TWI489801B - 用以使用共同收發器測試器實質同時測試多個資料信號收發器之方法與裝置 - Google Patents

用以使用共同收發器測試器實質同時測試多個資料信號收發器之方法與裝置 Download PDF

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Description

用以使用共同收發器測試器實質同時測試多個資料信號收發器之方法與裝置 發明領域
本發明關於用於測試資料信號收發器之方法與系統,且尤其關於使用最小測試設備測試多個資料信號收發器。
發明背景
隨著電子裝置及系統變得越來越複雜,為符合規格而測試它們的性能變得越來越複雜且昂貴。實際上,雖然這些裝置及系統愈發地被整合且製造成本降低,測試的成本卻往往增加,尤其是在大量測試這樣的產品時。儘管適當地測試這些產品所需的時間很重要,但測試設備的成本(包括購置、操作、培訓及維護)也必須加以考慮,因為這些成本通常是相當大的。與此一考慮相關的是測試設備利用,即,在功能與時間方面更完整地使用測試設備而使成本效率最大化。
典型地,作為一整體測試序列之一部分所執行的複數量測通常可將每一測試分開,每一測試接著針對最少時間量之性能最佳化。例如,對於用於一射頻(RF)收發器之發射器的一量測典型地包括用以控制測試中裝置(DUT)的一命令,接著是擷取及數位化已產生的發射信號,再接著是分析數位化信號。通常,該數位化信號被移至記憶體之一不同區域中,以便釋放此記憶體部分用來儲存新擷取並數位化的資料,藉以使得對一後續信號的擷取及數位化能夠在前一信號被分析的同時進行。此一擷取並數位化資料的移動可在擷取及數位化完成之後發生,或者藉由使用諸如雙埠或雙庫記憶體之較複雜的記憶體結構,在擷取及數位化進行的同時發生。
在簡單的資料驗證情況中,在進行前一信號資料分析的同時開始擷取並數位化新的信號資料相對簡單,儘管由於需要新的命令來在完成對該前一資料的處理之前擷取新的信號資料,所需的控制軟體可能較為複雜。在資料校準情況中,則可能較為困難,因為程式進行及判定往往依賴先前的結果來決定下一步驟。
在大量生產測試中,往往多條生產線平行延伸,其中各生產站容納不止一個DUT,從而使所需測試區域(例如,佔地空間)最小化。例如,這可藉由將測試設備曡置以使用兩個測試器測試四個DUT而作為一個測試設置的一部份來實施。若處理時間與測試時間是相當的,“乒乓(ping-pong)”測試可被實施,藉此一DUT被加載而另一DUT被測試,從而使測試設備的數量減半,並提高測試設備利用。然而,由於測試時間與處理時間相比一般較長,因而此“乒乓”測試之優勢往往很小。
另一成本降低技術是將多個測試儀器整合為一單一單元。這樣通常可降低測試設備的成本,至少稍有降低,尤其只要該等個別儀器中的不同部分可彼此獨立地來操作時為然,從而增加測試儀器利用,並減少此測試設備所需的空間。
發明概要
依據本發明提供一種用於以一共同收發器測試器實質上同時測試多個資料信號收發器之方法與裝置,其在分析先前已自該等資料信號收發器中之某些資料信號收發器擷取之資料信號傳輸的同時,繼續自該等資料信號收發器中之另外的資料信號收發器擷取進一步的資料信號傳輸。
依據本發明之一實施例,一種用於以一共同收發器測試器實質上同時測試多個資料信號收發器之方法包括以下步驟:藉由一收發器測試器之一第一部分,啓動複數資料信號收發器之複數資料信號傳輸;於第一複數互斥時間間隔中之每一時間間隔,藉由該收發器測試器的一第二部分,自該複數資料信號收發器中一或一以上各自資料信號收發器的每一者擷取該複數資料信號傳輸之一各自部分,以提供複數擷取資料之一或一以上相對應的部分;及於第二複數時間間隔中之每一時間間隔,藉由該收發器測試器的該第二部分,分析該複數擷取資料之一或一以上各自部分,其中該第二複數時間間隔中的每一時間間隔接在該第一複數互斥的時間間隔中的一各自一者之後。
依據本發明之另一實施例,一用於實質上同時測試多個資料資料信號收發器之收發器測試器包括:啓動裝置,用以啓動複數資料信號收發器的複數資料信號傳輸;擷取裝置,用以於第一於複數互斥時間間隔中之每一時間間隔期間,藉由該收發器測試器的一第二部分,自該複數資料信號收發器中一或一以上各自資料信號收發器的每一者擷取該複數資料信號傳輸之一各自部分,以提供複數擷取資料之一或一以上相對應的部分;及分析裝置,用以於第二複數時間間隔中之每一時間間隔,藉由該收發器測試器的該第二部分分析該複數擷取資料之一或一以上各自部分,其中該複數第二時間間隔中的每一第二時間間隔接在該第一複數互斥時間間隔中的一各自一者之後。
圖式簡單說明
第1圖是一依據本發明之一實施例測試的收發器測試器的功能方塊圖。
