TWI474229B - 觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法和裝置 - Google Patents
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Description
本發明涉及觸摸面板技術,特別是涉及一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法和裝置。
目前,通過手指之類觸摸物體的觸摸,直接對電子設備進行操作的技術已經普遍應用於日常工作和生活中。這些電子設備一般採用觸摸面板來感應觸摸動作並產生相應電信號以供後續操作。按照觸摸感應原理的不同,觸摸面板主要分為電阻式、電容式、光學式、電磁式及聲波式等。其中電容式觸摸面板的工作原理為:由使用者以手指或感應筆等可導電的物件觸摸面板表面,導致觸摸面板被觸摸的位置產生電容變化,處理器偵測此電容變化以計算出觸摸位置的坐標,以達到觸摸操作的目的。
圖1是現有技術電容式觸摸面板的結構示意圖。如圖1所示,觸摸面板10包括分布於第一方向的第一電極11、分布於第二方向的第二電極12。其中第一電極11和第二電極12之間相互電絕緣,且互相交叉分布,形成網格狀電極圖形,第一電極11和第二電極12由導綫連接至處理器(圖未示)。當觸摸物體例如手指靠近或接觸觸摸面板10時,會引起觸摸面板10第一電極11和第二電極12之間的電容(互電容)變化,或第一電極11和第二電極12分別對地電容(自電容)的變化,處理器分別掃描第一電極11與第二電極12,比較觸摸前及觸摸後電容變化,確認橫向、縱向坐標,從而確定因觸摸物體觸發形成觸摸點20的位置坐標,如圖1,根據X、Y軸感應值可判斷觸摸點20的位置坐標為(X2,Y3)。
當上述觸摸面板10結合於觸摸裝置,如IPad,在操作過程中,經常發生用戶因持握動作,手掌抓握到觸摸面板10的邊緣區域,而使得在觸摸面板10的邊緣區域發生邊緣持握觸摸點22。該邊緣持握觸摸點22產生的電容變化會影響觸摸面板的正常操作,如圖2所示,處理器根據X、Y軸電容的變化,不僅會判斷出正常觸摸點20的坐標(Xn,Yn),同時也會檢測出由於邊緣持握觸摸點22引起的誤觸摸點(Xn,Yn-1)和(Xn,Yn+1),從而引起觸摸面板10的誤操作。
因此,如何避免邊緣持握觸摸對觸摸面板的正常操作產生影響,使得在有邊緣持握觸摸存在時也能正確判斷出正常觸摸點位置坐標,便成為一個需要解决的問題。
本發明之一目的在於提供一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法及檢測裝置,可即時檢測並動態更新邊緣區域的狀態和數據,從觸摸面板的觸摸信號中剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號,減少邊緣持握觸摸對觸摸面板正常操作產生影響。
一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法,所述觸摸面板包括邊緣區域和操作區域,所述方法包括步驟:判斷一邊緣區域狀態是否改變;當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除一第一邊緣信號;以及當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
本發明實施例還提供一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置,所述觸摸面板包括邊緣區域和操作區域,所述檢測裝置包括:一第一判斷單元,用於判斷一邊緣區域狀態是否改變;一剔除單元,當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除一第一邊緣信號;以及存儲單元,當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
採用上述觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法和裝置,當觸摸面板邊緣區域發生邊緣持握觸摸時,能夠即時檢測並動態更新邊緣區域的狀態和數據,從觸摸面板的觸摸信號中剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號,使得在有邊緣持握觸摸時也能正確判斷出正常觸摸點的位置,避免邊緣持握觸摸對觸摸面板正常操作造成的影響,從而提高觸摸面板操作的準確度。
