TWI468664B - 光纖檢測裝置 - Google Patents

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TWI468664B
TWI468664B TW102105085A TW102105085A TWI468664B TW I468664 B TWI468664 B TW I468664B TW 102105085 A TW102105085 A TW 102105085A TW 102105085 A TW102105085 A TW 102105085A TW I468664 B TWI468664 B TW I468664B
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Chia Chin Chiang
jia ying Huang
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Univ Nat Kaohsiung Applied Sci
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Description

光纖檢測裝置
本發明係關於一種光纖檢測裝置,尤指一種具有微流道所形成之光柵,用以進行流體檢測之光纖檢測裝置。
近年來細胞操作技術不斷的進步,尤其在快速檢測及方便操作之需求下,如何提高生物檢測效率等已被廣為研究。在醫學及生物細胞研究上,大多利用習用液體檢測裝置來檢測及分離細胞粒子,習用液體檢測裝置係屬大型儀器,已是一項成熟穩定的技術,例如流式細胞儀是現代生物學研究不可或缺的利器之一,其除了可鑑定細胞的標記外,還可分析細胞的分裂波長、DNA含量、細胞凋零死亡、細胞計數、細胞分離等。
習用液體檢測裝置之種類繁多,除了在醫學及生物細胞屬於必備儀器外,舉凡液相色譜儀或質譜儀等在各領域皆為不可或缺的重要儀器,透過就一待測液體之各種物理或化學性質進行辨識,即可檢測該待測液體之種類、濃度、所含粒子(例如:特定分子或細胞)之大小及數量等資訊。然而,習用液體檢測裝置雖然具備功能齊全且檢測精準等優點,但機台體積龐大、造價昂貴等問題,造成使用上諸多不便。此外,習用液體檢測裝置為了提升檢測準確度,通常缺乏檢測功能整合與多工檢測能力,一旦需要對一待測流體進行多種測試,或者需要對大量檢體執行相同測試,均需要動用多台量測機台,於執行上存在相當的困難性,容易因此降低檢測的效率。
綜上所述,習用液體檢測裝置具有「使用便利性差」與「檢 測效率不佳」等諸多缺點。有鑑於此,亟需提供一種進一步改良之液體檢測裝置,以縮小液體或細胞檢測裝置的體積、整合檢測功能並達成多工檢測之效果。
本發明之目的係提供一種光纖檢測裝置,能夠利用一微流道所形成之光柵,配合一光纖以對一待測流體進行檢測,即時量測該待測流體之種類、濃度與所含粒子大小及數量等資訊,加上該光纖檢測裝置之體積微小且能夠整合多種檢測功能,具有提升流體檢測便利性之功效。
本發明再一目的係提供一種光纖檢測裝置,該光纖檢測裝置具有二組以上之光柵,能夠分別檢測不同之待測流體或者對待測流體進行不同之檢測,達成多工檢測效果,具有增進液體檢測效率之功效。
為達到前述目的,本發明所運用之技術內容包含有:一種光纖檢測裝置,係包含:一基座,包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一晶片,結合於上述基座,且該晶片包含一第一表面、一微流道及二開口,該二開口分別連通該微流道及該第一表面且分別對位於上述二貫孔;及一光纖,貫穿上述微流道,並與該微流道交錯形成複數個交越位置。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述微流道包含複數個彎折部及複數個延伸部,該複數個延伸部係分別連接二相鄰之該彎折部。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述彎折部為二個連續的彎角。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二個連續的彎角均為90度。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述晶片另包含相對上述第一表面之一第二表面,上述微流道貫穿上述第二表面,且該光纖檢測裝置 另包含一框座,結合於該第二表面並環設於該微流道之外周。
