TWI488090B

TWI488090B - 光學資訊取樣方法與觸控資訊辨識方法

Info

Publication number: TWI488090B
Application number: TW099121058A
Authority: TW
Inventors: Chih Wei Chien; Wei Tien Chang; Shau Yu Tsai
Original assignee: Au Optronics Corp
Priority date: 2010-06-28
Filing date: 2010-06-28
Publication date: 2015-06-11
Also published as: TW201201081A

Description

光學資訊取樣方法與觸控資訊辨識方法

本發明是有關於一種資訊取樣方法與資訊辨識方法，且特別是有關於一種光學資訊取樣方法與觸控資訊辨識方法。

觸控面板依照其感測方式的不同大致上可區分為電阻式觸控面板、電容式觸控面板、光學式觸控面板、聲波式觸控面板以及電磁式觸控面板。由於光學式觸控面板的觸控機制適合應用在大尺寸之顯示面板中，因此，大尺寸顯示面板的觸控功能多半是透過光學觸控機制來達成。目前的光學式觸控面板多半採用紅外光作為光源，並利用互補金氧半導體光感測元件(CMOS optical sensor)來感測紅外光以推算出觸控點的位置。

圖1繪示為習知光學式觸控面板的剖面示意圖。請參照圖1，光學式觸控面板100包括一觸控面板110、一背光單元120、一紅外光發光二極體(IR-LED)130、一光感測元件140以及一反射片150。紅外光發光二極體130適於發出紅外光L1，且紅外光L1會被反射片150反射至光感測元件140。當有觸控物體160觸碰到觸控面板110時，觸控物體160會遮擋紅外光L1以使紅外光L1無法傳遞到光感測元件140，進而使得後端電路能判斷出觸碰位置。然而上述的觸碰方式容易造成誤動作，亦即在觸控面板110在尚未被觸控的情況下，仍有可能會產生觸控訊號。為了解決上述問題，已有習知技術在觸控面板110的上方增設一導光板，讓使用者可以直接觸碰導光板。當使用者觸碰前述之導光板時，在導光板內部傳遞的紅外光會因使用者之手指(或觸控筆)觸碰到導光板的表面而被散射，使得光感測元件所接收到的紅外光強度降低。當光感測元件所接收到的紅外光強度降低時，理論上便可計算出觸控位置，但實際上，如何快速且有效地計算出觸控位置目前尚未有具體的方案被提出。

本發明提供一種光學資訊取樣方法，其適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣。

本發明提供一種觸控資訊辨識方法，其適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰。

本發明提出一種光學資訊取樣方法，其適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣。光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件。光源提供光線至導光板中。感測元件包括多個成陣列排列之畫素。排列於各行的畫素分別接收來自於導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於導光板之不同垂直入射角度的光線。上述的光學資訊取樣方法包括以下步驟。首先，對感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得光學資訊。當導光板未被觸碰時，透過訊號擷取動作以擷取出一背景資訊。當導光板被觸碰時，透過訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊。接著，對背景資訊及觸控資訊進行積分。

在本發明之一實施例中，上述之取樣區域內的畫素對應到所有的水平入射角度。

在本發明之一實施例中，上述之取樣區域為一單一區域。

在本發明之一實施例中，上述之取樣區域包括多個彼此不連續之子取樣區域，且各子取樣區域分別對應到不同的垂直入射角度。

在本發明之一實施例中，上述之導光板具有一觸控面以及一與觸控面垂直之出光面。感測元件平行於出光面配置，而感測元件的畫素排列於一與觸控面垂直之平面上。當導光板的厚度介於0.5mm至1.5mm之間時，取樣區域對應到的垂直入射角為10度至85度。另外，在另一實施例中，當導光板的厚度介於1.5mm至2.5mm之間時，取樣區域對應到的垂直入射角為25度至85度。除此之外，在其他實施例中，當導光板的厚度大於2.5mm時，取樣區域對應到的垂直入射角為45度至85度。

