TWI540836B - 控制具有電阻矩陣的輸入裝置之操作的方法 - Google Patents

控制具有電阻矩陣的輸入裝置之操作的方法 Download PDF

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TWI540836B
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Description

控制具有電阻矩陣的輸入裝置之操作的方法
本發明係有關於一種控制輸入裝置之操作的方法，尤指一種控制具有電阻矩陣的輸入裝置之操作的方法。
請參考第1圖，第1圖為習知輸入裝置100的示意圖。輸入裝置100具有電源控制電路110以及開關矩陣120。電源控制電路110用以依序地提供電壓V1、V2、V3及V4至開關矩陣120。開關矩陣120具有多條第一導線121、多條第二導線122以及多個開關P11至P44。每一個開關P11至P44的第一端耦接於多條第一導線121中的一條，而每一個開關P11至P44的第二端耦接於多條第二導線122中的一條，且每一條第二導線122耦接於輸入裝置100的輸出端O1至O4之一。
當使用者觸碰輸入裝置100時，位於觸碰處的開關即會被開啟。舉例來說，當使用者所觸碰的地方為開關P11附近時，開關P11即會被開啟。因開關P11被開啟，故當電源控制電路110提供電壓V1至開關矩陣120時，即會有電流從電源控制電路110並經由開關P11而流至輸出端O1。如此一來，依據電源控制電路110依序提供電壓V1、V2、V3及V4至第一導線121的時間點，並藉由偵測輸入裝置100的輸出端O1至O4是否有電流輸出，即可判斷輸入裝置100被觸碰的位置。
然而，當輸入裝置100被二個或更多個觸碰點同時觸碰時，輸入裝置100則可能會發生誤判觸碰點位置的情況。舉例來說，當使用者所觸碰的地方為開關P21、P12及P22附近的地方時，開關P21、P12及P22會被開啟。因開關P21、P12及P22被開啟，故當電源控制電路110提供電壓V1至開關矩陣120時，即會有電流I從電源控制電路110並依序地經由開關P21、P22和P12而流至輸出端O1。在此情況下，輸入裝置100即會誤判被觸碰的位置是在開關P11附近。
本發明一實施例提供一種控制輸入裝置之操作的方法。上述輸入裝置包含電阻矩陣。上述電阻矩陣具有M條第一導線、N條第二導線及M×N個電阻。上述電阻矩陣中同一行電阻的第一端耦接於M條第一導線之一，上述電阻矩陣中同一列電阻的第二端耦接於N條第二導線之一，且每一條第二導線耦接於參考電阻及M-1個可變電阻。M和N為大於1的整數。上述方法包含：當藉由M條第一導線將第一電壓施加於參考電阻的第一端並將第二電壓施加於M-1個可變電阻的第一端時，量測各第二導線的第一電壓準位；量測各第二導線的第一電壓準位的變化；以及依據各第二導線的第一電壓準位的變化，決定輸入裝置的至少一觸碰點。
100、200‧‧‧輸入裝置
110、220‧‧‧電源控制電路
120‧‧‧開關矩陣
121‧‧‧第一導線
122‧‧‧第二導線
210‧‧‧電阻矩陣
230‧‧‧量測電路
233、234_12至234_44、235、236‧‧‧查詢表
240‧‧‧通用型輸入輸出電路
710、810、820、830‧‧‧曲線
1410‧‧‧多工器
1420、2321至2324‧‧‧類比數位轉換器
2111至2114‧‧‧第一導線
2121至2124‧‧‧第二導線
A、B、C‧‧‧點
(P1,C1)‧‧‧A點的座標
(P2,C2)‧‧‧B點的座標
(P3,C3)‧‧‧C點的座標
CA、CB、CC‧‧‧電導
Da、Db、Dc、Dd‧‧‧數位值
Da1、Da2‧‧‧數位值
I‧‧‧電流
S1至S4‧‧‧電壓訊號
SW‧‧‧喚醒訊號
O1至O4‧‧‧輸出端
P11至P44‧‧‧開關
R11、R21、R31、R41‧‧‧參考電阻；電阻
R12至R14、R22至R24、R32至R34、R42至R44‧‧‧可變電阻；電阻
S1至S4‧‧‧電壓訊號
S610至S630、S1010至S1060‧‧‧步驟
Sc‧‧‧控制訊號
T1至T4‧‧‧時段
TA、TB‧‧‧時間點
Tp‧‧‧預設時間間格
TS1、TS2、TS3、TS4‧‧‧時間區間
V1至V4‧‧‧電壓
V1‧‧‧第一電壓
V2‧‧‧第二電壓
Va、Vb、Vc、Vd、Va1、Va2‧‧‧電壓準位
VH‧‧‧第一水平
VL‧‧‧第二水平
第1圖為先前技術之輸入裝置的示意圖。
第2圖為本發明一實施例之輸入裝置的示意圖。
第3圖為第2圖輸入裝置之電壓訊號的時序圖。
第4圖為第2圖的電阻矩陣的第一列電阻之等效電路圖。
第5圖為第2圖的電阻矩陣的第一列電阻之另一等效電路圖。
第6圖為依據本發明一實施例控制第2圖之輸入裝置的操作之方法的流程 圖。
第7圖為可變電阻的電導與施加於可變電阻之外力的關係圖。
第8圖為三個可變電阻的電導與施加於上述三個可變電阻之外力的關係圖。
第9圖為三個可變電阻的電導與施加於上述三個可變電阻之外力的另一關係圖。
第10圖為依據本發明另一實施例控制第2圖之輸入裝置的操作之方法的流程圖。
第11圖為第2圖輸入裝置依據第10圖之方法操作時之電壓訊號的時序圖。
第12圖為依據本發明一實施例控制第2圖之輸入裝置的操作之方法的流程圖。
第13圖為第2圖輸入裝置依據第12圖之方法操作時之電壓訊號的時序圖。
第14圖為依據本發明另一實施例之量測電路的多工器及類比數位轉換器之功能方塊圖。