本發明之光纖檢測裝置,其中,任二相鄰之上述延伸部間具有一間距,該間距包含至少一間距數值。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述複數個延伸部係相互平行。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二開口形成於上述微流道之兩端。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二開口之口徑分別對應上述基座之二貫孔之孔徑。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述晶片之厚度大於上述光纖之直徑。
一種光纖檢測裝置,包含:一第一座體,包含一基座,該基座包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一第二座體,包含一基座,該基座包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一晶片,結合於上述第一座體與上述第二座體之間,包含一第一表面、一第二表面、二微流道、二第一開口及二第二開口,其中,該第一表面抵接上述第一座體,該第二表面抵接上述第二座體,該二第一開口分別連通其中一微流道及該第一表面,且該二第一開口分別對位於該第一座體之基座之二貫孔,該二第二開口分別連通另一微流道及該第二表面,且該二第二開口分別對位於該第二座體之基座之二貫孔;及一光纖,貫穿上述二微流道,並分別與該二該微流道交錯形成複數個交越位置。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述各微流道另包含複數個彎折部及複數個延伸部,該複數個延伸部係分別連接二相鄰之該彎折部。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述彎折部為二個連續的彎角。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二個連續的彎角均為90度。
本發明之光纖檢測裝置,其中,連通上述二第一開口之微流道係貫穿上述第二表面,且上述第二座體另包含一框座,結合於該第二表面並環設於該微流道之外周。
本發明之光纖檢測裝置,其中,連通上述二第二開口之微流道係貫穿上述第一表面,且上述第一座體另包含一框座,結合於該第一表面並環設於該微流道之外周。
本發明之光纖檢測裝置,其中,於上述各微流道中,任二相鄰之上述延伸部間具有一間距,該間距包含至少一間距數值。
本發明之光纖檢測裝置,其中,於上述各微流道中,上述複數個延伸部係相互平行。
本發明之光纖檢測裝置,其中一上述微流道之延伸部所具有之間距與另一上述微流道之延伸部所具有之間距,具有相同之上述至少一間距數值。
本發明之光纖檢測裝置,其中一上述微流道之延伸部所具有之間距與另一上述微流道之延伸部所具有之間距,具有相異之上述至少一間距數值。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二第一開口形成於該二第一開口所連通之微流道之兩端,上述二第二開口形成於該二第二開口所連通之微流道之兩端。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述二第一開口之口徑分別對應上述第一座體之基座之二貫孔之孔徑,上述二第二開口之口徑分別對應上述第二座體之基座之二貫孔之孔徑。
本發明之光纖檢測裝置,其中,上述晶片之厚度大於上述光 纖之直徑。
據由前述結構,本發明之光纖檢測裝置係可作為一流體檢測裝置,且具有體積微小與整合多種檢測功能等優點,達成提升流體檢測便利性之功效。
1‧‧‧基座
11‧‧‧貫孔
12‧‧‧貫孔
1’‧‧‧第一座體
11’‧‧‧基座
111’‧‧‧貫孔
112’‧‧‧貫孔
12’‧‧‧框座
2‧‧‧晶片
2’‧‧‧晶片
21‧‧‧第一表面
22‧‧‧第二表面
23‧‧‧微流道
231‧‧‧彎折部
232‧‧‧延伸部
24‧‧‧開口
25‧‧‧開口
26‧‧‧微流道
261‧‧‧彎折部
262‧‧‧延伸部
27‧‧‧開口
28‧‧‧開口
3‧‧‧框座
3’‧‧‧第二座體
31’‧‧‧基座
311’‧‧‧貫孔
312’‧‧‧貫孔
32’‧‧‧框座
F‧‧‧光纖
L‧‧‧待測流體
w‧‧‧微流道之寬度