在本發明之一實施例中，上述之導光板具有一觸控面以及一與觸控面夾一銳角之出光面。感測元件的畫素排列於一與觸控面垂直之平面上。另外，取樣區域對應到的垂直入射角為0度至85度。

另一方面，本發明還提出一種觸控資訊辨識方法，其適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰。光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件。光源提供光線至導光板中。感測元件包括多個成陣列排列之畫素。排列於各行的畫素分別接收來自於導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於導光板之不同垂直入射角度的光線。上述觸控資訊辨識方法包括以下步驟。首先，對感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得光學資訊。接著，對訊號擷取動作之結果進行積分。最後，根據積分後的結果判斷光學式觸控面板是否被觸碰。

基於上述，本發明之實施例藉由對感測元件上的特定取樣區域擷取背景資訊與觸控資訊，並對背景資訊與觸控資訊進行積分，故能依據積分結果來判斷光學式觸控面板是否被觸碰，並有助於光學式觸控面板之觸控靈敏度的提升。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

【第一實施例】

圖2為本發明第一實施例中光學式觸控面板的示意圖，其中圖2上方為光學式觸控面板的剖面圖，而圖2下方為光學式觸控面板的上視圖。請參照圖2，本實施例之光學式觸控面板200包括一感測模組240，其中感測模組240包括一光源241、一感測元件242以及一導光板246。另外，本實施例的光學式觸控面板200還包括觸控面板210、背光單元220以及觸控訊號讀出電路250，其中背光單元220配置於觸控面板210的下方以提供顯示影像所需之光源。

如圖2所示，本實施例的感測元件242配置於光源241的上方，且光源241與感測元件242配置於導光板246旁。光源241適於提供一光線L2至導光板246中，且光線L2在傳遞至反射片244之後會被反射回感測元件242。在本實施例中，光線L2例如為紅外光，而感測元件242例如為用以感測紅外光的紅外光感測元件(IR sensor)，其中紅外光感測元件可為半導體光感測元件(CMOS optical sensor)。另外，反射片244可為回溯式反射片(retro-reflector)。除此之外，導光板246具有一觸控面S1以及一與觸控面S1垂直之出光面S2，且感測元件242平行於出光面S2配置。

圖3繪示為圖2上方導光板246被觸碰之後的示意圖。請同時參照圖2的俯視圖與圖3，當導光板246上的觸控點P1被使用者的手指F或觸控筆所觸碰時，使用者的手指F或觸控筆會使部分光線L2被散射，使得光感測元件242在特定的水平入射角(例如角度θ1)所接收到的紅外光強度降低。詳細來說，當使用者用手指F或觸控筆觸碰到導光板246時，觸控點P1附近的光線L2會被散射，且上述的散射現象會使朝向反射片244傳遞的光線L2或是朝向感測元件242傳遞的光線L2之強度減弱，而使得觸控信號讀出電路242能據以推算出觸控點P1的位置。

為了有效且快速地推算出觸控點P1的位置，本實施提出一種適用於光學式觸控面板200之觸控資訊辨識方法，以判斷光學式觸控面板200是否被觸碰，而其相關步驟描述如下。

圖4繪示為圖2中感測元件242的放大立體示意圖。請同時參照圖2的俯視圖與圖4，本實施例的感測元件242包括多個成陣列排列之畫素242a，其中排列於各行的畫素242a分別接收來自於導光板246之不同水平入射角度θ1的光線L2，且排列於同一行的各個畫素242a分別接收自於導光板246之不同垂直入射角度α1的光線L2。在本實施例中，水平入射角度θ1介於0°至90°之間，而垂直入射角度α1介於-90°至90°之間。另一方面，感測元件242的畫素242a排列於一與觸控面S1(繪示於圖2)垂直之平面上。另一方面，在其他實施例中，於感測元件242與導光板246之間還可設置一位在光線L2之光路徑上的透鏡，以匯聚光線L2，進而使光線L2能夠正確地投射於感測元件242上。