下面結合具體實施方式及附圖,對本發明作進一步詳細說明。
如圖3所示,觸摸面板100包括複數個第一軸向電極101和第二軸向電極102,第一軸向電極101和第二軸向電極102之間相互交叉且絕緣。觸摸面板100的可供感應操作的區域,亦即設置有感應電極的區域可劃分為邊緣區域A和操作區域B,邊緣區域A包括左邊緣區域、右邊緣區域、上邊緣區域及下邊緣區域其中之一或多個。例如,可設定左邊緣區域由左至右的對應電極為X1、X2和X3的區域,右邊緣區域由左至右的對應電極為Xn-2、Xn-1和Xn的區域,同理上邊緣區域由上至下的對應電極為Y1、Y2和Y3的區域,下邊緣區域由上至下的對應電極為Yn-2、Yn-1和Yn的區域。當然,該等邊緣區域的尺寸並不限於此,可以根據觸摸面板100的實際尺寸調整。
觸摸面板100在不同的使用狀態下,邊緣區域A會出現不同的狀態。於本實施例中,可以定義以下五種狀態,如圖4所示,狀態1:邊緣區域無邊緣持握觸摸狀態(No grip);狀態2:左邊緣區域有邊緣持握觸摸狀態(X-left);狀態3:右邊緣區域有邊緣持握觸摸狀態(X-right);狀態4:上邊緣區域有邊緣持握觸摸狀態(Y-top);以及狀態5:下邊緣區域有邊緣持握觸摸狀態(Y-down)。
有邊緣持握觸摸狀態和無邊緣持握觸摸狀態之間還有可能發生狀態轉移,以左邊緣區域的狀態為例,請一並參考圖5至圖8,圖5為初始狀態,亦即無邊緣持握觸摸狀態,從圖5到圖6為從狀態1(No grip)轉移到狀態2(X-left),即左邊緣區域出現邊緣持握觸摸點22;反之,從圖6到圖5則為從狀態2(X-left)到狀態1(No grip),表示邊緣持握觸摸點22離開觸摸面板;如圖7,從狀態2(X-left)轉移到狀態2’(X-left),表示邊緣持握觸摸點22在左邊緣區域左右移動,如圖8,表示邊緣持握觸摸點22在左邊緣區域上下移動。
前述各狀態以及狀態的轉移可以用狀態機來記錄和監控。需要監控的參數主要包括觸摸點位置信息和對應位置的信號强度,具體可表現為電容感應值。
現以左邊緣區域(X1、X2、X3)和上邊緣區域(Y1、Y2、Y3)為例來說明狀態轉移的情形,右邊緣區域與左邊緣區域狀態轉移類似,下邊緣區域與上邊緣區域狀態轉移類似,因此不再贅述。
1、狀態1轉移到狀態2,初始化時,狀態機位於狀態1,條件1為:左邊緣區域的第一軸向電極的電容感應值之和(CX1
+CX2
+CX3
)大於第二預設值(Th2),且其它所有第一軸向電極的電容感應值之和(CX4
+CX5
+...+CXn
)小於第三預設值(Th3),且被觸碰到的第一軸向電極數量小於或等於該左邊緣區域的電極數量,即被觸碰到的電極數量小於或等於3。當滿足條件1,狀態機記錄當前邊緣區域的狀態為狀態2,如果上一次邊緣區域的狀態為狀態1,則狀態1向狀態2轉移。
2、狀態2轉移到狀態1,條件2:左邊緣區域被觸碰到的第一軸向電極數量等於0。當滿足條件2,則可判斷當前邊緣區域的狀態為狀態1。如果上一次邊緣區域的狀態為狀態2,則狀態2轉移到了狀態1。
3、狀態2轉移到狀態2’,條件3:滿足條件1,且左邊緣區域任意一第一軸向電極(X1或X2或X3)的電容值的變化量(△CX1
或△CX2
或△CX3
)大於第四預設值(Th4),可理解為左邊緣區域狀態仍然為有邊緣持握觸摸,如圖7,邊緣持握觸摸點22從位置C移動到了位置D。或者,條件3’:滿足條件1,且任意一第二軸向電極的電容感應值之和(CY1
或CY2
或CY3
)的變化量大於第五預設值(Th5),參考圖8,邊緣持握觸摸點22從位置C移動到了位置E。此時,狀態機可記錄當前邊緣區域狀態為狀態2’,如果上一次邊緣區域的狀態為狀態2,則狀態2轉移到了狀態2’。
4、狀態1轉移到狀態4,條件4為:上邊緣區域的第二軸向電極的電容感應值之和(CY1
+CY2
+CY3
)大於第二預設值(Th2),且其它所有第二軸向電極上的電容感應值之和(CY4
+CY5
+...+CYn
)小於第三預設值(Th3),且被觸碰到的第二軸向電極數量小於或等於預設的該上邊緣區域的電極數量,即被觸碰到的電極數量小於或等於3。當滿足條件4,則狀態機可記錄當前邊緣區域的狀態為狀態4。如果上一次邊緣區域的狀態為狀態1,則狀態1轉移到了狀態4。
5、狀態4轉移到狀態1,條件5為:上邊緣區域被觸碰到的第二軸向電極數量等於0。當滿足條件2,則狀態機可記錄當前邊緣區域狀態為狀態1,如果上一次邊緣狀態為狀態4,則狀態4轉移到了狀態1。
6、狀態4轉移到狀態4’,條件6為:滿足條件4,且上邊緣區域任意一第二軸向電極(Y1或Y2或Y3)的電容值的變化量(△CY1
或△CY2
或△CY3
)大於第四預設值(Th4),上邊緣區域仍然為有邊緣持握觸摸,邊緣持握觸摸位置在上邊緣區域上下移動。或者,條件6’:滿足條件4,且任意一第一軸向電極的電容感應值(CX1
或CX2
或CX3
)的變化量大於第五預設值(Th5),則邊緣持握觸摸位置在上邊緣區域左右移動。此時,狀態機可記錄當前邊緣區域的狀態為狀態4’,如果上一次邊緣區域的狀態為狀態4,則狀態4轉移到了狀態4’。
當邊緣區域發生上述邊緣持握觸摸時,可以採用本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法來剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號。該檢測方法具體包括步驟a)判斷一邊緣區域狀態是否改變;b)當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除一第一邊緣信號;以及c)當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。該第一邊緣信號即為邊緣持握觸摸信號。下面將結合一具體實施例來說明該檢測方法的詳細步驟。
圖9繪示為本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法的一實施例的流程圖,如圖9所示,該檢測方法包括:
步驟200,觸摸面板在開始運作時進入初始化步驟,記錄X、Y方向電容感應值,並將該電容感應值記錄為基準信號。例如,初始化時記錄如圖5所示的X、Y方向電容感應值。
步驟202,對觸摸面板邊緣區域和操作區域進行掃描,例如依次分別掃描第一軸向電極101(X1、X2、...、Xn)和第二軸向電極102(Y1、Y2、...、Yn),如果有手指觸碰觸摸面板,則相應觸碰位置對應的電極上的電容將產生變化。
步驟204,獲取觸摸面板上的觸摸信號,該觸摸信號包括一第一邊緣信號,亦即邊緣持握觸摸信號。具體於本實施例中,對掃描輸出的觸摸信號進行採樣、模數轉換等計算,得到X軸向和Y軸向的電容感應值信號波形。例如,左邊緣區域發生邊緣持握觸摸點22時,得到如圖6所示的信號波形圖。
步驟206,判斷邊緣區域狀態是否改變,具體為將步驟204中獲取的第一邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號比較來判斷。例如,將該第一邊緣信號與步驟200中記錄的基準值比較,判斷邊緣區域狀態是否改變。同時,結合上述判斷條件1至6以確定當前邊緣區域的狀態。
步驟212,當步驟206中判斷邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號,並記錄當前邊緣區域的狀態。
再循環執行步驟202、204、206及212,直至步驟206中的判斷邊緣區域狀態沒有改變,亦即邊緣區域狀態穩定後,則執行步驟214,從步驟204中得到的觸摸信號中剔除第一邊緣信號,亦即邊緣持握觸摸信號,得到正常觸摸信號。如圖10和圖11所示,例如左邊緣區域被持握時,當進行正常操作,出現正常觸摸點20時,則通過步驟202和步驟204會計算得到如圖10所示的信號波形,剔除該第一邊緣信號,即邊緣持握觸摸信號,得到如圖11中所示操作區域的正常觸摸信號,從而可進一步解析出正常觸摸點20的位置坐標。
在上述觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法的流程中,為避免在步驟206中將雜訊等干擾信號誤判為第一邊緣信號,在步驟212更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號之前,還可以包括:
步驟208,再次掃描同一邊緣區域以獲取一第二邊緣信號,例如,當步驟206中判斷出觸摸面板左邊緣區域有邊緣持握觸摸時,則該步驟208再次對左邊緣區域的電極(X1、X2及X3)進行掃描,獲取一第二邊緣信號。
步驟210,判斷該第二邊緣信號强度是否大於一第一預設值(Th1),若該第二邊緣信號强度大於該第一預設值(Th1),表明該邊緣區域中依然存在邊緣持握觸摸,則執行步驟212,記錄該邊緣區域狀態以及更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號,若該第二邊緣信號小於或等於所述第一預設值(Th1),表明步驟206中的第一邊緣信號為雜訊信號,則執行步驟214,剔除該第一邊緣信號。需要說明的是,當第一邊緣信號為0,也即無邊緣持握觸摸時,則步驟214中剔除的值也為0。當然步驟208和步驟210可以循環執行多次,該循環執行的次數可根據經驗值設定。
舉例來講,依據上述流程,在第一實施例中,順序執行步驟200->202->204->206,假如在步驟206中判斷結果是狀態1轉移到狀態2,繼續執行208->210->212,此時,步驟212中記錄的邊緣區域的狀態為狀態2,以及狀態2對應的邊緣信號。再循環執行步驟202->204->206,直至邊緣區域狀態不再改變,則剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號。
在第二實施例中,依據上述流程,順序執行步驟200->202->204->206,假如在步驟206中判斷判斷結果是狀態為狀態2轉移到狀態1,繼續執行步驟208->210,此時由於在步驟208中持續掃描獲得無邊緣持握觸摸的第二邊緣信號,因此在步驟210中判斷得到第二邊緣信號小於第一預設值(Th1),而直接進入步驟214至結束。
在第三實施例中,依據上述流程,順序執行步驟200->202->204->206,假如步驟206中判斷結果是狀態為狀態1轉移到狀態2,繼續執行208->210,如果在步驟210中判斷出狀態2又轉移到了狀態1,即在步驟208中持續掃描獲得無邊緣持握觸摸的第二邊緣信號,因此在步驟210中判斷得到第二邊緣信號小於第一預設值(Th1),則步驟210中判斷結果為否,執行步驟214,所以此種情況,整個流程為200->202->204->206->208->210->214至結束。
在第四實施例中,依據上述流程,順序執行步驟200->202->204->206,假如步驟206中判斷的結果是狀態1轉移到狀態2,繼續執行208->210,如果在步驟210中狀態2又轉移到了狀態2’,即在步驟208中持續掃描獲得有邊緣持握觸摸的第二邊緣信號,因此在步驟210中判斷得到第二邊緣信號大於第一預設值(Th1),所以步驟210中判斷結果為是,接著執行步驟212,即記錄該邊緣區域狀態2並且更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。再次循環執行步驟202->204->206,步驟204中得到狀態2’對應的邊緣信號,步驟206中將狀態2’對應的邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號即狀態2對應的邊緣信號比較,該邊緣區域狀態發生變化,執行步驟208->210->212,步驟212中記錄的邊緣區域的狀態為狀態2’,更新狀態2’對應的邊緣信號為新的基準信號,再次循環執行步驟202->204->206,直至206中的判斷邊緣區域狀態不再改變,則剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號。
在第五實施例中,依據上述流程,順序執行步驟200->202->204->206,假如步驟206中判斷的結果是狀態2轉移到狀態1,繼續執行208->210,如果在步驟210中狀態1又轉移到了狀態2,即在步驟208中持續掃描獲得有邊緣持握觸摸的第二邊緣信號,因此在步驟210中判斷得到第二邊緣信號大於第一預設值(Th1),所以步驟210中判斷結果為是,也即第二邊緣信號强度大於第一預設值(Th1),執行步驟212,記錄該邊緣區域為狀態1,並且更新該狀態1對應的第一邊緣信號為下一次的基準信號。再次循環執行步驟202->204->206,由於步驟204中得到狀態2對應的邊緣信號,步驟206中將狀態2對應的邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號即狀態1對應的邊緣信號比較,該邊緣區域狀態發生變化,執行步驟208->210->212,步驟212中記錄的邊緣區域的狀態為狀態2,更新狀態2對應的邊緣信號為新的基準信號,再次循環執行步驟202->204->206,直至206中的判斷邊緣區域狀態不再改變,則剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號。
