TWI464381B - 對主機進行振動測試之量測系統及其方法 - Google Patents

Description

對主機進行振動測試之量測系統及其方法

本發明係有關於一種振動測試的系統與相關方法，尤指一種對單一主機進行振動測試的系統及其相關方法。

對一主機(伺服器)進行振動測試的傳統方法係將複數個主機安裝於一機櫃內，且該機櫃係藉由一載台設置於一測試平台上，據此進行振動測試。舉例來說，傳統振動測試之流程係為一訊號擷取器輸出一初始功率頻譜密度(Power Spectrum Density，PSD)至該測試平台，以使該測試平台依據該初始功率頻譜密度產生振動，接著將一加速規安裝於該測試平台上，且該加速規將量測所得之參數值，例如一加速度值，傳輸至該訊號擷取器。最後該訊號擷取器可透過一運算處理器比較該參數值與該初始功率頻譜密度，並藉由分析該參數值與該初始功率頻譜密度之差異產生反饋，使得該測試平台所產生之振動可符合該初始功率頻譜密度，藉此分析該主機於該初始功率頻譜密度之振動頻率下是否符合規範值。然而傳統的振動測試係對機櫃與複數個主機同時進行振動量測，如此一來便造成量測成本過高且測試時程冗長，故需要設計一套新式的振動量測方法以提高效率、加快測試時程以有效降低量測成本。

本發明係提供一種對單一主機進行振動測試的系統及其相關方法，以解決上述之問題。

本發明之申請專利範圍係揭露一種對一主機進行振動測試之方法，其包含有一訊號擷取器輸出一初始功率頻譜密度至一測試平台，以使該測試平台依據該初始功率頻譜密度產生振動，其中該測試平台係承載一支架，且一主機係架設於該支架上；安裝一第一加速規於該支架上；依據該第一加速規量測所得之數據產生一第一功率頻譜密度；安裝一第二加速規於該測試平台上；依據該第二加速規量測所得之數據產生一第二功率頻譜密度；以及該訊號擷取器依據該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度以另執行單主機振動測試。

本發明之申請專利範圍另揭露該方法另包含有安裝一第三加速規於該主機上；以及依據該第三加速規量測所得之數據輸產生一第三功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露該第三功率頻譜密度係為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。

本發明之申請專利範圍另揭露依據該第一加速規將量測所得之數據產生該第一功率頻譜密度包含有：該第一加速規將量測所得之一第一參數值輸出至該訊號擷取器；以及一運算器自該訊號擷取器讀取該第一參數值，以將其轉換成該第一功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露該運算器自該訊號擷取器讀取該第一參數值以將其轉換成該第一功率頻譜密度包含有：該運算器分析該初始功率頻譜密度之一初始頻率區間；該運算器依據該第一參數值輸出一頻譜，且將該頻譜依據該初始頻率區間切分為複數個次區間；該運算器將各次區間之面積除以各次區間之頻帶寬以得出複數個參數；該運算器計算各次區間之一中心頻率；以及該運算器依據該複數個參數與複數個次區間之各中心頻率產生該第一功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露該訊號擷取器依據該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度以另執行單主機振動測試包含有：安裝該主機於一治具上，且將該治具置於該測試平台；安裝一主機用加速規於該主機上；該訊號擷取器輸出該第一功率頻譜密度至該治具，以使該治具依據該第一功率頻譜密度產生振動；該訊號擷取器輸出該第二功率頻譜密度至該測試平台，以使該測試平台依據該第二功率頻譜密度產生振動；依據該主機用加速規量測所得之數據產生一驗證用功率頻譜密度；比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度；以及依據該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度之比較結果，產生一主機測試用功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度包含有：當該驗證用功率頻譜密度大於或等於該第三功率頻譜密度時，該驗證用功率頻譜密度係作為該主機測試用功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度包含有：當該驗證用功率頻譜密度小於該第三功率頻譜密度時，對該驗證用功率頻譜密度進行增益；依據該增益後之驗證用功率頻譜密度，調整該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度；以及比較該增益後之驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度。

