TWI480536B - 螢光強度分析與螢光影像合成系統及其方法 - Google Patents

Description

螢光強度分析與螢光影像合成系統及其方法

一種分析與合成系統及其方法，尤其是指一種螢光強度分析與螢光影像合成系統及其方法。

目前對於物體的研究通常需要對物體進行檢測，特別是在活體物的基礎研究上常需觀察活體物體內的情況，而觀察活體物體內多半採用螢光方式進行，亦即將以螢光物質標靶至大概的標定目標區域後，再以螢光攝影機觀察螢光的分佈與強度。

然而，目前現階段觀察活體物體內的螢光方式要不是具侵入性，就是需進行活體物體內的組織切片才得以觀察，並且現有方式局限於局部範圍的分析，無法準確掌握螢光流量範圍。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在現有螢光檢測受限制的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在現有螢光檢測受限制的問題，本發明遂揭露一種螢光強度分析與螢光影像合成系統及其方法，其中：

本發明所揭露的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其包含：第一螢光強度偵測裝置、第二螢光強度偵測裝置以及圖像處理裝置，圖像處理裝置更包含：接收模組、時序分析模組、圖像合成模組以及圖像處理模組。

第一螢光強度偵測裝置是用以依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有第一時序時間。

第二螢光強度偵測裝置是用以依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有第二時序時間。

圖像處理裝置分別與第一螢光強度偵測裝置以及第二螢光強度偵測裝置建立連線；圖像處理裝置的接收模組是用以自第一螢光強度偵測裝置接收第一時序以及第一螢光強度範圍，且自第二螢光強度偵測裝置接收第二時序以及第二螢光強度範圍；圖像處理裝置的時序分析模組是用以分析第一時序以及第二時序以分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍；圖像處理裝置的圖像合成模組是用以將相同的時序時間範圍中第一時序以及第二時序相同的時序時間對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為合成圖像；及圖像處理裝置的圖像處理模組是用以對合成圖像進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示。

本發明所揭露的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其包含下列步驟：

首先，第一螢光強度偵測裝置依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有第一時序時間；接著，第二螢光強度偵測裝置依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有第二時序時間；接著，圖像處理裝置分別與第一螢光強度偵測裝置以及第二螢光強度偵測裝置建立連線；接著，圖像處理裝置自第一螢光強度偵測裝置接收第一時序以及第一螢光強度範圍，且自第二螢光強度偵測裝置接收第二時序以及第二螢光強度範圍；接著，圖像處理裝置分析第一時序以及第二時序以分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍；接著，圖像處理裝置將相同的時序時間範圍中第一時序以及第二時序相同的時序時間對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為合成圖像；最後，圖像處理裝置對合成圖像進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示。

本發明所揭露的系統及其方法如上，與先前技術之間的差異在於本發明透過第一螢光強度偵測裝置依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，第二螢光強度偵測裝置依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，再由圖像處理裝置進行第一時序與第二時序的時序分析以依據螢光強度將第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍合成為合成圖像，即可進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示。

透過上述的技術手段，本發明可以達成提供便利且觀察螢光分布分析的技術功效。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。

以下將以一個實施例來解說本發明的系統、運作方式及流程，以下的實施例說明將同步配合「第1圖」、「第2圖」以及「第3圖」所示，「第1圖」繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成系統的系統方塊圖；「第2圖」繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成方法的方法流程圖；「第3圖」繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成的系統架構示意圖。

本發明所揭露的螢光強度分析與螢光影像合成的系統，其包含：其包含：第一螢光強度偵測裝置10、第二螢光強度偵測裝置20以及圖像處理裝置30，圖像處理裝置30更包含：接收模組31、時序分析模組32、圖像合成模組33以及圖像處理模組34。

第一螢光強度偵測裝置10可以是專用於偵測螢光的強度偵測裝置以進行螢光強度的偵測，或是第一螢光強度偵測裝置10可以是一般的強度偵測裝置並配合濾鏡以進行螢光強度的偵測，並且第一螢光強度偵測裝置10與圖像處理裝置30彼此之間會建立連線（步驟 103），圖像處理裝置30可以是一般桌上型電腦、筆記型電腦、平板電腦…等裝置，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

首先，第一螢光強度偵測裝置10是依據第一時序以依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有第一時序時間（步驟101）。

在第一螢光強度偵測裝置10所偵測的第一螢光強度範圍會具有至少一個檢測物41，可以在每一個檢測物41的表面上以塗佈、黏貼…等方式設置螢光物質，或是透過注射、膠囊…等方式在每一個檢測物41體內設置螢光物質，並透過照射波長範圍介於450nm至550nm的激發光源（例如：藍光光源，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇）以激發檢測物41表面或是體內設置的螢光物質發出波長範圍介於500nm至600nm的螢光（在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇）。

當第一螢光強度偵測裝置10是一般的強度偵測裝置時，需要配置過濾非螢光波長的濾鏡42以進行螢光強度的偵測，而濾鏡42所能通過光波的波長範圍介於500nm至600nm（在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇），即對應螢光的波長範圍，其餘波長的光波將會被過濾而無法通過濾鏡42，藉此提供第一螢光強度偵測裝置10進行螢光強度範圍的偵測。

上述的第一時序舉例來說假設是在0.1秒至0.5秒進行第一螢光強度範圍的偵測，在0.6秒至1.0秒不進行第一螢光強度範圍的偵測，在1.1秒至1.5秒進行第一螢光強度範圍的偵測，在1.6秒至2.0秒不進行第一螢光強度範圍的偵測，依此類推，所形成的時序即為第一時序，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

而在0.1秒至0.5秒進行第一螢光強度範圍的偵測，可以是在0.1秒進行第一次的第一螢光強度範圍偵測，在0.2秒進行第二次的第一螢光強度範圍偵測，在0.3秒進行第三次的第一螢光強度範圍偵測，依此類推，即每0.1秒進行一次第一螢光強度範圍的偵測，或是每0.05秒、0.01秒…等進行一次第一螢光強度範圍的偵測，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

呈上述舉例，第一次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.1秒，第二次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.2秒，第三次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.3秒，依此類推；假設每0.05秒進行一次第一螢光強度範圍的偵測，即第一次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.1秒，第二次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.15秒，第三次第一螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.2秒，依此類推，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

接著，第二螢光強度偵測裝置20可以是專用於偵測螢光的強度偵測裝置以進行螢光強度範圍的偵測，或是第二螢光強度偵測裝置20可以是一般的強度偵測裝置並配合濾鏡42以進行螢光強度範圍的偵測，並且第二螢光強度偵測裝置20與圖像處理裝置30彼此之間會建立連線（步驟 103）。

第二螢光強度偵測裝置20是依據第二時序以依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有第二時序時間（步驟 102）。

在第二螢光強度偵測裝置20所偵測的第二螢光強度範圍會具有至少一個檢測物41，可以在每一個檢測物41的表面上以塗佈、黏貼…等方式設置螢光物質，或是透過注射、膠囊…等方式在每一個檢測物41體內設置螢光物質，並透過照射波長範圍介於450nm至550nm的激發光源（例如：藍光光源，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇）以激發檢測物41表面或是體內設置的螢光物質發出波長範圍介於500nm至600nm的螢光（在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇）。

當第二螢光強度偵測裝置20是一般的強度偵測裝置時，需要配置過濾非螢光波長的濾鏡42以進行螢光強度範圍的偵測，而濾鏡42所能通過光波的波長範圍介於500nm至600nm（在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇），即對應螢光的波長範圍，其餘波長的光波將會被過濾而無法通過濾鏡42，藉此提供第二螢光強度偵測裝置20進行螢光強度範圍的偵測。

上述的第二時序舉例來說假設是在0.3秒至0.7秒進行第二螢光強度範圍的偵測，在0.8秒至1.2秒不進行第二螢光強度範圍的偵測，在1.3秒至1.7秒進行第二螢光強度範圍的偵測，在1.8秒至2.2秒不進行第二螢光強度範圍的偵測，依此類推，所形成的時序即為第二時序，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

值得注意的是，第二時序進行第二螢光強度範圍偵測的時序時間範圍可以與第一時序進行第一螢光強度範圍偵測的時序時間範圍不相同，但第一時序進行第一螢光強度範圍偵測的時序時間範圍與第二時序進行第二螢光強度範圍偵測的時序時間範圍需要部份重疊，或是第二時序進行第二螢光強度範圍偵測的時序時間範圍與第一時序進行第一螢光強度範圍偵測的時序時間範圍完全相同，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

而在0.3秒至0.7秒進行第二螢光強度範圍的偵測，可以是在0.3秒進行第一次的第二螢光強度範圍偵測，在0.4秒進行第二次的第二螢光強度範圍偵測，在0.5秒進行第三次的第二螢光強度範圍偵測，依此類推，即每0.1秒進行一次第二螢光強度範圍的偵測，或是每0.05秒、0.01秒…等進行一次第二螢光強度範圍的偵測，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇，並且值得注意的是，每N秒進行一次第二螢光強度範圍的偵測需要與進行一次第一螢光強度範圍的偵測的每N秒相同。

呈上述舉例，第一次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第二時序時間即為0.3秒，第二次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第二時序時間即為0.4秒，第三次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.5秒，依此類推；假設每0.05秒進行一次第一螢光強度範圍的偵測，即第一次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第二時序時間即為0.3秒，第二次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第二時序時間即為0.35秒，第三次第二螢光強度範圍的偵測所對應的第一時序時間即為0.4秒，依此類推，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

在第一螢光強度偵測裝置10依據第一時序以依序偵測多個第一螢光強度範圍，以及在第二螢光強度偵測裝置20依據第二時序以依序偵測多個第二螢光強度範圍後，圖像處理裝置30的接收模組31即可自第一螢光強度偵測裝置10接收第一時序以及多個第一螢光強度範圍，並且圖像處理裝置30的接收模組31亦可自第二螢光強度偵測裝置20接收第二時序以及多個第二螢光強度範圍（步驟 104）。

在圖像處理裝置30的接收模組31自第一螢光強度偵測裝置10接收第一時序以及多個第一螢光強度範圍以及自第二螢光強度偵測裝置20接收第二時序以及多個第二螢光強度範圍之後，圖像處理裝置30的時序分析模組32即可進行第一時序以及第二時序的分析，藉以分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍（步驟 105）。

呈上述舉例，第一時序為在0.1秒至0.5秒進行第一螢光強度範圍的偵測，在0.6秒至1.0秒不進行第一螢光強度範圍的偵測，在1.1秒至1.5秒進行第一螢光強度範圍的偵測，在1.6秒至2.0秒不進行第一螢光強度範圍的偵測；第二時序為在0.3秒至0.7秒進行第二螢光強度範圍的偵測，在0.8秒至1.2秒不進行第二螢光強度範圍的偵測，在1.3秒至1.7秒進行第二螢光強度範圍的偵測，在1.8秒至2.2秒不進行第二螢光強度範圍的偵測。

圖像處理裝置30的時序分析模組32即可分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍分別為0.3秒至0.5秒以及1.3秒至1.5秒。

在圖像處理裝置30的時序分析模組32分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍之後，會再透過圖像處理裝置30的圖像合成模組33將相同的時序時間範圍中第一時序以及第二時序相同的時序時間對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為合成圖像（步驟 106）。

呈上述舉例，第一螢光強度範圍的偵測在0.3秒、0.4秒、0.5秒、1.3秒、1.4秒以及1.5秒進行會落於第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍，第二螢光強度範圍的偵測在0.3秒、0.4秒、0.5秒、1.3秒、1.4秒以及1.5秒進行會落於第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍。

圖像處理裝置30的時序分析模組32即可將0.3秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第一合成圖像，將0.4秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第二合成圖像，將0.5秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第三合成圖像，將1.3秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第四合成圖像，將1.4秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第五合成圖像，將1.5秒對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以合成為第六合成圖像，亦即以高螢光強度為圖像合成的基準進行圖像合成，而對於圖像合成的技術請參考現有技術，本發明不再進行贅述，現有圖像合成技術應包含於本發明之內。

而值得注意的是，第一合成圖像至第六合成圖像可以是合成為二維平面的合成圖像，第一合成圖像至第六合成圖像亦可以是合成為三維立體的合成圖像，且對於圖像合成的技術請參考現有技術，本發明不再進行贅述，現有圖像合成技術應包含於本發明之內。

在圖像處理裝置30的圖像合成模組33分別合成為合成圖像50後，最後再由圖像處理裝置30的圖像處理模組34對合成圖像50進行影像處理以計算出螢光目標範圍51並進行螢光目標範圍51的標示（步驟 107），合成圖像50及螢光目標範圍51標示的顯示示意圖請參考「第3圖」所示，「第3圖」繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成的合成圖像及螢光目標範圍標示顯示示意圖。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於本發明透過第一螢光強度偵測裝置依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，第二螢光強度偵測裝置依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，再由圖像處理裝置進行第一時序與第二時序的時序分析以依據螢光強度將第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍合成為合成圖像，即可進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示。

藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在現有螢光檢測受限制的問題，進而達成提供便利且觀察螢光分布分析的技術功效。

雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些許的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧第一螢光強度偵測裝置
20‧‧‧第二螢光強度偵測裝置
30‧‧‧圖像處理裝置
31‧‧‧接收模組
32‧‧‧時序分析模組
33‧‧‧圖像合成模組
34‧‧‧圖像處理模組
41‧‧‧檢測物
42‧‧‧濾鏡
50‧‧‧合成圖像
51‧‧‧螢光目標範圍
步驟101‧‧‧第一螢光強度偵測裝置依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有第一時序時間
步驟102‧‧‧第二螢光強度偵測裝置依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有第二時序時間
步驟103‧‧‧圖像處理裝置分別與第一螢光強度偵測裝置以及第二螢光強度偵測裝置建立連線
步驟104‧‧‧圖像處理裝置自第一螢光強度偵測裝置接收第一時序以及第一螢光強度範圍，且自第二螢光強度偵測裝置接收第二時序以及第二螢光強度範圍
步驟105‧‧‧圖像處理裝置分析第一時序以及第二時序以分析出第一時序以及第二時序相同的時序時間範圍
步驟106‧‧‧圖像處理裝置將相同的時序時間範圍中第一時序以及第二時序相同的時序時間對應的第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為合成圖像
步驟107‧‧‧圖像處理裝置對合成圖像進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示

第1圖繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成系統的系統方塊圖。 第2圖繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成方法的方法流程圖。 第3圖繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成的系統架構示意圖。 第4圖繪示為本發明螢光強度分析與螢光影像合成的合成圖像及螢光目標範圍標示顯示示意圖。

10‧‧‧第一螢光強度偵測裝置

20‧‧‧第二螢光強度偵測裝置

30‧‧‧圖像處理裝置

31‧‧‧接收模組

32‧‧‧時序分析模組

33‧‧‧圖像合成模組

34‧‧‧圖像處理模組

Claims (24)

1. 一種螢光強度分析與螢光影像合成系統，其包含： 一第一螢光強度偵測裝置，用以依據一第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有一第一時序時間； 一第二螢光強度偵測裝置，用以依據一第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有一第二時序時間；及 一圖像處理裝置，所述圖像處理裝置分別與所述第一螢光強度偵測裝置以及所述第二螢光強度偵測裝置建立連線，所述圖像處理裝置更包含： 一接收模組，用以自所述第一螢光強度偵測裝置接收所述第一時序以及所述第一螢光強度範圍，且自所述第二螢光強度偵測裝置接收所述第二時序以及所述第二螢光強度範圍； 一時序分析模組，用以分析所述第一時序以及所述第二時序以分析出所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間範圍； 一圖像合成模組，用以將相同的時序時間範圍中所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為一合成圖像；及 一圖像處理模組，用以對所述合成圖像進行影像處理以計算出一螢光目標範圍並進行所述螢光目標範圍的標示。
2. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述第一螢光強度偵測裝置透過設置濾鏡過濾非螢光波長的光波以依據所述第一時序偵測多個第一螢光強度範圍。
3. 如申請專利範圍第2項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述濾鏡所能通過螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
4. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述第二螢光強度偵測裝置透過設置濾鏡過濾非螢光波長的光波以依據所述第二時序偵測多個第二螢光強度範圍。
5. 如申請專利範圍第4項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述濾鏡所能通過螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
6. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述第一螢光強度偵測裝置是偵測由照射激發光源以激發出檢測物螢光的螢光強度。
7. 如申請專利範圍第6項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述激發光源的波長範圍介於450nm至550nm，且被激發出的螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
8. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述第二螢光強度偵測裝置是偵測由照射激發光源以激發出檢測物螢光的螢光強度。
9. 如申請專利範圍第8項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述激發光源的波長範圍介於450nm至550nm，且檢測物被激發出的螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
10. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述圖像合成模組將所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據所述螢光強度加以分別合成為二維平面的所述合成圖像。
11. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述圖像合成模組將所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據所述螢光強度加以分別合成為三維立體的所述合成圖像。
12. 如申請專利範圍第1項所述的螢光強度分析與螢光影像合成系統，其中所述圖像處理模組所採用的影像處理方式包含旋轉校正、平移校正以及二值化校正的組合。
13. 一種螢光強度分析與螢光影像合成方法，其包含下列步驟： 一第一螢光強度偵測裝置依據一第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，每一個第一螢光強度範圍對應有一第一時序時間； 一第二螢光強度偵測裝置依據一第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，每一個第二螢光強度範圍對應有一第二時序時間； 一圖像處理裝置分別與所述第一螢光強度偵測裝置以及所述第二螢光強度偵測裝置建立連線； 所述圖像處理裝置自所述第一螢光強度偵測裝置接收所述第一時序以及所述第一螢光強度範圍，且自所述第二螢光強度偵測裝置接收所述第二時序以及所述第二螢光強度範圍； 所述圖像處理裝置分析所述第一時序以及所述第二時序以分析出所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間範圍； 所述圖像處理裝置將相同的時序時間範圍中所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據螢光強度加以分別合成為一合成圖像；及 所述圖像處理裝置對所述合成圖像進行影像處理以計算出一螢光目標範圍並進行所述螢光目標範圍的標示。
14. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述第一螢光強度偵測裝置透過設置濾鏡過濾非螢光波長的光波依據所述第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍。
15. 如申請專利範圍第14項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述濾鏡所能通過螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
16. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述第二螢光強度偵測裝置透過設置濾鏡過濾非螢光波長的光波以依據所述第二時序偵測多個第二螢光強度範圍。
17. 如申請專利範圍第16項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述濾鏡所能通過螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
18. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述第一螢光強度偵測裝置是偵測由照射激發光源以激發出檢測物螢光的螢光強度。
19. 如申請專利範圍第18項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述激發光源的波長範圍介於450nm至550nm，且檢測物被激發出的螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
20. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述第二螢光強度偵測裝置是偵測由照射激發光源以激發出檢測物螢光的螢光強度。
21. 如申請專利範圍第20項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述激發光源的波長範圍介於450nm至550nm，且檢測物被激發出的螢光的波長範圍介於500nm至600nm。
22. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述圖像處理裝置將所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據所述螢光強度加以分別合成為二維平面的所述合成圖像。
23. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述圖像處理裝置將所述第一時序以及所述第二時序相同的時序時間對應的所述第一螢光強度範圍以及所述第二螢光強度範圍依據所述螢光強度加以分別合成為三維立體的所述合成圖像。
24. 如申請專利範圍第13項所述的螢光強度分析與螢光影像合成方法，其中所述圖像處理裝置所採用的影像處理方式包含旋轉校正、平移校正以及二值化校正的組合。