w’‧‧‧微流道之寬度
h‧‧‧晶片之厚度
R‧‧‧光纖之直徑
λ‧‧‧反射波長
λ’‧‧‧反射波長
d‧‧‧間距
d1‧‧‧第一間距數值
d2‧‧‧第二間距數值
d’‧‧‧間距
t‧‧‧資料點
A‧‧‧折線
B‧‧‧折線
第1圖係本發明光纖檢測裝置第一實施例之立體分解圖。
第2圖係本發明光纖檢測裝置第一實施例之俯視圖。
第3圖係本發明光纖檢測裝置第一實施例沿第2圖3-3剖線之剖面圖。
第4圖係本發明光纖檢測裝置第一實施例之單一時間檢測結果。
第5圖係本發明光纖檢測裝置第一實施例之實際測試之長時間檢測結果。
第6圖係本發明光纖檢測裝置第二實施例之立體分解圖。
第7圖係本發明光纖檢測裝置第二實施例其中一實施態樣之俯視圖。
第8圖係本發明光纖檢測裝置第二實施例另一實施態樣之俯視圖。
為讓本發明之上述及其他目的、特徵及優點能更明顯易懂,下文特舉本發明之較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:請參照第1圖,係本發明光纖檢測裝置第一實施例之立體分解圖,係包含一基座1、一晶片2及一框座3。該晶片2係設置於該基座1及該框座3之間。其中,該基座1、該晶片2與該框座3之材質需配合本發明光纖檢測裝置所欲檢測之一待測流體L選用,例如若所欲檢測之該流體L為酸性液體,則該基座1、該晶片2與該框座3均須以耐酸性之材料 製成,換言之,該基座1、該晶片2與該框座3較佳採用耐酸鹼、耐高低溫、抗腐蝕且不易氧化之材料製作,例如:塑性材質、玻璃或金屬等。
該基座1包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔11、12。該晶片2為一生醫檢測晶片,包含一第一表面21、一第二表面22及一微流道23。該微流道23較佳為一穿槽結構,貫穿該第一表面21及該第二表面22,且形成連續彎折狀之通道,然而,該微流道23亦可為一溝槽結構,僅開設於該第一表面21或該第二表面22,本發明不以此為限。該微流道23包含複數個彎折部231及複數個延伸部232。請一併參照第2及3圖所示,分別為本發明光纖檢測裝置第一實施例之俯視圖,以及沿第2圖3-3剖線之剖面圖。該彎折部231較佳為連續二個彎角,使該微流道23能夠轉向延伸,且該二個彎角之角度較佳均為90度,俾使該微流道23能夠形成具有複數個180度轉折之連續彎折狀通道。該延伸部232分別連接二相鄰之該彎折部231,在本實施例當中,該複數個延伸部232係相互平行,惟本發明不以此為限。該二開口24、25需連通該第一表面21,因此可為貫穿該第一表面21及該第二表面22之貫孔,或為開設於該第一表面21之盲孔,該二開口24、25另連通該微流道23,且較佳形成於該微流道23之二端,此外,該二開口24、25之口徑較佳分別對應該基座1之二貫孔11、12之孔徑。其中,該晶片2固定於該基座1上,由該晶片2之第一表面21抵接該基座1形成有該二貫孔1之一表面,且該二開口24、25分別對位於該二貫孔11、12。藉此,該微流道23係分別連通該基座1之二貫孔11、12。該晶片2另設置一光纖F,該光纖F係貫穿該微流道23之複數個延伸部232,於該光纖F與該複數個延伸部232交錯之部位形成複數個交越位置,以固定於該晶片2當中。
請參照第2及3圖所示,該微流道23之寬度w需配合本發明光纖檢測裝置所欲檢測之該待測流體L設計,使該待測流體L能夠於該 微流道23中流動,因此該待測流體L之黏滯係數將限制該微流道23之寬度w的最小值,換言之,該寬度w需至少保證該待測流體L能夠於該微流道23中流動。再者,由於該光纖F係固設於該晶片2當中,因此該晶片2之厚度h必須大於該光纖之直徑R,使該晶片2能夠完整包覆該光纖F。此外,任二相鄰之該延伸部232間均具有一間距d,在本實施例當中該間距d包含一第一間距數值d1及一第二間距數值d2,該第一間距數值d1不等於該第二間距數值d2,且該第一間距數值d1與該第二間距數值d2係交錯形成,亦即若一延伸部232與一相鄰之延伸部232間具有一第一間距數值d1,則該延伸部232與另一相鄰之延伸部232間就具有一第二間距數值d2。藉由上述結構,由於該光纖F係貫穿該微流道23,與該複數個延伸部232交錯形成複數個交越位置,該複數個延伸部232之間的間距d將使該微流道23等效形成一光柵結構,具有一反射波長λ,且與該光纖F共同形成一光纖光柵結構供本發明光纖檢測裝置作檢測之用。