本發明之申請專利範圍另揭露一種對一主機進行振動測試之量測系統，其包含有一第一加速規，該第一加速規係安裝於一治具上，用以量測該治具之振動頻率；一第二加速規，該第二加速規係安裝於一測試平台上，用以量測該測試平台之振動頻率，其中該治具係設置於該測試平台上；一第三加速規，該第三加速規係安裝於一主機上，用以量測該主機之振動頻率，且該主機係架設於該治具上；一訊號擷取器，其係耦接於該第一加速規、該第二加速規與該第三加速規，該訊號擷取器係用以分別輸出一第一功率頻譜密度與一第二功率頻譜密度至該治具與該測試平台；一運算器，其係電連接於該訊號擷取器，該運算器係用來控制該訊號擷取器分別依據該第一加速規與該第二加速規量測所得之數據驅動該治具與該測試平台，且該運算器另係用來比較該第三加速規量測所得之一第三功率頻譜密度與一驗證用功率頻譜密度，並依據該比較結果執行一單主機振動測試。

本發明係可對單一主機進行振動量測，且藉由分析與比較相應的功率頻譜密度，本發明之量測系統可正確地模擬出與多機系統振動測試(機櫃與複數台主機)具有相同可靠度之情境以供測試，也就是說可僅單獨針對單一主機進行振動量測，而模擬出該單一主機與其他主機共同架設於支架且設置於測試平台上之振動條件，如此一來便無須再進行繁瑣且耗費人力之機台架設動作。因此，本發明之對單一主機進行振動量測之量測系統及其相關方法可有效地簡化測試設備與縮短測試時程，故具有高效率及低成本之優點。

請參閱第1圖與第2圖，第1圖與第2圖分別為本發明實施例之一量測系統10於不同測試階段之示意圖。量測系統10首先用來對一參考裝置(多機型裝置)進行振動測試以取得相關參數，並依據所取得之振動參數對一待測裝置(單機裝置)進行振動測試，以使該單機測試可具有與多機測試相同或更佳之可靠度。該參考裝置可包含有一測試平台12，一支架14，其係安裝於測試平台12上，以及複數個主機16，其係同時架設於支架14上。該待測裝置係可由測試平台12、單一主機16與一治具18所組成，其中測試平台12係用來承載治具18，且主機16係架設於治具18上。量測系統10包含有一第一加速規20、一第二加速規22、一第三加速規24、一訊號擷取器26，其係耦接於第一加速規20、第二加速規22與第三加速規24，以及一運算器28，其係電連接於訊號擷取器26。

當量測系統10對該參考裝置進行振動測試時，第一加速規20係安裝於支架14上，用以量測支架14之振動頻率；第二加速規22係安裝於測試平台12上，用以量測測試平台12之振動頻率；第三加速規24係安裝於主機16上，用以量測主機16之振動頻率；訊號擷取器26係用來輸出一初始振動頻率至測試平台12，並接收第一加速規20、第二加速規22與第三加速規24量測所得之參數值；運算器28係用來讀取各加速規量測所得之一第一參數值、一第二參數值與一第三參數值，並將其轉換成相對應之功率頻譜密度(一第一功率頻譜密度、一第二功率頻譜密度與一第三功率頻譜密度)。

接著，量測系統10可依據前述功率頻譜密度，對該待測裝置進行振動測試，以取得單機測試所需的參數。於進行單機測試之前置作業方面，第一加速規20係安裝於治具18上，用以量測治具18之振動頻率；第二加速規22係安裝於測試平台12上，用以量測測試平台12之振動頻率；第三加速規24係安裝於主機16上，用以量測主機16之振動頻率；訊號擷取器26係用來分別輸出該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度至治具18與測試平台12，並可選擇性利用第一加速規20與第二加速規22量測所得之數據產生反饋，以確保治具18與測試平台12依據所輸入之相對應功率頻譜密度產生振動；訊號擷取器26另用來接收第三加速規24量測所得之一驗證用功率頻譜密度，且將該第三功率頻譜密度與該驗證用功率頻譜密度進行分析比較，藉此獲得符合設計規範之驗證用功率頻譜密度，用以執行一單主機振動測試。

請參閱第3圖，第3圖為本發明實施例之進行振動測試之方法之第一階段之流程圖。第一階段之流程係對同時設置有多個主機16之支架14進行振動測試，以取得所需參數。該方法包含有：

步驟100：安裝複數個主機16於支架14上，且將支架14設置於測試平台12上。

步驟102：訊號擷取器26輸出該初始功率頻譜密度至測試平台12。

步驟104：安裝第二加速規22於測試平台12，且第二加速規22將量測所得之該第二參數值輸出至訊號擷取器26。

步驟106：運算器28自訊號擷取器26讀取該第二參數值，以將其轉換成該第二功率頻譜密度。

步驟108：運算器28比較該初始功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之差異產生反饋，藉此控制訊號擷取器26以符合該初始功率頻譜密度之模式驅動測試平台12產生振動。

