TWI453646B - 電容式觸控裝置及其感測方法 - Google Patents

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Description

電容式觸控裝置及其感測方法
本發明是有關於一種電容式觸控裝置及其感測方法。
現有的電容式觸控裝置在感測電容式觸控面板後，依感測的結果辨別電容式觸控面板有無被接觸，並據以判斷碰觸位置(position)或是操控手勢(gesture)。為了提高操作敏感度(sensitivity)，感測結果必須要被檢視以區別微量差異。然而，電容式觸控裝置的實際操作環境可能充滿雜訊，必須要增強訊號強度或是降低雜訊才能夠得到相同的訊雜比(signal to noise ratio，SNR)並保持操作敏感度。
增強訊號強度的作法例如可以增強驅動電壓。常見的雜訊會與電容式觸裝置形成新的電場而造成影響。電場來源包括人體靜電、液晶顯示器模組(LCD module)、電源供應器、充電器或電器產品(household appliances)等。降低雜訊的方法例如可採用同步(synchronous)、遮蔽(shielding)、濾波(filtering)或接地(grounding)等，以降低雜訊來保持較佳的訊雜比。
然而，上述增強訊號強度或是降低雜訊的方法在整體設計上都需要額外的成本，且可能造成整體機構設計的改變而無法達成產品輕薄化的目的。
根據本揭露之第一方面，提出一種電容式觸控裝置， 包括電容式觸控面板、驅動控制單元、轉換單元及處理單元。電容式觸控面板具有由m條驅動線(driving line)與n條感測線(sensing line)組成之m×n感測點矩陣，m及n為正整數。驅動控制單元耦接m條驅動線，並對應地依序地在m個驅動期間中將m個驅動訊號分別提供至m條驅動線。轉換單元耦接至n條感測線，並對應地在各m個驅動期間中，參考n條感測線對應之多個感測點的電壓，以轉換得到n筆感測數值。處理單元耦接該轉換單元，以在各m個驅動期間中接收m×n筆感測數值，處理單元參考m×n筆感測數值的轉換時間次序，將m×n筆感測數值劃分為多筆感測數值集合。對於各筆感測數值集合中之感測數值來說，其經由轉換單元於實質上相同的時間點轉換得到。處理單元以各筆感測數值集合為基礎，分別針對其找出多筆雜訊校正基準數值。處理單元根據該些雜訊校正基準數值來對各筆感測數值集合中的感測數值進行校正，藉此得到m×n筆校正後感測數值。
根據本揭露之第二方面，提出一種電容式觸控裝置之感測方法，電容式觸控裝置包括電容式觸控面板、驅動控制單元、轉換單元及處理單元。電容式觸控面板具有由m條驅動線與n條感測線組成之m×n感測點矩陣，驅動控制單元耦接m條驅動線，n條感測線與該轉換單元耦接。處理單元耦接轉換單元，m及n為正整數。電容式觸控裝置之感測方法包括下列步驟。首先應用驅動控制單元驅動m條驅動線中之第M條驅動線，使n條感測線上與第M條驅動線對應之感測點產生電壓變化，M為小於或等於m之 自然數，且M的起始值等於1。接著應用處理單元驅動轉換單元中之多路傳輸網路，以選擇n條感測線其中之多條感測線。然後應用轉換單元中之多個類比數位轉換器來偵測些條被選擇之感測線上之電壓變化，以感測得到多筆感測數值。然後應用處理單元判斷是否欲針對此些筆感測數值進行雜訊消除操作；若是，則應用處理單元計算各筆感測數值與基礎掃描數值間的差值。然後應用處理單元來根據與此些筆感測數值對應之多筆差值進行統計運算操作，以產生與此些筆感測數值對應之雜訊校正基準數值。之後應用處理單元根據雜訊校正基準數值來對此些筆差值進行校正，並儲存校正後之此些筆差值。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：
本實施例所提出之電容式觸控裝置及其感測方法針對電容式感測操作中，實質上於相近時間所感測到之感測數值來估算雜訊校正基準數值，並據以針對電容式觸控操作中所得到之感測數值進行校正。
請參照第1圖，其繪示依照一實施範例之電容式觸控裝置之方塊圖。電容式觸控裝置1包括電容式觸控面板110、驅動控制單元120、轉換單元130及處理單元140。電容式觸控面板110具有由m條驅動線(driving line)y1 -ym 與n條感測線(sensing line)x1 -xn 組成之m×n感測點矩陣，其中m及n為正整數。