更詳言之,當一具有連續波長之光訊號自該光纖F朝該微流道23射入,符合該微流道23之反射波長λ的光將被反射,其餘波長不等同該反射波長λ的光將通過該微流道23。而該複數個延伸部232之間的間距d與該微流道23之寬度w均影響該反射波長λ的數值,此外,在本實施例當中該間距d包含一第一間距數值d1及一第二間距數值d2,因此該第一間距數值d1與該第二間距數值d2之相對大小亦影響該反射波長λ的數值。換言之,若上述影響該反射波長λ的數值之因素為已知,且該微流道23中尚未充填該待測液體L時,即可推估該微流道23之反射波長λ。
該框座3為一中空框體,設置於該晶片2之第二表面22,且較佳環設於該微流道23之外周,用以避免該待測液體L流通於該微流道23中時,可能溢出該微流道23之情形。惟,該框座3係可選擇性設置,若無該待測液體L可能溢出之疑慮,則無需設置該框座3。
請續參照第1至3圖所示,本發明光纖檢測裝置第一實施例實際使用時,係將該晶片2之第二表面22水平朝上放置,並且將該基座1之二貫孔11、12分別連接一習用輸液裝置之注入口及排出口,利用該習用輸液裝置(例如:泵)將一待測液體L自該貫孔11注入,該待測液體L將依序由該貫孔11及該晶片2之開口24該進入之微流道23,並沿著該微流道23流通,最後依序由該開口25及該貫孔12排出。端視所欲進行之量測為單一時間之測量或長時間之觀測,可控制該習用輸液裝置以短時間或持續性地將該待測液體L輸入該微流道23。待該微流道23中充滿該待測液體L後,使用一光源產生一具有連續波長之光訊號,自該光纖F朝該微流道23射入,並以一習用光譜分析儀觀察由穿過該微流道23之光訊號(或者由該微流道23反射之光訊號),即可檢測該待測液體L之種類、濃度、所含粒子(例如:特定分子或細胞)之大小及數量等資訊。
詳言之,本發明光纖檢測裝置第一實施例製作完成後,在該微流道23中尚未充填該待測液體L前,該微流道23所等效形成之一光柵結構,具有一固定之反射波長λ(不考慮該晶片2之製程公差)。然而,待該微流道23中充滿該待測液體L後,該反射波長λ將受影響而產生變化,影響該反射波長λ之主要因素如下:
1.由於該待測液體L將包覆該光纖F,因此隨著該待測液體L的種類或濃度不同,其反射率、折射率或黏滯係數等性質的差別,會連帶對該微流道23之反射波長λ造成不等的影響。
2.隨著該待測液體L所含粒子之種類及密度的不同,其大小、電性與數量之差異將使得該粒子貼附於該光纖F表面的情形有所不同,進而影響該微流道23之反射波長λ。
3.若該待測液體L流通於該微流道23期間,會隨時間發生化學反應(例如:氧化還原反應或鍵結反應),隨著反應的進行使得該待測液體L之性質 有所改變時,亦將影響該微流道23之反射波長λ。據此,透過分析穿過該微流道23之光訊號,即可辨識該微流道23之反射波長λ受該待測流體L影響所產生的變化,進而判定該待測液體L之種類、濃度、所含粒子之大小及數量。
請參照第4圖所示,係本發明光纖檢測裝置第一實施例之實際測試範例,若已知所製作之一微流道23之反射波長λ為660μm,將一待測液體L注入該微流道23後,測量穿過該微流道23之一光訊號之波長,可以看出該光訊號在一資料點t處,其成分波長為1566μm,且強度嚴重衰減至約-20.7dB,因此得知該待測液體L使該微流道23之反射波長λ飄移至約1566μm。藉由將上述結果儲存於一習用資料庫當中,往後若於該微流道23中通入一未知液體並測得該微流道23之反射波長為1566μm時,經由比對該習用資料庫之資料即可判定該未知液體即為該待測液體L。
再者,已知該待測液體L會發生一鍵結反應,改變該待測液體L中所含之分子種類及密度,然而該鍵結反應之反應時間未知。藉由持續性地將該待測液體L注入該微流道23,以對該待測液體L進行長時間的檢測。請參照第5圖所示,其中,折線A係為穿過該微流道23之該光訊號中,波長為1566μm之成分的強度,可以看出時間在0~24小時期間內,該光訊號中波長為1566μm之成分急遽升高,亦即該微流道23之反射波長λ正在快速偏離1566μm,因此判定可判定0~24小時為該鍵結反應發生最劇烈的時間;折線B係為分析穿過該微流道23之該光訊號中,強度嚴重衰減之成分,亦即該微流道23之反射波長λ,可看出該微流道23之反射波長λ隨著該鍵結反應的進行,由一開始的1566μm一路下滑。據此,藉由預先檢測已完成該鍵結反應之該待測液體L,紀錄該微流道23之反射波長λ於一資料庫當中,與該折線B之數值進行比對,即可測定該鍵結反應之反應時間。舉例而言,若已知完成該鍵結反應之該待測液體L,會使 該微流道23之反射波長λ飄移至1547μm,則該鍵結反應之反應時間約為48小時。
請參照第6圖所示,係本發明光纖檢測裝置第二實施例之立體分解圖,係包含一第一座體1’、一晶片2’及一第二座體3’。該晶片2’係設置於該第一座體1’及該第二座體3’之間。
該第一座體1’為包含一基座11’及一框座12’。該基座11’包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔111’、112’。該框座12’為一中空框體,與該基座11’呈錯位設置,並且可結合於該基座11’或者與該基座11’分離設置,本發明不以此為限。
該晶片2’與第一實施例之晶片2類似,相異之處在於,該晶片2’另包含一微流道26及二開口27、28。該微流道26係與該微流道23錯位設置。該微流道26與該微流道23結構相同,亦包含複數個彎折部261及複數個延伸部262。該二開口27、28需連通該第二表面22,因此可為貫穿該第一表面21及該第二表面22之貫孔,或為開設於該第二表面22之盲孔,該二開口27、28另連通該微流道26,且較佳形成於該微流道26之二端。該晶片2’之第一表面21係結合於該第一座體1’,且該微流道23係對位於該基座11’,由該晶片2’之第一表面21抵接該基座11’形成有該二貫孔111’、112’之一表面,該二開口24、25分別對位於該二貫孔111’、112’,且該二開口24、25之口徑較佳分別對應該二貫孔111’、112’之孔徑。此外,該微流道26係對位於該框座12’,且該框座12’較佳環設於該微流道26之外周,用以避免一待測液體L流通於該微流道26中時,可能溢出該微流道26之情形。惟,該框座12’係可選擇性設置,若無該待測液體L可能溢出之疑慮,則無需設置該框座12’。該晶片2’另設置一光纖F,該光纖F係貫穿該晶片2’、該微流道23之複數個延伸部232以及該微流道26之複數個延伸部262,以固定於該微流道23及該微流道26當中。
該第二座體3’為包含一基座31’及一框座32’。該基座31’包含二表面及貫穿該表面之二貫孔311’、312’。該框座32’為一中空框體,與該基座31’呈錯位設置,並且可結合於該基座31’或者與該基座31’分離設置,本發明不以此為限。該第二座體3’係結合於該晶片2’之第二表面22,且該微流道26係對位於該基座31’,由該晶片2’之第二表面22抵接該基座31’形成有該二貫孔311’、312’之一表面,該二開口27、28分別對位於該二貫孔311’、312’,且該二開口27、28之口徑較佳分別對應該二貫孔311’、312’之孔徑。此外,該微流道23係對位於該框座32’,且該框座32’較佳環設於該微流道23之外周,用以避免一待測液體L流通於該微流道23中時,可能溢出該微流道23之情形。惟,該框座12’係可選擇性設置,若無該待測液體L可能溢出之疑慮,則無需設置該框座12’。
請續參照第1圖所示,本發明光纖檢測裝置第二實施例實際使用時,若欲使用該微流道23進行檢測,係將該晶片2’之第二表面22水平朝上放置,並且將該第一座體1’之基座11’之二貫孔111’、112’分別連接一習用輸液裝置之注入口及排出口,利用該習用輸液裝置(例如:泵)將一待測液體L自該貫孔111’注入,該待測液體L將依序由該貫孔111’及該晶片2’之開口24該進入之微流道23,並沿著該微流道23流通,最後依序由該開口25及該貫孔112’排出。端視所欲進行之量測為單一時間之測量或長時間之觀測,可控制該習用輸液裝置以短時間或持續性地將該待測液體L輸入該微流道23。待該微流道23中充滿該待測液體L後,使用一光源產生一具有連續波長之光訊號,自該光纖F朝該微流道23射入,並以一習用光譜分析儀觀察由穿過該微流道23之光訊號(或者由該微流道23反射之光訊號),即可檢測該待測液體L之種類、濃度、所含粒子(例如:特定分子或細胞)之大小及數量等資訊。
相反地,若欲使用該微流道26進行檢測,係將該晶片2’之 第一表面21水平朝上放置,並且將該第二座體3’之基座31’之二貫孔311’、312’分別連接一習用輸液裝置之注入口及排出口,利用該習用輸液裝置(例如:泵)將一待測液體L自該貫孔311注入,該待測液體L將依序由該貫孔311及該晶片2’之開口27該進入之微流道26,並沿著該微流道26流通,最後依序由該開口28及該貫孔312排出。端視所欲進行之量測為單一時間之測量或長時間之觀測,可控制該習用輸液裝置以短時間或持續性地將該待測液體L輸入該微流道26。待該微流道26中充滿該待測液體L後,使用一光源產生一具有連續波長之光訊號,自該光纖F朝該微流道26射入,並以一習用光譜分析儀觀察由穿過該微流道26之光訊號(或者由該微流道23反射之光訊號),即可檢測該待測液體L之種類、濃度、所含粒子(例如:特定分子或細胞)之大小及數量等資訊。