步驟110：安裝第一加速規20於支架14上，且將量測所得之該第一參數值輸出至訊號擷取器26。

步驟112：運算器28自訊號擷取器26讀取該第一參數值，以將其轉換成該第一功率頻譜密度。

步驟114：安裝第三加速規24於主機16上，且將量測所得之該第三參數值輸出至訊號擷取器26。

步驟116：運算器28自訊號擷取器26讀取該第三參數值，以將其轉換成該第三功率頻譜密度，其中該第三功率頻譜密度係可為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。

請參閱第4圖，第4圖為本發明實施例之函數轉換方法之流程圖。該函數轉換方法係用來將參數值轉換成功率頻譜密度，如步驟112(或步驟106與步驟116)，其包含有：

步驟200：運算器28分析該初始功率頻譜密度之一初始頻率區間。

步驟202：運算器28依據該第一參數值輸出一頻譜，且將該頻譜依據該初始頻率區間切分為複數個次區間。

步驟204：運算器28將各次區間之面積除以各次區間之頻帶寬以得出複數個參數。

步驟206：運算器28計算各次區間之一中心頻率。

步驟208：運算器28依據該複數個參數與該複數個次區間之各中心頻率，產生該第一功率頻譜密度。

請參閱第5圖，第5圖為本發明實施例之進行振動測試之方法之第二階段之流程圖。第二階段之流程係利用第一階段流程所取得參數，對僅設置有單個主機16之治具18進行振動測試。該方法包含有：

步驟300：安裝單一主機16於治具18上，且將治具18設置於測試平台12上。

步驟302：安裝主機用加速規(係可為第三加速規24)於主機16上。

步驟304：訊號擷取器26分別輸出該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度至治具18與測試平台12，以使治具12與測試平台12分別依據該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度產生振動。

步驟306：主機用加速規(第三加速規24)將量測所得之參數值輸出至訊號擷取器26。

步驟308：運算器28自訊號擷取器26讀取步驟306量測所得之該參數值，以將其轉換成一驗證用功率頻譜密度。

步驟310：運算器28比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度，當該驗證用功率頻譜密度大於或等於該第三功率頻譜密度時，執行步驟312；當該驗證用功率頻譜密度小於該第三功率頻譜密度時，執行步驟314。

步驟312：訊號擷取器26使用該驗證用功率頻譜密度以及該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度作為該主機測試用功率頻譜密度，然後執行步驟318。

步驟314：運算器28對該驗證用功率頻譜密度進行增益，接著執行步驟316。

步驟316：運算器28依據該增益後之驗證用功率頻譜密度，相應地調整該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度，接著執行步驟310。

步驟318：結束。

於此針對上述步驟進行詳細說明。於振動測試之第一階段中，係將第一加速規20、第二加速規22與第三加速規24分別設置於支架14、測試平台12與主機16上。首先，第二加速規22將量測所得之該第二參數值輸出至訊號擷取器26，接著運算器28自訊號擷取器26讀取該第二參數值且將其轉換成該第二功率頻譜密度。運算器28可用來比較該初始功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之差異以產生反饋，藉以確保測試平台12可以符合該初始功率頻譜密度之模式產生振動。當完成前述步驟後，第一加速規20、第二加速規22與第三加速規24分別將量測所得之該第一參數值、該第二參數值與該第三參數值輸出至訊號擷取器26，以使運算器28可自訊號擷取器26讀取該參數值，而將其轉換成相對應功率頻譜密度並加以記錄。

以第一加速規20為例，運算器28先分析該初始功率頻譜密度之該初始頻率區間，其區間值係可任意選擇。接著運算器28將該第一參數值輸出成該頻譜圖，例如以每赫茲之加速度平方值的格式輸出一加速度圖，並將該頻譜圖依據該初始頻率區間切分為複數個次區間。運算器28計算出該頻譜圖之各次區間之面積後，再將該面積值除上各次區間之頻帶寬，藉以得出該複數個參數。此外，運算器28計算各次區間之該中心頻率，並套用該複數個參數與複數個次區間之各中心頻率而產生該第一功率頻譜密度。由於支架14與主機16係安裝於測試平台12上，故該第三功率頻譜密度與該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度係為正相關，意即該第三功率頻譜密度可為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。因此量測系統10係可利用該第一功率頻譜密度、該第二功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度執行振動測試之第二階段。

於振動測試之第二階段中，第一加速規20、第二加速規22與第三加速規24(主機用加速規)係分別設置於治具18、測試平台12與主機16上。訊號擷取器26輸出該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度至治具18與測試平台12，以使治具12與測試平台12可依據該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度產生振動。接著第三加速規24將量測所得之參數值輸出至訊號擷取器26，運算器28自訊號擷取器26讀取該參數值，以將其轉換成一驗證用功率頻譜密度。由於該參考裝置與該待測裝置之差異係為承載主機16於測試平台12之一載具的結構差異，因此量測系統10可利用運算器28比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度，只要該驗證用功率頻譜密度大於該第三功率頻譜密度，即表示該驗證用功率頻譜密度，以及與該驗證用功率頻譜密度正相關而相對調整之該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度可應用於該待測裝置(測試平台12、主機16與治具18)，藉以獲得相較該參考裝置具有相等或更佳的可靠度。

由此可知，當該驗證用功率頻譜密度大於該第三功率頻譜密度時，訊號擷取器26可直接使用該驗證用功率頻譜密度以及該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度於振動量測之第二階段作為該主機測試用功率頻譜密度。反之若當該驗證用功率頻譜密度小於該第三功率頻譜密度時，運算器28需對該驗證用功率頻譜密度逐步地進行增益，例如將該驗證用功率頻譜密度乘上1.1，直至增益後之該驗證用功率頻譜密度經比較後太於該第三功率頻譜密度，此時該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度係可依據前述之正相關函數作相應調整，故該增益後之驗證用功率頻譜密度，以及經相應調整之該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度即可用來於振動量測之第二階段作為該主機測試用功率頻譜密度。

綜上所述，在振動量測之第一階段中，由於功率頻譜密度會隨著傳遞路徑的不同而有所改變，故當訊號擷取器輸出該初始功率頻譜密度(藉由反饋而相等於該第二功率頻譜密度)至測試平台時，支架以及主機所反應出來的功率頻譜密度會與該初始功率頻譜密度有所不同，而分別呈現為該第一功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度，且該第三功率頻譜密度係與該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度為正相關，意即該初始功率頻譜密度(該第二功率頻譜密度)加大時，該第一功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度會相應地放大；而當該初始功率頻譜密度(該第二功率頻譜密度)減弱時，該第一功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度會相應地遞減，因此量測系統係可於振動量測之第一階段中取得該第三功率頻譜密度與該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度間之函數關係式。接著，為了簡化後續振動測試，量測系統係另用來於振動量測之第二階段取得單主機振動測試之函式參數。該待測裝置係將安裝有單一主機之治具置放在測試平台上。訊號擷取器分別輸出該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度至治具與測試平台，用以模擬該參考裝置(支架與測試平台)之振動情境，並同時量測主機所反應出來的功率頻譜密度(該驗證用功率頻譜密度)。最後，藉由比較該驗證用功率頻譜密度(於振動量測之第二階段之主機上測量所得)與該第三功率頻譜密度(於振動量測之第一階段之主機上測量所得)之大小，來判斷量測系統是否可使用在第一階段所取得之該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度進行後續的單機振動測試。

若該驗證用功率頻譜密度經比較後大於該第三，表示於第一階段取得之該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度可直接用來進行單機振動測試；反之若該驗證用功率頻譜密度經比較後小於該第三功率頻譜密度，即表示主機在第二階段於該驗證用功率頻譜密度之情境下無法達致與第一階段相同之可靠度，故需對該驗證用功率頻譜密度進行增益，直至該增益後之驗證用功率頻譜密度大於該第三功率頻譜密度，同時間第一階段所取得之該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度亦需作相應調整(一般來說，都是放大其值)，以使主機在第二階段可利用該增益後之驗證用功率頻譜密度，以及經相應調整之該第一功率頻譜密度以及該第二功率頻譜密度之情境下達致與振動量測之第一階段相同或更佳的可靠度，而達到初始設計的測試驗證功效。

相較於先前技術，本發明係可對單一主機進行振動量測，且藉由分析與比較相應的功率頻譜密度，本發明之量測系統可正確地模擬出與多機系統振動測試(機櫃與複數台主機)具有相同可靠度之情境以供測試，也就是說可僅單獨針對單一主機進行振動量測，而模擬出該單一主機與其他主機共同架設於支架且設置於測試平台上之振動條件，如此一來便無須再進行繁瑣且耗費人力之機台架設動作。因此，本發明之對單一主機進行振動量測之量測系統及其相關方法可有效地簡化測試設備與縮短測試時程，故具有高效率及低成本之優點。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

10．．．量測系統

12．．．測試平台

14．．．支架

16．．．主機

18．．．治具

20．．．第一加速規

22．．．第二加速規

24．．．第三加速規

26．．．訊號擷取器

28．．．運算器

100、102、104、106、108、110、112、114、116‧‧‧步驟

200、202、204、206、208‧‧‧步驟

300、302、304、306、308、310、312、314、316、318‧‧‧步驟

第1圖與第2圖分別為本發明實施例之量測系統於不同測試階段之示意圖。

第3圖為本發明實施例之振動測試方法之第一階段之流程圖。

第4圖為本發明實施例之函數轉換方法之流程圖。

第5圖為本發明實施例之振動測試方法之第二階段之流程圖。

10．．．量測系統

12．．．測試平台

16．．．主機

18．．．治具

20．．．第一加速規

22．．．第二加速規

24．．．第三加速規

26．．．訊號擷取器

28．．．運算器

Claims (19)

