWI572860B TW I572860 B TWI572860 B TW I572860B TW 101142713 A TW101142713 A TW 101142713A TW 101142713 A TW101142713 A TW 101142713A TW I572860 B TWI572860 B TW I572860B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test device
receiving
drop test
camera module
carrier
Prior art date
Application number
TW101142713A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201421025A (zh
Inventor
郭章緯
Original Assignee
鴻海精密工業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 鴻海精密工業股份有限公司 filed Critical 鴻海精密工業股份有限公司
Priority to TW101142713A priority Critical patent/TWI572860B/zh
Priority to US13/901,583 priority patent/US9261427B2/en
Publication of TW201421025A publication Critical patent/TW201421025A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI572860B publication Critical patent/TWI572860B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M7/00Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
    • G01M7/08Shock-testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Accessories Of Cameras (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)

Description

摔落測試裝置
本發明涉及一種摔落測試裝置。
目前使用的手機上一般都安裝有相機模組,而相機模組在安裝之前往往要進行摔落測試,即將相機模組在距離摔落面一定的高度上進行自由落體,從而測試該相機模組的品質。先前的是將一相機模組設置於一治具內,再對其進行測試,這樣測試效率較低。
有鑒於此,有必要提供一種測試效率較高的摔落測試裝置。
一種摔落測試裝置,用於對複數相機模組進行摔落測試,該摔落測試裝置包括一上蓋、一與該上蓋相連接的下蓋、及一夾設於該上蓋及該下蓋之間的承載板,該承載板上開設有複數收容部,該收容部用於收容該相機模組。
本發明的摔落測試裝置,藉由在上蓋及下蓋之間設置一承載板,承載板上開設有複數收容相機模組的收容部,可以同時對複數相機模組進行摔落測試,提高了測試效率。
100‧‧‧摔落測試裝置
11‧‧‧上蓋
111‧‧‧第一表面
112‧‧‧第二表面
1121‧‧‧第一收容槽
12‧‧‧下蓋
121‧‧‧第三表面
1211‧‧‧第二收容槽
122‧‧‧第四表面
13‧‧‧承載板
131‧‧‧第五表面
1311‧‧‧收容部
1311a‧‧‧通孔
1312‧‧‧間隔部
1312a‧‧‧承載塊
1312b‧‧‧夾持肋
14‧‧‧壓條
200‧‧‧相機模組
圖1為本發明提供的摔落測試裝置的分解示意圖。
圖2為圖1的摔落測試裝置的另一方向的分解示意圖。
圖3為圖1的摔落測試裝置的組裝圖。
圖4為圖3的摔落測試裝置沿Ⅳ-Ⅳ線的剖視圖。
下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步的詳細說明。
請參閱圖1及圖2,本發明實施方式提供的摔落測試裝置100用於對複數相機模組200進行摔落測試。該摔落測試裝置100包括一上蓋11、一下蓋12及一承載板13、三個壓條14。
該上蓋11大致為長方形,其包括相背的第一表面111及第二表面112。
該下蓋12與該上蓋11的形狀相似,該上蓋11和該下蓋12可以藉由螺合等方式固定連接。該下蓋12包括面向該第二表面112的第三表面121及與該第三表面121相背的第四表面122。該第二表面112上開設有一第一收容槽1121,該第三表面121開設有一第二收容槽1211。
結合圖3及圖4,該承載板13大致為長方形,其夾設於該上蓋11與該下蓋12之間,具體地,該承載板13收容於該第一收容槽1121及該第二收容槽1211圍成的空間內。該承載板13包括一面向該第二表面112的第五表面131,該第五表面131上開設有複數收容部1311,每個收容部1311剛好收容該相機模組200。具體地,該複數收容部1311呈陣列分佈,且沿該承載板13的宽度方向分為三排。可以理解,該收容部1311的數量根據該承載板13的大小而不同,若該上蓋11及該下蓋12較大,則該承載板13可隨之增大,設置該承載板13上的收容部1311的數量也可隨之增加,這些都可以根 據具體情況而定,優選地,該上蓋11及該下蓋12的大小和厚度與普通手機類似。另外,每個收容部1311的底部開設有通孔1311a,模擬將該相機模組200置於該收容部1311的情形,使摔落測試更加精準。
每排收容部1311中兩個相鄰的收容部1311之間設置有間隔部1312,每個間隔部1312包括一承載塊1312a及兩個夾持肋1312b。
每個壓條14大致呈條形板狀,該三個壓條14分別壓設於三排收容部1311上,使該壓條14夾持於該夾持肋1312b之間且與該相機模組200及承載塊1312a接觸。該壓條14的數量與該收容部1311的排數對應,可以根據收容部1311數量的變化而設定。本實施方式中,該壓條14的數量為三條,形狀呈平板狀。
每對夾持肋1312b之間的距離小於該收容部1311沿該承載板13的寬度方向的寬度,該壓條14可以緊密夾持於兩個夾持肋1312b之間。另外,本實施方式中,該相機模組200置於該收容部1311後,該相機模組200與該承載塊1312a處於同一平面,如此,可以利用平板狀壓條14壓合,這樣簡化了該壓條14的結構,也使壓合更方便。
可以理解,該壓條14的結構可以根據該相機模組200及該承載塊1312a沿垂直於該承載板13方向上的高度設定,例如,當該相機模組200沿垂直於該承載板13方向上的高度與該承載塊1312a沿垂直於該承載板13方向上的高度不同時,可以藉由在該壓條14上設置凹凸結構來與該相機模組200及該承載塊1312a配合。只要使該壓條14夾持於該夾持肋1312b之間且與該相機模組200及承載塊1312a接觸即可,這樣可以固定該相機模組200,從而避免由於該 相機模組200的晃動而影響摔落測試的結果。
在進行摔落測試時,由該上蓋11及下蓋12連接形成的摔落測試裝置包括六個表面,該六個表面都需要進行摔落,且每個表面摔落三次。
上述摔落測試裝置100,藉由在上蓋11及下蓋12之間設置一承載板13,承載板13上開設有複數收容相機模組200的收容部1311,可以同時對複數相機模組200進行摔落測試,提高了測試效率,並且將該相機模組200置於上蓋11及下蓋12之間來模擬相機模組200位於手機內,測試出來的結果更加精準。
另外,本領域技術人員還可在本發明精神內做其他變化,當然,這些依據本發明精神所做之變化,都應包括在本發明所要求保護之範圍之內。
100‧‧‧摔落測試裝置
11‧‧‧上蓋
111‧‧‧第一表面
112‧‧‧第二表面
12‧‧‧下蓋
121‧‧‧第三表面
1211‧‧‧第二收容槽
122‧‧‧第四表面
13‧‧‧承載板
131‧‧‧第五表面
1311‧‧‧收容部
1311a‧‧‧通孔
1312‧‧‧間隔部
1312a‧‧‧承載塊
1312b‧‧‧夾持肋
14‧‧‧壓條
200‧‧‧相機模組

Claims (8)

  1. 一種摔落測試裝置,用於對複數相機模組進行摔落測試,該摔落測試裝置包括一上蓋、一與該上蓋相連接的下蓋、及一夾設於該上蓋及該下蓋之間的承載板,該承載板上開設有複數收容部,該收容部用於收容該相機模組,該上蓋包括相背的第一表面及第二表面,該下蓋包括面向該第二表面的第三表面及與該第三表面相背的第四表面,該第二表面上開設有一第一收容槽,該第三表面開設有一第二收容槽,該承載板收容於由該第一收容槽及該第二收容槽圍成的空間內。
  2. 如請求項1所述之摔落測試裝置,其中,該承載板包括一面向該第二表面的第五表面,該複數收容部在該第五表面上呈陣列分佈,且沿該承載板的宽度方向分為三排。
  3. 如請求項2所述之摔落測試裝置,其中,每排收容部中相鄰兩個收容部之間設置有間隔部,每個間隔部包括一承載塊及兩個夾持肋。
  4. 如請求項3所述之摔落測試裝置,其中,該摔落測試裝置還包括三個壓條,該壓條分別壓設於三排收容部上,使該壓條夾持於該夾持肋之間且與該相機模組及承載塊接觸。
  5. 如請求項4所述之摔落測試裝置,其中,該壓條為平板狀。
  6. 如請求項4所述之摔落測試裝置的製造方法,其中,每對夾持肋之間的距離小於該收容部沿該承載板的寬度方向的寬度。
  7. 如請求項4所述之摔落測試裝置,其中,該相機模組置於該收容部後,該相機模組與該承載塊處於同一平面。
  8. 如請求項1所述之摔落測試裝置,其中,每個收容部的底部開設有通孔。
TW101142713A 2012-11-16 2012-11-16 摔落測試裝置 TWI572860B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101142713A TWI572860B (zh) 2012-11-16 2012-11-16 摔落測試裝置
US13/901,583 US9261427B2 (en) 2012-11-16 2013-05-24 Fixture for camera modules

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101142713A TWI572860B (zh) 2012-11-16 2012-11-16 摔落測試裝置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201421025A TW201421025A (zh) 2014-06-01
TWI572860B true TWI572860B (zh) 2017-03-01

Family

ID=50726671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101142713A TWI572860B (zh) 2012-11-16 2012-11-16 摔落測試裝置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9261427B2 (zh)
TW (1) TWI572860B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3410234B1 (fr) * 2017-06-02 2020-03-11 Omega SA Boîte de conditionnement de pièces d'horlogerie et dispositif de contrôle et/ou de réglage de pièce d'horlogerie
CN114935503B (zh) * 2022-04-29 2023-04-11 荣耀终端有限公司 装饰模组单体挤压测试治具及测试方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080175578A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Fu-Yuan Wu Method and structure for suppressing response time of lens focusing structure

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101604063B (zh) * 2008-06-13 2011-11-09 富准精密工业(深圳)有限公司 相机结构
JP4447644B2 (ja) * 2008-07-15 2010-04-07 シーシーエス株式会社 光照射装置
CN101988645A (zh) * 2009-08-04 2011-03-23 富准精密工业(深圳)有限公司 发光组件
JP4780243B1 (ja) * 2010-11-19 2011-09-28 オムロン株式会社 照明装置およびこれを複数備えた照明システム
WO2012149206A2 (en) * 2011-04-29 2012-11-01 xDEV, INC. Protective cover for an electronic device
JP5316911B2 (ja) * 2011-06-24 2013-10-16 カシオ計算機株式会社 光源装置及びプロジェクタ
US20130122247A1 (en) * 2011-11-10 2013-05-16 Omnivision Technologies, Inc. Spacer Wafer For Wafer-Level Camera And Method For Manufacturing Same
TWI524069B (zh) * 2011-12-27 2016-03-01 鴻海精密工業股份有限公司 鏡頭頂出裝置及鏡頭頂出方法
CN103245609A (zh) * 2012-02-14 2013-08-14 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 双面胶定位装置及其使用方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080175578A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Fu-Yuan Wu Method and structure for suppressing response time of lens focusing structure

Also Published As

Publication number Publication date
US20140137634A1 (en) 2014-05-22
TW201421025A (zh) 2014-06-01
US9261427B2 (en) 2016-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6627655B2 (ja) ソケット
RU2016129955A (ru) Тест-полоска с несколькими направлениями ориентации
TWI572860B (zh) 摔落測試裝置
US20140026430A1 (en) Size inspection device
KR200488114Y1 (ko) 카메라 렌즈 모듈 제작용 트레이 조립체
CN110389243B (zh) 探针卡装置
TW201312193A (zh) 鏡頭組裝裝置及其組裝方法
CN206789581U (zh) 电芯夹具
US20130320606A1 (en) Wave soldering carrier
CN102356243B (zh) 树脂部件固定结构
CN205262970U (zh) 一种试纸条
US8001667B2 (en) Apparatus for holding lens holder
CN103676233A (zh) 液晶显示装置与使用该液晶显示装置的触控显示装置
US8898924B2 (en) Test device for testing depth of chamfer
US20190058174A1 (en) Battery pack and method for producing a battery pack
CN103822770A (zh) 摔落测试装置
US20140157920A1 (en) Assembly device for assemblying camera module
CN201360065Y (zh) 连接器
CN103438376A (zh) 测试灯箱
CN104034581A (zh) 用于加热硒化后的铜铟镓硒玻璃板的强度检测盒
TWI481864B (zh) The strength of the copper indium gallium selenium glass plate after heating
JP5613305B1 (ja) 太陽電池モジュールの固定構造
TWI389827B (zh) 承載治具
CN207800685U (zh) 纽扣电池放置托盘
CN218412810U (zh) 多通道测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees