TWI556096B - 測試治具 - Google Patents

Description

測試治具

本發明揭露一種測試治具，特別是一種用於承載介面卡的測試治具。

一般而言，業者在生產電腦和伺服器時，會測試內部的介面卡(PCI Card)在電腦和伺服器晃動過程中之穩定度，以確認產品的品質是否合格。然而，目前業界用於介面卡晃動測試所使用的治具僅能同時承載單一尺寸規格的介面卡。因此，當要測試不同尺寸規格的介面卡時，必需使用不同治具，而不利於節省測試成本以及提高測試效率。

鑒於以上的問題，本發明揭露一種測試治具，有助於對不同尺寸規格的介面卡進行晃動測試，進而節省測試成本以及提高測試效率。

本發明所揭露的測試治具用於承載一第一介面卡或一第二介面卡，且第二介面卡的長度大於第一介面卡的長度。測試治具包含一殼體、一第一轉接板、一第二轉接板、第一立板、一第二立板和一調整板。殼體包含一底座和一側牆，且側牆圍繞底座而形成一置放空間。第一轉接板固定於殼體並且位於置放空間內。第一轉接板具有一第一插槽。第二轉接板固定於殼體並且位於置放空間內。第二轉接板具有一第二插槽。第一立板設置於殼體。第二立板設置於殼體並且面向第一立板。第一轉接板和第二轉接板皆介於第一立板和第二立板之間。調整板可拆卸地設置於殼體而介於第一立板和第二立板之間，並且具有一第一裝設位置及一第二裝設位置。當調整板位於第一裝設位置時，測試治具適於供第一介面卡插設於第一插槽，且第一介面卡的相對二側分別固定於第一立板與調整板。當調整板位於第二裝設位置時，測試治具適於供第二介面卡插設於第二插槽，且第二介面卡的相對二側分別固定於第二立板與調整板。

根據本發明所揭露的測試治具，調整板可拆卸地設置於殼體而介於第一立板和第二立板之間，並且具有一第一裝設位置及一第二裝設位置。當調整板位於第一裝設位置時，測試治具供第一介面卡進行晃動測試。當調整板位於第二裝設位置時，測試治具供第二介面卡進行晃動測試。藉此，測試治具可支援承載不同尺寸規格的介面卡進行晃動測試，有助於節省測試成本以及提升測試效率。

以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。

請參照圖1和圖2。圖1為根據本發明第一實施例之測試治具的立體示意圖。圖2為根據本發明第一實施例之測試治具的分解示意圖。

在本實施例中，一測試治具1包含一殼體10、複數個第一轉接板20、複數個第二轉接板30、一第一立板40、一第二立板50、一調整板60、複數個滑軌件70和一限位件80。第一轉接板20、第二轉接板30和滑軌件70的數量並非用以限制本發明。在其他實施例中，第一轉接板20、第二轉接板30和滑軌件70的數量皆可為一。

殼體10包含一底座100和豎立於底座100的一側牆110。側牆110圍繞底座100而形成一置放空間120。

第一轉接板20固定於殼體10的底座100，並且位於置放空間120。第一轉接板20具有複數個第一插槽200，但第一插槽200的數量並非用以限制本發明。

第二轉接板30固定於殼體10的底座100，並且位於置放空間120。第二轉接板30具有複數個第二插槽300，但第二插槽300的數量並非用以限制本發明。

第一立板40之相對二側設置於殼體10的側牆110，且第一立板40具有複數個第一開口400。

第二立板50之相對二側設置於殼體10的側牆110，並且面對第一立板40。第一轉接板20和第二轉接板30皆介於第一立板40和第二立板50之間。第二立板50具有複數個第二開口500。

調整板60可拆卸地設置於殼體10的側牆110而介於第一立板40和第二立板50之間。調整板60的功能將於後續說明。

滑軌件70設置於調整板60。調整板60可拆卸地設置於殼體10的側牆110，而令滑軌件70可選擇地面向第一立板40和第二立板50。滑軌件70的功能將於後續說明。

限位件80可拆卸地設置於殼體10的側牆110而可選擇地介於第一立板40和調整板60之間，或是介於第二立板50和調整板60之間。限位件80具有一緩衝部800，且緩衝部800的材質例如為泡綿或是橡膠等具有緩衝震動功能的材質。限位件80的功能將於後續說明。

此外，測試治具1更包含複數個結構補強肋90，分別設置於殼體10的底座100和側牆110之外表面。藉此，測試治具1更適合應用於承載電子元件以進行晃動測試。

另外，機殼10的底座100可具有複數個凸包101。凸包101的形成方法為例如對底座100進行沖壓加工製程。第一轉接板20和第二轉接板30固定於底座100而抵靠凸包101。藉此，凸包101有助於加強測試治具1整體的結構強度。

以下敘述測試治具的使用方式。請同時參照圖3、圖4、圖5和圖6。圖3為根據本發明第一實施例之測試治具承載第一介面卡的立體示意圖。圖4為圖3之測試治具的的上視圖。圖5為根據本發明第一實施例之測試治具承載第二介面卡的立體示意圖。圖6為圖5之測試治具的的上視圖。

在本實施例中，調整板60可拆卸地設置於殼體10的側牆110，並且具有一第一裝設位置及一第二裝設位置。

當調整板60位於第一裝設位置時，測試治具1用以承載至少一第一介面卡2以進行晃動測試。詳細來說，當調整板60位於第一裝設位置時，第一立板40和調整板60之間的距離L1匹配第一介面卡2的長度尺寸(如圖3和圖4所示)，並且位於調整板60上的滑軌件70係面對第一立板40。此時，第一介面卡2可插設於第一轉接板20的第一插槽200，且第一介面卡2的相對二側分別固定於第一立板40與調整板60。進一步來說，第一介面卡2鄰近調整板60之一側可滑移地設置於滑軌件70。第一介面卡鄰近第一立板40之一側固定於第一立板40，並且位於第一開口400。接著，將限位件80設置於第一立板40和調整板60之間，而令限位件80的緩衝部800抵靠並接觸第一介面卡2，進而使第一介面卡2夾設於限位件80和第一轉接板20之間。藉此，測試治具1可承載及固定第一介面卡2，以進行沿X方向、沿Y方向或沿Z方向之三維晃動測試(如圖3所示)。

在本實施例中，當調整板60位於第一裝設位置時，第一立板40和調整板60之間的距離L1恰為第一立板40和第二立板50之間的距離H之一半(即L1 = 0.5H)，但本發明並不以此為限。在其他實施例中，可適當調整各元件的配置而改變上述比例關係。此外，在本實施例中，第一介面卡2之一側可滑移地設置於滑軌件70而固定於調整板60，但本發明並不以此為限。在其他實施例中，第一介面卡2和調整板60可透過卡合結構相固定，而使測試治具1可不需包含滑軌件70。

當要對長度尺寸大於第一介面卡2的至少一第二介面卡3進行晃動測試時，係先拆卸限位件80，並且將第一介面卡2之相對二側分別自第一立板40和滑軌件70拆卸，而令第一介面卡2脫離測試裝置1。接著，將調整板60自側牆110拆卸後變更設置於第二裝設位置。

當調整板60位於第二裝設位置時，第二立板50和調整板60之間的距離L2匹配第二介面卡3的長度尺寸(如圖5和圖6所示)，且位於調整板60上的滑軌件70係面對第二立板50。第二介面卡3插設於第二轉接板30的第二插槽300，且第二介面卡3的相對二側分別固定於第二立板50與調整板60。進一步來說，第二介面卡3鄰近調整板60之一側可滑移地設置於滑軌件70。第一介面卡鄰近第二立板50之一側固定於第二立板50，並且位於第二開口500。接著，將限位件80設置於第二立板50和調整板60之間，而令限位件80的緩衝部800抵靠並接觸第二介面卡3，進而使第二介面卡3夾設於限位件80和第二轉接板30之間。藉此，測試治具1可承載及固定第二介面卡3，以進行沿X方向、沿Y方向或沿Z方向之三維晃動測試(如圖5所示)。

在本實施例中，當調整板60位於第二裝設位置時，第二立板50和調整板60之間的距離L2大於第一立板40和第二立板50之間的距離H之一半，且小於第一立板40和第二立板50之間的距離H。(即0.5H ＜ L2 ＜ H)，但本發明並不以此為限。在其他實施例中，可適當調整各元件的配置而改變上述比例關係。

當測試裝置承載第一介面卡進行晃動測試時，第一介面卡之相對二側也可分別固定於第二立板和調整板。請參照圖7，為根據本發明第二實施例之測試治具承載第一介面卡的立體示意圖。由於本實施例和第一實施例相似，以下僅就相異處進行說明。

在本實施例中，調整板60之相對二側皆設有滑軌件70。當調整板60設置於殼體10時，係可將第一介面卡2的相對二側分別固定於第一立板40與調整板60，也可將第一介面卡2的相對二側分別固定於第二立板50與調整板60。藉此，第一立板40與調整板60之間，以及第二立板50與調整板60皆可設置第一介面卡2，有助於提升測試效率。

綜上所述，本發明揭露的測試治具中，調整板可拆卸地設置於殼體而介於第一立板和第二立板之間，並且具有一第一裝設位置及一第二裝設位置。當調整板位於第一裝設位置時，測試治具可供第一介面卡進行晃動測試。當調整板位於第二裝設位置時，測試治具可供第二介面卡進行晃動測試。藉此，測試治具可支援承載不同尺寸規格的介面卡進行晃動測試，有助於節省測試成本以及提高測試效率。

雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。

1‧‧‧測試治具
2‧‧‧第一介面卡
3‧‧‧第二介面卡
10‧‧‧殼體
100‧‧‧底座
101‧‧‧凸包
110‧‧‧側牆
120‧‧‧置放空間
20‧‧‧第一轉接板
200‧‧‧第一插槽
30‧‧‧第二轉接板
300‧‧‧第二插槽
40‧‧‧第一立板
400‧‧‧第一開口
50‧‧‧第二立板
500‧‧‧第二開口
60‧‧‧調整板
70‧‧‧滑軌件
80‧‧‧限位件
800‧‧‧緩衝部
90‧‧‧結構補強肋

圖1為根據本發明第一實施例之測試治具的立體示意圖。 圖2為根據本發明第一實施例之測試治具的分解示意圖。 圖3為根據本發明第一實施例之測試治具承載第一介面卡的立體示意圖。 圖4為圖3之測試治具的的上視圖。 圖5為根據本發明第一實施例之測試治具承載第二介面卡的立體示意圖。 圖6為圖5之測試治具的的上視圖。 圖7為根據本發明第二實施例之測試治具承載第一介面卡的立體示意圖。

1‧‧‧測試治具

10‧‧‧殼體

100‧‧‧底座

101‧‧‧凸包

110‧‧‧側牆

120‧‧‧置放空間

20‧‧‧第一轉接板

200‧‧‧第一插槽

30‧‧‧第二轉接板

300‧‧‧第二插槽

40‧‧‧第一立板

400‧‧‧第一開口

50‧‧‧第二立板

500‧‧‧第二開口

60‧‧‧調整板

70‧‧‧滑軌件

80‧‧‧限位件

800‧‧‧緩衝部

90‧‧‧結構補強肋

Claims (10)

1. 一種測試治具，用於承載一第一介面卡或一第二介面卡，該第二介面卡的長度大於該第一介面卡的長度，該測試治具包含： 一殼體，包含一底座和一側牆，該側牆圍繞該底座而形成一置放空間； 一第一轉接板，固定於該殼體並且位於該置放空間內，該第一轉接板具有一第一插槽； 一第二轉接板，固定於該殼體並且位於該置放空間內，該第二轉接板具有一第二插槽； 一第一立板，設置於該殼體； 一第二立板，設置於該殼體，並且面向該第一立板，該第一轉接板和該第二轉接板皆介於該第一立板和該第二立板之間；以及 一調整板，可拆卸地設置於該殼體並且介於該第一立板和該第二立板之間，該調整板具有一第一裝設位置及一第二裝設位置，當該調整板位於該第一裝設位置時，該測試治具適於供該第一介面卡插設於該第一插槽，且該第一介面卡的相對二側分別固定於該第一立板與該調整板，當該調整板位於該第二裝設位置時，該測試治具適於供該第二介面卡插設於該第二插槽，且該第二介面卡的相對二側分別固定於該第二立板與該調整板。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中該第一轉接板和該第二轉接板皆固定於該底座，該第一立板與該第二立板之相對二側分別設置於該側牆。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中該底座具有複數個凸包，該第一轉接板和該第二轉接板固定於該底座並且抵靠該複數個凸包。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，更包含設置於該調整板的一滑軌件，其中當該調整板位於該第一裝設位置時，該滑軌件面向該第一立板，且該第一介面卡之一側可滑移地設置於該滑軌件，當該調整板位於該第二裝設位置時，該滑軌件面向該第二立板，且該第二介面卡之一側可滑移地設置於該滑軌件。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中該第一立板具有一第一開口，該第二立板具有一第二開口，當該調整板位於該第一裝設位置時，該第一介面卡之一側固定於該第一立板並且位於該第一開口，當該調整板位於該第二裝設位置時，該第二介面卡之一側固定於該第二立板並且位於該第二開口。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中當該調整板位於該第一裝設位置時，該第一立板和該調整板之間的距離為該第一立板和該第二立板之間的距離之一半。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中當該調整板位於該第二裝設位置時，該第二立板和該調整板之間的距離大於該第一立板和該第二立板之間的距離之一半並且小於該第一立板和該第二立板之間的距離。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，更包含可拆卸地設置於該殼體的一限位件，其中當該調整板位於該第一裝設位置時，該限位件抵靠該第一介面卡，而使該第一介面卡夾設於該限位件和該第一轉接板之間，當該調整板位於該第二裝設位置時，該限位件抵靠該第二介面卡，而使該第二介面卡夾設於該限位件和該第二轉接板之間。
9. 如申請專利範圍第8項所述之測試治具，其中該限位件具有一緩衝部，且該緩衝部抵靠並接觸該介面卡。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，更包含複數個結構補強肋，設置於該殼體的一外表面。