TWI454947B - 數位試卷批閱系統 - Google Patents

數位試卷批閱系統 Download PDF

Info

Publication number
TWI454947B
TWI454947B TW101111222A TW101111222A TWI454947B TW I454947 B TWI454947 B TW I454947B TW 101111222 A TW101111222 A TW 101111222A TW 101111222 A TW101111222 A TW 101111222A TW I454947 B TWI454947 B TW I454947B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
review
result
test
question
answer
Prior art date
Application number
TW101111222A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201339866A (zh
Inventor
yi ming Sun
Shih Yueh Lin
Original Assignee
Hiachieve Digital Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hiachieve Digital Technology filed Critical Hiachieve Digital Technology
Priority to TW101111222A priority Critical patent/TWI454947B/zh
Publication of TW201339866A publication Critical patent/TW201339866A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI454947B publication Critical patent/TWI454947B/zh

Links

Description

數位試卷批閱系統
本發明係關於一種數位試卷批閱系統,並且特別地,關於一種適用於數位試卷,可降低閱卷所需人力及改善批閱精確度的數位試卷批閱系統。
對受測者及教師而言,學習的成效必須藉由公平準確的測驗方法來得知,舉例而言,傳統作法是透過記載試題的試卷紙讓受測者於紙上作答,於測驗結束後對試卷進行批改以獲得測驗的分數,再將試卷發還給受測者使受測者知道錯誤的部分以加強學習。
近年來電子資訊領域發展快速,原本於各種紙張上進行的文書作業均可數位化而轉於電腦上進行作業,傳統的紙張試卷也可數位化形成數位試卷。數位試卷除了方便出題答題,由於其係以電腦來測試,因此可不浪費紙張而符合目前日益抬頭的環保趨勢。然而,當試卷數位化後,隨之而來的是應該要如何提供批改的機制,使受測者的學習效果可準確地由數位試卷來呈現。
在先前技術中,以數位試卷進行測試的方式可由一伺服器提供數位試卷至受測者所在的終端裝置,令受測者可在終端裝置上直接作答,並將答案回傳到伺服器讓伺服器根據各測驗題的標準答案進行比對的動作。伺服器比對答案後,即可根據各測驗題的答題狀況進行計分,因此,伺服器可自動批改受測者的答案以及所獲得的分數來評量受測者的程度。
先前技術之方式僅可針對其答案沒有模糊空間的題型做批改而給分,例如,選擇、是非、勾選、圈選或連連看等題型。這些題型有標準的正確答案,因此,伺服器僅需比對受測者的答案與標準答案是否完全相同即可判斷是否答對。然而,傳統試卷根據所測驗的科目或領域不同而通常包含有不同的題型,這些題型中某些題型的解答允許模糊空間的存在,例如,填充、計算或問答題等題型。在試卷數位化後,先前技術的批改方式明顯無法對上述答案具有模糊空間的題型提供客觀的評量。舉例而言,一問答題在教科書上可能有一標準的答案,受測者可能回答相似的答案,或是雖然與標準答案不同,但仍具有高度參考價值的答案,以先前技術之方式,受測者的答案可能都會被判斷為錯誤,使測驗的準確度受到嚴重的影響。
因此,本發明之一範疇在於提供一種數位試卷批閱系統,可有效解決先前技術之問題。
根據一具體實施例,本發明之數位試卷批閱系統,可用來批閱受測者對數位試卷的答題結果,其中數位試卷係從題目資料庫中選出測驗題來組成,並且題目資料庫中還存有與各測驗題對應之測驗題解答。於本具體實施例中,數位試卷批閱系統包含終端裝置以及伺服器,並且終端裝置包含輸入模組、自動批閱模組以及計分模組。
輸入模組可供受測者對數位試卷輸入其答題結果,接著,自動批閱模組可根據各測驗題解答,比對受測者所輸入的答題結果,以獲得第一批閱結果,計分模組則可根據第一批閱結果計算分數。伺服器可接收第一批閱結果及分數,且其包含批閱模組,可供批閱者對第一批閱結果與分數再進行批閱,以獲得第二批閱結果。此外,伺服器可將第二批閱結果回傳到終端裝置,使得受測者可同步得知批閱者對其答題結果進行批閱所得到的第二批閱結果。