為了適應不同的手指或觸摸物體的尺寸,本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法,還包括根據記錄的邊緣區域的邊緣信號動態調整觸摸面板邊緣區域的大小。例如,當邊緣持握觸摸發生在電極X1、X2位置,則可調整左邊緣區域為電極X1、X2對應的觸摸面板的位置。
本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法,可以是基於自電容檢測原理或其他檢測原理所進行的掃描檢測,例如上述觸摸信號、第一邊緣信號、第二邊緣信號及基準信號均為由觸摸產生的自電容感應值。
上述觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法可以通過本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置來實施。如圖12所示,該檢測裝置110與圖3之觸摸面板100電性連接(圖未示),檢測裝置110主要包括第一判斷單元113、剔除單元114和存儲單元115。第一判斷單元113,用於判斷一邊緣區域狀態是否改變,剔除單元114,當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除該第一邊緣信號;存儲單元115,當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
於一較佳實施例中,上述檢測裝置110還包括掃描單元111、獲取單元112及第二判斷單元116。掃描單元111用於掃描圖3所示觸摸面板100上的第一軸向電極101和第二軸向電極102,將掃描得到的觸摸信號輸出至獲取單元112,所述觸摸信號包括第一邊緣信號,獲取單元112對所述觸摸信號進行採樣、模數轉換等計算,得到X軸向和Y軸向的電容感應信號波形,第一判斷單元113將所述獲取單元112中得到的第一邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號比較,判斷邊緣區域狀態是否改變,第一判斷單元113具體的判斷條件和判斷方法與前述觸摸面板邊緣持握的檢測方法實質相同,在此不再贅述。當第一判斷單元113判斷出該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除單元114剔除一第一邊緣信號,得到正常觸摸信號。當第一判斷單元113判斷出該邊緣區域狀態有改變,存儲單元115記錄該邊緣區域狀態以及更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
為了避免第一判斷單元113將雜訊等干擾信號誤判為第一邊緣信號,當第一判斷單元113的判斷結果為是時,掃描單元111還用於掃描同一邊緣區域以獲取一第二邊緣信號,該檢測裝置110還包括第二判斷單元116,用於判斷該第二邊緣信號强度是否大於一第一預設值,若該第二邊緣信號强度大於所述第一預設值,則所述存儲單元115記錄該邊緣區域狀態以及更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號,若該第二邊緣信號小於或等於所述第一預設值,則所述剔除單元114剔除該第一邊緣信號。
為了適應不同的手指或觸摸物體的尺寸,本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置110還包括調整單元117,根據存儲單元115中記錄的第一邊緣信號,調整觸摸面板100的邊緣區域大小。
本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置110可以是基於自電容原理或其他檢測原理所進行的掃描檢測,例如上述觸摸信號、第一邊緣信號、第二邊緣信號及基準信號均為由觸摸產生的自電容感應值。
上述觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法和裝置,當觸摸面板邊緣區域發生邊緣持握觸摸時,能夠即時檢測並動態更新邊緣區域的狀態和數據,從觸摸面板的觸摸信號中剔除邊緣信號,得到正常觸摸信號,使得在有邊緣持握觸摸時也能正確判斷出正常觸摸點的位置,避免邊緣持握觸摸對觸摸面板正常操作造成的影響,從而提高觸摸面板操作的準確度。
本發明以實施例說明如上,然其並非用以限定本發明所主張之專利權利範圍。其專利保護範圍當視後附之申請專利範圍及其等同領域而定。凡本領域具有通常知識者,在不脫離本專利精神或範圍內,所作之更動或潤飾,均屬於本發明所揭示精神下所完成之等效改變或設計,且應包含在下述之申請專利範圍內。
11...第一電極
12...第二電極
10、100...觸摸面板
20...觸摸點
22...邊緣持握觸摸點
101...第一軸向電極
102...第二軸向電極
A...邊緣區域
B...操作區域
C、D...位置
X1~Xn...第一軸向電極
Y1~Yn...第二軸向電極
200~214...步驟
110...檢測裝置
111...掃描單元
112...獲取單元
113...第一判斷單元
114...剔除單元
115...存儲單元
116...第二判斷單元
117...調整單元
第1圖繪示現有技術電容式觸摸面板結構示意圖;
第2圖繪示圖1所示的觸摸面板上有邊緣持握觸摸的示意圖。
第3圖繪示本發明實施例提供的觸摸面板的結構示意圖。
第4圖繪示本發明實施例提供的觸摸面板邊緣區域狀態示意圖。
第5圖至第8圖繪示本發明實施例提供的邊緣區域狀態轉移示意圖。
第9圖繪示本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法的一實施例流程圖;
第10圖繪示有邊緣持握觸摸時對觸摸板進行操作的示意圖。
第11圖繪示剔除邊緣信號後得到正常觸摸信號的示意圖。
第12圖繪示本發明實施例提供的觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置的結構示意圖。
200~214...步驟
Claims (23)
- 一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測方法,該觸摸面板包括邊緣區域和操作區域,其中,該檢測方法包括以下步驟:a)判斷一邊緣區域狀態是否改變;b)當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除一第一邊緣信號;以及c)當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法,其中,步驟a)判斷邊緣區域狀態是否改變是依據該第一邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號比較所進行的判斷。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法,其中,在更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號之前,更包括步驟:d)掃描同一邊緣區域以獲取一第二邊緣信號;e)判斷該第二邊緣信號强度是否大於一第一預設值;f)若該第二邊緣信號强度大於該第一預設值,則記錄該邊緣區域狀態以及更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號;以及g)若該第二邊緣信號小於或等於該第一預設值,則剔除該第一邊緣信號。
- 如申請專利範圍第2項所述之檢測方法,其中,該觸摸面板包括複數個第一軸向電極和第二軸向電極。
- 如申請專利範圍第4項所述之檢測方法,其中,步驟a)還包括,判斷是否該邊緣區域第一軸向電極的信號强度之和大於一第二預設值,其它區域第一軸向電極的信號强度之和小於一第三預設值,且被觸碰到的第一軸向電極數量小於或等於該邊緣區域的電極數量。
- 如申請專利範圍第5項所述之檢測方法,其中,步驟a)進一步包括,判斷是否該邊緣區域任意一第一軸向電極的信號强度的變化量大於一第四預設值,或者是否任意一第二軸向電極的信號强度的變化量大於一第五預設值。
- 如申請專利範圍第4項所述之檢測方法,其中,步驟a)還包括,判斷該邊緣區域被觸碰到的第一軸向電極數量和第二軸向電極數量是否為0。