在本實施例中，圖2中的觸控訊號讀出電路250會對感測元件242的一取樣區域A1進行一訊號擷取動作，其中取樣區域A1內的畫素242a僅對應於部分的垂直入射角度α1以獲得光學資訊。舉例來說，圖5A繪示為圖4感測元件242上同一行畫素242a在z方向上所感測到的光強度曲線圖，其中橫坐標對應z方向上不同垂直入射角度α1，而垂直入射角度α1等於0則代表光線L2是垂直入射感測單元242。如圖5所示，在本實施例中，取樣區域A1包括多個彼此不連續之子取樣區域A1-1、A1-2，且各子取樣區域A1-1、A1-2分別對應到不同的垂直入射角度α1。當導光板246未被觸碰時，觸控訊號讀出電路250會透過訊號擷取動作以擷取出一背景資訊B1。而當導光板246被觸碰時，觸控訊號讀出電路250會透過訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊C1。接著，觸控訊號讀出電路250會對背景資訊B1及觸控資訊C1進行積分。

在本實施例中，取樣區域A1對應背景資訊B1與觸控資訊C1差異較多的角度範圍，因此藉由僅對取樣區域A1內背景資訊B1與觸控資訊C1的積分差異進行比對，不但能得知光學式觸控面板200是否被觸碰，還能提升觸控靈敏度。另一方面，取樣區域A1內的畫素242a是對應到所有的水平入射角度θ1。換句話說，在本實施例中，觸控訊號讀出電路250會重複對每一行的至少一畫素242a進行上述的資訊比對，以找出光強度改變最大的一行，並據以判斷出光線L2的水平入射角度θ1。而光強度的計算僅是選取同行中部份的畫素242a來計算，亦即，選取導光板246被觸碰之前與之後，光強度改變較大的畫素242a來計算積分結果。

舉例來說，在本實施例中，當導光板246的厚度介於0.5mm至1.5mm之間時，取樣區域A1對應到的垂直入射角為10度至85度。詳細來說，子取樣區域A1-1對應到的垂直入射角度為-85度至-10度，而子取樣區域A1-2對應到的垂直入射角度為+10度至+85度。亦即，對應垂直入射角為-85度至-10度與+10度至+85度的光強度變化相較於其他垂直入射角的光強度變化來得大。

而在其他實施例中，當導光板246的厚度介於1.5mm至2.5mm之間時，取樣區域A1對應到的垂直入射角為25度至85度。詳細來說，子取樣區域A1-1對應到的垂直入射角度為-85度至-25度，而子取樣區域A1-2對應到的垂直入射角度為+25度至+85度。亦即，對應垂直入射角為-85度至-25度與+25度至+85度的光強度變化相較於其他垂直入射角的光強度變化來得大。

除此之外，在另一實施例中，當導光板246的厚度大於2.5mm時，取樣區域A1對應到的垂直入射角為45度至85度。詳細來說，子取樣區域A1-1對應到的垂直入射角度為-85度至-45度，而子取樣區域A1-2對應到的垂直入射角度為+45度至+85度。亦即，對應垂直入射角為-85度至-45度與+45度至+85度的光強度變化相較於其他垂直入射角的光強度變化來得大。由上述可知，在本發明之實施例中，子取樣區域A1-1、A1-2所對應到垂直入射角度是依據導光板246的厚度做調整，故設計者可依據產品的實際狀況調整子取樣區域A1-1、A1-2的範圍。

從另一個角度觀看，本實施例亦提供一種光學資訊取樣方法，其適於對光學式觸控面板200所產生的光學資訊進行取樣。請參照圖5B，亦即，對感測元件242的一取樣區域A進行一訊號擷取動作，其中取樣區域A內的畫素242a僅對應於部分的垂直入射角度α1以獲得光學資訊，當導光板246未被觸碰時，透過訊號擷取動作以擷取出一背景資訊B1，當導光板246被觸碰時，透過訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊C1(步驟S110)。接著，對背景資訊B1及觸控資訊C1進行積分(步驟S120)。最後，後端電路(例如為觸控訊號讀出電路250)便能根據積分後的結果判斷光學式觸控面板200是否被觸碰。

