TWI456914B - 能量偵測方法及應用其之能量偵測電路 - Google Patents

能量偵測方法及應用其之能量偵測電路 Download PDF

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Claims (16)

  1. 一種能量偵測電路，應用於一接收器中，用以參考與一輸入訊號對應之一訊號，找出該輸入訊號對應之一訊號起始時點，該能量偵測電路包括：一取值開關，用以回應於一控制訊號為導通，以於一第i個取樣時點提供該訊號之一第i筆取樣值，其中i為大於1之自然數；一移位暫存器，用以暫存一第i-(M+N-1)筆至該第i筆取樣值，其中M與N為大於1的自然數，該移位暫存器包括：一第一滑動視窗取值器，用以暫存該第i-(M+N-1)筆至一第i-N筆取樣值；一第二滑動視窗取值器，用以暫存一第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值；一第一運算器，用以根據一加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出一第一參數；一第二運算器，用以根據該第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值找出一第二參數；一比較器，用以比較該第一及該第二參數，並於該第二參數大於該第一參數時，提供一能量偵測訊號；以及一處理器，用以設定該加權參數具有一起始值，該處理器更判斷是否接收到該能量偵測訊號，並於接收到該能量偵測訊號時，判斷對應至第i-(N-1)筆取樣值之一第i-(N-1)個取樣時點為該訊號起始時點。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中，該處理器更判斷該訊號之同步操作是否成功，當該訊號之同步操作成功時，該處理器計算該輸入訊號之一訊號雜訊比，並據以設定該加權參數；其中，該處理器更於該第二參數不大於該第一參數時提供該控制訊號，以驅動該取值開關提供第i+1筆取樣值。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中該移位暫存器更包括：一溢位暫存器，用以暫存一第i-(M+N)筆取樣值。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中該第一運算器包括：一暫存器，用以暫存一第i-(M+N)筆至一第i-(N+1)筆取樣值之一第一加總數值；一加法器，用以將該第一加總數值減去該第i-(M+N)筆取樣值，並加上該第i-N筆取樣值，以找出該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值之一第二加總數值；及一除法器，用以將該第二加總數值除以數值M，以得到該運算參數；及一乘法器，用以根據該運算參數及該加權參數運算得到該第一參數。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中該第二運算器包括：一暫存器，用以暫存該第i-N筆至該第i-1筆取樣值之一第一加總數值；一加法器，用以將該第一加總數值減去該第i-N筆取樣值，並加上該第i筆取樣值，以找出該第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值之一第二加總數值；以及一除法器，用以將該第二加總數值除以數值N，以得到該第二參數。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之能量偵測電路，其中該第二運算器更包括：一計數開關，耦接於該除法器及該比較器之間，用以在i大於或等於M+N時導通，以提供該第二參數至該比較器。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中當該訊號之同步操作失敗時，該處理器判斷該取樣時點為該訊號起始時點之操作為一錯誤判斷事件，該處理器更調升該加權參數之數值；其中，該第一運算器根據調升操作後之該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出更新後之該第一參數，該比較器則對應地比較更新後之該第一參數及該第二參數，並於該第二參數大於更新後之該第一參數時，提供一更新後之能量偵測訊號；其中，該處理器更持續地判斷是否接收到該更新後之能量偵測訊號，並於接收到該更新後之能量偵測訊號時，判斷該訊號之同步操作是否成功。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之能量偵測電路，其中當該訊號之同步操作成功時，該處理器計算該輸入訊號之該訊號雜訊比，並據以設定該加權參數。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之能量偵測電路，其中當未接收到該能量偵測訊號時，該處理器調降該加權參數之數值；其中，該第一運算器根據調降操作後之該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出更新後之該第一參數，該比較器則對應地比較更新後之該第一參數及該第二參數，並於該第二參數大於更新後之該第一參數時，提供一更新後之能量偵測訊號；其中，該處理器更持續地判斷是否接收到該更新後之能量偵測訊號，並於接收到該更新後之能量偵測訊號時，判斷該訊號之同步操作是否成功。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之能量偵測電路，其中當該訊號之同步操作成功時，該處理器計算該輸入訊號之該訊號雜訊比，並據以設定該加權參數。
  11. 一種能量偵測方法，應用於一接收器中，以參考與一輸入訊號對應之一訊號，找出該輸入訊號對應之一訊號起始時點，該能量偵測方法包括：於一取樣時點對該訊號進行取樣，以找出一第i筆取樣值，其中i為大於1之自然數；暫存一第i-(M+N-1)筆至一第i-N筆取樣值，並暫存一第i-(N-1)筆至一第i筆取樣值，其中M與N為大於1的自然數；設定一加權參數具有一起始值；根據該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出一第一參數，並根據該第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值找出一第二參數；比較該第一及該第二參數，以判斷該第二參數是否大於該第一參數；當該第二參數大於該第一參數時，提供一能量偵測訊號，以判斷對應至第i-(N-1)筆取樣值之一第i-(N-1)個取樣時點為該訊號起始時點，並判斷該訊號之同步操作是否成功；以及當該訊號之同步操作成功時，計算該輸入訊號之一訊號雜訊比，並據以設定該加權參數。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之能量偵測方法，更包括：當該訊號之同步操作失敗時，判斷該取樣時點為該訊號起始時點之操作為一錯誤判斷事件，並調升該加權參數之數值；根據調升操作後之該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出更新後之該第一參數；比較更新後之該第一參數及該第二參數，並於該第二參數大於更新後之該第一參數時，提供一更新後之能量偵測訊號；比較該第一及該第二參數，以判斷該第二參數是否大於該第一參數；當該第二參數大於該第一參數時，提供一更新後能量偵測訊號，以指示該取樣時點為該訊號起始時點，並判斷該訊號之同步操作是否成功；以及當該訊號之同步操作成功時，計算該輸入訊號之該訊號雜訊比，並據以設定該加權參數。
  13. 如申請專利範圍第11項所述之能量偵測方法，更包括：當該第二參數不大於該第一參數時，調降該加權參數之數值；根據調降操作後之該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出更新後之該第一參數；比較更新後之該第一參數及該第二參數，並於該第二參數大於更新後之該第一參數時，提供一更新後之能量偵測訊號以指示該取樣時點為該訊號起始時點，並判斷該訊號之同步操作是否成功；及當該訊號之同步操作成功時，計算該輸入訊號之該訊號雜訊比，並據以設定該加權參數。
  14. 如申請專利範圍第11項所述之能量偵測方法，其中更包括：暫存一第i-(M+N)筆取樣值。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之能量偵測方法，其中根據該加權參數及該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值找出該第一參數之步驟包括：暫存該第i-(M+N)筆至一第i-(N+1)筆取樣值之一第一加總數值；將該第一加總數值減去該第i-(M+N)筆取樣值，並加上該第i-N筆取樣值，以找出該第i-(M+N-1)筆至該第i-N筆取樣值之一第二加總數值；及將該第二加總數值除以數值M，以得到該第一參數。
  16. 如申請專利範圍第11項所述之能量偵測方法，其中根據該第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值找出該第二參數之步驟包括：暫存該第i-N筆至該第i-1筆取樣值之一第一加總數值；將該第一加總數值減去該第i-N筆取樣值，並加上該第i筆取樣值，以找出該第i-(N-1)筆至該第i筆取樣值之一第二加總數值；及將該第二加總數值除以數值N，以得到該第二參數。
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