關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。
請參閱圖一,圖一係繪示根據本發明之數位試卷批閱系統1的示意圖。如圖一所示,數位試卷批閱系統1具有終端裝置10以及與終端裝置10連接之伺服器12,其中,終端裝置10包含輸入模組100、自動批閱模組102以及計分模組104,伺服器12則包含批閱模組120。
於本具體實施例中,一受測者可透過終端裝置10來進行數位試卷的測試。終端裝置10係連接到題目資料庫D,以自其中接收數位試卷並供受測者作答。於實務中,數位試卷也可由伺服器12提供,亦即,伺服器12連接題目資料庫D以獲得數位試卷,再將數位試卷傳送至終端裝置10供受測者作答。數位試卷包含有至少一個以上的測驗題,其係由題目資料庫D內所儲存之測驗題選出,此外,數位試卷於另一具體實施例中也可由伺服器12從題目資料庫D中選出不同測驗題以組成數位試卷。
受測者可透過終端裝置10之輸入模組100,輸入對數位試卷每一測驗題的答題結果,接著,自動批閱模組102可根據對應各測驗題的測驗題解答來比對答題結果,進而獲得第一批閱結果。測驗題解答可與各測驗題同樣儲存於題目資料庫D中,再由本具體實施例之自動批閱模組102取出,或於另一具體實施例中由伺服器12取出再傳送到終端裝置10。根據各測驗題的測驗題解答,自動批閱模組102檢視受測者於各測驗題的答題結果是否正確,接著,計分模組104可對答題正確的測驗題進行給分且算出受測者於此數位試卷所獲得的總分數。當計分模組104計算出總分數後,終端裝置10可將所算出的分數與第一批閱結果傳送到伺服器12。
請再參閱圖一,伺服器12具有批閱模組120。當伺服器120接收到終端裝置10所傳送的第一批閱結果及其分數之後,一批閱者,例如老師或考試官,可透過批閱模組120對第一批閱結果及分數再次批閱而獲得第二批閱結果。第二批閱結果可能是修改第一批閱結果中被判斷答題正確或錯誤之結果,也可為對各測驗題之答題結果進行注解,或為修正分數。當伺服器12獲得第二批閱結果後,可再回傳至終端裝置10,使受測者得知第二批閱結果。詳言之,批閱者(老師或考試官)將各測驗題的答題結果再行審閱批改或是注解後得到第二批閱結果,伺服器將其回傳到終端裝置上而顯示給受測者,因此,受測者可在其終端裝置上同步得知答案被批改後的結果或是批閱者所給予的注解。
上述終端裝置10之自動批閱模組102,進一步具有完全比對以及模糊比對兩種功能。請參閱圖二,圖二係繪示圖一之自動批閱模組102的詳細示意圖。如圖二所示,自動批閱模組102進一步包含有完全比對單元1020、模糊比對單元1022以及統合單元1024。於數位試卷中,測驗題可概略分成具有標準測驗題解答的第一測驗題,以及具有參考測驗題解答的第二測驗題等兩種題型,其中,具有參考測驗題解答的第二測驗題,其答題是否正確的判斷方式具有模糊空間。舉例而言,計算題即使計算過程與參考測驗題解答不盡相同,但若計算過程合乎邏輯且最後答案正確,可視為答題正確。另外,問答題或申論題本身即可能具有多種回答方式,故其參考測驗題解答也可能與答題結果差距甚大。
於本具體實施例中,完全比對單元1020可比對各測驗題中之第一測驗題的答題結果,而產生對應第一測驗題之精確批閱結果,其中,第一測驗題為具有標準測驗題解答的題型。模糊比對單元1022可比對各測驗題中之第二測驗題的答題結果,而產生對應第二測驗題之模糊批閱結果,其中,第二測驗題為具有模糊測驗題解答的題型。統合單元1024連接完全比對單元1020以及模糊比對單元1022,以自兩者接收精確批閱結果與模糊批閱結果,進而組合產生第一批閱結果。
由於第一測驗題為具有標準測驗題解答的題型,例如是非題、選擇題、勾選題、注音題、圈選題或連連看等,因此,精確批閱結果中僅包含答題正確與錯誤兩種結果。然而,由於第二測驗題為具有參考測驗題解答的題型,換言之,受測者的答案是否正確有模糊的空間,例如填充題、計算題、畫畫看、問答題以及申論題等,因此,模糊批閱結果中可能包含答題正確、錯誤與未知(即無法判斷是否正確或錯誤)等三種結果。
完全比對單元1020比對出精確批閱結果後,可對其進行顏色標示,例如,對答題正確者標以綠色標示,及對答題錯誤者以紅色標示。另一方面,模糊比對單元1022比對出模糊批閱結果後,也可對其進行標示,例如,對答題正確者標以綠色標示,對答題錯誤者以紅色標示,以及對無法判斷是否正確或錯誤者以黃色標示。
上述包含精確批閱結果與模糊批閱結果的第一批閱結果傳送到伺服器12後,伺服器12可依模糊批閱結果對第二測驗題的答題結果再一次進行批閱。詳言之,批閱者可透過伺服器12之批閱模組120,對模糊批閱結果中包含標示為黃色,即無法判斷答題正確或錯誤者,以人力方式對其答題結果進行批閱,接著再根據批閱的結果給分並修改分數。當批閱者透過批閱模組120批閱完所有需要人力批閱的答題結果時並修改總分數後,可獲得第二批閱結果。請注意,於實務中,批閱者透過批閱模組120不僅可修改或批閱第二測驗題,同時也可修改或批閱第一測驗題,以避免自動批閱模組102批閱發生錯誤或是題目資料庫D中的測驗題解答有錯造成批閱不精確的狀況。