第2A及2B圖是第1圖中組合器/開關之示範實施例的功能方塊圖。
第3圖是一繪示依據本發明之一實施例擷取及分析信號資料的圖式。
第4圖是一繪示依據本發明之另一實施例擷取及分析信號資料的圖式。
第5圖是第1圖之向量信號分析器(VSA)之一示範實施例的功能方塊圖。
第6A-6C圖繪示用於第1圖之VSA中之可供選擇的記憶體組態。
第7圖繪示依據本發明之另一實施例測試之一包含不同頻率的多個命令信號的一向量信號產生器(VSG)信號傳輸。
第8圖繪示響應於第7圖中VSG命令信號的多個DUT信號傳輸。
第9圖繪示第8圖之該多個DUT信號傳輸經組合供VSA接收的DUT信號傳輸。
第10、11A及11B圖是第1圖中VSA之可供選擇實施例的功能方塊圖。
較佳實施例之詳細說明
以下的詳細描述是參照附圖之本發明示範實施例。此描述意欲說明而非限制本發明之範圍。這些實施例被充分詳細地描述足以使熟於此技者能夠實施本發明,且要理解的是,其他實施例也能以某些變化例來實施而不背離本主題發明之精神及範圍。
若未明確說明與本文內容相悖,則應了解,本揭露內容全文中個別電路元件可以單數或複數被描述。例如,名詞“電路(circuit)”及“電路(circuitry)”可包括一單一元件或複數元件,係為主動的及/或被動的,且被連接或者耦接在一起(例如,一或一上積體電路晶片)以提供所描述之功能。另外,名詞“信號”可以指一或一以上電流、一或一以上電壓或一資料信號。在該等圖式中,相似或相關的元件將具有相似或相關的字母、數字或文數字稱號。此外,儘管本發明已在使用離散電子電路(較佳地以一或一以上積體電路晶片的形式)實施之脈絡中加以討論,但此電路中任何部分的功能可以任擇地使用一或一以上經適當規劃的處理器來實施,視欲被處理之信號頻率或資料率而定。
參閲第1圖,依據本發明之一實施例之與共同收發器測試器實質同時測試複數資料信號收發器可使用整合測試器100之形式,其包括一組合器/開關102(下文中將詳細討論)、一向量信號產生器(VSG)104及一向量信號分析器(VSA)106,以耦接至並測試多個DUT 10a、10b、...10n。如下文中將詳細討論的,出入該等DUT 10a、10b、...10n並經由該組合器/開關102傳送的信號11a、11b、...11n係為來自該VSG 104之信號105及進入該VSA 106之信號107。例如,該VSG 104所提供之控制信號105可被提供給該等DUT 10a、10b、...10n中選出的DUT,此後,來自該等DUT之選出資料信號傳輸作為該信號107被提供給該VSA 106。
參閲第2A圖,該組合器/開關102之一示範實施例102a可包括實質上如圖所示地互連的一單極多投開關202a及一信號組合器/分離器204a。如上文所討論的,來自該VSG 104之控制信號105經由該信號組合器/分離器204a以信號203a傳送至該開關202a之該極。依據控制資料(例如,包含於該VSG信號203a中或者包含於一或一以上專屬控制信號103a中的),該開關202a將該控制信號傳送給該等DUT 10a、10b、...10n中之一選出的DUT。該選出的DUT接著執行其資料信號傳輸,該資料信號傳輸經由該開關202a的互連投與極被接收為一接收信號203a,接著將該接收信號203a經由該信號組合器/分離器204a以該信號107傳送至該VSA 106。在該VSA擷取該資料信號傳輸之後,該開關202a可被控制以藉由將其極連接至一不同的投來選擇一新的DUT。如下文將更加詳細討論的,在此新選定的DUT開始一新的資料信號傳輸以供該VSA擷取的同時,該VSA 106中可進行對最近擷取之資料之分析。
參閲第2B圖,該組合器/開關102之一可供選擇實施例102b可使用多個單極單投開關202b與一多埠信號組合器/分離器204b來代替該單極多投開關202a。如上文所述,依據(例如,經由該VSG信號105/203a或者一或一以上其他控制信號103b接收)控制信號,該等開關202b中的個別閉關可被導通以選定一DUT 10a、10b、...10n而開始並擷取一資料信號傳輸。
參閲第3圖,依據本發明之一實施例,該組合器/開關102(第1圖)可容納四個DUT 10a、10b、10c、10d,而VSA 106提供一能夠平行執行四個資料分析,例如使用一四核心微處理器之分析引擎。這樣將允許四個連續的資料擷取之結果得以被平行分析,而不必將每一分析分解成相容的平行處理。換言之,每一核心可獨立分析其自己的一組資料,而與其他核心所執行之分析無關。