於該微流道23當中,任二相鄰之該延伸部232間均具有一間距d;於該微流道26當中,任二相鄰之該延伸部232間亦均具有一間距d’。請參照第7圖所示,係本發明本發明光纖檢測裝置第二實施例一實施態樣之俯視圖,其中,該延伸部232之間距d為一單一數值,該延伸部232之間距d’亦為一單一數值,且該間距d與該間距d’之數值相等。換言之,該微流道23與該微流道26所等效形成之光柵結構係具有相同之一反射波長λ。藉此,該微流道23與該微流道26所與該光纖F所共同形成之光纖光柵結構,能夠提供二組具有相同反射波長λ之檢測光柵。因此本實施例之光纖檢測裝置可同時對二組待測液體L進行相同條件之檢測。
請參照第8圖所示,係本發明本發明光纖檢測裝置第二實施例另一實施態樣之俯視圖。其中,該延伸部232之間距d為一單一數值,該延伸部232之間距d’亦為一單一數值,惟該間距d與該間距d’之數值不同。換言之,該微流道23與該微流道26所等效形成之光柵結構係具有不同之二反射波長λ、λ’。藉此,該微流道23與該微流道26所與該光纖F 所共同形成之光纖光柵結構,能夠提供二組具有不同之二反射波長λ、λ’之檢測光柵。因此本實施例之光纖檢測裝置可對一待測液體L同時進行不同條件之二組檢測。
同理,由於在本實施例當中,該微流道23與該微流道26能夠分別對不同之二待測液體L進行檢測,因此該微流道23之寬度w與該微流道26之寬度w’可設計為不等寬;再者,該微流道23之延伸部232之間距d可包含複數個間距數值,該微流道26之延伸部262之間距d’亦可包含複數個間距數值,本發明不以此為限。
綜上所述,本發明之光纖檢測裝置能夠利用一微流道23所等校形成之光柵,配合一光纖F以對一待測流體L進行檢測,加上該光纖檢測裝置相較傳統液體檢測儀器而言體積微小,又可即時量測該待測流體L之種類、濃度與所含粒子大小及數量等資訊,整合多種檢測功能。因此本發明之光纖檢測裝置確實具有提升流體檢測便利性之功效。
再者,本發明之光纖檢測裝置具有二組以上之微流道,係與該光纖F共同形成二組以上之光纖光柵結構,能夠分別檢測不同之待測流體L,或者對待測流體L進行不同之檢測。並且於使用中,由於該二組以上之微流道係相互錯位,且檢測時可將該光纖檢測裝置以不同之方向放置,可避免該二組以上之微流道中的待測液體L相互汙染,有效達成多工檢測的效果。因此,本發明之光纖檢測裝置確實具有增進液體檢測效率之功效。
雖然本發明已利用上述較佳實施例揭示,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者在不脫離本發明之精神和範圍之內,相對上述實施例進行各種更動與修改仍屬本發明所保護之技術範疇,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧基座
11‧‧‧貫孔
12‧‧‧貫孔
2‧‧‧晶片
21‧‧‧第一表面
22‧‧‧第二表面
23‧‧‧微流道
231‧‧‧彎折部
232‧‧‧延伸部
24‧‧‧開口
25‧‧‧開口
3‧‧‧框座
F‧‧‧光纖
h‧‧‧晶片之厚度

Claims (23)

  1. 一種光纖檢測裝置,包含:一基座,包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一晶片,結合於上述基座,且該晶片包含一第一表面、一微流道及二開口,該二開口分別連通該微流道及該第一表面且分別對位於上述二貫孔;及一光纖,貫穿上述微流道,並與該微流道交錯形成複數個交越位置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光纖檢測裝置,其中,上述微流道包含複數個彎折部及複數個延伸部,該複數個延伸部係分別連接二相鄰之該彎折部。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之光纖檢測裝置,其中,上述彎折部為二個連續的彎角。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之光纖檢測裝置,其中,上述二個連續的彎角均為90度。