請參考第2圖，第2圖為本發明一實施例之輸入裝置200的示意圖。輸入裝置200具有電阻矩陣210、電源控制電路220以及量測電路230。電阻矩陣210具有M條第一導線2111至2114、N條第二導線2121至2124以及M×N個電阻R11至R44。在本實施例中，M和N皆等於4。然而，本發明並不以此為限，M和N可為任何大於1的正整數。
在電阻R11至R44中，同一行電阻之第一端連接於第一導線2111至2114中的一條對應的第一導線。舉例來說，第一行的電阻R11、R21、R31、R41的第一端連接於第一導線2111；第二行的電阻R12、R22、R32、R42的第一端連接於第一導線2112；第三行的電阻R13、R23、R33、R43的第一端連接於第一導線2113；第四行的電阻R14、R24、R34、R44的第一端連接於第一導線 2114。
此外，在電阻R11至R44中，同一列電阻之第二端連接於第二導線2121至2124中一條對應的第二導線。舉例來說，第一列的電阻R11、R12、R13、R14的第一端連接於第二導線2121；第二列的電阻R21、R22、R23、R24的第一端連接於第二導線2122；第三列的電阻R31、R32、R33、R34的第一端連接於第二導線2123；第四列的電阻R41、R42、R43、R44的第一端連接於第二導線2124。
另外，每一條第二導線2121至2124耦接於一個參考電阻及M-1個可變電阻。舉例來說，在本實施例中，電阻R11、R21、R31及R41為參考電阻且具有固定的電阻值，而電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44則為可變電阻。第二導線2121耦接於參考電阻R11及可變電阻R12至R14。第二導線2122耦接於參考電阻R21及可變電阻R22至R24。第二導線2123耦接於參考電阻R31及可變電阻R32至R34。第二導線2124耦接於參考電阻R41及可變電阻R42至R44。
在本發明一實施例中，為了量測之準確度的緣故，在電阻矩陣210的每一列電阻中，參考電阻的電阻值對每一個受到所謂「啟動外力(activation force)」之可變電阻的電阻值的比值介於0.2至5的範圍內。上述啟動外力的力度係大於或等於一預設臨界值(例如：20公克重)。當上述啟動外力施加於多個可變電阻其中的一個可變電阻時，受上述啟動外力所施壓的可變電阻附近的觸碰點即會被判斷為有效地觸發，而在此份發明專利說明書中，受到上述啟動外力的可變電阻的電阻值可稱為「啟動外力電阻值(activation force resistance)」。換言之，在電阻矩陣210的第一列電阻中，參考電阻R11的電阻值對每一個可變電阻R12至R14的啟動外力電阻值的比值介於0.2至5的範圍 內。在電阻矩陣210的第二列電阻中，參考電阻R21的電阻值對每一個可變電阻R22至R24的啟動外力電阻值的比值介於0.2至5的範圍內。在電阻矩陣210的第三列電阻中，參考電阻R31的電阻值對每一個可變電阻R32至R34的啟動外力電阻值的比值介於0.2至5的範圍內。在電阻矩陣210的第四列電阻中，參考電阻R41的電阻值對每一個可變電阻R42至R44的啟動外力電阻值的比值介於0.2至5的範圍內。
電源控制電路220耦接第一導線2111至2114，並用以分別提供電壓訊號S1至S4至第一導線2111至2114。請參考第3圖並同時參照第2圖。第3圖為第2圖輸入裝置200之電壓訊號S1至S4的時序圖。電壓訊號S1至S4由電源控制電路220分別輸出至第一導線2111、2112、2113及2114。在時段T1期間，電壓訊號S1的電壓準位等於第一電壓V1，而其餘的電壓訊號S2至S4之電壓準位等於第二電壓V2。在本實施例中，第一電壓V1高於第二電壓V2，且第二電壓V2可為正電壓、接地電壓(即0伏特)或負電壓。在本發明另一實施例中，第一電壓V1低於第二電壓V2，且第一電壓V1可為正電壓、接地電壓(即0伏特)或負電壓。相似地，在時段T2期間，電壓訊號S2的電壓準位等於第一電壓V1，而其餘的電壓訊號S1、S3及S4之電壓準位等於第二電壓V2；在時段T3期間，電壓訊號S3的電壓準位等於第一電壓V1，而其餘的電壓訊號S1、S2及S4之電壓準位等於第二電壓V2；在時段T4期間，電壓訊號S4的電壓準位等於第一電壓V1，而其餘的電壓訊號S1至S3之電壓準位等於第二電壓V2。換言之，電源控制電路220以一預定順序將第一電壓V1施加於第一導線2111至2114。在本實施例中，上述的預定順序為2111→2112→2113→2114。然而，本發明並不以此為限。例如，上述的預定順序可以是2112→2111→2114→2113或是其他的順序。當第一電壓V1被施加於第一導線2111至2114當中的一條第一導線時，電源控制電路220會施加第二電壓V2至其餘未被施加第一電壓V1的第一導線。
量測電路230耦接第二導線2121至2124，並用以於電源控制電路220提供第一電壓V1及第二電壓V2至第一導線2111至2114的期間，量測第二導線2121至2124之電壓準位Va、Vb、Vc及Vd的變化。此外，量測電路230依據所量測到的第二導線2121至2124之電壓準位Va、Vb、Vc及Vd，輸出控制訊號Sc。在本發明一實施例中，量測電路230包含多個類比數位轉換器(ADC)2321至2324。每一個類比數位轉換器2321至2324耦接於第二導線2121至2124中的一條，並用以將電壓準位Va、Vb、Vc或Vd，轉換成數位值Da、Db、Dc或Dd。在本發明一實施例中，量測電路230可依據上述的數位值Da至Dd，產生並輸出控制訊號Sc。