【第二實施例】

圖6A繪示為本發明第二實施例的感測模組剖面示意圖，而圖6B為對應圖6A導光板346被觸碰之前與之後的光強度曲線圖。圖6A的導光板346與圖3的導光板246類似，惟二者主要差異之處在於：導光板346具有一與觸控面S1夾一銳角β之出光面S2。另外，本實施例中，光源241、感測元件242和觸碰面S1還夾有一銳角δ。

在具有銳角β之出光面S2的架構中，為使光線L2在導光板346內傳遞時，來回反射一次所走的水平距離d能夠小於10mm，通常還需針對導光板346厚度做設計。而通常在垂直入射角度α1接近0處會有較大的光強度變化，至於取樣區域的範圍則取決於感測元件242的收光角與感測元件242距出光面S2的距離而定。

舉例而言，如圖6B所示，本實施例的背景資訊B2與觸控資訊C2差異較大的區域為取樣區域A2。亦即，在垂直入射角度α1接近0處會有較大的光強度變化，其中本實施例的取樣區域A2為單一區域。另外，取樣區域A2對應到的垂直入射角為0度至85度。由於本實例之感測元件242和觸碰面S1還夾有銳角δ，故取樣區域A2並未對稱垂直入射角度α1為0處，而是略有偏移。

除此之外，在本實施例中，光源241與感測元件242的排列方式除上下排列外，亦可是沿垂直紙面的方向呈前後排列。

【第三實施例】

圖7A繪示為本發明第三實施例的感測模組剖面示意圖，圖7B為圖7A中區域E的局部放大圖，而圖7C為對應圖7A導光板446被觸碰之前與之後的光強度曲線圖。

請同時參照圖7A與圖7B，本實施例之導光板446與圖6A的導光板346類似，惟二者主要差異之處在於：導光板446具有一與表面S3夾一銳角γ之出光面S2。詳細而言，部份的出光面S2與表面S3夾銳角γ，且部分的出光面S2與觸控面S1夾銳角β，而對應此區域的光源241適於發射光線L2至導光板446內。另一方面，感測元件242前的出光面S2為一垂直的平面。

因此，如圖7C所示，本實施例的背景資訊B3與觸控資訊C3差異較大的區域為取樣區域A3，其中取樣區域A3包括多個彼此不連續之子取樣區域A3-1、A3-2。在本實施例中，由於銳角β與銳角γ相同，故子取樣區域A3-1、A3-2所對應的光強度變化是對稱於垂直入射角度為0的縱軸。另外，在另一實施例中，銳角β與銳角γ亦可不同，而此時子取樣區域A3-1、A3-2所對應的光強度變化便可不對稱於垂直入射角度α1為0的縱軸。

請繼續參照圖7C，在本實施中，當導光板446的厚度介於0.5mm至1.5mm之間時，取樣區域A3對應到的垂直入射角為10度至85度。詳細來說，子取樣區域A3-1對應到的垂直入射角為-10度至-85度，而子取樣區域A3-2對應到的垂直入射角為+10度至+85度。亦即，對應垂直入射角為-10度至-85度與+10度至+85度的光強度變化相較於其他垂直入射角的光強度變化來得大。

另外，在其他實施例中，當導光板446的厚度介於1.5mm至2.5mm之間時，取樣區域A3對應到的垂直入射角為25度至85度。詳細來說，子取樣區域A3-1對應到的的垂直入射角為-25度至-85度，而子取樣區域A3-2對應到的的垂直入射角為+25度至+85度。除此之外，在另一實施例中，當導光板446的厚度大於2.5mm時，取樣區域A3對應到的垂直入射角為45度至85度。詳細來說，子取樣區域A3-1對應到的的垂直入射角為-45度至-85度，而子取樣區域A3-2對應到的的垂直入射角為+45度至+85度。

【第四實施例】

圖8繪示為本發明第四實施例之光學式觸控面板的剖面示意圖。圖8的光學式觸控面板300與圖2的光學式觸控面板200類似，惟二者主要差異之處在於：光學式觸控面板300為一直下式背光的光學式觸控面板。請參照圖8，本實施例的光學式觸控面板300包括一觸控面板310、多個感測元件320以及一直下式背光源330。感測元件320配置於觸控面板310的邊緣，而直下式背光源330配置於觸控面板310下方。