伺服器12可將上述第二批閱結果回傳給終端裝置10,令受測者或學習者可在終端裝置10上看到第二批閱結果,以了解自己答題的狀況。藉由本具體實施例之數位批閱系統1,可自動地對答題結果中具有標準答案的測驗題進行完全比對以及對具有參考答案的測驗題進行模糊比對,再由批閱者對具模糊空間的測驗題或答題結果無法由系統準確判斷的測驗題進行人工批閱,以同時提高批閱的精確性與降低閱卷所需的人力。
由於現今通訊技術發達,因此,上述具體實施例之終端裝置10除了可為桌上型電腦或其他固定式的處理裝置,並藉有線網路連接伺服器12之外,還可為各種可攜式電子裝置,藉由無線網路與伺服器12溝通。舉例而言,終端裝置10可為平板電腦、智慧型手機或PDA等,藉3G、藍芽或WiFi等無線網路直接與伺服器12溝通或是連接到有線網路。
如上述,終端裝置可為平板電腦等可攜式電子裝置,因此,批閱者可於受測者做完測驗後,再於平板電腦上直接進行批閱。請參閱圖三A,圖三A係繪示根據本發明之另一具體實施例之數位試卷批閱系統2的示意圖,圖三B係繪示根據本發明之又一具體實施例之數位試卷批閱系統3的示意圖。數位試卷批閱系統2、3與上述具體實施例中之數位試卷批閱系統1不同處,在於數位試卷批閱系統2、3之終端裝置20、30分別包含有終端批閱模組206、306。終端批閱模組206、306可供同一批閱者或不同批閱者對答題結果進行批閱,進而獲得第三批閱結果並將其顯示給受測者。請注意,數位試卷批閱系統2、3的其他單元係與數位試卷批閱系統1相對應的單元大體上相同,故於此不再贅述。
如圖三A所示,終端批閱模組206係連接到輸入模組200,可讓批閱者透過終端批閱模組206直接批閱由輸入模組輸入的答題結果,而得到一第三批閱結果及其分數。此第三批閱結果也可由終端裝置20傳送到伺服器22,並可與第二批閱結果進行比對。利用終端批閱模組206進行批閱的批閱者,與利用伺服器22之批閱模組220進行批閱的批閱者可為不同人。舉例而言,家長可利用終端批閱模組206在家裡幫學生批閱試卷,並將第三批閱結果傳送至伺服器22,而老師則可在伺服器22端批閱得到第二批閱結果。
如圖三B所示,終端批閱模組306於本具體實施例中連接到自動批閱模組302與計分模組304,以從自動批閱模組302接收第一批閱結果並從計分模組304接收分數。批閱者可透過終端批閱模組306對第一批閱結果與分數再進行批閱或修改,例如,對前述具有參考測驗題解答的第二測驗題進行批閱並給分等,進而獲得第三批閱結果。同樣地,第三批閱結果也可由終端裝置30傳送至伺服器32,並進一步再與第二批閱結果互相比對。
綜上所述,本發明之數位試卷批閱系統,可藉由自動批閱模組先對具有標準答案的測驗題答題結果進行完全比對,並對具有參考答案的測驗題答題結果進行模糊比對,得到第一批閱結果及其分數。接著,第一批閱結果及分數可傳送到伺服器端,令批閱者可對第一批閱結果及分數再進行批閱,例如對具有參考答案或是模糊空間的測驗題再詳細審閱、修改或加註,而獲得第二批閱結果並回傳至終端裝置。藉由自動對答案沒有模糊空間的測驗題型進行完全比對,且對答案有模糊空間的測驗題型進行模糊比對並標示的方式,可降低批閱數位試卷所需的人力並同時兼顧批閱的精確度。
藉由以上較佳具體實施例之詳述,係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神,而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地,其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。因此,本發明所申請之專利範圍的範疇應該根據上述的說明作最寬廣的解釋,以致使其涵蓋所有可能的改變以及具相等性的安排。
1、2、3...數位試卷批閱系統
10、20、30...終端裝置
12、22、32...伺服器
100、200、300...輸入模組
102、202、302...自動批閱模組
104、204、304...計分模組
206、306...終端批閱模組
120、220、320...批閱模組
D...題目資料庫
1020...完全比對單元
1022...模糊比對單元
1024...統合單元
圖一係繪示根據本發明之數位試卷批閱系統的示意圖。
圖二係繪示圖一之自動批閱模組的詳細示意圖。
圖三A係繪示根據本發明之另一具體實施例之數位試卷批閱系統的示意圖
圖三B係繪示根據本發明之又一具體實施例之數位試卷批閱系統的示意圖。
1...數位試卷批閱系統
10...終端裝置
12...伺服器
100...輸入模組
102...自動批閱模組
104...計分模組
120...批閱模組
D...題目資料庫