請參考第2圖至第4圖，第4圖為第2圖的電阻矩陣210的第一列電阻R11、R12、R13及R14於時段T1的等效電路圖。在時段T1期間，輸入電壓訊號S1的電壓準位為第一電壓V1，而其餘輸入電壓訊號S2至S4的電壓準位為第二電壓V2。因電阻R12、R13、R14的第一端皆被施以第二電壓V2，且電阻R12、R13、R14的第二端皆耦接於第二導線2121，故電阻R12、R13、R14在時段T1期間可視為並聯，並與電阻R11串聯。因此，在時段T1期間，電阻R11、R12、R13及R14的等效電阻可以表示成：
倘若第二導線2121的電壓準位Va在時段T1期間以Va1表示，則根據分壓原理，電壓準位Va1可以表示成：
請參考第2圖及第5圖，第5圖為第2圖的電阻矩陣210的第一列電阻R11、R12、R13及R14於時段T2的等效電路圖。在時段T2期間，輸入電壓訊號S2的電壓準位為第一電壓V1，而其餘輸入電壓訊號S1、S3及S4的電壓準位為第二電壓V2。因電阻R11、R13、R14的第一端皆被施以第二電壓V2，且電阻R11、R13、R14的第二端皆耦接於第二導線2121，故電阻R11、R13、R14在時段T2期間可視為並聯，並與電阻R12串聯。因此，在時段T2期間，此時電阻R11、R12、R13及R14的等效電阻可以表示成：
倘若第二導線2121的電壓準位Va在時段T2期間以Va2表示，則根據分壓原理，電壓準位Va2可以表示成：
根據上述等式(1)及(2)，倘若第二電壓V2為零伏特，則：
此外，因類比數位轉換器2321將電壓準位Va1轉換成數位值Da1，並將電壓準位Va2轉換成數位值Da2，故上述等式(3)亦可如下地表示：
依據上述等式(3)或(4)可知，電壓準位Va1與Va2的比值等 於電阻R12與R11之電阻值的比值。同理，倘若第二導線2121的電壓準位Va在時段T3及T4期間分別以Va3及Va4表示，且第二電壓V2為零伏特，則
因此，量測電路230可依據第二導線2121分別在時段T1、T2、T3及T4所量測到的電壓準位Va1、Va2、Va3及Va4，求得第一列電阻R11、R12、R13及R14之間的比值。同理，其他每一條第二導線2122至2124於各時段T1、T2、T3及T4的電壓準位可以類似的方法由量測電路230量測而得。
另外，由上述等式(4)可知，因參考電阻R11具有固定電阻值，故可變電阻R12的電阻值可以如下地表示：
類似地，可變電阻R13及R14的電阻值可以如下地表示：
其中，Da3為在時段T3由類比數位轉換器2321所輸出的數位值，而在時段T3期間，所量測到的第二導線2121的電壓準位為Va3。Da4則為在時段T4由類比數位轉換器2321所輸出的數位值，而在時段T4期間，所量測到的第二導線2121的電壓準位為Va4。因電阻矩陣210第一列電阻中的可變電阻R12、R13及R14的電阻值可如上所述地被求得，故可以理解地，可藉由類似的方式求得電阻矩陣210其他列電阻中的每一個可變電阻R22至R24、R32至R34及R42至R44的電阻值。
因此，任一可變電阻的電阻值會等於，其中RREF為與此可變電阻位於同一列的參考電阻(如R11)的電阻值，ADC1為在時段T1所量測到的此可變電阻之第二端的電壓準位(如Va1)，而ADC2則是當此可變電阻的第一端被施加上述第一電壓V1時，此可變電阻之第二端的電壓準位(如Va2)。
如上所述，電阻R11、R21、R31及R41為參考電阻且具有固定的電阻值。在本發明一實施例中，電阻R11、R21、R31及R41的電阻值相同。而在 本發明另一實施例中，電阻R11、R21、R31及R41的電阻值可相異。電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44為可變電阻。當輸入裝置200被觸碰或被施予外力時，電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的電阻值會被改變，並使得在時段T1、T2、T3及T4所量測到的第二導線2121至2124的電壓準位也順應地改變。因此，若有輸入裝置200的任一觸碰點存在，則可依據在時段T1、T2、T3及T4所量測到的第二導線2121至2124的電壓準位，決定此觸碰點的座標。
在本發明一實施例中，上述的量測電路230包含查詢表(lookup table；LUT)233。量測電路230依據在時段T1、T2、T3及T4所量測到的第二導線2121至2124的電壓準位，從查詢表233中選出可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的電阻值。舉例來說，可依據在時段T1及T2所量測到的電壓準位Va1及Va2，從查詢表233中選出可變電阻R12的電阻值；可依據在時段T1及T3所量測到的電壓準位Va1及Va3，從查詢表233中選出可變電阻R13的電阻值；以及可依據在時段T1及T4所量測到的電壓準位Va1及Va4，從查詢表233中選出可變電阻R14的電阻值。
請參考第6圖，第6圖為依據本發明一實施例控制第2圖之輸入裝置200的操作之方法的流程圖。此方法包含下述步驟：步驟S610：藉由M條第一導線將第一電壓V1施加於每列電阻中的參考電阻(如R11)的第一端，並將第二電壓V2施加於每列電阻中的M-1個可變電阻(如R12,R13及R14)的第一端，量測各第二導線的第一電壓準位(如Va1)；步驟S620：以預定順序(如R12→R13→R14)將第一電壓V1施加於每列電阻中的M-1個可變電阻的第一端，以取得各第二導線的M-1個第二量測電壓準位(如Va2、Va3及Va4)；以及 步驟S630：依據上述各第二導線的第一電壓準位和M-1個第二量測電壓準位，決定輸入裝置200的至少一觸碰點。