  5. 如申請專利範圍第1、2、3或4所述之光纖檢測裝置,其中,上述晶片另包含相對上述第一表面之一第二表面,上述微流道貫穿上述第二表面,且該光纖檢測裝置另包含一框座,結合於該第二表面並環設於該微流道之外周。
  6. 如申請專利範圍第2、3或4項所述之光纖檢測裝置,其中,任二相鄰之上述延伸部間具有一間距,該間距包含至少一間距數值。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之光纖檢測裝置,其中,上述複數個延伸部係相互平行。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之光纖檢測裝置,其中,上述二開口形成於上述微流道之兩端。
  9. 如申請專利範圍第8之所述之光纖檢測裝置,其中,上述二開口之口徑分別對應上述基座之二貫孔之孔徑。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之光纖檢測裝置,其中,上述晶片之厚度大於上述光纖之直徑。
  11. 一種光纖檢測裝置,包含:一第一座體,包含一基座,該基座包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一第二座體,包含一基座,該基座包含二表面及貫穿該二表面之二貫孔;一晶片,結合於上述第一座體與上述第二座體之間,包含一第一表面、一第二表面、二微流道、二第一開口及二第二開口,其中,該第一表面抵接上述第一座體,該第二表面抵接上述第二座體,該二第一開口分別連通其中一微流道及該第一表面,且該二第一開口分別對位於該第一座體之基座之二貫孔,該二第二開口分別連通另一微流道及該第二表面,且該二第二開口分別對位於該第二座體之基座之二貫孔;及一光纖,貫穿上述二微流道,並分別與該二該微流道交錯形成複數個交越位置。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之光纖檢測裝置,其中,上述各微流道另包含複數個彎折部及複數個延伸部,該複數個延伸部係分別連接二相鄰之該彎折部。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之光纖檢測裝置,其中,上述彎折部為二個連續的彎角。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之光纖檢測裝置,其中,上述二個連續的彎角均為90度。
  15. 如申請專利範圍第11、12、13或14所述之光纖檢測裝置,其中,連通上述二第一開口之微流道係貫穿上述第二表面,且上述第二座體另包含一框座,結合於該第二表面並環設於該微流道之外周。
  16. 如申請專利範圍第15所述之光纖檢測裝置,其中,連通上述二第二開口之微流道係貫穿上述第一表面,且上述第一座體另包含一框座,結合於該第一表面並環設於該微流道之外周。
  17. 如申請專利範圍第12、13或14項所述之光纖檢測裝置,其中,於上述各微流道中,任二相鄰之上述延伸部間具有一間距,該間距包含至少一間距數值。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之光纖檢測裝置,其中,於上述各微流道中,上述複數個延伸部係相互平行。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之光纖檢測裝置,其中一上述微流道之延伸部所具有之間距與另一上述微流道之延伸部所具有之間距,具有相同之上述至少一間距數值。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之光纖檢測裝置,其中一上述微流道之延伸部所具有之間距與另一上述微流道之延伸部所具有之間距,具有相異之上述至少一間距數值。
  21. 如申請專利範圍第18項所述之光纖檢測裝置,其中,上述二第一開口形成於該二第一開口所連通之微流道之兩端,上述二第二開口形成於該二第二開口所連通之微流道之兩端。
  22. 如申請專利範圍第21之所述之光纖檢測裝置,其中,上述二第一開口之口徑分別對應上述第一座體之基座之二貫孔之孔徑,上述二第二開口之口徑分別對應上述第二座體之基座之二貫孔之孔徑。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之光纖檢測裝置,其中,上述晶片之 厚度大於上述光纖之直徑。
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