驅動控制單元120耦接至m條驅動線y1 -ym ，並依序地在m個驅動期間Td_1至Td_m中，將m個驅動訊號分別提供至該m條驅動線y1 -ym ，其中Td_1至Td_m皆出現1次以上的週期。電容式觸控裝置1更包括m個驅動器152，且驅動控制單元120透過m個驅動器152，以可程式化陣列邏輯(programmable array logic)的方式分別耦接m條驅動線y1 -ym ，並對其進行驅動。舉例來說，此m條驅動線y1 -ym 上的訊號波形可如第2圖所示。
轉換單元130例如以可程式化陣列邏輯的方式耦接至n條感測線x1 -xn ，並對應地在各m個驅動期間Td_1至Td_m中，參考n條感測線x1 -xn 對應之多個感測點的電壓，以轉換得到n筆感測數值。舉例來說，此n條感測線x1 -xn 上的電壓波形可如第3圖所示，其中在驅動期間Td_1中，電壓訊號係被提供至驅動線y1 上，使得感測線x1 -xn 上對應的感測點發生位準變化。轉換單元130對應地偵測感測線x1 -xn 上的電壓變化，來判斷是否有手指碰觸事件發生在各感測線上x1 -xn 與驅動線的交集。當感測線x1 -xn 上的電壓對應至位準LV_OFF時，表示其上並未發生手指碰觸事件；相對地當感測線x1 -xn 上的電壓對應至位準LV_ON時，表示其上對應地發生手指碰觸事件。
進一步的說，轉換單元130包括多路傳輸網路135及k個類比數位轉換器133，其中k為小於或等於n之整數。舉例來說，多路傳輸網路135包括n個輸入端及k個輸出端，其中n個輸入端分別耦接至n條感測線x1 -xn ，k個輸出端分別耦接至k個類比數位轉換器133。多路傳輸網路 135以分時多工的方式將連接n條感測線x1 -xn 與k個類比數位轉換器133，k個類比數位轉換器133將接收到的電壓訊號轉換為感測數值，此感測數值指示每條驅動線與感測線交錯的感測點之電容感應量。舉例來說，各k個類比數位轉換器133中包括放大子單元、積分子單元、濾波子單元、取樣保持子單元及類比數位轉換子單元。
舉例來說，各m個驅動期間Td_1至Td_m中更包括z個感測期間Ts_1至Ts_z；於各z個感測期間Ts_1至Ts_z中，k個類比數位轉換器133係針對n條感測線x1 -xn 其中部份之k條被選到之感測線上的感測點的電壓進行轉換，以得到一筆感測數值集合，其中z實質上等於n除以k的商再取其上整數(Ceiling Function)，而各筆感測數值集合包括小於或等於k筆感測數值。舉一個操作實例來說，n等於k；換言之，n等於k，且z等於1。據此，各m個驅動期間Td_1至Td_m中包括1個感測期間Ts，k個類比數位轉換器133於此感測期間Ts中，針對n條感測線x1 -xn 上的電壓進行轉換，以對應地感測得到1筆感測數值集合，其中各筆感測數值集合包括k筆感測數值。
在另一個例子中，n等於2k+r；換言之，n無法被k整除，而有餘數r，其中z等於3，且r為小於k的自然數。據此，各m個驅動期間Td_1至Td_m中對應地包括3個感測期間Ts_1至Ts_3，k個類比數位轉換器133分別於此3個感測期間Ts_1至Ts_3中針對n條感測線x1 -xn 上的電壓進行轉換，以對應地感測得到3筆感測數值集合，其中此3筆感測數值集合例如分別包括k筆、k筆及r筆感測 數值。
據此，經由前述k個類比數位轉換器133的操作，轉換單元130可在m×z個感測期間中針對電容式觸控面板110中所有之m×n感測點矩陣進行m×z次資料轉換操作，藉此得到m×z筆感測數值集合，即是m×n筆感測數值。
處理單元140耦接k個類比數位轉換器133，其採用互耦式感應(mutual sensing)以感測m×n感測點矩陣，並對k個類比數位轉換器133轉換得到的偵測數值做後續的判斷處理。舉例來說，驅動控制單元120與處理單元140實質上可整合為電容感測積體電路(capacitance sensing IC)。另外也可舉例來說，驅動控制單元120與處理單元140實質上亦可分別是驅動電路與處理器。