需瞭解的，在步驟S620中，當第一電壓V1被施加於電阻矩陣210的各列電阻之M-1個可變電阻中的一個可變電阻(如R12)的第一端時，第二電壓V2會被施加在各列電阻的參考電阻(如R11)及其餘M-2個可變電阻(如R13及R14)的第一端。此外，步驟S610、S620及S630可被重複執行，以在不同時間點判斷輸入裝置200的其他觸碰點。
在本發明一實施例中，量測電路230可獲取和輸出施加於觸碰點之外力的強度的資訊，而此外力的強度的資訊可包含在上述的控制訊號Sc中。請參考第2圖及第7圖。第7圖為可變電阻的電導與施加於可變電阻之外力的關係圖。可變電阻的電導等於所量測的可變電阻之電阻值的倒數。在本實施例中，所有的可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係皆相同，而曲線710可以表示各可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44之電導與施加於其上的外力之間的關係。在第7圖中，可變電阻的電導與外力的力度之間的關係大致上為線性關係。因此，所施加的外力的力度可藉由內插法來決定。舉例來說，假設曲線710的兩個點A及C的座標(P1,C1)及(P3,C3)為已知，則曲線710的另一點B的座標(P2,C2)即可依據兩點A及C的座標(P1,C1)及(P3,C3)求得。亦即P2={[(C2-C1)×(P3-P1)/(C3-C1)]+P1}。因可變電阻的電導等於所量測的可變電阻之電阻值的倒數，故倘若電導C1、C2和C3的值與力度P1和P2都已知，則可求得力度P2。
在本發明一實施例中，假設可變電阻R12受到一外力，且此一外力的力度為S12。因可變電阻R12的電阻值等於，可變電阻R12的電 導等於可變電阻R12之電阻值的倒數(即1/R12或)，且可變電阻R12的電導與外力的力度S12之間的關係大致上為線性關係，故此外力的力度S12可依據的一方程式取得。此的方程式，舉例來說，可以如下地表示：
其中a和b為定數。
此外，因等於，故上述外力的力度S12亦可如下地表示：
因此，施加於輸入裝置200的任一個可變電阻(或觸碰點)之外力的力度可依據的一方程式取得，其中RREF為與此可變電阻位於同列電阻中的參考電阻(如R11)之電阻值，ADC1為在上述時段T1所量測到的此可變電阻之第二端的電壓準位(如Va1)，而ADC2為當此可變電阻的第一端被施予上述第一電壓V1時，此可變電阻的第二端的電壓準位(如Va2)。
在本發明一實施例中，所有的可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係皆相同，而量測電路230另包含查詢表236。量測電路230依據在時段T1、T2、T3及T4 所分別量測到的第二導線2121至2124的電壓準位，從查詢表236中選出以決定施加於可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的各外力之力度。舉例來說，施加於可變電阻R12的外力之力度可依據在時段T1及T2所分別量測到的電壓準位Va1及Va2，從查詢表236中選出；施加於可變電阻R13的外力之力度可依據在時段T1及T3所分別量測到的電壓準位Va1及Va3，從查詢表236中選出；而施加於可變電阻R14的外力之力度可依據在時段T1及T4所分別量測到的電壓準位Va1及Va4，從查詢表236中選出。因此，任一可變電阻的電阻值不但可依據方程式取得，亦可依據在時段T1、T2、T3及T4所分別量測到的第二導線2121至2124的電壓準位，從查詢表236中獲得。
在本發明一實施例中，所有的可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係皆相同，而量測電路230可依據位於觸碰點之可變電阻的電阻值，從查詢表236中選出施加於觸碰點的外力之力度。舉例來說，施加於可變電阻R12的外力之力度可依據可變電阻R12的電阻值從查詢表236中選出；施加於可變電阻R13的外力之力度可依據可變電阻R13的電阻值從查詢表236中選出；且施加於可變電阻R14的外力之力度可依據可變電阻R14的電阻值從查詢表236中選出。
在本發明一實施例中，所有的可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係皆相同，而每一可變電阻的電導與施加於可變電阻之外力的力度之間具有線性關係。而藉由查詢表236，可準確地判斷施加於可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44之外力的力度。
在本發明一實施例中，只有當觸碰點所受的外力之力度大於或等 於一預設臨界值(例如：20公克重)時，觸碰點才會被判斷為有效地觸發。換言之，倘若觸碰點所受的外力之力度小於上述預設臨界值，則觸碰點會被判斷為無效地觸發。因此，倘若觸碰點所受的外力之力度不夠大，則觸碰點會被視為無效的觸碰點。在本發明一實施例中，量測電路230可另包含查詢表235，用以記錄上述的預設臨界值。
