TWI461975B - 電子裝置及其觸碰位置之校正方法 - Google Patents

Description

電子裝置及其觸碰位置之校正方法

本發明是有關於一種觸控操作技術，且特別是有關於一種校正觸碰位置的方法以及使用此方法的電子裝置。

隨著觸控技術的精進，觸控螢幕也逐漸取代傳統螢幕而成為電子裝置的輸入與輸出工具。許多消費型電子產品為符合使用者對外觀輕巧的要求，也紛紛利用觸控螢幕以節省實體按鍵的空間，而以較大的區域來放置大尺寸的觸控螢幕。

圖1是使用者位於觸控螢幕前方不同位置時光線折射的示意圖。如圖1所示，一般觸控螢幕包括用以偵測觸碰操作的觸控感應層110、由玻璃、塑膠或壓克力等材質作成的基板120，以及可發出光線的液晶(liquid crystal)顯示介質層130。當液晶顯示介質層130發出的光線透過基板120、觸控感應層110而進入空氣中時，因基板120、觸控感應層110與空氣均屬於不同介質，因此光線會產生兩次折射。但由於觸控感應層110十分地薄，因此在圖1中忽略了光線由基板120進入觸控感應層110所發生的折射現象。

當使用者處於位置C而正對著觸控螢幕來進行操作時，由於使用者視線與觸控螢幕構成的角∠FAC趨近於90度，因此顯示介質層130從位置A所發出之光線的偏移量非常微小。亦即，角∠ABC趨近於180度。

然而，倘若使用者將觸控螢幕擺在側邊操作，使用者看到的會是經過較大幅度偏折後的光線，因此容易造成使用者去觸碰眼睛所看到的位置時，卻不是觸碰到實際感應點的位置。舉例來說，當使用者在位置E時，由於基板120與空氣為不同介質，因此液晶顯示介質層130從位置A發出的光線需經由路線ADGE穿透基板120再經由空氣傳至使用者的眼睛。而使用者看到影像後，因大腦認定光為直線進行，因此會產生影像是由位置F而經路線FDGE而來的錯覺。正因如此，當使用者在看到影像而想對影像進行觸碰操作時，會因上述錯覺而去觸碰位置I。然而實際上位置H才是對應真實發出光線的觸碰點。

有鑑於此，本發明提供一種觸碰位置之校正方法，可對觸碰座標進行修正來提升使用者對電子裝置進行觸碰操作時的準確性。

本發明提供一種電子裝置，能在判斷使用者的操作位置偏移時對觸碰座標進行修正，從而降低視覺偏移所造成的輸入錯誤。

本發明提出一種觸碰位置之校正方法，用於包括觸控螢幕與第一攝像單元的電子裝置。此方法包括透過第一攝像單元拍攝第一影像，並對第一影像進行人臉偵測處理以決定人臉位置資訊。再依據人臉位置資訊計算座標偏移量，並利用座標偏移量修正觸控螢幕所偵測之觸碰對應的二維觸碰座標。

在本發明之一實施例中，其中對第一影像進行人臉偵測處理以決定人臉位置資訊的步驟包括將第一影像劃分為多個預設區域。其中每一預設區域分別對應一預設座標偏移量。接著，對第一影像進行人臉偵測處理以取得第一影像中的人臉區塊，並且以人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例作為人臉位置資訊。

在本發明之一實施例中，其中依據人臉位置資訊計算座標偏移量的步驟包括根據人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例，以及各預設區域的預設座標偏移量來計算座標偏移量。

在本發明之一實施例中，其中電子裝置更包括第二攝像單元。而對第一影像進行人臉偵測處理以決定人臉位置資訊的步驟更包括透過第二攝像單元拍攝第二影像。對第一影像與第二影像進行人臉偵測處理，以分別在第一影像與第二影像中取得對應同一人之人臉區塊的二維人臉座標，以及利用分別屬於第一影像與第二影像的兩個二維人臉座標來計算三維人臉座標以作為人臉位置資訊。

在本發明之一實施例中，其中依據人臉位置資訊計算座標偏移量的步驟包括取得二維觸碰座標所對應的三維觸碰輔助座標。判斷三維人臉座標與三維觸碰輔助座標之連線與觸控螢幕的夾角是否大於或等於一角度門檻值。若否，則依據觸控螢幕之基板的折射率、三維人臉座標以及三維觸碰輔助座標計算座標偏移量。