理想上來說，當手指碰觸事件觸發時，各m×n個感測點的位準對應至位準LV_ON；而當手指碰觸事件未觸發時，各m×n個感測點的位準對應至位準LV_OFF。然而在實際情形中，雜訊往往會影響各m×n個感測點的電壓位準。若雜訊干擾出現在各m×n個感測點對應之感測期間中，將使得各m×n個感測點上的電壓位準發生偏移，而轉換單元130亦根據位準偏移的電壓位準轉換得到數值上下波動的感測數值。
請參照第4圖，其繪示第(i,j)個感測點的感測數值的模擬圖。舉一個操作實例來說，對於m×n個感測點中之第(i,j)個感測點來說，其具有基礎掃描(Baseline)數值BL(例如等於1205)，而其於連續30次掃描操作中所轉換得到的感測數值如曲線C1所示，而相對應之基礎掃描數值BL 如曲線C2所示，其中i與j分別為小於或等於m及小於或等於n之正整數。當手指碰觸事件未觸發時，第(i,j)個感測點的感測數值因雜訊的影響，使得其數值在基礎掃描數值BL鄰近的數值範圍(例如是1200至1210)之間偏移，如第4圖中之第1-9筆及第19-30筆感測數值。相對地，當手指碰觸事件觸發時，由於第(i,j)個感測點上的等效電容值係對應地下降，使得基礎掃描數值BL與各筆感測數值的差值d約等於數值50。此外因雜訊的影響，使得第(i,j)個感測點的感測數值在數值1155鄰近的數值範圍(例如是1150至1160)之間偏移，如第4圖中第10-18筆感測數值。
在第4圖所示的操作實例中，雜訊所造成的數值偏移量的級數(正負5)約等於差值d的級數(負50)的十分之一。這樣一來，處理單元140可依據基礎掃描數值BL與各筆感測數值間的差值d大小，來判斷是否有手指碰觸事件觸發於第(i,j)個感測點上。然而，在其他當雜訊強度較高的例子中，基於雜訊所造成的數值偏移量很可能接近基礎掃描數值BL與各筆測數值間的差值d，進而導致處理單元140發生誤判或無法正確地感測手指碰觸事件的情形。
為了克服前述雜訊造成誤判的問題，本實施例之處理單元140係參考m×n筆感測數值的轉換時間次序，來找出其中於實質上相近時間感測到之感測數值。本實施例之處理單元140更根據各組實質上於相近時間感測到之感測數值來進行統計運算，藉此找出對應之一筆雜訊校正基準數值dx，並據以針對各組實質上於相近時間感測到之感測數值進行修正。這樣一來，本實施例之處理單元140可消除 各m×n筆感測數值中之雜訊成分，進而實現實質上具有抗雜訊功能之電容式感測操作。
進一步的說，處理單元140包括處理器及儲存器。處理器可以微處理器或數位訊號處理器(Digital Signal Processor，DSP)來實現，其耦接轉換單元130，以在各m個驅動期間Td_1至Td_m中接收m×z筆感測數值集合(其中對應地包括m×n筆感測數值)。
舉例來說，在本實施例之轉換單元130於m×z個感測期間中分別感測得到m×z筆感測數值集合，而對於各m×z筆感測數值集合來說，其中之各筆感測數值係於實質上相同的時間中所感測得到。據此，本實施例之處理器例如以各m×z筆感測數值集合為基礎，計算各m×z筆感測數值集合中各筆感測數值與基礎掃描數值BL間的差值d。處理器更根據與各m×z筆感測數值集合對應之此些筆差值進行統計運算操作，以產生各對應之雜訊校正基準數值dx。處理器更根據各雜訊校正基準數值dx來此些筆差值d進行校正，並將校正後之差值d’儲存在儲存器中。
舉一個操作實例來說，本實施例中之參數k等於10，且並未有手指碰觸事件觸發於對應之感測線上，此外各筆感測數值係受到正極性雜訊之影響；而經由k個類比數位轉換器133所得到之10筆感測數值、基礎掃描數值BL、基礎掃描數值1205與各筆感測數值的差值d、雜訊校正基準數值dx及修正後差值d’具有如下表1所列模擬數值：
在這個例子中，本實施例之處理器係以中間值選取統計方法，來找出各筆差值d中的中間值(即是數值-301)，並以其決定雜訊校正基準數值dx的數值。本實施例之處理器更將各筆差值d減去雜訊校正基準數值dx，以得到各筆校正後之差值d。
據此，即便各筆感測數值受到巨幅之正極性雜訊的影響，本實施例之處理器可經由參考各筆差值的中間值的方式來找出雜訊針對各筆值所造成的數值偏移，並據以對各筆差值d進行雜訊修正。