1. 一種對一主機進行振動測試之方法，該主機係架設於一支架上，該支架係設置於一測試平台，且一第一加速規、一第二加速規與一第三加速規係分別安裝於該支架、該測試平台與該主機上，該方法包含有：一訊號擷取器輸出一初始功率頻譜密度至該測試平台，以使該測試平台依據該初始功率頻譜密度產生振動；依據該支架上之該第一加速規量測所得之數據產生一第一功率頻譜密度；依據該測試平台上之該第二加速規量測所得之數據產生一第二功率頻譜密度；分別輸出該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度到一治具與該測試平台以產生應用在該治具上之該主機的一驗證用功率頻譜密度，其中該治具設置於該測試平台；以及利用該驗證用功率頻譜密度產生一主機測試用功率頻譜密度以供進行單一主機的振動測試。
2. 如請求項1所述之方法，其另包含有：依據該主機上之該第三加速規量測所得之數據輸產生一第三功率頻譜密度。
3. 如請求項2所述之方法，其中該第三功率頻譜密度係為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。
4. 如請求項1所述之方法，其中依據該第一加速規將量測所得之數 據產生該第一功率頻譜密度包含有：該第一加速規將量測所得之一第一參數值輸出至該訊號擷取器；以及一運算器自該訊號擷取器讀取該第一參數值，以將其轉換成該第一功率頻譜密度。
5. 如請求項4所述之方法，其中該運算器自該訊號擷取器讀取該第一參數值以將其轉換成該第一功率頻譜密度包含有：該運算器分析該初始功率頻譜密度之一初始頻率區間；該運算器依據該第一參數值輸出一頻譜，且將該頻譜依據該初始頻率區間切分為複數個次區間；該運算器將各次區間之面積除以各次區間之頻帶寬以得出複數個參數；該運算器計算各次區間之一中心頻率；以及該運算器依據該複數個參數與複數個次區間之各中心頻率，產生該第一功率頻譜密度。
6. 如請求項1所述之方法，其另包含有：該第二加速規將量測所得之一第二參數值輸出至該訊號擷取器；一運算器自該訊號擷取器讀取該第二參數值，以將其轉換成該第二功率頻譜密度：以及該運算器比較該初始功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之差異產生反饋，以控制該訊號擷取器以符合該初始功率頻譜密度之模式驅動該測試平台。
7. 如請求項1所述之方法，其中分別輸出該第一功率頻譜密度與該 第二功率頻譜密度到該治具與該測試平台以產生應用在該治具上之該主機的該驗證用功率頻譜密度包含有：該訊號擷取器輸出該第一功率頻譜密度至該測試平台上之該治具，以使該治具與該治具所承載之該主機依據該第一功率頻譜密度產生振動；該訊號擷取器輸出該第二功率頻譜密度至該測試平台，以使該測試平台依據該第二功率頻譜密度產生振動；依據該主機上之一主機用加速規量測所得之數據產生一驗證用功率頻譜密度；以及利用該驗證用功率頻譜密度產生該主機測試用功率頻譜密度以供進行單一主機的振動測試包含有：比較該驗證用功率頻譜密度與一第三功率頻譜密度；以及依據該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度之比較結果，產生該主機測試用功率頻譜密度。
8. 如請求項7所述之方法，其中依據該主機用加速規將量測所得之數據產生該驗證用功率頻譜密度包含有：該主機用加速規將量測所得之參數值輸出至該訊號擷取器；以及一運算器自該訊號擷取器讀取該參數值，以將其轉換成該驗證用功率頻譜密度。
9. 如請求項7所述之方法，其中比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度包含有：當該驗證用功率頻譜密度大於或等於該第三功率頻譜密度時，該驗證用功率頻譜密度係作為該主機測試用功率頻譜密度。
10. 如請求項7所述之方法，其中比較該驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度包含有：當該驗證用功率頻譜密度小於該第三功率頻譜密度時，對該驗證用功率頻譜密度進行增益；依據該增益後之驗證用功率頻譜密度，調整該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度；以及比較該增益後之驗證用功率頻譜密度與該第三功率頻譜密度。
11. 一種對一主機進行振動測試之量測系統，其包含有：一第一加速規，該第一加速規係安裝於一治具上，用以量測該治具之振動頻率；一第二加速規，該第二加速規係安裝於一測試平台上，用以量測該測試平台之振動頻率，其中該治具係設置於該測試平台上；一第三加速規，該第三加速規係安裝於一主機上，用以量測該主機之振動頻率，且該主機係架設於該治具上；一訊號擷取器，其係耦接於該第一加速規、該第二加速規與該第三加速規，該訊號擷取器係用以分別輸出一第一功率頻譜密度與一第二功率頻譜密度至該治具與該測試平台；一運算器，其係電連接於該訊號擷取器，該運算器係用來控制該訊號擷取器分別依據該第一加速規與該第二加速規量測所得之數據驅動該治具與該測試平台，且該運算器係另用來比較該第三加速規量測所得之一第三功率頻譜密度與一驗證用功率頻譜密度，並依據該比較結果執行一單主機振動測 試。
12. 如請求項11所述之量測系統，其中該第一加速規係另用來安裝於一支架上，且該第二加速規係另用來安裝於設置有該支架之該測試平台上，用以透過該訊號擷取器分別產生該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度。
13. 如請求項12所述之量測系統，其中該第三功率頻譜密度係為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。
14. 如請求項11所述之量測系統，其中該運算器係另用來自該訊號擷取器讀取該第一加速規、該第二加速規與該第三加速規量測所得之數據，並將其轉換成相對應之功率頻譜密度。
15. 如請求項11所述之量測系統，其中該運算器另係用來於該驗證用功率頻譜密度大於或等於該第三功率頻譜密度時，控制該訊號擷取器輸出該驗證用功率頻譜密度以作為一主機測試用功率頻譜密度。
16. 如請求項11所述之量測系統，其中該運算器另係用來於該驗證用功率頻譜密度小於該第三功率頻譜密度時，對該驗證用功率頻譜密度進行增益，且相應地調整該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度。
17. 一種對一主機進行振動測試之方法，該主機係架設於一支架上，該支架係設置於一測試平台，且一第一加速規、一第二加速規與一第三加速規係分別安裝於該支架、該測試平台與該主機上，該方法包含有： 一訊號擷取器輸出一初始功率頻譜密度至該測試平台，以使該測試平台依據該初始功率頻譜密度產生振動；該第一加速規將量測所得之一第一參數值輸出至該訊號擷取器；該運算器分析該初始功率頻譜密度之一初始頻率區間；該運算器依據該第一參數值輸出一頻譜，且將該頻譜依據該初始頻率區間切分為複數個次區間；該運算器將各次區間之面積除以各次區間之頻帶寬以得出複數個參數；該運算器計算各次區間之一中心頻率；該運算器依據該複數個參數與複數個次區間之各中心頻率，產生該第一功率頻譜密度；依據該測試平台上之該第二加速規量測所得之數據產生一第二功率頻譜密度；以及該訊號擷取器依據該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度以另執行單主機振動測試。
18. 如請求項17所述之方法，其另包含有：依據該主機上之該第三加速規量測所得之數據輸產生一第三功率頻譜密度。
19. 如請求項18所述之方法，其中該第三功率頻譜密度係為該第一功率頻譜密度與該第二功率頻譜密度之函數。