從另一觀點來看，本發明提出一種電子裝置，包括觸控螢幕、第一攝像單元、人臉位置取得模組，以及觸碰位置校正模組。觸控螢幕用以偵測觸碰，第一攝像單元用以拍攝第一影像。人臉位置取得模組耦接至第一攝像單元，用以對第一影像進行人臉偵測處理以決定人臉位置資訊。觸碰位置校正模組耦接至觸控螢幕與人臉位置取得模組，用以依據人臉位置資訊計算一座標偏移量，並利用座標偏移量修正觸碰所對應的二維觸碰座標。

在本發明之一實施例中，其中人臉位置取得模組將第一影像劃分為多個預設區域，其中各預設區域分別對應一預設座標偏移量。人臉位置取得模組對第一影像進行人臉偵測處理以取得第一影像中的人臉區塊，並以人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例作為人臉位置資訊。

在本發明之一實施例中，其中觸碰位置校正模組根據人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例以及各預設區域的預設座標偏移量來計算座標偏移量。

在本發明之一實施例中，電子裝置更包括第二攝像單元，其耦接至人臉位置取得模組，用以拍攝第二影像。人臉位置取得模組對第一影像與第二影像進行人臉偵測處理，以分別在第一影像與第二影像中取得對應同一人之人臉區塊的二維人臉座標，並利用分別屬於第一影像與第二影像的二維人臉座標計算三維人臉座標以作為人臉位置資訊。

在本發明之一實施例中，觸碰位置校正模組取得二維觸碰座標所對應的三維觸碰輔助座標，並判斷三維人臉座標與三維觸碰輔助座標之連線與觸控螢幕的夾角是否大於或等於角度門檻值。若否，觸碰位置校正模組依據觸控螢幕之基板的折射率、三維人臉座標以及三維觸碰輔助座標計算座標偏移量。

基於上述，本發明係透過拍攝包括使用者的影像來判斷使用者的操作位置是否偏移，並且在判定使用者的操作位置偏移時適當地依據偏移程度來對觸碰座標進行修正。據此能避免因光線折射而造成觸碰位置錯誤的情況。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖2是依照本發明之一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。請參閱圖2，電子裝置200包括觸控螢幕210、第一攝像單元220、人臉位置取得模組230，以及觸碰位置校正模組240。

觸控螢幕210例如是電阻式觸控螢幕或電容式觸控螢幕，本發明並不對觸控螢幕210的種類加以限制。觸控螢幕210係透過具有觸控感應元件的觸控感應層來偵測使用者的觸碰，並且藉由例如液晶(liquid crystal)等顯示介質層來呈現各式畫面。在本實施例中，觸控螢幕210的控制器會將每一個觸碰轉換為包括X軸座標與Y軸座標的二維觸碰座標。

第一攝像單元220可以是相機或攝影機，用以拍攝一第一影像。在本實施例中，第一攝像單元220與觸控螢幕210係配置在電子裝置200外殼的同一平面上。

人臉位置取得模組230耦接至第一攝像單元220。在第一攝像單元220拍攝第一影像後，人臉位置取得模組230會對第一影像進行人臉偵測處理，並且在偵測到人臉區塊後決定一人臉位置資訊。本發明並不對人臉偵測處理所採用的技術手段加以限制。

觸碰位置校正模組240耦接至觸控螢幕210與人臉位置取得模組230。觸碰位置校正模組240可依據人臉位置資訊得知使用者進行觸碰操作時的位置偏移狀況，進而對應地計算一座標偏移量，並且利用座標偏移量來修正使用者觸碰觸控螢幕210時所對應的二維觸碰座標。

為了進一步說明校正觸碰位置的詳細方式，以下特舉另一實施例來對本發明進行說明。圖3是依照本發明之一實施例所繪示之觸碰位置之校正方法的流程圖，請同時參閱圖2與圖3。

首先如步驟S310所示，透過第一攝像單元220拍攝第一影像。在一實施例中，第一攝像單元220會依照預設週期來定期拍攝影像。在另一實施例中，電子裝置200更包括一距離感測器(未繪示)，而第一攝像單元220會在距離感測器偵測到有物體靠近時才拍攝影像。

接著在步驟S320中，人臉位置取得模組230將第一影像劃分為多個預設區域，其中各預設區域分別對應一預設座標偏移量。圖4是依照本發明之一實施例所繪示之第一影像之預設區域的示意圖。請參閱圖4，在本實施例中人臉位置取得模組230將第一影像400劃分為17個預設區域(即預設區域A1至A17)，且每一預設區域各自對應一預設座標偏移量。詳言之，預設座標偏移量包括X軸偏移量以及Y軸偏移量。由於預設區域A9是位於第一影像400的中央位置，因此其預設座標偏移量的X軸偏移量與Y軸偏移量均為0。其它各預設區域的預設座標偏移量可根據實驗統計的數值來設定。必須特別說明的是，本發明並不對預設區域的數量以及形狀加以限制。

如步驟S330所示，人臉位置取得模組230對第一影像進行人臉偵測處理以取得第一影像中的人臉區塊，並以人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例作為人臉位置資訊。具體而言，人臉位置取得模組230在進行人臉偵測處理後可判斷第一影像是否包括人臉區塊。若是，則判斷人臉區塊係位於第一影像中的哪一個或哪幾個預設區域。若人臉區塊完全位於某一預設區域之內，人臉區塊在該預設區域的面積比例便是百分之百。而當人臉區塊橫跨數個預設區域時，人臉位置取得模組230會取得人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例。在另一實施例中，倘若人臉位置取得模組230在第一影像中偵測到多個人臉區塊，表示有數個使用者在電子裝置200的前方。由於越靠近電子裝置200的使用者在第一影像中對應的人臉區塊應具有越大的面積，因此人臉位置取得模組230會以具有最大面積的人臉區塊為主來決定人臉位置資訊。

接下來如步驟S340所示，觸碰位置校正模組240根據人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例以及各預設區域的預設座標偏移量來計算座標偏移量。舉例來說，若人臉區塊位於一個預設區域之內，觸碰位置校正模組240會直接以該預設區域所對應的預設座標偏移量來作為座標偏移量。然而，倘若人臉區塊橫跨數個預設區域，觸碰位置校正模組240可取得對應最大面積比例的預設區域，並以所取得之預設區域的預設座標偏移量來作為座標偏移量。或者，觸碰位置校正模組240可根據人臉區塊分別在各預設區域中的面積比例來計算各預設區域之預設座標偏移量的統計值以作為座標偏移量。舉例來說，觸碰位置校正模組240會將人臉區塊在各預設區域的面積比例視為權重值，從而計算各預設區域之預設座標偏移量的加權平均值以作為座標偏移量。

最後在步驟S350中，觸碰位置校正模組240利用座標偏移量修正觸碰所對應的二維觸碰座標。例如，觸碰位置校正模組240將觸碰座標的X軸座標與Y軸座標分別加上座標偏移量的X軸偏移量以及Y軸偏移量以產生經過校正的二維觸碰座標，接著再把經過校正的二維觸碰座標傳送給對應的應用程式以執行相關操作。

在上述實施例中，電子裝置200是透過第一攝像單元220拍攝影像來判斷使用者在相對於電子裝置200的哪個方向進行操作，並根據該方向取得座標偏移量來對使用者觸碰觸控螢幕210時的二維觸碰座標進行修正。如此一來，在使用者並非對著觸控螢幕210的正中央進行操作時，能透過上述機制修正觸碰座標，以降低因觸碰錯誤位置而無法得到預期執行結果的可能性。

圖5是依照本發明之另一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。請參閱圖5，電子裝置500包括觸控螢幕510、第一攝像單元520、人臉位置取得模組530、觸碰位置校正模組540，以及第二攝像單元550。由於觸控螢幕510及第一攝像單元520和電子裝置200中的觸控螢幕210與第一攝像單元220具有相同或相似的功能，故在此不再贅述。

在本實施例中，人臉位置取得模組530耦接至第一攝像單元520與第二攝像單元550。人臉位置取得模組530在第一攝像單元520與第二攝像單元550拍攝包括同一使用者的影像後，會利用兩攝像單元所分別拍攝的影像求得使用者在空間中的三維座標以作為人臉位置資訊。

觸碰位置校正模組540耦接至觸控螢幕510與人臉位置取得模組530。在本實施例中，觸碰位置校正模組540將根據使用者在空間中的三維座標以及使用者觸碰觸控螢幕510的位置來判斷是否要對觸碰座標進行校正。

圖6是依照本發明之另一實施例所繪示之觸碰位置之校正方法的流程圖。以下將以圖6來對電子裝置500中各構件的詳細運作方式進行說明，請同時參閱圖5與圖6。

首先如步驟S610所示，透過第一攝像單元520拍攝第一影像。並且在步驟S620中，透過第二攝像單元550拍攝第二影像。在本實施例中，第一攝像單元520與第二攝像單元550可定期拍攝影像，或在有物體靠近電子裝置500時才去拍攝影像。