在另一個操作實例中，本實施例中之參數k等於10，且手指碰觸事件觸發於對應至第5個類比數位轉換器的感測線上。在這個操作實例中，經由k個類比數位轉換器133所得到之10筆感測數值、基礎掃描數值BL、基礎掃描數值1205與各筆感測數值的差值d、雜訊校正基準數值dx及修正後差值d’具有如下表2所列模擬數值：
在這個例子中，本實施例之處理器仍可透過中間值選取統計方法，來找出各筆差值d中的中間值(即是數值-301)，並以其決定雜訊校正基準數值dx的數值。本實施例之處理器更將各筆差值d減去雜訊校正基準數值dx，以得到各筆校正後之差值d。據此，即便各筆感測數值受到巨幅之正極性雜訊的影響，本實施例之處理器可經由參考各筆差值的中間值的方式來找出雜訊針對各筆值所造成的數值偏移，並據以對各筆差值d進行雜訊修正。
在其他例子中，各筆感測數值受到負極性雜訊影響，而其上之選擇性地有手指碰觸事件觸發；在這個操作實例中，經由k個類比數位轉換器133所得到之10筆感測數值、基礎掃描數值BL、基礎掃描數值1205與各筆感測數值的差值d、雜訊校正基準數值dx及修正後差值d’具有如下表3及4所列模擬數值：
據此，即便各筆感測數值受到巨幅之負極性雜訊的影響，本實施例之處理器可經由參考各筆差值的中間值的方式來找出雜訊針對各筆值所造成的數值偏移，並據以對各筆差值d進行雜訊修正。
在本實施例前述表1至4的情形中，雖僅以本實施例之處理器經由中間值選取統計方法，來找出雜訊校正基準數值dx的例子作說明，然，本實施例之處理器並不侷限於此。基於相似之精神，本實施例之處理器亦可經由最小值選取統計方法、平均值計算統計方法、均方根值計算統計方法、中間幾個值平均選取統計方法、排序後中間值上值選取統計方法、排序後中間值下值選取統計方法或其他相似的統計方法，來找出雜訊校正基準數值dx。
在本實施例中，雖僅以處理單元140以各m×z筆感測數值集合為基礎，來進行相對應之差值d、雜訊校正基準數值dx及校正後之差值d’的情形為例作說明，然，本實施例之處理單元140並不侷限於此。在其他例子中，處理單元140亦可放寬選取感測數值集合的判斷條件，而將m×n感測點矩陣中位於連續相鄰x列的感測點均視為於實質上相近時間中所感測到之感測數值，其中x為任意小於或等於m的正整數。
請參照第5圖，其繪示依照一實施例之電容式觸控裝置之感測方法的流程圖。本實施例之感測方法應用於電容式觸控裝置1中，其中包括下列之步驟。首先如步驟(a)，於其中驅動控制單元120驅動m條驅動線y1 -ym 中之第M條驅動線，使得n條感測線x1 -xn 上與第M條驅動線對應之感測點產生電壓變化，M為小於或等於m之自然數，且M的起始值等於1。接著如步驟(b)，於其中處理單元140驅動多路傳輸網路135，以選擇n條感測線其中之多條感測線，使其與k個類比數位轉換器133其中之部分或全部相連接。
然後如步驟(c)，於其中k個類比數位轉換器133中與前述被選擇之感測線連接之多個類比數位轉換器偵測此些條被選擇之感測線上之電壓變化，以感測得到多筆感測數值。接著如步驟(d)，於其中處理單元140判斷是否欲針對此些筆感測數值進行雜訊消除操作；若是，則執行步驟(e)，於其中處理單元140計算各些筆感測數值與基礎掃描數值BL間的差值d。然後執行步驟(f)，於其中處理單元 140根據與此些筆感測數值對應之多筆差值d進行統計運算操作，以產生與此些筆感測數值對應之一筆雜訊校正基準數值dx。之後如步驟(g)，於其中處理單元140根據雜訊校正基準數值dx來對此些筆差值d進行校正，並儲存校正後之k筆差值d’。
請參照第6圖，其繪示一實施例之電容式觸控裝置之感測方法的部份流程圖。其中於步驟(d)之後，當不欲針對該些筆感測數值進行雜訊消除操作時，執行步驟(h)，於其中處理單元140判斷是否完成針對第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作；若否，則執行步驟(i)，於其中處理單元140驅動多路傳輸網路135選擇n條感測線x1 -xn 中尚未選擇到之其他條感測線。本實施例之感測方法於步驟(i)之後，重複執行步驟(b)，以針對第M條驅動線上其餘之感測線上對應之感測點進行感測操作。