請參考第2圖及第8圖。第8圖為三個可變電阻的電導與施加於這三個可變電阻之外力的關係圖。在本發明一實施例中，各變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係相異，而曲線810、820及830可分別地表示可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44中的三個可變電阻之電導與施加於其上的外力之間的關係。如第8圖所示，這三個可變電阻的電導與外力的力度之間的關係大致上為線性關係。因此，所施加的外力的力度可藉由內插法來決定。此外，在此實施例中，只有當觸碰點所受的外力之力度大於或等於上述預設臨界值(例如：20公克重)時，觸碰點才會被判斷為有效地觸發。因各變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上的外力之間的關係相異，對應於上述預設臨界值的電導CA、CB及CC之值會彼此地相異。
在本發明一實施例中，各變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係相異，而量測電路230另包含多個查詢表234_12至234_44。各查詢表234_12至234_44分別地對應於變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44中的一個可變電阻。量測電路230可依據在對應時段所量測到的對應第二導線之電壓準位，從對應的查詢表中選出外力之力度。舉例來說，可依據在時段T1及T2所量測到的對應第二導線2121之電壓準位Va1及Va2，從查詢表234_12中選出施加於可變電阻R12的外力之力度；可依據在時段T1及T3所量測到的對應第二 導線2121之電壓準位Va1及Va3，從查詢表234_13中選出施加於可變電阻R13的外力之力度；且可依據在時段T1及T4所量測到的對應第二導線2121之電壓準位Va1及Va4，從查詢表234_14中選出施加於可變電阻R14的外力之力度。
在本發明一實施例中，當輸入裝置200的觸碰點被決定時，量測電路230會決定此觸碰點的第一座標(即電阻矩陣210的對應該列電阻之位置)及第二座標(即電阻矩陣210的對應該行電阻之位置)，且量測電路230會依據觸碰點的第一座標及第二座標從上述多個查詢表234_12至234_44中選出對應的查詢表。之後，量測電路230會從所選出的查詢表中，選出施加在觸碰點位置上之可變電阻之外力的力度。
在本發明一實施例中，各變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係相異。當對應的查詢表依據觸碰點的第一座標及第二座標而被選出時，量測電路230會依據位於觸碰點的可變電阻之電阻值從所選出的查詢表選出外力的力度。舉例來說，可依據可變電阻R12的電阻值，從查詢表234_12中選出施加於可變電阻R12的外力之力度；可依據可變電阻R13的電阻值，從查詢表234_13中選出施加於可變電阻R13的外力之力度；且可依據可變電阻R14的電阻值，從查詢表234_14中選出施加於可變電阻R14的外力之力度。
在本發明一實施例中，各變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44其電導與施加於其上之外力的力度之間的關係相異，且各可變電阻的電導與施加於可變電阻之外力的力度之間具有非線性的關係。然而，藉由使用查詢表234_12至234_44，可準確地決定施加於變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44之外力的力度。
在本發明一實施例中，量測電路230依據施加於觸碰點的外力之力度輸出控制訊號Sc。請參考第2圖及第9圖，第9圖為三個可變電阻的電導與施加於這三個可變電阻之外力的另一關係圖。在此實施例中，倘若外力的力度大於或等於第一預設值(例如20公克重)，則控制訊號Sc為第一控制訊號。倘若外力的力度小於第一預設值(例如20公克重)且不小於第二預設值(例如10公克重)，則控制訊號Sc為第二控制訊號，其中第二預設值小於第一預設值，且第一控制訊號與第二控制訊號相異。因此，倘若輸入裝置200用以控制某一電子裝置(例如：電腦、行動電話等)，則可基於從輸入裝置200所接收到的不同的控制訊號，控制此電子裝置有不同的操作。在本發明一實施例中，量測電路230可從查詢表235中選出上述的第一預設值及第二預設值。
請參考第10圖，第10圖為依據本發明另一實施例控制第2圖之輸入裝置200的操作之方法的流程圖。在此實施例中，此方法包含下列步驟：步驟S1010：當藉由M條第一導線將第一電壓施V1加於參考電阻(如R11)的第一端並將第二電壓V2施加於M-1個可變電阻(如R12、R13及R14)的第一端時，量測各第二導線的第一電壓準位(如Va1)；步驟S1020：量測各第二導線(即各第二導線2121至2124)的第一電壓準位(如Va1)的變化；步驟S1030：依據各第二導線的第一電壓準位(如Va1)的變化，判斷是否至少有一觸碰點被有效地觸發；若判斷的結果是肯定的，則執行步驟S1040；反之，則重複步驟S1010至S1030；步驟S1040：以預定順序(例如R12→R13→R14)將第一電壓V1施加於M-1個可變電阻的第一端，以取得各第二導線的M-1個第二量測電壓準位(如Va2、Va3及Va4)；以及 步驟S1050：依據上述的第一電壓準位及M-1個第二量測電壓準位，決定至少一觸碰點的第一座標(即電阻矩陣210的對應該列電阻之位置)及第二座標(即電阻矩陣210的對應該行電阻之位置)。
須瞭解地，在步驟S1040中，當第一電壓V1施壓於電阻矩陣210的每列電阻的M-1個可變電阻中的一個可變電阻(如R12)之第一端時，第二電壓V2會被施加於此列電阻的參考電阻(如R11)及其餘M-2個可變電阻(如R13及R14)的第一端。此外，因步驟S1040及S1050直到在S1030中至少有一觸碰點被判斷為有效地觸發後才會被執行，故在至少有一觸碰點被判斷為有效地觸發之前，第一電壓V1會持續地施加於參考電阻R11、R12、R13及R14的第一端，且第二電壓V2會持續地施加於可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的第一端。
請再參考第2圖。第二導線2121至2124可耦接於量測電路230的通用型輸入輸出(General-Purpose Input/Output；GPIO)電路240，而通用型輸入輸出電路240在上述步驟S1010及S1030被執行時可偵測第二導線2121至2124之電壓準位Va、Vb、Vc及Vd的變化。當任一電壓準位Va、Vb、Vc及Vd的變化滿足特定標準時，通用型輸入輸出電路240輸出喚醒訊號SW，且輸入裝置200將至少一觸碰點判斷為有效地觸發，而如此一來，步驟S1040及S1050即會被執行。舉例來說，上述特定標準可以是通用型輸入輸出電路240所偵測的任一電壓準位Va、Vb、Vc或Vd大於或小於一預設水平(例如1.5伏特)。在本實施例中，當上述的喚醒訊號SW的電壓準位等於一第一水平VH時，即表示至少有一觸碰點被判斷為有效地觸發。然而，當喚醒訊號SW的電壓準位等於一第二水平VL時，即表示沒有任何觸碰點被判斷為有效地觸發。
請參考第11圖並同時參考第2圖及第10圖。第11圖為第2圖輸入裝置200依據第10圖之方法操作時之電壓訊號的時序圖。在時間點TA，喚醒訊號SW從第二水平VL被上拉至第一水平VH。為響應喚醒訊號SW的提升，步驟S1040會被執行，而使得電壓訊號S1的電壓準位從第一水平VH被降至第二水平VL，且使得電壓訊號S2、S3及S4的電壓準位依序地從第二水平VL被上拉至第一水平VH。因此，在時間點TA和時間點TB之間，各第二導線的M-1個第二量測電壓準位(如Va2、Va3及Va4)將被取得。此外，在時間點TB之後，因喚醒訊號SW的電壓準位等於第二水平VL，故第一電壓V1會持續地被施加於參考電阻R11、R12、R13及R14的第一端，且第二電壓V2會持續地被施加在可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的第一端，直到另一個觸碰點被判斷為有效地觸發為止。
請參考第12圖，第12圖為依據本發明一實施例控制第2圖之輸入裝置200的操作之方法的流程圖。相較於第10圖所示的方法，本方法另包含步驟S1060。倘若在步驟S1030中沒有任何觸碰點被判斷為有效地觸發，則步驟S1060將會被執行。因此，在步驟S1030被執行完後的一預設時間間格，步驟S1010將會被執行。如此一來，步驟S1010、S1020及S1030每隔一段時間會重複一次。此外，在上述的預設時間間格內，第一電壓V1不會被施加至電阻矩陣210。藉此，可降低輸入裝置210的電力消耗。在本發明一實施例中，上述的預設時間間格可以是0.5秒，但本發明並不以此為限。
請參考第13圖並同時參照第2圖及第12圖。第13圖為第2圖輸入裝置200依據第12圖之方法操作時之電壓訊號的時序圖。類似地，在時間點TA，喚醒訊號SW從第二水平VL被上拉至第一水平VH。為響應喚醒訊號SW的提升，步驟S1040會被執行，而使得電壓訊號S1的電壓準位從第一水平VH被降至第二水平VL，且使得電壓訊號S2、S3及S4的電壓準位依序 地從第二水平VL被上拉至第一水平VH。因此，在時間點TA和時間點TB之間，各第二導線的M-1個第二量測電壓準位(如Va2、Va3及Va4)將被取得。此外，在時間點TB之後，因喚醒訊號SW的電壓準位等於第二水平VL，故步驟S1010至S1030將會每隔一段時間重複一次。在此假設上述的預設時間間格為Tp。如第13圖所示，在每個預設時間間格Tp內，電壓訊號S1至S4的電壓準位都等於第二電壓V2。這即意味著第一電壓V1在每個預設時間間格Tp內不會被施加至電阻矩陣210。藉此，可降低輸入裝置210的電力消耗。
此外，假設電壓訊號S1在時間區間TS1具有V1的電壓準位、電壓訊號S2在時間區間TS2具有V1的電壓準位、電壓訊號S3在時間區間TS3具有V1的電壓準位，且電壓訊號S4在時間區間TS4具有V1的電壓準位。其中，上述的預設時間間格Tp可大於時間區間TS1，而時間區間TS1可大於時間區間TS2、TS3及TS4，但本發明並不以此為限。例如：時間區間TS1可小於或等於時間區間TS2、TS3及TS4。
在本發明一實施例中，第2圖中的多個類比數位轉換器2321至2324可被第14圖中的一個多工器1410及一個類比數位轉換器1420所取代。請參考第3圖及第14圖，多工器1410具有多個輸入端耦接於第二導線2121至2124。多工器1410從電壓準位Va、Vb、Vc及Vd中擇一地作為其輸出電壓準位Vo，而類比數位轉換器1420將輸出電壓準位Vo依序地轉換成數位值Da、Db、Dc及Dd。舉例來說，時段T1至T4的每一時段可被切分為四個子時段。在各時段T1、T2、T3或T4的四個子時段中的第一個子時段，多工器140選擇電壓準位Va作為其輸出電壓準位Vo，且類比數位轉換器1420將輸出電壓準位Vo轉換成數位值Da。在各時段T1、T2、T3或T4的四個子時段中的第二個子時段，多工器140選擇電壓準位Vb作為其輸出電壓準位Vo，且類比數位轉換器1420將輸出電壓準位Vo轉換成數位值Db。在各時段T1、 T2、T3或T4的四個子時段中的第三個子時段，多工器140選擇電壓準位Vc作為其輸出電壓準位Vo，且類比數位轉換器1420將輸出電壓準位Vo轉換成數位值Dc。在各時段T1、T2、T3或T4的四個子時段中的第四個子時段，多工器140選擇電壓準位Vd作為其輸出電壓準位Vo，且類比數位轉換器1420將輸出電壓準位Vo轉換成數位值Dd。藉此，可以減少輸入裝置200的量測電路230之類比數位轉換器的數目。
此外，因每一個可變電阻R12至R14、R22至R24、R32至R34及R42至R44的電阻值可個別獨立地被計算出，故即使有兩個或更多個觸碰點同時地被觸發，輸入裝置200也不會誤判任何一個觸碰點的位置。
綜上所述，本發明提供一種控制輸入裝置之操作的方法。輸入裝置包含電阻矩陣，其中此電阻矩陣包含多個可變電阻。上述多個可變電阻為壓感式電阻，亦即這些可變電阻的電阻值會因施加於其上的外力而改變。外力的力度可依據在對應時段所量測到的電壓準位而被計算出來。再者，因這些可變電阻的電導與施加於其上之外力的力度之間可具有相同或相異的關係，故一個或多個查詢表可被用來決定這些可變電阻的電阻值及/或施加於其上的外力之力度。此外，倘若施加於輸入裝置之觸碰點的外力之力度大於或等於預設臨界值，則此觸碰點則可被判斷為有效地觸發。另外，因可以不必持續地將第一電壓及第二電壓施加於輸入裝置的電阻矩陣，故可減少輸入裝置的電力消耗。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
S610至S630‧‧‧步驟

Claims (28)

  1. 一種控制一輸入裝置之操作的方法，該輸入裝置包含一電阻矩陣，該電阻矩陣具有M條第一導線、N條第二導線及M×N個電阻，該電阻矩陣中同一行電阻的第一端耦接於該M條第一導線之一，該電阻矩陣中同一列電阻的第二端耦接於該N條第二導線之一，且每一條第二導線耦接於一參考電阻及M-1個可變電阻，M和N為大於1的整數，該方法包含：當藉由該M條第一導線將一第一電壓施加於該參考電阻的第一端並將一第二電壓施加於該M-1個可變電阻的第一端時，使該N條第二導線都不接地，以量測各第二導線的一第一電壓準位，其中該第一電壓的電壓準位與該第二電壓的電壓準位皆為固定的電壓準位但彼此不相等；量測各第二導線的該第一電壓準位的變化；以及依據各第二導線的該第一電壓準位的變化，決定該輸入裝置的至少一觸碰點。
  2. 如請求項1所述之方法，其中當該第一電壓準位的變化滿足特定標準時，該至少一觸碰點被判斷為有效地觸發。
  3. 如請求項1所述之方法，另包含：依據各第二導線的該第一電壓準位的變化，判斷該輸入裝置的該至少一觸碰點是否為有效地觸發；依據各第二導線的該第一電壓準位的變化，判斷該至少一觸碰點的一第一座標；當該至少一觸碰點被判斷為有效地觸發時，藉由M-1條第一導線在M-1個週期內將該第一電壓以一預定順序施加於該第一座標上的M-1個 可變電阻之第一端，以取得位於該第一座標的第二導線之M-1個第二量測電壓準位，其中當該第一電壓施加於該M-1個可變電阻中的一可變電阻之第一端時，該第二電壓施加於該參考電阻的第一端及其餘M-2個可變電阻的第一端；以及依據該第一電壓準位及上述M-1個第二量測電壓準位，判斷該至少一觸碰點的一第二座標。
  4. 如請求項3所述之方法，另包含：於在取得上述M-1個第二量測電壓準位之後，停止將該第一電壓施加於該第一座標上的M-1個可變電阻之第一端，並藉由將該第一電壓施加於該參考電阻的第一端及將該第二電壓施加於該電阻矩陣的各列電阻中的M-1個可變電阻的第一端，而持續量測各第二導線的該第一電壓準位的變化，以判斷該輸入裝置的另一觸碰點是否為有效地觸發。
  5. 如請求項1所述之方法，另包含：藉由將該第一電壓以一預定順序施加於M-1個可變電阻的第一端，取得各第二導線的M-1個第二量測電壓準位，其中當該第一電壓施加於該M-1個可變電阻中的一可變電阻之第一端時，該第二電壓施加於該參考電阻的第一端及其餘M-2個可變電阻的第一端；以及依據各該第一電壓準位及該M-1個第二量測電壓準位，判斷該至少一觸碰點的一第一座標及一第二座標。
  6. 如請求項5所述之方法，另包含：依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，決定施加於該至少一觸碰點的一外力的力度。
  7. 如請求項6所述之方法，其中該外力的力度是依據的一方程式取得，其中ADC2為對應於該第二座標的第二量測電壓準位，ADC1為該第一電壓準位，而RREF為該參考電阻的電阻值。
  8. 如請求項6所述之方法，其中該外力的力度是藉由內插法取得。
  9. 如請求項6所述之方法，其中倘若該外力的力度大於一預設臨界值，則該至少一觸碰點被判斷為有效地觸發。
  10. 如請求項6所述之方法，其中依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，決定施加於該至少一觸碰點的該外力的力度包含：依據該第一座標及該第二座標，從多個查詢表中選出一個查詢表；以及依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，從所選出的查詢表中選出一對應值，以作為該外力的力度。
  11. 如請求項6所述之方法，其中依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，決定施加於該至少一觸碰點的該外力的力度包含：依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，從一查詢表中選出一對應值，以作為該外力的力度。
  12. 如請求項6所述之方法，另包含：依據該外力的力度，輸出一控制訊號；其中倘若該外力的力度大於或等於一第一預設值，則該控制訊號為一第 一控制訊號；其中倘若該外力的力度小於該第一預設值但不小於一第二預設值，則該控制訊號為一第二控制訊號；以及其中該第二預設值小於該第一預設值，且該第一控制訊號相異於該第二控制訊號。
  13. 如請求項6所述之方法，另包含：輸出該外力的力度的資訊。
  14. 如請求項5所述之方法，另包含：依據該第一電壓準位及該M-1個第二量測電壓準位，決定位於該第一座標的M-1個可變電阻的電阻值。
  15. 如請求項14所述之方法，其中該M-1個可變電阻中的一個特定可變電阻的電阻值等於，其中ADC1為該第一電壓準位，ADC2為該特定可變電阻所對應的第二量測電壓準位，而RREF為該參考電阻的電阻值。
  16. 如請求項14所述之方法，其中位於該第一座標的M-1個可變電阻的電阻值係依據該第一電壓準位及該M-1個第二量測電壓準位，從一查詢表中選出。
  17. 如請求項14所述之方法，另包含：依據位於該至少一觸碰點之可變電阻的電阻值，決定施加於該至少一觸碰點的一外力的力度。
  18. 如請求項17所述之方法，其中該外力的力度是依據的一方程式取得，其中ADC2為對應於該第二座標的第二量測電壓準位，ADC1為該第一電壓準位，而RREF為該參考電阻的電阻值。
  19. 如請求項17所述之方法，其中該外力的力度是藉由內插法取得。
  20. 如請求項17所述之方法，其中倘若該外力的力度大於一預設臨界值，則該至少一觸碰點被判斷為有效地觸發。
  21. 如請求項17所述之方法，其中依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，決定施加於該至少一觸碰點的該外力的力度包含：依據該第一座標及該第二座標，從多個查詢表中選出一個查詢表；以及依據位於該至少一觸碰點的可變電阻的電阻值，從所選出的查詢表中選出一對應值，以作為該外力的力度。
  22. 如請求項17所述之方法，其中依據該第一電壓準位及對應於該第二座標的第二量測電壓準位，決定施加於該至少一觸碰點的該外力的力度包含；依據位於該至少一觸碰點的可變電阻的電阻值，從一查詢表中選出一對應值，以作為該外力的力度。
  23. 如請求項17所述之方法，另包含：依據該外力的力度，輸出一控制訊號；其中倘若該外力的力度大於或等於一第一預設值，則該控制訊號為一第 一控制訊號；其中倘若該外力的力度小於該第一預設值但不小於一第二預設值，則該控制訊號為一第二控制訊號；以及其中該第二預設值小於該第一預設值，且該第一控制訊號相異於該第二控制訊號。
  24. 如請求項16所述之方法，另包含：輸出該外力的力度的資訊。
  25. 如請求項1所述之方法，其中該方法的各步驟每隔一段時間重複一次。
  26. 如請求項1所述之方法，其中該第一電壓持續地施加於該參考電阻的第一端，且該第二電壓持續地施加於該M-1個可變電阻的第一端，直到該至少一觸碰點被判斷為有效地觸發為止。
  27. 如請求項1所述之方法，其中量測各第二導線的該第一電壓準位的變化包含：藉由一通用型輸入輸出(GPIO)電路，量測各第二導線的該第一電壓準位的變化。
  28. 如請求項1所述之方法，其中該參考電阻的電阻值對該M-1個可變電阻的每一個可變電阻之啟動外力電阻值的比值介於0.2至5的範圍內。
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TWI671511B (zh) * 2015-04-20 2019-09-11 日商大日本印刷股份有限公司 壓力感測裝置、壓力感測方法及記憶媒體
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6225986B1 (en) * 1997-01-06 2001-05-01 Canon Kabushiki Kaisha Coordinate input apparatus and its control method
US7554531B2 (en) * 2004-05-18 2009-06-30 Interlink Electronics, Inc. Annular potentiometric touch sensor
AU2007260547B2 (en) * 2006-06-14 2010-08-12 Blackberry Limited Input drive control for switcher regulated power amplifier modules
US7379364B2 (en) * 2006-10-19 2008-05-27 Unity Semiconductor Corporation Sensing a signal in a two-terminal memory array having leakage current
US8648610B2 (en) * 2011-01-11 2014-02-11 Denso Corporation Signal input circuit and integrated circuit

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