- 如申請專利範圍第4項所述之檢測方法,其中,步驟a)還包括,判斷是否邊緣區域第二軸向電極的信號强度之和大於該第二預設值,且其它區域第二軸向電極的信號强度之和小於該第三預設值,且被觸碰到的第二軸向電極數量小於或等於該邊緣區域的電極數量。
- 如申請專利範圍第8項所述之檢測方法,其中,步驟a)進一步包括,判斷是否該邊緣區域任意一第二軸向電極的信號强度的變化量大於一第四預設值,或者是否任意一第一軸向電極的信號强度的變化量大於一第五預設值。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法,其中,在步驟a)之前還包括,掃描該邊緣區域和操作區域,獲取觸摸面板上的觸摸信號,該觸摸信號包括該第一邊緣信號。
- 如申請專利範圍第10項所述之檢測方法,其中,該觸摸信號及該第一邊緣信號均為由觸摸產生的自電容變化。
- 一種觸摸面板邊緣持握觸摸的檢測裝置,該觸摸面板包括邊緣區域和操作區域,其中,該檢測裝置包括:一第一判斷單元,用於判斷一邊緣區域狀態是否改變;一剔除單元,當該邊緣區域狀態沒有改變,則剔除一第一邊緣信號;以及一存儲單元,當該邊緣區域狀態改變,則更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元判斷邊緣區域狀態是否改變是依據該第一邊緣信號與前一次邊緣區域狀態的邊緣信號比較所進行的判斷。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測裝置,其中,該檢測裝置還包括:一掃描單元,當該邊緣區域狀態改變,掃描同一邊緣區域以獲取一第二邊緣信號;以及一第二判斷單元,用於判斷該第二邊緣信號强度是否大於一第一預設值,若該第二邊緣信號强度大於該第一預設值,則該存儲單元記錄該邊緣區域狀態以及更新該第一邊緣信號為下一次的基準信號,若該第二邊緣信號小於或等於該第一預設值,則該剔除單元剔除該第一邊緣信號。
- 如申請專利範圍第13項所述之檢測裝置,其中,該觸摸面板包括複數個第一軸向電極和複數個第二軸向電極。
- 如申請專利範圍第15項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元還包括,判斷是否該邊緣區域第一軸向電極的信號强度之和大於一第二預設值,且其它區域第一軸向電極的信號强度之和小於一第三預設值,且被觸碰到的第一軸向電極數量小於或等於該邊緣區域的電極數量。
- 如申請專利範圍第16項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元進一步包括,判斷是否該邊緣區域任意一第一軸向電極的信號强度的變化量大於一第四預設值,或者是否任意一第二軸向電極的信號强度的變化量大於一第五預設值。
- 如申請專利範圍第15項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元還包括,判斷該邊緣區域被觸碰到的第一軸向電極數量和第二軸向電極數量是否為0。
- 如申請專利範圍第15項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元還包括,判斷是否該邊緣區域第二軸向電極的信號强度之和大於一第二預設值,且其它區域第二軸向電極的信號强度之和小於一第三預設值,且被觸碰到的第二軸向電極數量小於或等於該邊緣區域的電極數量。
- 如申請專利範圍第19項所述之檢測裝置,其中,該第一判斷單元進一步包括,判斷是否該邊緣區域任意一第二軸向電極的信號强度的變化量大於一第四預設值,或者是否任意一第一軸向電極的信號强度的變化量大於一第五預設值。
- 如申請專利範圍第14項所述之檢測裝置,其中,該掃描單元還用於掃描該邊緣區域和操作區域以獲取觸摸面板上的觸摸信號,該觸摸信號包括該第一邊緣信號。
- 如申請專利範圍第21項所述之檢測裝置,其中,該觸摸信號及該第一邊緣信號均為由觸摸產生的自電容變化。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測裝置,其中,該檢測裝置還包括一調整單元,用於根據該第一邊緣信號調整該邊緣區域的大小。
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