接著如步驟S630所示，人臉位置取得模組530分別對第一影像與第二影像進行人臉偵測處理，以在第一影像中取得人臉區塊的二維人臉座標，並且在第二影像中取得相同一人之人臉區塊的二維人臉座標。也就是說，人臉位置取得模組530將取得同一位使用者分別在兩個攝像單元所拍攝之兩張影像中的座標位置。舉例來說，人臉位置取得模組530在對第一影像與第二影像進行人臉偵測處理並判斷在兩張影像中都可找到對應同一位使用者的人臉區塊後，人臉位置取得模組530將以人臉區塊分別在兩張影像中的中心點座標來作為二維人臉座標。

接下來在步驟S640中，人臉位置取得模組530利用分別屬於第一影像與第二影像的二維人臉座標來計算三維人臉座標，並以該三維人臉座標作為人臉位置資訊。詳言之，人臉位置取得模組530可利用第一攝像單元520與第二攝像單元550之間已知的幾何關係(例如距離、角度)以及人臉區塊分別在第一影像與第二影像中的二維人臉座標，再輔以三角函數關係來推得使用者的空間位置(即，三維人臉座標)。人臉位置取得模組530可採用任何以多影像重建三維座標的方式來計算表示人臉位置資訊的三維人臉座標，本發明並不對此加以限制。

接著如步驟S650所示，觸碰位置校正模組540取得二維觸碰座標所對應的三維觸碰輔助座標。以下將以圖7來說明三維觸碰輔助座標的取得方式。

圖7是依照本發明之一實施例所繪示之使用者與觸控螢幕在三維空間中的示意圖。請參閱圖7，在三維空間700中，u點為使用者的所在位置(即三維人臉座標)，假設觸控螢幕510的表面位於X軸與Y軸所構成的XY平面。一般來說，觸控螢幕510的表面下具有觸控感應層，而觸控感應層的下方為基板(例如是玻璃、塑膠或壓克力等任何透明材質)，基板的下方則是顯示介質層。但由於觸控感應層十分地薄，且為了方便說明，因此在圖7中僅繪示觸控螢幕510的基板部份。

觸碰位置校正模組540可將原本只包括X軸座標與Y軸座標的二維觸碰座標增加一Z軸座標(座標值為0)來產生三維觸碰座標s。在本實施例中，三維觸碰輔助座標s’與三維觸碰座標s具有相同的X軸座標值與Y軸座標值，且觸碰位置校正模組540會將三維觸碰輔助座標s’的Z軸座標值設定為觸控螢幕510之基板厚度w的負值。

取得三維觸碰輔助座標後，接著如步驟S660所示，觸碰位置校正模組540判斷三維人臉座標與三維觸碰輔助座標之連線與觸控螢幕510的夾角是否大於或等於一角度門檻值。上述判斷是因為當使用者視線與觸碰點的連線越不平行於觸控螢幕510表面的法線時，使用者越容易因顯示介質層發出的光線產生大幅度偏折而觸碰到錯誤位置。基此，觸碰位置校正模組540會根據上述夾角有無大於或等於角度門檻值來決定是否要對使用者觸碰的位置進行修正。然而必須特別說明的是，顯示介質層發出的光線會透過基板、觸控感應層再進入空氣，因此會發生兩次折射。但由於觸控感應層非常薄，故以下省略光線由基板進入觸控感應層所發生的輕微折射，而僅針對光線透過基板進入空氣所發生的折射來進行說明。

以圖7為例，當觸碰位置校正模組540要進行步驟S660的判斷時，觸碰位置校正模組540先利用三維觸碰輔助座標s’與三維人臉座標u決定一直線。由於觸控螢幕510的表面係位於X軸與Y軸構成的XY平面，因此該直線與XY平面的夾角即為三維人臉座標u與三維觸碰輔助座標s’之連線與觸控螢幕510的夾角θ1。

假設角度門檻值為85度(本發明並不侷限於此)，若夾角θ1大於或等於角度門檻值，表示連線幾乎垂直於觸控螢幕510的表面。此時如步驟S670所示，觸碰位置校正模組540判斷不需要修正觸碰所對應的二維觸碰座標。反之若夾角θ1小於角度門檻值，因此時光線折射的程度較大，故如步驟S680所示，觸碰位置校正模組540將依據觸控螢幕510之基板的折射率、三維人臉座標以及三維觸碰輔助座標計算座標偏移量。

再以圖7為例，當使用者處於三維人臉座標u的位置來觀看觸控螢幕510時，因為光線偏折的緣故，實際上由三維座標v’處所發出的光線會被使用者誤以為是從三維觸碰輔助座標s’所發出，導致使用者會去觸碰三維觸碰座標s的位置。然而，使用者實際上應該觸碰的是三維座標v的位置。為了對使用者觸碰的位置進行修正，觸碰位置校正模組540首先依據斯乃爾定律(Snell’s Law)而以下列公式計算三維座標v’所發出之光線的入射角θ₃ ：

N_B ×sinθ₃ =N_A ×sinθ₂

其中，N_B 表示觸控螢幕510之基板的折射率、N_A 表示空氣的折射率，而折射角θ₂ 為90度與夾角θ₁ 的差值。接著，觸碰位置校正模組540利用觸控螢幕510之基板的厚度w、入射角θ₃ 以及三角函數中的正切(tangent)函數計算線段的長度。並利用觸控螢幕510之基板的厚度w、折射角θ₂ 以及正切函數計算線段的長度。據此，便可算出線段的長度。觸碰位置校正模組540將以線段的長度作為座標偏移量。

最後在步驟S670中，觸碰位置校正模組540利用座標偏移量修正二維觸碰座標。具體而言，如圖7所示，由於三維觸碰輔助座標s’與三維座標v’具有相同的Y軸座標值與Z軸座標值，因此可利用線段的長度以及三維觸碰輔助座標s’的X軸座標值以得到三維座標v’的X軸座標值。得到三維座標v’的X軸座標值、Y軸座標值與Z軸座標值後，因三維座標v是三維座標v’投影至XY平面的投影點，因此三維座標v與三維座標v’具有相同的X軸座標值與Y軸座標值，而觸碰位置校正模組540將以三維座標v的X軸座標值與Y軸座標值作為修正後的二維觸碰座標。

如此一來，當使用者在三維人臉座標u的位置觀看觸控螢幕510時，即便使用者將從三維座標v’所發出的光線誤認為是從三維座標s’處發出，繼而去觸碰三維觸碰座標s，觸碰位置校正模組540也能在上述修正動作後取得對應三維座標v的二維觸碰座標，並將二維觸碰座標傳送至相關的應用程式以驅使應用程式依修正後的二維觸碰座標來執行動作。

在上述實施例中，三維人臉座標是使用者在空間中的位置，三維觸碰輔助座標則可對應使用者之手指(或輸入工具)在觸碰觸控螢幕510時的位置。透過圖6所示之各步驟，即便在使用者臉部和手指(或輸入工具)的連線與觸控螢幕510之間的夾角並不趨近於90度時，也可透過觸碰座標的校正來產生精確的觸碰效果。

綜上所述，本發明所述之電子裝置及其觸碰位置之校正方法是透過攝像單元拍攝影像來判斷使用者在對觸控螢幕進行操作時是否有位置偏移的情況。若是，則依據操作的偏移程度取得對應的座標偏移量來校正觸碰座標。如此可針對使用者觸碰的錯誤位置進行修正，進而提升觸碰操作的正確性。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

110．．．觸控感應層

120．．．基板

130．．．液晶顯示介質層

A、B、C、D、E、F、G、H、I．．．位置

200、500．．．電子裝置

210、510．．．觸控螢幕

220、520．．．第一攝像單元

230、530．．．人臉位置取得模組

240、540．．．觸碰位置校正模組

S310～S350．．．本發明之一實施例所述之觸碰位置之校正方法的各步驟

400．．．第一影像

A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7、A8、A9、A10、A11、A12、A13、A14、A15、A16、A17．．．預設區域

550．．．第二攝像單元

S610～S690．．．本發明之另一實施例所述之觸碰位置之校正方法的各步驟

700．．．三維空間

u．．．三維人臉座標

s．．．三維觸碰座標

s‘．．．三維觸碰輔助座標

w．．．基板厚度

θ1．．．夾角

v、v’、q．．．三維座標

θ₂ ．．．折射角

θ₃ ．．．入射角

圖1是使用者位於觸控螢幕前方不同位置時光線折射的示意圖。

圖2是依照本發明之一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。

圖3是依照本發明之一實施例所繪示之觸碰位置之校正方法的流程圖。

圖4是依照本發明之一實施例所繪示之第一影像之預設區域的示意圖。

圖5是依照本發明之另一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。

圖6是依照本發明之另一實施例所繪示之觸碰位置之校正方法的流程圖。

圖7是依照本發明之一實施例所繪示之使用者與觸控螢幕在三維空間中的示意圖。

S610～S690．．．本發明之另一實施例所述之觸碰位置之校正方法的各步驟

Claims (10)