直下式背光源330適於提供一可見光L3與一非可見光L4(例如為紅外光)。當使用者用手指F或觸控筆觸碰觸控面板310的觸控點P2處時，穿過觸控面板310的部分非可見光L4(即觸控點P2附近的非可見光L4)會被散射，使得光感測元件320在特定的水平入射角接收到被散射的非可見光L4，以推算出觸控點P2的位置。

為了有效且快速地推算出觸控點P2的位置，本實施亦採用類似於第一實施例的光學資訊取樣方法或觸控資訊辨識方法以進一步判斷觸控點。詳細來說，當觸控面板310未被觸碰時，感測元件320會透過訊號擷取動作以於一取樣區域擷取出一背景資訊，其中背景資訊例如光強度的變化。而由於此時未有光線被散射，故對應各個不同入射角度的光強度變化例如皆為0。另一方面，當導光板332被觸碰時，感測元件320會透過訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊，其中觸控資訊例如為多個對應不同入射角度的光強度變化。在本實施例中，光散射所造成的光強度變化在某個角度例如會大幅增加。接著，後端電路便能對背景資訊及觸控資訊進行積分，以分析二者差異，並依據積分結果判斷光學式觸控面板300是否被觸碰。詳細步驟與第一實施例類似，在此便不加贅述。

綜上所述，本發明之實施例藉由對感測元件上對應光強度變化較大的取樣區域擷取背景資訊與觸控資訊，並對背景資訊與觸控資訊進行積分，故能依據積分結果來判斷光學式觸控面板是否被觸碰，並有助於光學式觸控面板之觸控靈敏度的提升。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200、300．．．光學式觸控面板

110、210、310．．．觸控面板

120、220、320．．．背光單元

130．．．紅外光發光二極體

140．．．光感測元件

150、244．．．反射片

160．．．觸控物體

240．．．感測模組

241．．．光源

242．．．感測元件

242a．．．畫素

246、346、446．．．導光板

250．．．觸控訊號讀出電路

330．．．直下式背光源

A1~A3．．．取樣區域

A1-1、A1-2、A3-1、A3-2．．．子取樣區域

B1~B3．．．背景資訊

C1~C3．．．觸控資訊

F．．．手指

L1．．．紅外光

L2．．．光線

L3‧‧‧可見光

L4‧‧‧非可見光

P1、P2‧‧‧觸控點

S1‧‧‧觸碰面

S2‧‧‧出光面

S3‧‧‧表面

S110~S120‧‧‧步驟

θ 1、θ 2、α 1‧‧‧角度

β、γ、δ‧‧‧銳角

d‧‧‧水平距離

E‧‧‧區域

圖1繪示為習知光學式觸控面板的剖面示意圖。

圖2為本發明第一實施例之光學式觸控面板的示意圖。

圖3繪示為圖2上方導光板被觸碰之後的示意圖。

圖4繪示為圖2感測元件的放大立體示意圖。

圖5A繪示為圖4感測元件上同一行畫素在z方向上所感測到的光強度曲線圖。

圖5B繪示為本發明第一實施例的光學資訊取樣方法。

圖6A繪示為本發明第二實施例的感測模組剖面示意圖。

圖6B為對應圖6A導光板被觸碰之前與之後的光強曲線圖。

圖7A繪示為本發明第三實施例的感測模組剖面示意圖。

圖7B為圖7A中區域E的局部放大圖。

圖7C為對應圖7A導光板被觸碰之前與之後的光強度曲線圖。

圖8繪示為本發明第四實施例之光學式觸控面板的剖面示意圖。

S110~S120．．．步驟

Claims

一種光學資訊取樣方法，適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該光學資訊取樣方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離，當該導光板未被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一背景資訊，當該導光板被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊；以及對該背景資訊及該觸控資訊進行積分，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度介於0.5mm至1.5mm之間時，該取樣區域對應到的垂直入射角為10度至85度。
如申請專利範圍第1項所述之光學資訊取樣方法，其中該取樣區域內的畫素對應到所有的水平入射角度。
如申請專利範圍第1項所述之光學資訊取樣方法，其中該取樣區域包括多個彼此不連續之子取樣區域，且各該子取樣區域分別對應到不同的垂直入射角度。
一種光學資訊取樣方法，適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該光學資訊取樣方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離，當該導光板未被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一背景資訊，當該導光板被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊；以及對該背景資訊及該觸控資訊進行積分，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度介於1.5mm至2.5mm之間時，該取樣區域對應到的垂直入射角為25度至85度。
一種光學資訊取樣方法，適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該光學資訊取樣方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離，當該導光板未被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一背景資訊，當該導光板被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊；以及對該背景資訊及該觸控資訊進行積分，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度大於2.5mm時，該取樣區域對應到的垂直入射角為45度至85度。
一種光學資訊取樣方法，適於對一光學式觸控面板所產生的一光學資訊進行取樣，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該光學資訊取樣方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離，當該導光板未被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一背景資訊，當該導光板被觸碰時，透過該訊號擷取動作以擷取出一觸控資訊；以及對該背景資訊及該觸控資訊進行積分，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面夾一銳角之出光面，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，該取樣區域對應到的垂直入射角為0度至85度。
如申請專利範圍第6項所述之光學資訊取樣方法，其中該取樣區域為一單一區域。
一種觸控資訊辨識方法，適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該觸控資訊辨識方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離；對該訊號擷取動作之結果進行積分；以及根據積分後的結果，判斷該光學式觸控面板是否被觸碰，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度介於0.5mm至1.5mm之間時，該取樣區域對應到的垂直入射角為10度至85度。
如申請專利範圍第8項所述之觸控資訊辨識方法，其中該取樣區域內的畫素對應到所有的水平入射角度。
如申請專利範圍第8項所述之觸控資訊辨識方法，其中該取樣區域包括多個彼此不連續之子取樣區域，且各該子取樣區域分別對應到不同的垂直入射角度。
一種觸控資訊辨識方法，適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該觸控資訊辨識方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離；對該訊號擷取動作之結果進行積分；以及根據積分後的結果，判斷該光學式觸控面板是否被觸碰，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度介於1.5mm至2.5mm之間時，該取樣區域對應到的垂直入射角為25度至85度。
一種觸控資訊辨識方法，適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該觸控資訊辨識方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離；對該訊號擷取動作之結果進行積分；以及根據積分後的結果，判斷該光學式觸控面板是否被觸碰，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面垂直之出光面，該感測元件平行於該出光面配置，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，且當該導光板的厚度大於2.5mm時，該取樣區域對應到的垂直入射角為45度至85度。
一種觸控資訊辨識方法，適於判斷一光學式觸控面板是否被觸碰，其中光學式觸控面板包括一導光板、一光源及一感測元件，該光源提供光線至該導光板中，該感測元件包括多個成陣列排列之畫素，排列於各行的畫素分別接收來自於該導光板之不同水平入射角度的光線，且排列於同一行的各畫素分別接收自於該導光板之不同垂直入射角度的光線，而該觸控資訊辨識方法包括：對該感測元件的一取樣區域進行一訊號擷取動作，其中該取樣區域內的畫素僅對應於部分的垂直入射角度以獲得該光學資訊，該取樣區域預設於該感測元件，並且決定該取樣區域的依據包括該導光板的厚度或者該感測元件的一收光角以及該感測元件與該導光板的一出光面的距離；對該訊號擷取動作之結果進行積分；以及根據積分後的結果，判斷該光學式觸控面板是否被觸碰，其中該導光板具有一觸控面以及一與該觸控面夾一銳角之出光面，而該感測元件的該些畫素排列於一與該觸控面垂直之平面上，該取樣區域對應到的垂直入射角為0度至85度。
如申請專利範圍第13項所述之觸控資訊辨識方法，其中該取樣區域為一單一區域。