請參照第7圖，其繪示一實施例之電容式觸控裝置之感測方法的部份流程圖。其中於步驟(h)之後，當已完成此第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作時，執行步驟(i')，於其中處理單元140調整參數M。舉例來說，處理單元140例如判斷參數M是否等於m；若否，則將參數M遞增1。本實施例之感測方法於步驟(i')之後，重複執行步驟(a)，以針對第M條驅動線上其餘之感測線上對應之感測點進行感測操作。
請回頭參照第5圖。舉例來說，在步驟(g)之後，本實施例之感測方法例如執行步驟(h)、(i)及(i')，以在針對目前之此些感測數值完成相對應之雜訊消除操作後，判斷是 否欲針對其他筆感測數值進行相對應的操作。
本實施例之電容式觸控裝置及其感測方法係應用處理單元在電容式觸控裝置的電容式感測操作中，找出m×n個感測點陣列中於實質上相近之時點進行感測之多個感測點，並找出其之感測數值。本實施例之電容式觸控裝置及其感測方法更應用處理單元來以此些筆感測數值為基礎，據以找出一筆雜訊校正基準數值。本實施例之電容式觸控裝置及其感測方法更應用處理單元來根據此雜訊校正基準數值對此些筆感測數值進行校正，藉此校正後感測數值。據此，相較於傳統電容式觸控裝置，本實施例之電容式觸控裝置及其感測方法具有可實現實質上具有抗雜訊功能之電容式感測操作的優點。
綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧電容式觸控裝置
110‧‧‧電容式觸控面板
120‧‧‧驅動控制單元
152‧‧‧驅動器
130‧‧‧轉換單元
135‧‧‧多路傳輸網路
133‧‧‧類比數位轉換器
40‧‧‧處理單元
第1圖繪示依照一實施範例之電容式觸控裝置之方塊圖。
第2圖繪示乃驅動線y1 -ym 上的訊號波形時序圖。
第3圖繪示乃感測線x1 -xn 上的訊號波形時序圖。
第4圖繪示第(i,j)個感測點的感測數值的模擬圖。
第5圖繪示依照一實施例之電容式觸控裝置之感測方 法的流程圖。
第6圖繪示依照一實施例之電容式觸控裝置之感測方 法的部份流程圖。
第7圖繪示依照一實施例之電容式觸控裝置之感測方法的部份流程圖。
(a)-(g)‧‧‧流程步驟

Claims (9)

  1. 一種電容式觸控裝置，包括：一電容式觸控面板，具有由m條驅動線(driving line)與n條感測線(sensing line)組成之一m×n感測點矩陣，m及n為正整數；一驅動控制單元，耦接該m條驅動線，並對應地依序地在m個驅動期間中將m個驅動訊號分別提供至該m條驅動線；一轉換單元，耦接至該n條感測線，並對應地在各該m個驅動期間中，參考該n條感測線對應之複數個感測點的電壓，以轉換得到n筆感測數值；以及一處理單元，耦接該轉換單元，以在各該m個驅動期間中接收該m×n筆感測數值，該處理單元參考該m×n筆感測數值的轉換時間次序，將該m×n筆感測數值劃分為複數筆感測數值集合，對於各該些筆感測數值集合中之感測數值來說，其係經由該轉換單元於實質上相同的時間點轉換得到；其中，該處理單元以各該些筆感測數值集合為基礎，分別針對該些筆感測數值集合找出複數筆雜訊校正基準數值，該處理單元更根據該些雜訊校正基準數值來對各該些筆感測數值集合中的感測數值進行校正，藉此得到m×n筆校正後感測數值。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電容式觸控裝置，其中該轉換單元包括： 一多路傳輸網路，包括n個輸入端及k個輸出端，該n個輸入端分別耦接至該n條感測線，其中k為小於或等於n之整數；及k個類比數位轉換器，分別耦接至該k個輸出端，各該m個驅動期間更包括z個感測期間，該k個類比數位轉換器係在各該z個感測期間中，針對該n條感測線對應之複數個感測點的電壓進行轉換，以得到一個感測數值集合，其中z實質上等於n除以k的商取上整數(Ceiling Function)，而各該些筆感測數值集合包括小於或等於k筆感測數值。