1. 一種觸碰位置之校正方法，用於包括一觸控螢幕與一第一攝像單元的一電子裝置，該方法包括：透過該第一攝像單元拍攝一第一影像；對該第一影像進行一人臉偵測處理以決定一人臉位置資訊；依據該人臉位置資訊計算一座標偏移量；以及利用該座標偏移量修正該觸控螢幕所偵測之一觸碰對應的一二維觸碰座標。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸碰位置之校正方法，其中對該第一影像進行該人臉偵測處理以決定該人臉位置資訊的步驟包括：劃分該第一影像為多個預設區域，其中各該些預設區域分別對應一預設座標偏移量；對該第一影像進行該人臉偵測處理以取得該第一影像中的一人臉區塊；以及以該人臉區塊分別在各該些預設區域中的一面積比例作為該人臉位置資訊。
3. 如申請專利範圍第2項所述之觸碰位置之校正方法，其中依據該人臉位置資訊計算該座標偏移量的步驟包括：根據該人臉區塊分別在各該些預設區域中的該面積比例以及各該些預設區域的該預設座標偏移量計算該座標偏移量。
4. 如申請專利範圍第1項所述之觸碰位置之校正方法，其中該電子裝置更包括一第二攝像單元，而對該第一影像進行該人臉偵測處理以決定該人臉位置資訊的步驟更包括：透過該第二攝像單元拍攝一第二影像；對該第一影像與該第二影像進行該人臉偵測處理，以分別在該第一影像與該第二影像中取得對應同一人之一人臉區塊的一二維人臉座標；以及利用分別屬於該第一影像與該第二影像的該二維人臉座標計算一三維人臉座標以作為該人臉位置資訊。
5. 如申請專利範圍第4項所述之觸碰位置之校正方法，其中依據該人臉位置資訊計算該座標偏移量的步驟包括：取得該二維觸碰座標所對應的一三維觸碰輔助座標；判斷該三維人臉座標與該三維觸碰輔助座標之連線與該觸控螢幕的夾角是否大於或等於一角度門檻值；以及若否，則依據該觸控螢幕之一基板的折射率、該三維人臉座標以及該三維觸碰輔助座標計算該座標偏移量。
6. 一種電子裝置，包括：一觸控螢幕，以偵測一觸碰；一第一攝像單元，以拍攝一第一影像；一人臉位置取得模組，耦接該第一攝像單元，該人臉位置取得模組對該第一影像進行一人臉偵測處理以決定一人臉位置資訊；以及一觸碰位置校正模組，耦接該觸控螢幕與該人臉位置取得模組，該觸碰位置校正模組依據該人臉位置資訊計算一座標偏移量，並利用該座標偏移量修正該觸碰對應的一二維觸碰座標。
7. 如申請專利範圍第6項所述之電子裝置，其中該人臉位置取得模組劃分該第一影像為多個預設區域，其中各該些預設區域分別對應一預設座標偏移量，對該第一影像進行該人臉偵測處理以取得該第一影像中的一人臉區塊，並以該人臉區塊分別在各該些預設區域中的一面積比例作為該人臉位置資訊。
8. 如申請專利範圍第7項所述之電子裝置，其中該觸碰位置校正模組根據該人臉區塊分別在各該些預設區域中的該面積比例以及各該些預設區域的該預設座標偏移量計算該座標偏移量。
9. 如申請專利範圍第6項所述之電子裝置，更包括：一第二攝像單元，耦接該人臉位置取得模組，以拍攝一第二影像，其中該人臉位置取得模組對該第一影像與該第二影像進行該人臉偵測處理，以分別在該第一影像與該第二影像中取得對應同一人之一人臉區塊的一二維人臉座標，並利用分別屬於該第一影像與該第二影像的該二維人臉座標計算一三維人臉座標以作為該人臉位置資訊。
10. 如申請專利範圍第9項所述之電子裝置，其中該觸碰位置校正模組取得該二維觸碰座標所對應的一三維觸碰輔助座標，並判斷該三維人臉座標與該三維觸碰輔助座標之連線與該觸控螢幕的夾角是否大於或等於一角度門檻值，若否，該觸碰位置校正模組依據該觸控螢幕之一基板的折射率、該三維人臉座標以及該三維觸碰輔助座標計算該座標偏移量。