就此範例而言,假設有四個DUT 10a、10b、10c、10d,每一DUT發送一資料信號,例如資料包P1、P2、...(各資料包具有一開端12,例如一前緣,及一節尾14,例如一後緣)。在發送各資料信號P1、P2、...之後,每一此資料組中選出的部分或其全部被擷取用於一相對應的分析P1A、P2A、...於該四個微處理器核心中各自的核心中。如上文所討論的,每一各自資料組P1、P2、...分別依該組合器/開關102(第1圖)所作選擇而由該等DUT 10a、10b、10c、10d中之相對應的DUT被接收。依據習知的技術,可控制該等資料信號傳輸的開始及擷取之時序,以使得就該第一DUT 10a及微處理器核心(分析1)而言,在擷取該第一組資料P1及完成其分析P1A之後,該同一微處理器核心(分析1)擷取該同一DUT 10a所發送之下一組資料P5並分析P5A。同樣地,同一微處理器(分析2)依次擷取來自第二DUT 10b之連續的資料組P2、P6並對其進行分析P2A、P6A,以此類推。如下文中將更詳細討論的,此一資料的平行擷取及分析將要求分離的記憶體來儲存該擷取的資料及儲存該同時正進行分析的資料。
控制此一操作以使擷取及分析操作同時進行可藉由多種方式來實現。依據一技術,多個DUT 10(第1圖)平行,即同時發送,在此期間資料之選擇性順序擷取被執行(例如,類似於美國專利7,484,146中所揭露者,其所揭露之內容以參照方式併入本文)。典型地,以此方式平行操作之所有DUT 10將依據同一測試而作業,即發送相似或相同的資料信號。這將限制可使用之信號傳輸序列的複雜度,因為平行操作該等序列及切換於該等不同的DUT 10之間,將使得難以識別一序列中哪裡一新的DUT 10已被選定以資料信號擷取及分析。依據另一技術,使用一具有同步步階(synchronization step)之預載測試流(例如,類似於美國專利公開案2008/0285467中所揭,其所揭露之內容以參照方式併入本文)。因為測試儀器可藉由選擇一同步開始命令欲被提供的一個DUT 10而選擇性地在每一DUT 10中開始一測試,故在多組測試資料之間使用同步化使得基於序列之測試能被利用。
參閲第4圖,此一預載測試流技術可更好地被理解。在一開始,所有的DUT 10係耦接至組合器/開關102(第1圖)且等待接收來自測試器100之一命令以啟動資料信號傳輸。測試儀器100藉由適當地控制組合器/開關102來選擇該等DUT 10中的一個DUT 10(如上文所討論的),且該VSG 104提供必要命令111a以使該選出的DUT 10啟動資料信號傳輸。該選出的DUT 10開始執行預定的測試命令,發送相對應的資料信號113a(例如,如圖中所繪示的,多個信號傳輸功率位準)。此傳輸的資料信號113a被VSA 106擷取並儲存115a於記憶體中,接著可開始對此擷取資料115a之分析117a。同時,與此分析117a平行地,該測試儀器100被重新組配119b以使得VSG 104及VSA 106此刻透過該組合器/開關102連接至一不同的DUT 10。一旦該測試儀器100就緒(例如按需要更新了操作頻率及增益設定),該VSG 104發送111b一命令給選出的DUT 10以啟動測試。響應於此,該選出的DUT 10發送預定的測試信號113b,此測試信號113b被擷取並儲存115b與記憶體中供分析117b之用。此程序可依據如此圖中所示的一般時序依所期望地被重複,藉由再一次重新組配119c該測試儀器100,以使VSG 104及VSA 106此刻透過該組合器/開關102連接至一不同的DUT 10。
要注意,在擷取並儲存115a、115b接收資料、重新組配119b、119c該組合器/開關102之後,VSG 104及VSA 106(例如透過適當的對於硬體的控制信號)預備該測試儀器100以選擇並測試另一DUT 10。此控制在開始該等分析117a、117b之前或與之同時。可選擇地,藉由實施亂序(out-of-order)測試可降低對於該測試儀器100的設定時間。例如,若要平行測試四個DUT 10,其中兩個要以頻率F1測試,且兩個要以頻率F2測試,該VSG 104中的命令佇列可控制該儀器100以頻率F1測試(例如使用DUT 1),之後以F2測試(例如使用DUT 2),之後以頻率F1測試(例如使用DUT 3),之後以頻率F2測試(例如使用DUT 4)。另外,可選擇地,該等DUT 10的測試順序可被安排以在四個DUT 10之測試期間僅需一頻率變化。
藉由使用可供選擇的命令來啟動選出DUT之測試也可執行更複雜的測試。例如,可發出一命令來重複或重試一先前已執行之測試序列。同樣地,來自該VSG 105之命令可被發送給該選出的DUT以啟動一新的測試。(這可能需要該DUT中有使之能夠接收、分析及執行該新測試命令之軟體。)