Claims (9)

  1. 一種數位試卷批閱系統,用以批閱一受測者對一數位試卷之一答題結果,該數位試卷包含一題目資料庫中所儲存之至少一測驗題,該數位試卷批閱系統包含:一終端裝置,用以接收該數位試卷,該終端裝置包含:一輸入模組,用以供該受測者輸入該答題結果;一自動批閱模組,連接該輸入模組,該自動批閱模組係用以根據該題目資料庫中所儲存對應該至少一測驗題之至少一測驗題解答比對該答題結果,以獲得一第一批閱結果,其中該至少一測驗題包含一第一測驗題以及一第二測驗題,該第一測驗題對應該至少一測驗題解答中之一標準測驗題解答,該第二測驗題對應該至少一測驗題解答中之一參考測驗題解答,該自動批閱模組進一步包含:一完全比對單元,用以根據該標準測驗題解答,比對該答題結果中對應該第一測驗題之一第一答題結果,以產生一準確批閱結果;一模糊比對單元,用以根據該參考測驗題解答,比對該答題結果中對應該第二測驗題之一第二答題結果,以產生一模糊批閱結果;以及一統合單元,連接該完全比對單元以及該模糊比對單元,用以根據該準確批閱結果以及該模糊批閱結果產生該第一批閱結果;一計分模組,用以根據該第一批閱結果計算一分數; 以及一伺服器,連接該終端裝置,用以儲存該第一批閱結果以及該分數,該伺服器包含一批閱模組,用以供一批閱者批閱該第一批閱結果以及該分數,以產生一第二批閱結果。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之數位試卷批閱系統,其中該終端裝置接收該第二批閱結果,並顯示給該受測者。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之數位試卷批閱系統,其中該第一測驗題包含選自由是非題、選擇題、勾選題、注音題、圈選題以及連連看所組成群組中之一者,並且該第二測驗題包含選自由填充題、計算題、畫畫看、問答題以及申論題所組成群組中之一者。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之數位試卷批閱系統,其中該準確批閱結果包含正確以及錯誤中之一者。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之數位試卷批閱系統,其中該模糊批閱結果包含正確、錯誤以及未知中之一者。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之數位試卷批閱系統,其中當該模糊批閱結果係為未知,該批閱模組供該批閱者批閱該第二答題結果。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之數位試卷批閱系統,其中該終端裝置係一平板電腦。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之數位試卷批閱系統,其中該 終端裝置進一步包含連接該輸入模組之一終端批閱模組,用以供該批閱者批閱該答題結果以獲得一第三批閱結果。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之數位試卷批閱系統,其中該終端裝置進一步包含一終端批閱模組,該終端批閱模組係連接該自動批閱模組以及該計分模組,用以供該批閱者批閱該第一批閱結果以及該分數,以獲得一第三批閱結果。
TW101111222A 2012-03-30 2012-03-30 數位試卷批閱系統 TWI454947B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101111222A TWI454947B (zh) 2012-03-30 2012-03-30 數位試卷批閱系統