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之電容式觸控裝置，其中該處理單元依序地接收該k個類比數位轉換器所提供之該感測數值集合，並計算該感測數值集合中各筆感測數值與一基礎掃描數值間的一差值，該處理單元更根據該感測數值集合對應之該些差值進行一統計運算操作，以產生與該感測數值集合對應之一筆雜訊校正基準數值；其中，該處理單元更根據該雜訊校正基準數值來對該些差值進行校正，並儲存校正後之該些差值。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之電容式觸控裝置，其中該統計運算操作可選擇性地為一最小值選取、一中間值選取、一排續在中間值上或下的值、一排續在中間值上和下的平均值及一平均值計算其中之一。
  5. 一種電容式觸控裝置之感測方法，該電容式觸控裝置包括一電容式觸控面板、一驅動控制單元、一轉換單元及一處理單元，該電容式觸控面板具有由m條驅動線與n條感測線組成之一m×n感測點矩陣，該驅動控制單元耦接該m條驅動線，該n條感測線與該轉換單元耦接，該處理單元耦接該轉換單元，m及n為正整數，該電容式觸控裝置之感測方法包括：(a)應用該驅動控制單元驅動該m條驅動線中之一第M條驅動線，使得該n條感測線上與該第M條驅動線對應之感測點產生電壓變化，其中M為小於或等於m之自然數，且M的起始值等於1；(b)應用該處理單元驅動該轉換單元中之一多路傳輸網路，以選擇該n條感測線其中之複數條感測線；(c)應用該轉換單元中之複數個類比數位轉換器來偵測該些條被選擇之感測線上之電壓變化，以感測得到複數筆感測數值；(d)應用該處理單元判斷是否欲針對該些筆感測數值進行雜訊消除操作；(e)當欲針對該複數筆感測數值進行雜訊消除操作時，應用該處理單元計算各該些筆感測數值與一基礎掃描數值間的一差值；(f)應用該處理單元來根據與該些筆感測數值對應之複數筆差值進行一統計運算操作，以產生與該些筆感測數值對應之一筆雜訊校正基準數值；以及(g)應用該處理單元根據該雜訊校正基準數值來對該 些筆差值進行校正，並儲存校正後之該些筆差值。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之感測方法，更包括：(h)當不欲針對該些筆感測數值進行雜訊消除操作時，應用該處理單元判斷是否完成針對該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作；(i)當尚未完成該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作時，應用該處理單元驅動該多路傳輸網路選擇該n條感測線中尚未選擇到之複數條感測線；及其中於步驟(i)之後，該感測方法重複執行步驟(b)。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之感測方法，更包括：(i')當已完成該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作時，應用該處理單元調整參數M；其中於步驟(i')之後，該感測方法重複執行步驟(a)。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之感測方法，其中於步驟(g)之後更包括：(h)應用該處理單元判斷是否完成針對該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作；(i)當尚未完成該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作時，應用該處理單元驅動該多路傳輸網路選擇該n條感測線中尚未選擇到之複數條感測線；及其中於步驟(i)之後，該感測方法重複執行步驟(b)。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之感測方法，更包括：(i')當已完成該第M條驅動線上所有n個感測點的感測操作時，應用該處理單元調整參數M；其中於步驟(i')之後，該感測方法重複執行步驟(a)。
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