參閲第5圖,該VSA 106包括至少四個級:一接收級106a、一數位化級106b、一記憶體級106c及一分析級106d,其等實質上如圖所示地互連。該進入信號107被該接收器106a處理(例如執行降頻轉換及解調變)以產生包含類比資料之信號107a,該信號107a藉由該數位化級106b獲數位化。所產生的數位資料107b被儲存在記憶體106c中(下文中將詳細討論)。自記憶體106c所擷取之資料107c被該分析級106d分析以產生資料107d供呈現給使用者或供其作其他使用。
參閲第6A圖,記憶體106c之一示範性實施例106ca包括一雙埠記憶體,其中進入資料107b被儲存於連續的記憶體位置中,例如於時間間隔t0 ,t1 ,...tn-1 期間。資料107c可於一隨後的時間間隔,例如t1 ,t2 ,...tn 分別自各記憶體位置被擷取。因此,各記憶體位置在每一時間間隔期間僅被存取一次,即,針對寫入或讀取資料僅被存取一次。
參閲第6B圖,在一可選擇的實施例中,數位化資料107b可被儲存在一第一記憶體106cb中,此後先前儲存的資料被轉移至一第二記憶體106cc供該分析級106c存取之用。
參閲第6C圖,在另一可選擇的實施例中,輸入開關116a及輸出開關116b可被用於交替存取該二記憶體級106cb、106cc。例如,該數位化資料107b可被儲存於該第一記憶體級106cb中,與此同時,該資料107c自該第二記憶體級106cc中被讀取。在測試下一DUT期間,這些開關116a、116b可被控制以使得該數位化之進入資料107b被寫入該第二記憶體106cc中,與此同時,資料107c自該第一記憶體106cb中被讀取。
在測試多個DUT 10期間,各DUT之敏感性可導致多於該預期DUT之DUT響應來自該VSG 104之命令,從而導致多個DUT同時發送,進而影響該測試序列之同步。這可藉由以下方式來避免:適當地高度隔離該組合器/開關102之該等信號埠,或者藉由使得該等資料信號傳輸以足夠低的功率位準進行,以使該等信號埠之間的標稱或最小隔離確保其他DUT將不會受到目前所發送之信號的影響。此外,可選擇地,不同的定址(addressing)可用於不同的DUT。例如,在Wi-Fi裝置的情況中,不同的媒體存取控制(MAC)位址可被分配給各DUT,從而確保各DUT濾除或忽略非預期給其之信號。
除了能夠使用一共同收發器測試器測試多個DUT,第1圖之硬體組態還允許平行測試該等DUT接收器,因為該VSG 104可經由該組合器/閉關102發送同一信號給多個DUT 10,例如藉由同時導通第2B圖中所示的所有開關。這可允許平行測試該等DUT接收器,藉由MAC過濾去能(MAC filtering disabled),或者藉由於接收器測試期間將MAC位址變成一預定位址。或者,對於Wi-Fi裝置而言,可使用廣播位址,因為各裝置應當都能夠接收此信號,無論其各自的MAC位址為何。
參閲第7圖,例如,該VSG 104以四個頻率中之三個頻率f1、f2、f4發送(就此範例之目的而言,無信號以頻率f3發送)包含多個具有資料封包內容之命令信號的信號105。此包含所有三個頻率f1、f2、f4之三個命令信號被該組合器/開關102在大小(即功率)上分割,且於時間間隔t1-t2期間以信號11a、11b、11c、11d被分配給該四個DUT 10a、10b、10c、10d。
參閲第8圖,響應於其等各自的頻率f1、f2及f4的命令信號,DUT 10a、10b及10d以不同的各自頻率發送資料信號11at、11bt及11dt,其等可為同樣的三個頻率f1、f2及f4。(大致上,該VSA中的接收器級將是充分線性的,足以防止不希望的進入信號混合,此混合可能會干擾或降級信號測量。然而,易懂的是,若接收器之線性度不如我們所期望的,則可使該等信號頻率間隔充分地大以最小化接收器中之任何混合。)
參閲第9圖,於時間間隔t3-t4期間所發送的這些信號11at、11bt及11dt被該組合器/閉關102合併以提供該接收信號107給該VSA 106。如上文中所討論的,該VSA 106將接收、數位化、儲存並分析這些信號11at、11bt及11dt。然而,由於這些信號都同時被接收,儘管係呈不同的頻率,但其等必須首先被分離(例如被解多工)以使每一資料信號可個別地被分析。
參閲第10圖,依據本發明之一實施例,此信號分離在頻域中進行,例如該VSA 106執行接收信號107之頻率解多工。該接收信號107首先藉由一信號分割器以大小(即功率)被分割,以提供一相對應的副本信號107ra、...107rn給每一接收通道。各接收通道包括一接收級106a、一數位化級106b、一記憶體級106c及一分析級106d,如上文中所討論的(第5圖)。然而,依據此實施例,該接收級106a包括頻率選擇性,例如濾波或選擇性降頻轉換,用以選擇關注頻率之需求信號11at、11bt及11dt。在此對所希望的信號11at、11bt及11dt的選擇之後,其處理繼續如上文所討論地進行(第5圖)。
參閲第11A及11B圖,依據本發明之另一實施例,進入信號11at、11bt及11dt之分離係在數位域中完成。參閲第11A圖,此信號分離可於儲存到該記憶體106c之前藉由解多工該數位化信號107b來實施。因此,該所選定的,即經解多工的信號107e被儲存在記憶體106c中以供稍後擷取及分析之用,如上文中所討論的。參閲第11B圖,此信號分離可於數位信號107c自該記憶體106c之儲存體中擷取之後藉由解多工該數位信號107c來實施。因此,該所選定的資料107e被提供用於分析,如上文中所討論的。
本發明之結構與操作方法不背離本發明之精神及範圍之下的各種其他修改及替換對於熟習此技藝者而言將是顯而易見的。儘管本發明已描述相關的較佳實施例,但應當明白的是,所請求的發明不應過度地限制於此等特定實施例。下列申請專利範圍意欲定義本發明之範圍,且在這些請求項範圍中的結構與方法及其等之等效物由發明範圍所涵蓋。
10a-10n...DUT
11a-11n...信號
11at、11bt、11dt...信號
12...開端
14...節尾
100...測試器、測試儀器
102、102a、102b...組合器/開關
103a、103b...控制信號
104...VSG
105...信號
106...VSA
106a...接收級
106b...數位化級
106c...記憶體級
106cb...第一記憶體級
106cc...第二記憶體級
106d...分析級
107、107a-107e...信號
107ra-107rn...副本信號
111a、111b...命令
113a、113b...資料信號
115a、115b...擷取並儲存
116a...輸入開關
116b...輸出開關
117a、117b...分析
119b、119c...重新組配
202a...單極多投開關
202b...單極單投開關
203a、203ba、203bb、203bn...信號
204a、204b...組合器/分離器
t0 -tn ...時間間隔
f1-f4...頻率
第1圖是一依據本發明之一實施例測試的收發器測試器的功能方塊圖。
第2A及2B圖是第1圖中組合器/開關之示範實施例的功能方塊圖。
第3圖是一繪示依據本發明之一實施例擷取及分析信號資料的圖式。
第4圖是一繪示依據本發明之另一實施例擷取及分析信號資料的圖式。
第5圖是第1圖之向量信號分析器(VSA)之一示範實施例的功能方塊圖。
第6A-6C圖繪示用於第1圖之VSA中之可供選擇的記憶體組態。
第7圖繪示依據本發明之另一實施例測試之一包含不同頻率的多個命令信號的一向量信號產生器(VSG)信號傳輸。
第8圖繪示響應於第7圖中VSG命令信號的多個DUT信號傳輸。
第9圖繪示第8圖之該多個DUT信號傳輸經組合供VSA接收的DUT信號傳輸。
第10、11A及11B圖是第1圖中VSA之可供選擇實施例的功能方塊圖。
10a-10n...DUT
11a-11n...信號
100...測試器
102...組合器/開關
104...VSG
105...信號
106...VSA
107...信號

Claims (26)

  1. 一種用於以一共同收發器測試器實質上同時測試多個資料信號收發器之方法,包括以下步驟:藉由一收發器測試器之一第一部分啓動複數資料信號收發器的複數資料信號傳輸;於一第一複數互斥時間間隔中之每一間隔期間,藉由該收發器測試器的一第二部分,自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中之每一者擷取該複數資料信號傳輸之一各自部分,以提供複數擷取資料之一或一以上相對應的部分;及於一第二複數時間間隔中之每一時間間隔,藉由該收發器測試器的該第二部分,分析該複數擷取資料之一或一以上各自部分,其中該複數第二時間間隔中的每一時間間隔接在該第一複數互斥時間間隔中的一各自一者之後。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該啓動包含:定義複數序列之資料信號傳輸作為該複數資料信號傳輸;及觸發該複數序列之資料信號傳輸中各自的資料信號傳輸。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之方法,其中該觸發包含,實質上同時地藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之方法,其中該觸發包含,於該第一複數實質上互斥時間間隔中之一各自時間間隔期間,藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中:該複數資料信號傳輸包含複數預定序列之資料信號傳輸;及該啓動包含觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中各自的資料信號傳輸。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之方法,其中該觸發包含:藉由該複數資料信號收發器中之各資料信號收發器實質上同時地觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之方法,其中該觸發包含:於該第一複數實質上互斥時間間隔中之一各自第一時間間隔期間,藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該擷取包含:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中之該各自一者接收該複數資料信號傳輸中的該各自部分;數位化該複數資料信號傳輸之各該接收的各自部分以提供複數數位化資料;及儲存該複數數位化之資料以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該擷取包含:分離該複數資料信號傳輸以提供複數資料信號,各資料信號對應於來自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中該每一者的該複數資料信號傳輸中之該各自部分;數位化該複數資料信號中之各資料信號以提供複數數位化資料組;及儲存該複數數位化資料組以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該擷取動作包含:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自的資料信號收發器中之各該資料信號收發器接收該複數資料信號傳輸中該各自的部分;數位化該複數資料信號傳輸中之各該接收的各自的部分以提供複數數位化資料;分離該複數數位化資料以提供複數數位化資料組;及儲存該複數數位化資料組以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該擷取動作包含:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中之每一者接收該複數資料信號傳輸中的該各自部分;數位化該複數資料信號傳輸中之各該接收的各自部分以提供複數數位化資料;儲存該複數數位化資料以提供複數儲存數位化資料;及分離該複數儲存數位化資料以提供複數數位化資料組作為複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該擷取包含,於該第一複數互斥時間間隔中之每一第一時間間隔期間,藉由該收發器測試器的該第二部分,可切換地耦接至該複數資料信號收發器中之一各自資料信號收發器,以接收該複數資料信號傳輸中之該各自部分。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該分析包含,將該複數擷取資料中之每一各自部分與複數預定資料中之一各自部分相比較。
  14. 一種包括一用以實質上同時測試複數資料信號收發器之收發器測試器之裝置,其包含:啓動裝置,用以啓動由複數資料信號收發器執行的複數資料信號傳輸;擷取裝置,用以於第一複數互斥時間間隔中之每一時間間隔期間藉由該收發器測試器的一第二部分,自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中之每一者擷取該複數資料信號傳輸中之一各自部分,以提供複數擷取資料之一或一以上相對應的部分;及分析裝置,用以於第二複數時間間隔中之每一時間間隔,藉由該收發器測試器的該第二部分,分析該複數擷取資料之一或一以上各自部分,其中該第二複數時間間隔中的每一者接在該第一複數互斥時間間隔中的一各自一者之後。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該啓動裝置係用以:定義複數序列之資料信號傳輸作為該複數資料信號傳輸;及觸發該複數序列之資料信號傳輸中各自的資料信號傳輸。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之裝置,其中該啓動裝置係用以實質上同時地藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數序列之資料信號傳輸中的該等各自資料信號傳輸。
  17. 如申請專利範圍第15項所述之裝置,其中該啓動裝置係用以於該第一複數實質上互斥時間間隔中之一各自時間間隔期間藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  18. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該複數資料信號傳輸包含複數預定序列之資料信號傳輸,且該啓動裝置係用以觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中各自的資料信號傳輸。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之裝置,其中該啓動裝置係用以實質上同時地藉由該複數資料信號收發器中之各資料信號收發器觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之裝置,其中該啓動裝置係用以於該第一複數實質上互斥時間間隔中時間間隔期間,藉由該複數資料信號收發器中之每一者觸發該複數預定序列之資料信號傳輸中該等各自的資料信號傳輸。
  21. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該擷取裝置係用以:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自資料信號收發器中之每一者接收該複數資料信號傳輸中的該各自部分;數位化該複數資料信號傳輸中之各該接收的各自部分以提供複數數位化資料;及儲存該複數數位化資料以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  22. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該擷取裝置係用以:分離該複數資料信號傳輸以提供複數資料信號,各資料信號對應於來自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自的資料信號收發器中每一者的該複數資料信號傳輸中之該各自部分;數位化該複數資料信號中之每一資料信號以提供複數數位化資料組;及儲存該複數數位化資料組以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  23. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該擷取裝置係用以:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自的資料信號收發器中之每一者接收該複數資料信號傳輸中的該各自部分;數位化該複數資料信號傳輸中之各該接收的各自部分以提供複數數位化資料;分離該複數數位化資料以提供複數數位化資料組;及儲存該複數數位化資料組以提供複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  24. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該擷取裝置係用以:自該複數資料信號收發器中的一或一以上各自的資料信號收發器中之每一者接收該複數資料信號傳輸中的該各自部分;數位化該複數資料信號傳輸中之各該接收的各自的部分以提供複數數位化資料;儲存該複數數位化資料以提供一儲存複數數位化資料;及分離該儲存複數數位化資料以提供複數數位化資料組作為複數擷取資料中之該一或一以上相對應的部分。
  25. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該擷取裝置係用以於該第一複數互斥時間間隔中之每一時間間隔期間,藉由該收發器測試器的該第二部分,可切換地耦接至該複數資料信號收發器中之一各自的資料信號收發器,以接收該複數資料信號傳輸中之該各自部分。
  26. 如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中該分析裝置係用以將該複數擷取資料中之每一各自部分與複數預定資料中之一各自部分相比較。
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