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101111222A TWI454947B (zh) 2012-03-30 2012-03-30 數位試卷批閱系統

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201339866A TW201339866A (zh) 2013-10-01
TWI454947B true TWI454947B (zh) 2014-10-01

Family

ID=49770917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101111222A TWI454947B (zh) 2012-03-30 2012-03-30 數位試卷批閱系統

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI454947B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI712013B (zh) * 2018-07-06 2020-12-01 道鑛有限公司 考選系統及考選裝置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7286793B1 (en) * 2001-05-07 2007-10-23 Miele Frank R Method and apparatus for evaluating educational performance
TW201005695A (en) * 2008-07-23 2010-02-01 Tzu-Li Lo On-line testing system and method thereof
TW201015367A (en) * 2008-10-09 2010-04-16 cheng-fu Tang Listening, speaking, reading and writing online test, tutoring and scoring system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7286793B1 (en) * 2001-05-07 2007-10-23 Miele Frank R Method and apparatus for evaluating educational performance
TW201005695A (en) * 2008-07-23 2010-02-01 Tzu-Li Lo On-line testing system and method thereof
TW201015367A (en) * 2008-10-09 2010-04-16 cheng-fu Tang Listening, speaking, reading and writing online test, tutoring and scoring system

Also Published As

Publication number Publication date
TW201339866A (zh) 2013-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Allen et al. Categorising the broad impacts of continuing professional development: a scoping review
Collins et al. The teaching perspectives inventory at 10 years and 100,000 respondents: Reliability and validity of a teacher self-report inventory
Colthart et al. The effectiveness of self-assessment on the identification of learner needs, learner activity, and impact on clinical practice: BEME Guide no. 10
Yates et al. The impact of school-based assessment for qualifications on teachers’ conceptions of assessment
Tavakol et al. Post-examination interpretation of objective test data: monitoring and improving the quality of high-stakes examinations: AMEE Guide No. 66
Jackson Self-assessment of employability skill outcomes among undergraduates and alignment with academic ratings
Chen et al. Personality type, perceptual style preferences, and strategies for learning English as a foreign language
Ganapathy et al. Malaysian ESL students’ perceptions on the usability of a mobile application for grammar test: A case study of ESL undergraduates in Universiti Sains Malaysia
Zou et al. Effect of different score reports of Web-based formative test on students' self-regulated learning
Zhu et al. Data acquisition and preprocessing in studies on humans: what is not taught in statistics classes?
Hardegree Standards-based assessment and high stakes testing: Accuracy of standards-based grading
US20150339937A1 (en) Methods and systems for testing with test booklets and electronic devices
Uchida et al. Resources used to teach the physical exam to preclerkship medical students: results of a national survey
Ho et al. Performance of speech-language pathology students in problem-based learning tutorials and in clinical practice
Sam et al. Time for preference-informed foundation allocation?
Morano et al. Accuracy of area model and number line representations of fractions for students with learning disabilities
Robshaw et al. Keeping afloat: student nurses’ experiences following assignment referral
Carlson et al. The impact of a diagnostic reminder system on student clinical reasoning during simulated case studies
TWI454947B (zh) 數位試卷批閱系統
JP6900736B2 (ja) 学習支援装置及びプログラム
Akayuure Classroom assessment literacy levels of Mathematics teachers in Ghanaian senior high schools
Humphreys et al. A preliminary analysis of a competence assessment tool for postgraduate training programmes in clinical and forensic psychology
KR20180064099A (ko) 온라인 네트워크를 통해 주관식 수학 문제를 채점하는 장치 및 방법
JP2005331650A (ja) 学習システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
Lee et al. Validation of a scale for mentoring practices specific to scientific communication among trainees

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees