TWI564774B - Display device - Google Patents

Description

顯示裝置

本發明係關於一種顯示裝置，尤其係關於一種在構成顯示裝置之一對透明基板形成有位置檢測用之電極之內嵌(in-cell)型觸控面板。

具備具有利用使用者之手指等對顯示畫面進行觸控操作(以下，簡稱為觸控)而輸入資訊之畫面輸入功能之檢測裝置(以下，亦稱為觸控面板)的顯示裝置被用於移動終端等移動用電子機器、各種家電製品、自動受理機等固定式顧客引導終端。尤其是，近年來，由於在可進行被稱為多點觸控之多點輸入並且透過率較高而不會降低顯示畫質的方面有利，故而靜電電容式觸控面板以個人數位助理為中心而廣泛普及。該靜電電容式之觸控面板中，除將觸控面板配置於顯示裝置之顯示面側之外置型觸控面板以外，有於配置於顯示裝置之前表面而保護該顯示裝置之透明基板(覆蓋玻璃)形成靜電電容方式之電極的方式、於構成顯示裝置之顯示面側之透明基板之外側面形成電極的方式(外掛(on-cell)型)、及於構成顯示裝置之透明基板之內側面(對向面)形成電極的方式(內嵌型)等。

使用靜電電容式觸控面板之顯示裝置中有例如專利文獻1記載之觸控面板、顯示面板、及顯示裝置。於該專利文獻1記載之顯示裝置中，成為以與複數個掃描電極交叉之方式形成檢測電極之構成。此時，專利文獻1之檢測電極係成為將2個不同形狀之電極交替配置之構 成。藉由該構成而設為如下構成，即，基於2個形狀不同之檢測電極之邊緣電容之差異而去除與檢測信號重疊之外部雜訊，從而抑制誤檢測。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2010-282501號公報

先前之包括內嵌型觸控面板之顯示裝置係成為如下構成：藉由如圖14所示般在圖中左側之邊框區域FA及圖中右側之邊框區域FA形成引出線(引出掃描線)SD，而於邊框區域FA有效率地形成引出掃描線SD。即，成為將形成於圖中上側區域之掃描電極SE與驅動電路DR電性連接之第1引出線的引出掃描線SD係形成於圖中右側之邊框區域FA。又，成為將形成於圖中下側區域之掃描電極SE與驅動電路DR電性連接之第2引出線的引出掃描線SD係形成於圖中左側之邊框區域FA。

另一方面，對於搭載於個人數位助理之液晶顯示裝置，高精細化及大畫面化迅速發展，同時，為了於大小有限之殼體搭載大畫面之液晶顯示裝置，期望縮小形成於顯示區域之周圍且無助於圖像顯示之區域即邊框區域FA的窄邊框化。又，為了確保與顯示區域內對應之檢測區域AD，對於內嵌型觸控面板亦與顯示裝置同樣地，期望檢測區域AD之擴大及窄邊框化。

然而，於靜電電容式之內嵌型觸控面板中，為了確保特定之檢測精度並且擴大檢測區域，須增加掃描電極SE及檢測電極DE。因此，有如下問題：連接掃描電極與驅動電路之引出線SD、DD之信號線數亦進一步增加，尤其是伴隨引出掃描線SD之信號線數之增加而 邊框區域FA之大小亦增大，故期望獲得其解決方法。

本發明係鑒於該等問題點而完成者，本發明之目的在於提供一種可減少引出線數而縮小邊框區域之大小之技術。

為了解決上述問題，本案發明之顯示裝置包括內嵌型觸控面板，該觸控面板中對向配置有一對透明基板，於一透明基板之對向面配置有複數個掃描電極，並且於另一透明基板之對向面配置有與上述掃描電極交叉之檢測電極，且該顯示裝置包括：第1引出線，其與上述掃描電極電性連接，並對上述掃描電極供給掃描信號；及第2引出線，其與上述檢測電極電性連接，並輸出來自上述檢測電極之檢測信號；上述掃描電極係以至少2個不同之電極寬度形成，且上述第1引出掃描線之各者係連接於上述以不同電極寬度形成之至少2個掃描電極。

根據本發明，可減少引出線數而縮小邊框區域之大小。

關於本發明之其他效果，根據說明書整體之記載而變得明確。

A‧‧‧圓形記號

B‧‧‧圓形記號

C‧‧‧圓形記號

AD‧‧‧檢測區域

DD‧‧‧引出檢測線

DE‧‧‧檢測電極

DR‧‧‧驅動電路

EF1‧‧‧電力線

EF2‧‧‧電力線

EF3‧‧‧電力線

FA‧‧‧邊框區域

FN‧‧‧手指

G1‧‧‧曲線

G2‧‧‧曲線

G3‧‧‧曲線

G4‧‧‧曲線

LC‧‧‧液晶(液晶層)

SD‧‧‧引出掃描線

SE‧‧‧掃描電極

SE1‧‧‧掃描電極

SE2‧‧‧掃描電極

SIG‧‧‧掃描信號

SUB1‧‧‧第1基板

SUB2‧‧‧第2基板

W‧‧‧電極寬度

W1‧‧‧電極寬度

W2‧‧‧電極寬度

X‧‧‧軸

Y‧‧‧軸

Z‧‧‧軸

圖1係用以說明本發明之實施形態1之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖。

圖2係用以說明本發明之實施形態1之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的俯視圖。

圖3(a)、(b)係用以說明本發明之實施形態1之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的剖面圖。

圖4係用以說明輸入至本發明之實施形態1之觸控面板中之掃描電極之掃描信號的圖。

圖5係表示本發明之實施形態1之觸控面板中之檢測信號之圖。

圖6係說明先前之觸控面板之概略構成之俯視圖。

圖7(a)、(b)係用以說明先前之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的剖面圖。

圖8係用以說明輸入至先前之觸控面板中之掃描電極之掃描信號的圖。

圖9係表示先前之觸控面板中之檢測信號之圖。

圖10係用以說明先前之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的俯視圖。

圖11係用以說明本發明之實施形態1之顯示裝置中之另一內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖。

圖12係用以說明本發明之實施形態2之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖。

圖13係用以說明本發明之實施形態3之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖。

圖14係說明先前之觸控面板之概略構成之俯視圖。

以下，利用圖式對應用本發明之實施形態進行說明。其中，於以下之說明中，對同一構成要素標註同一符號並省略重複之說明。又，圖中所示之X、Y、Z分別表示X軸、Y軸、Z軸。

<實施形態1>

圖1係用以說明本發明之實施形態1之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖，以下，基於圖1說明實施形態1之內嵌型觸控面板之整體構成。其中，於圖1所示之內嵌型觸控面板中，為了易於說明，僅示出掃描電極SE、檢測電極DE、引出掃描線SD、及引出檢測線DD，其等分別形成於眾所周知之形成液晶顯示面板之一對透明基板之對向面。又，於以下之說明中，對在IPS(In Plane Switching，橫向電場效應)方式之液晶顯示面板形成內嵌型觸控面板之情形進行說明，但亦可應用於其他方式之液晶顯示裝置或有機EL(Electroluminescence，電致發光)顯示裝置等。

於圖1所示之實施形態1之顯示裝置中之內嵌型觸控面板中，於構成液晶顯示面板之一對透明基板SUB1、SUB2中進行圖像顯示之形成有未圖示之汲極線及閘極線以及薄膜電晶體等之一側之透明基板(第1基板)SUB1搭載有觸控面板之驅動電路DR。於該第1基板SUB1，形成有包含眾所周知之透明導電膜之掃描電極SE、及將該掃描電極SE與驅動電路DR電性連接之引出掃描線(第1引出線)SD。驅動電路DR係搭載於第1基板SUB1之對向面側，且來自驅動電路DR之掃描信號經由引出掃描線SD被供給至掃描電極SE。再者，於IPS方式之液晶顯示面板中，於第1基板SUB1側形成有共用電極，因此可兼用複數個共用電極而形成掃描電極SE。

另一方面，於介隔未圖示之液晶層與第1基板SUB1對向配置之透明基板(第2基板)SUB2，形成有包含眾所周知之透明導電膜之檢測電極DE、及將該掃描電極DE與驅動電路DR電性連接之引出檢測線(第2引出線)DD。此時，驅動電路DR係搭載於第1基板SUB1。因此，第2基板SUB2側之引出檢測線DD與第1基板SUB1側之引出檢測線DD係經由形成於第1基板SUB1與第2基板SUB2之對向面之未圖示之眾所周知之導電性樹脂而電性連接。藉由該構成，基於利用檢測電極DE檢測出之信號(檢測信號)，利用驅動電路DR對被觸控之掃描電極SE之電容加以運算，特定出觸控位置之掃描電極SE1、SE2，從而檢測出檢測區域AD內之操作者之觸控位置。即，於檢測區域AD內檢測出呈矩陣狀配置之掃描電極SE1、SE2與檢測電極DE之交點，從而檢測出檢測區域AD內之操作者之觸控位置。

根據圖1可知，此時，實施形態1之掃描電極SE為如下構成：沿X 方向延伸且沿Y方向並排設置，包含電極寬度為W1之掃描電極(第1掃描電極)SE1、及電極寬度為W2之掃描電極(第2掃描電極)SE2，且電極寬度W1與電極寬度W2滿足W1<W2。又，掃描電極SE1與掃描電極SE2係沿掃描電極SE之並排設置方向即Y軸方向交替配置。即，於實施形態1之構成中，於圖中H1所表示之自圖中上側起為第1排形成有電極寬度W1之掃描電極SE1，於H2所表示之自上側起為第2排形成有電極寬度W2之掃描電極SE2。又，於H3所表示之第3排形成有電極寬度W1之掃描電極SE1。之後，電極寬度W2之掃描電極SE2與電極寬度W1之掃描電極SE1沿Y軸方向交替地並排設置，Hn所表示之電極寬度W1之掃描電極SE1係形成於自圖中下側起為第2排，Hn+1所表示之電極寬度W2之掃描電極SE2係形成於自圖中下側起為第1排。其中，n為1以上之奇數。再者，亦可為如下構成：於圖1中自上側起為第奇數排配置電極寬度W2之掃描電極SE2，於第偶數排配置電極寬度W1之掃描電極SE1。

進而，於實施形態1之構成中，不同之2個電極寬度W1、W2之掃描電極SE即掃描電極SE1與掃描電極SE2，係分別電性連接於1條引出掃描線SD。藉由該構成，成為將同一掃描信號輸入至2個掃描電極SE1、SE2之構成。意即，於實施形態1之掃描電極SE之構成中，H1所表示之電極寬度W1之掃描電極SE1與Hn+1所表示之電極寬度W2之掃描電極SE2，係利用同一引出掃描線SD而電性連接。又，H2所表示之電極寬度W2之掃描電極SE2與Hn所表示之電極寬度W1之掃描電極SE1，係利用同一引出掃描線SD而電性連接。同樣地，H3所表示之電極寬度W1之掃描電極SE1，亦與形成於配置有驅動電路DR之側之邊即圖中下側之邊之掃描電極SE2成對，並電性連接於同一引出掃描線SD。關於其他未圖示之掃描電極SE1及掃描電極SE2，亦依序成為如下構成：靠近搭載有驅動電路DR之邊及該邊之對邊之掃描電極SE， 係電性連接於同一引出掃描線SD，且對掃描電極SE1及掃描電極SE2供給同一掃描信號。意即，成為如下構成：掃描電極被分割成並排設置方向即Y方向之上半部分之掃描電極群(第1電極群)、及下半部分之掃描電極群(第2電極群)兩個部分，且於各引出掃描線SD分別連接1個上半部分之掃描電極群之掃描電極SE、及1個下半部分之掃描電極群之掃描電極SE。

如此，於本案發明之掃描電極SE之構成中，成為電極寬度不同之掃描電極SE1與掃描電極SE2成對，且連接於同一引出掃描線SD的構成。意即，成為如下構成：與檢測電極DE之間所形成之電容不同之掃描電極SE1與掃描電極SE2以成對之方式連接於同一引出掃描線SD。其結果，如下所述，於觸控位置之掃描電極SE之電極寬度為W1之掃描電極SE1之情形、及電極寬度為W2之掃描電極SE2之情形時，邊緣部分以外之電容不同，因此，形成於被觸控之位置之檢測電極DE所檢測出之響應(檢測信號)亦不同。因此，於實施形態1之觸控面板中，基於該等不同之檢測信號，判定被供給同一掃描信號之一對掃描電極SE1、SE2中之哪一個掃描電極SE被觸控，從而特定出畫面上之位置。

圖2係用以說明本發明之實施形態1之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的俯視圖，圖3係用以說明本發明之實施形態1之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的剖面圖，圖4係用以說明輸入至本發明之實施形態1之觸控面板中之掃描電極之掃描信號的圖，圖5係表示本發明之實施形態1之觸控面板中之檢測信號的圖。又，圖6係說明先前之觸控面板之概略構成之俯視圖，圖7係用以說明先前之觸控面板中之觸控位置之檢測動作的剖面圖，圖8係用以說明輸入至先前之觸控面板中之掃描電極之掃描信號的圖，圖9係表示先前之觸控面板中之檢測信號之圖，圖10係用以說明先前之觸控面板中之觸控位置之檢測動作 的俯視圖。其中，圖7(a)、(b)所示之剖面圖係掃描電極與檢測電極之交叉部分之沿掃描電極之延伸方向的剖面圖。又，圖3(a)、(b)所示之剖面圖係掃描電極與檢測電極之交叉部分之沿掃描電極之延伸方向的剖面圖，且係利用檢測電極之長度表示掃描電極與檢測電極重疊之區域之面積的圖。

首先，基於圖6~圖10，對先前之觸控面板中之觸控位置之檢測動作進行說明。如圖6所示，於先前之觸控面板中，沿X方向延伸且沿Y方向並排設置之掃描電極SE不管其形成位置均以相同之電極寬度W形成。其結果，於就檢測電極DE而言之情形時，H1~Hn+1所表示之第1個~第n+1個掃描電極SE之電容成為大致相同之電容。進而，各掃描電極SE成為如下構成：經由與各自對應之1條引出掃描線SD與驅動電路DR連接而被供給掃描信號。

於包含該構成之觸控面板中，在對掃描電極SE施加電壓之狀態下未觸控時之情形時，於掃描電極SE與檢測電極DE之間介隔作為絕緣體之液晶層LC產生電場。此時，於掃描電極SE與檢測電極DE重疊之部分，如圖7(a)所示，於掃描電極SE之對向面與檢測電極DE之對向面之間產生電力線EF1。另一方面，於掃描電極SE與檢測電極DE不重疊之部分即邊緣部分，於掃描電極SE之對向面與檢測電極DE之端面之間或掃描電極SE之對向面與檢測電極DE之表面側之間產生電力線EF2。

與此相對，於操作者使手指FN觸控之情形時，如圖7(b)所示，於掃描電極SE之對向面與檢測電極DE之對向面之間產生與非觸控時相同之電力線EF1。另一方面，於掃描電極SE與檢測電極DE不重疊之部分即邊緣部分，於掃描電極SE之對向面與手指FN之間產生電力線EF3。

此時，於先前之觸控面板中，如圖8所示，成為對H1~Hn+1所 表示之第1個~第n+1個掃描電極SE依序施加特定電壓之掃描信號SIG的構成。因此，如圖9所示，相對於非觸控時檢測電極DE所檢測出之電流值之曲線G1，觸控時邊緣部分之電力線被手指FN牽引而產生電力線EF3，檢測電極DE所檢測出之電流值如曲線G4所示般減少。例如，如圖10所示，於操作者觸控Hm所表示之第m個掃描電極SE與Vr所表示之第r個檢測電極DE交叉之位置(圖中以圓形記號C表示)之情形時，對圖8中Hm所表示之第m個掃描電極SE輸入掃描信號SIG時，於Vr所表示之第r個檢測電極DE計測到圖9之曲線G4之信號，且於其他檢測電極DE計測到曲線G1之信號。其結果，基於掃描信號SIG之輸出時序、及利用檢測電極DE所計測到之與曲線G1、G4對應之信號(檢測信號)，驅動電路DR可特定出操作者用手指FN觸控之位置。

相對於該先前之觸控面板，於實施形態1之觸控面板中，如上所述，對1條引出掃描線SD連接有2個掃描電極SE1、SE2，並且該等2個掃描電極SE1、SE2係以不同之電極寬度W1、W2形成。因此，於實施形態1之觸控面板中，操作者觸控之情形時之掃描電極SE與手指FN之間之邊緣部分之電力線因電極寬度W1、W2而不同。

以下，基於圖2~圖5進行詳細說明。再者，於以下之說明中，作為連接於1條引出掃描線SD之2個掃描電極SE1、SE2，如圖2所示，對H1所表示之第1個掃描電極SE1與Vr所表示之第r個檢測電極DE交叉之位置(圖中以圓形記號A表示)、及Hn+1所表示之第n+1個掃描電極SE2與Vr所表示之第r個檢測電極DE交叉之位置(圖中以圓形記號B表示)上的檢測動作進行詳細說明。

如圖3(a)、(b)所示，於電極寬度W1、W2之掃描電極SE1、SE2與檢測電極DE分別重疊之部分，電極寬度W2之掃描電極SE2與檢測電極DE重疊之部分之面積大於電極寬度W1之掃描電極SE1與檢測電極 DE重疊之部分之面積。此時，如圖3(a)、(b)所示，關於手指FN觸控之情形時產生於掃描電極SE1、SE2之對向面與檢測電極DE之對向面之間的電力線EF1，重疊部分之面積較大時產生更多之電力線EF1。另一方面，於不重疊之部分即邊緣部分，於掃描電極SE1、SE2之對向面與進行觸控之手指FN之間產生電力線EF3。此時，於觸控電極寬度W1之掃描電極SE1與檢測電極DE交叉之位置A之情形、及觸控電極寬度W2之掃描電極SE2與檢測電極DE交叉之位置B之情形時，雖亦取決於與手指FN之大小，但產生於掃描電極SE1、SE2與檢測電極DE之間之電力線EF1及產生於掃描電極SE1、SE2與手指FN之間之電力線EF3分別不同。

其結果，即便於如圖4所示般在t0~t1期間對掃描電極SE1、SE2供給相同之掃描信號SIG之情形時，於觸控時，亦如圖5所示般，計測到與電極寬度W1、W2對應之曲線G2、G3之檢測信號。即，於觸控電極寬度W1之掃描電極SE1之部分之情形時，計測到成為曲線G3所示之電流變化之信號，於觸控電極寬度W2之掃描電極SE2之部分之情形時，計測到成為曲線G2所示之電流變化之信號。進而，於非觸控時，檢測到成為曲線G1所示之電流變化之信號。

因此，於實施形態1之觸控面板中，基於掃描信號SIG之輸出時序、及利用檢測電極DE所計測到之與曲線G1、G2、G3對應之信號(檢測信號)，驅動電路DR可特定出操作者用手指FN觸控之位置。

如以上說明所述，於包括實施形態1之內嵌型觸控面板之液晶顯示裝置中，設為將至少2個掃描電極SE1、SE2連接於1條引出掃描線SD並且該2個掃描電極SE1、SE2之電極寬度W1、W2不同的構成、即就檢測電極DE或進行觸控之作為介電體之手指FN而言掃描電極SE1、SE2之電容不同的構成。進而，由於成為檢測利用檢測電極檢測出之觸控時之電流變化之差異的構成，故而可檢測出連接於1條引 出掃描線SD之掃描電極SE1、SE2中之哪一個被觸控。即，設為如下構成：藉由將伴隨因對觸控面板前表面之觸控引起之電容變化而由檢測電極DE檢測出之電流變化(暫態響應)與第1判定位準及第2判定位準進行比較，而判定是對以相同時序被供給掃描信號SIG之掃描電極SE1之觸控還是對掃描電極SE2之觸控。再者，只要能夠根據掃描電極SE1、SE2之電極寬度W1、W2不同而判定觸控位置，則亦可為除暫態響應中之電流變化以外之檢測方法(例如，對電極間之電容進行檢測之方法等)。

其結果，可將連接掃描電極與驅動電路之引出掃描線數減少至掃描電極數之一半(1/2)，而可大幅縮小配置引出掃描線之邊框區域。

又，於實施形態1之構成中，可不減少掃描電極數而僅減少引出掃描線數，故可不變更掃描信號SIG之脈衝寬度等而使掃描信號SIG之輸出脈衝數增加至2倍。其結果，可將用於檢測對觸控面板前表面之觸控之掃描所需之時間即1訊框期間所需之時間減半。又，亦可於先前之1訊框期間進行2次檢測，故亦可將檢測速度提高至2倍。於增加檢測次數之情形時，可進行拖曳或輕拂等移動觸控位置之操作(拖曳動作觸控)或高速地進行多點觸控之位置檢測，因此可順利進行使用觸控面板之操作。

但是，於圖1所示之實施形態1之觸控面板中，雖設為僅於圖中右側之邊框區域配置引出掃描線SD之構成，但並不限定於此。例如，亦可為如圖11所示般於圖中左右之邊框區域即掃描電極SE1、SE2之端部側之2個邊框區域，分別形成引出掃描線SD的構成。

又，於實施形態1之構成中，就將電極寬度W1之掃描電極SE1、及電極寬度W2之掃描電極SE2交替地並排設置之情形進行了說明，但亦可為使用具有3個以上之不同電極寬度之掃描電極SE之構成。於此情形時，於1條引出掃描線SD電性連接3個不同電極寬度之掃描電極 SE。

進而，於實施形態1之構成中，僅圖示觸控面板之驅動電路，產生供給至顯示用之像素(像素)之影像信號(灰階信號、汲極信號)之未圖示之汲極線驅動電路、及產生顯示控制用之掃描信號(閘極信號)之未圖示之閘極線驅動電路，亦搭載於觸控面板之與驅動電路DR相同之邊部。再者，亦可為利用1個半導體晶片形成汲極線驅動電路、閘極線驅動電路及驅動電路DR之構成。

<實施形態2>

圖12係用以說明本發明之實施形態2之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖，僅有連接於1條引出掃描線SD之不同電極寬度W1、W2之掃描電極SE1、SE2之配置不同，其他構成與實施形態1相同。因此，於以下之說明中，對連接於1條引出掃描線SD之掃描電極SE1、SE2之配置進行詳細說明。

如圖12所示，實施形態2之觸控面板亦與實施形態1同樣地成為如下構成：將沿Y方向並排設置之掃描電極SE1、SE2分為圖中上半部分及下半部分，並將上半部分之掃描電極SE1、SE2與下半部分之掃描電極SE1、SE2組合並連接於1條引出掃描線SD。此時，配置於自圖中上側起為第奇數排之掃描電極SE1之電極寬度為W1，配置於第偶數排之掃描電極SE2之電極寬度為W2。因此，於實施形態2之構成中，成為將圖中上半部分之最上段之掃描電極SE1與下半部分之最上段之掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD的構成。將隨後之圖中上半部分之第2個掃描電極SE2與下半部分之第2個掃描電極SE1連接於1條引出掃描線SD。之後，成為依序將圖中上半部分之掃描電極與下半部分之掃描電極連接於1條引出掃描線SD的構成。

於實施形態2之觸控面板之構成中，形成為掃描電極SE1與掃描電極SE2之合計數成為偶數。因此，於設為h=(n+1)/2之情形時，圖 中下半部分之最上段之掃描電極即第h個掃描電極成為Hh所表示之第h個電極寬度W2之掃描電極SE2。又，將H2所表示之第2個掃描電極SE2與Hh+1所表示之第h+1個掃描電極SE1連接於同一引出掃描線SD。之後，依序將Hh-1所表示之第n-1個掃描電極SE1與Hn+1所表示之第n+1個掃描電極SE2連接於同一引出掃描線SD。

如此，於實施形態2之構成中，亦成為將電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD的構成，因此可獲得與實施形態1相同之效果。

又，於實施形態2之觸控面板中，可將連接於1條引出掃描線SD之掃描電極SE1與掃描電極SE2之間隔保持為大致相同之間隔。因此，可無關於觸控位置而將檢測電極DE所檢測出之檢測信號之波形設為同等波形，因此可獲得可提高檢測精度之特殊效果。

<實施形態3>

圖13係用以說明本發明之實施形態3之顯示裝置中之內嵌型觸控面板部分之整體構成的俯視圖，僅有連接於1條引出掃描線SD之不同電極寬度W1、W2之掃描電極SE1、SE2之配置不同，其他構成與實施形態1相同。

如圖13所示，於實施形態3之觸控面板之構成中，亦成為將電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD的構成。此時，於實施形態3之構成中，成為將鄰接之第奇數個掃描電極SE1與第偶數個掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD的構成。即，將H1所表示之第1個掃描電極SE1與H2所表示之第2個掃描電極SE2連接於同一引出掃描線SD。之後，依序將H3所表示之第3個掃描電極SE1與H4所表示之第4個掃描電極SE2連接於同一引出掃描線SD，將圖中下側之Hn所表示之第n個掃描電極SE1與Hn+1所表示之第n+1個掃描電極SE2連接於同一引出掃描線SD。

如此，於實施形態3之構成中，亦成為將電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD的構成，因此可獲得與實施形態1相同之效果。

進而，可獲得如下特殊效果，即，可不交叉地形成引出掃描線SD而將電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD。

再者，於實施形態3之構成中，連接於同一引出掃描線SD之掃描電極SE1、SE2係鄰接地配置，因此，掃描電極SE1之電極寬度W1與掃描電極SE2之電極寬度W2之差較大之情況為佳。

又，對在包括實施形態1~3之內嵌型觸控面板之顯示裝置中將電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2交替地並排設置的情形進行了說明，但掃描電極SE1、SE2之配置並不限定於此。例如，既可為如下構成：於第1基板SUB1之上側部分形成電極寬度W1之掃描電極SE1，並且於下側部分形成電極寬度W2之掃描電極SE2，且將掃描電極SE1與掃描電極SE2連接於1條引出掃描線SD，亦可為與該構成相反之配置。進而，例如亦可為如下構成：自上側起配置2個電極寬度W1之掃描電極SE1，接下來配置2個電極寬度W2之掃描電極SE2，其後依序將掃描電極SE1及掃描電極SE2各配置2個，即，電極寬度W1之掃描電極SE1與電極寬度W2之掃描電極SE2以兩個兩個地鄰接之方式配置。但是，即便為該構成，亦於1條引出掃描線SD連接1個掃描電極SE1及1個掃描電極SE2。

以上，基於上述發明之實施形態對由本發明者完成之發明進行了具體說明，但本發明並不限定於上述發明之實施形態，可在不脫離其主旨之範圍內進行各種變更。

AD‧‧‧檢測區域

DD‧‧‧引出檢測線

DE‧‧‧檢測電極

DR‧‧‧驅動電路

FA‧‧‧邊框區域

SD‧‧‧引出掃描線

SE‧‧‧掃描電極

SE1‧‧‧掃描電極

SE2‧‧‧掃描電極

W1、W2‧‧‧電極寬度

X‧‧‧軸

Y‧‧‧軸

Z‧‧‧軸

Claims (8)

1. 一種顯示裝置，其特徵在於包括內嵌型(in-cell)觸控面板，該觸控面板對向配置有一對透明基板，於一透明基板之對向面配置有複數個掃描電極，並於另一透明基板之對向面配置有與上述掃描電極交叉之檢測電極；且該顯示裝置包括：第1引出線，其與上述掃描電極電性連接，並將掃描信號供給至上述掃描電極；及第2引出線，其與上述檢測電極電性連接，並輸出來自上述檢測電極之檢測信號；上述掃描電極係以至少2個不同之電極寬度形成，且上述第1引出掃描線之各者係連接於上述以不同電極寬度形成之至少2個掃描電極；且該顯示裝置包括驅動電路，該驅動電路係配置於形成有上述第2引出線之邊部，而供給上述掃描信號，並且輸入由上述檢測電極檢測出之檢測信號；且上述驅動電路具有根據上述檢測信號檢測觸控之有無之第1判定位準、及判定連接於上述第1引出線之2個掃描電極中之哪一個掃描電極被觸控之第2判定位準；於根據上述檢測信號檢測觸控位置時，基於上述第1判定位準及上述第2判定位準與上述檢測信號之比較結果、及檢測出上述檢測信號之上述檢測電極之位置與供給上述掃描信號之上述第1引出線，來檢測上述觸控之位置。
2. 如請求項1之顯示裝置，其中上述驅動電路係搭載於形成為長方形之該顯示裝置之短邊側之邊部，上述掃描電極係沿該顯示裝置之短邊方向延伸，並於長邊方向上並排設置。
3. 如請求項1之顯示裝置，其中上述電極寬度不同之掃描電極係交替地並排設置。
4. 如請求項1之顯示裝置，其中上述掃描電極係於並排設置方向上分割成第1電極群及第2電極群兩個部分，且於上述第1引出線分別連接有1個上述第1電極群之掃描電極、及1個上述第2電極群之掃描電極。
5. 如請求項4之顯示裝置，其中連接於上述第1引出線之2個掃描電極係形成於相對於上述掃描電極之並排設置方向之中心對稱之位置上的上述第1電極群之掃描電極及上述第2電極群之掃描電極。
6. 如請求項4之顯示裝置，其中連接於上述第1引出線之2個掃描電極係上述第1電極群及上述第2電極群中形成於相同之並排設置位置的掃描電極。
7. 如請求項1之顯示裝置，其包含IPS方式之液晶顯示面板，該液晶顯示面板中，上述一對透明基板係介隔液晶層而對向配置，且於上述一透明基板上形成有被供給成為基準之共用信號之共用電極及被供給影像信號之像素電極。
8. 如請求項7之顯示裝置，其中上述掃描電極包含複數個上述共用電極。