TWI446526B - 形成橫向分佈發光二極體的方法 - Google Patents

形成橫向分佈發光二極體的方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI446526B
TWI446526B TW98100075A TW98100075A TWI446526B TW I446526 B TWI446526 B TW I446526B TW 98100075 A TW98100075 A TW 98100075A TW 98100075 A TW98100075 A TW 98100075A TW I446526 B TWI446526 B TW I446526B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
multiple quantum
forming
quantum well
dielectric layer
emitting diode
Prior art date
Application number
TW98100075A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201027787A (en
Inventor
Chun Yen Chang
Tsung Hsi Yang
Yen Chen Chen
Original Assignee
Himax Display Inc
Chun Yen Chang
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Himax Display Inc, Chun Yen Chang filed Critical Himax Display Inc
Priority to TW98100075A priority Critical patent/TWI446526B/zh
Publication of TW201027787A publication Critical patent/TW201027787A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI446526B publication Critical patent/TWI446526B/zh

Links

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Description

形成橫向分佈發光二極體的方法
本發明係有關發光二極體(LED),特別是關於一種於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的方法。
發光二極體(LED),特別是白色發光二極體,已逐漸普遍應用於行動電話或筆記型電腦的液晶顯示器之背光源。此外,紅、綠、藍發光二極體也藉由色彩混合來得到更豐富的色彩範圍。
然而,現今發光二極體的效能及照度不夠高,而結合紅、綠、藍發光二極體的封裝成本則很高。第一A圖顯示傳統分離式封裝技術,其將分離發光二極體元件予以組合。第一B圖則顯示一種改良的傳統晶片直接封裝(chip-on-board,COB)技術,其係將發光二極體晶片直接固定於封裝體上,而非將分離發光二極體元件予以組合。第一B圖所示之晶片直接封裝(COB)的高度小於組合之分離發光二極體元件(第一A圖)的高度。再者,使用晶片直接封裝(COB)之發光二極體最小間距可達到2毫米(mm),而使用分離式封裝之發光二極體最小間距僅能達到5毫米。即使使用晶片直接封裝(COB)所能達到的2毫米間距仍然無法達到高的混色效果;若要提高混色效果,則必須增加成本使用反射板及導光板(light guide plate,LGP)。
有文獻揭露一種垂直堆疊發光二極體的結構及製程,例如Michael J. Grundmann等人於Phys. Stats Sol.(c)4,No. 7,2830-2833(2007)所提出的“Multi-color Light Emitting Diode Using Polarization-induced tunnel Junctions”。然而,此種垂直堆疊發光二極體的電發光(electroluminescence)會隨著入射電流而改變。
另有文獻揭露一種橫向分佈發光二極體的結構及製程,例如Il-Kyu Park等人於Applied Physics Letters 92,091110(2008)所提出的“Phosphor-free White Light-emitting Diode with Laterally Distributed Multiple Quantum Wells”。在其製程中,多重量子井(multiple quantum well,MQW)的蝕刻會形成表面的破壞,因而造成低發光效能。
鑑於上述傳統發光二極體無法有效得到較佳的發光特性,因此亟需提出一種新穎的發光二極體製造方法,用以提高輸出效能、簡化封裝製程、提高混色效能並減少晶片面積。
鑑於上述,本發明的目的之一在於提出一種於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的方法,用以提高輸出效能、簡化封裝製程、提高混色效能並減少晶片面積。
根據本發明實施例,首先,形成具第一導電性(例如n型)的第一緩衝層於半導體基板上,且形成介電層於第一緩衝層上。對介電層進行圖樣化(patterning),以形成第一圖樣化區域於其內,接著形成第一主動層(例如多重量子井,MQW)於第一圖樣化區域內。對介電層進行圖樣化,以形成第二圖樣化區域於其內,接著形成第二主動層(例如多重量子井)於第二圖樣化區域內。在一實施例中,更形成第三主動層(例如多重量子井)於介電層內。接著,形成具第二導電性(例如p型)的第二緩衝層於第一、第二(及第三)主動層上。最後,形成電極於第二、第一緩衝層上。
第二A圖至第二J圖顯示本發明實施例於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的製程及剖面圖。本發明之發光二極體可應用於(但不限定於)固態發光源或顯示器背光源。在本實施例中雖然形成有紅、綠、藍發光二極體,但是,並不需要形成所有顏色發光二極體。例如,僅形成藍及綠發光二極體即足以作為白色發光二極體。再者,紅、綠、藍發光二極體的部分顏色也可以使用其他顏色來取代。例如,可以使用黃色發光二極體來取代紅色發光二極體。另外,本實施例雖以藍、綠、紅的順序來製造發光二極體,然而製造順序可以加以改變。此外,本實施例所形成的橫向分佈紅、綠、藍發光二極體可以整體作為白色發光二極體使用,也可以個別顏色來使用。
參閱第二A圖,於半導體基板10上形成n型緩衝(buffer)層12,例如使用金屬有機化學氣相沈積(MOCVD)形成的n+ -氮化鎵(GaN)層。n+ -氮化鎵層12的厚度可大約介於2.0-6.0微米(μm),本實施例的較佳厚度大約為6.0微米。n+ -氮化鎵層12的形成溫度可大約介於950-1100℃,本實施例的較佳形成溫度大約為1100℃。基板10可以使用藍寶石晶片,但也可以使用下列或其他材質:AlN(氮化鋁)、ZnO(氧化鋅)、SiC(碳化矽)、BP(磷化硼)、CaAs(砷化鈣)、CaP(磷化鈣)、Si(矽)、LiAlO2 (鋁酸鋰)、LaAlO3 (鋁酸鑭)。
接下來,如第二B圖所示,沈積第一介電(dielectric)層14於n+ -氮化鎵層12之上。第一介電層14可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2 )層。第一氧化矽層14的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.3微米。使用微影技術將第一氧化矽層14圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域15,直到n+ -氮化鎵層12露出。
於第二C圖中,以圖樣化第一氧化矽層14作為遮罩(mask),於圖樣化區域15內選擇性地成長(selectively grow)一或多對藍色多重量子井(MQW)16。在本實施例中,共形成有10對藍色多重量子井。藍色多重量子井16係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於750-800℃,本實施例的較佳形成溫度大約為780℃。在本實施例中,每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。
之後,如第二D圖所示,沈積第二介電層18於第一氧化矽層14和藍色多重量子井16之上。第二介電層18可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2 )層。第二氧化矽層18的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.1微米,其薄於第一氧化矽層14。使用微影技術將第二氧化矽層18圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域19,直到n+ -氮化鎵層12露出。
於第二E圖中,以圖樣化第二氧化矽層18作為遮罩(mask),於圖樣化區域19內選擇性地成長(selectively grow)一或多對綠色多重量子井(MQW)20。在本實施例中,共形成有10對綠色多重量子井。綠色多重量子井20係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於700-760℃,本實施例的較佳形成溫度大約為750℃。由於綠色多重量子井20的銦(In)含量高於藍色多重量子井16,因此綠色多重量子井20的形成溫度通常須低於第二C圖中藍色多重量子井16的形成溫度。在本實施例中,綠色多重量子井20的每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。
之後,如第二F圖所示,沈積第三介電層22於第二氧化矽層18和綠色多重量子井20之上。第三介電層22可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2 )層。第三氧化矽層22的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.1微米,其和第二氧化矽層18的厚度大致相同但是薄於第一氧化矽層14。使用微影技術將第三氧化矽層22圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域23,直到n+ -氮化鎵層12露出。
於第二G圖中,以圖樣化第三氧化矽層22作為遮罩(mask),於圖樣化區域23內選擇性地成長(selectively grow)一或多對紅色多重量子井(MQW)24。在本實施例中,共形成有10對紅色多重量子井。紅色多重量子井24係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於550-650℃,本實施例的較佳形成溫度大約為650℃。由於紅色多重量子井24的銦(In)含量高於綠色多重量子井20,因此紅色多重量子井24的形成溫度通常須低於第二E圖中綠色多重量子井20的形成溫度。在本實施例中,紅色多重量子井24的每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。在另一實施例中,紅色多重量子井24的每一層量子井包含磷為基礎的材質Inx Ga1-x P/Iny (Alx Ga1-x )P(磷化銦鎵/磷化銦鋁鎵)(0<x<1且0<y<1)。
接下來,如第二H圖所示,使用微影技術將第三氧化矽層22圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)濕蝕刻法(或其他方法)去除藍色多重量子井16上面的暴露區域15以及綠色多重量子井20上面的暴露區域19。以圖樣化第三氧化矽層22作為遮罩(mask),分別於藍色多重量子井16、綠色多重量子井20、紅色多重量子井24上面形成p型緩衝(buffer)層26,例如使用金屬有機化學氣相沈積(MOCVD)形成的p+ -氮化鎵(GaN)層。p+ -氮化鎵層26的厚度可大約介於0.1-0.25微米(μm),本實施例的較佳厚度大約為0.2微米。p+ -氮化鎵層26的形成溫度可大約介於900-1000℃,本實施例的較佳形成溫度大約為900℃。
參閱第二I圖,使用氫氟酸(HF)濕蝕刻法(或其他方法)去除第三氧化矽層22和第二氧化矽層18。最後,如第二J圖所示,使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除部分的第一氧化矽層14,直到n+ -氮化鎵層12露出。接下來,分別於n+ -氮化鎵層12和p+ -氮化鎵層26上面形成n型、p型導電電極(或歐姆接觸)28A、28B。導電電極28A、28B可以含鈦/鋁(Ti/Al)和鎳/金(Ni/Au)層。藉此,於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體,如第二J圖所示。
根據本發明實施例,形成於晶片上的橫向分佈紅、綠、藍發光二極體可組合以發射白光。換句話說,紅、綠、藍發光二極體整體係作為白色發光二極體之用,其通常又稱為多晶片(multi-chip)白色二極體。紅、綠、藍發光二極體的色彩混合可以較冷陰極管(CCFL)具有較豐富的色彩範圍及特性。本實施例之白色發光二極體為一種無磷白色發光二極體,其具有高輸出效能及簡化封裝製程。由於紅、綠、藍發光二極體的最小間距小至數十微米或更小,因而得以提高其混色效能且降低其晶片面積。
以上所述僅為本發明之較佳實施例而已,並非用以限定本發明之申請專利範圍;凡其它未脫離發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾,均應包含在下述之申請專利範圍內。
10...基板(藍寶石)
12...n型緩衝層(n+ -GaN)
14...第一介電層(第一氧化矽層)
15...第一圖案化區域
16...藍色多重量子井
18...第二介電層(第二氧化矽層)
19...第二圖案化區域
20...綠色多重量子井
22...第三介電層(第三氧化矽層)
23...第三圖案化區域
24...紅色多重量子井
26...p型緩衝層(p+ -GaN)
28A...p型導電電極
28B...n型導電電極
第一A圖顯示傳統分離式封裝技術,其將分離發光二極體元件予以組合。
第一B圖顯示傳統晶片直接封裝(COB)技術,其將發光二極體晶片直接固定於封裝體上。
第二A圖至第二J圖顯示本發明實施例於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的製程及剖面圖。
10...基板(藍寶石)
12...n型緩衝層(n+ -GaN)
14...第一介電層(第一氧化矽層)
16...藍色多重量子井
20...綠色多重量子井
22...第三介電層(第三氧化矽層)
24...紅色多重量子井
26...p型緩衝層(p+ -GaN)
28A...p型導電電極
28B...n型導電電極

Claims (10)

  1. 一種形成橫向分佈發光二極體的方法,包含:提供一半導體基板;形成一第一緩衝層於該半導體基板上,該第一緩衝層具有第一導電型;形成一第一介電層於該第一緩衝層上;圖樣化(patterning)該第一介電層並去除該第一介電層的一部份,以形成一第一圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第一多重量子井(MQW)於該第一圖樣化區域內;形成一第二介電層於該第一介電層上;圖樣化該第二介電層並去除該第二、第一介電層的一部份,以形成一第二圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第二多重量子井於該第二圖樣化區域內,該第二多重量子井所發射光線之顏色異於該第一多重量子井;形成一第三介電層於該第二介電層上;圖樣化該第三介電層並去除該第三、第二、第一介電層的一部份,以形成一第三圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第三多重量子井於該第三圖樣化區域內,該第三多重量子井所發射光線之顏色異於該第一、第二多重量子井; 形成第二緩衝層於該第一、第二、第三主動層上,該第二緩衝層具有第二導電型;及形成電極於該第二緩衝層、該第一緩衝層上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之半導體基板包含藍寶石。
  3. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一導電型為n型,且該第二導電型為p型。
  4. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一或第二緩衝層包含氮化鎵(GaN)。
  5. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一、第二或第三介電層包含氧化矽(SiO2 )。
  6. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一、第二或第二多重量子井包含一或多對量子井。
  7. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一及第二多重量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1),上述之第三多重量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)或者磷為基礎的材質Inx Ga1-x P/Iny (Alx Ga1-x )P(磷化銦鎵/磷化銦鋁鎵)(0<x<1且0<y<1)。
  8. 如申請專利範圍第7項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述第二多重量子井的銦(In)含量高於該第一多重量子井,且該第三多重量子井的銦(In)含量高於該第二多重量子井。
  9. 如申請專利範圍第8項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述第二多重量子井的形成溫度低於該第一多重量子井,且該第三多重量子井的形成溫度低於該第二多重量子井。
  10. 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一多重量子井發射藍光,該第二多重量子井發射綠光,且第三多重量子井發射紅光。
TW98100075A 2009-01-05 2009-01-05 形成橫向分佈發光二極體的方法 TWI446526B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW98100075A TWI446526B (zh) 2009-01-05 2009-01-05 形成橫向分佈發光二極體的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW98100075A TWI446526B (zh) 2009-01-05 2009-01-05 形成橫向分佈發光二極體的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201027787A TW201027787A (en) 2010-07-16
TWI446526B true TWI446526B (zh) 2014-07-21

Family

ID=44853298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW98100075A TWI446526B (zh) 2009-01-05 2009-01-05 形成橫向分佈發光二極體的方法

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI446526B (zh)

Also Published As

Publication number Publication date
TW201027787A (en) 2010-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7687811B2 (en) Vertical light emitting device having a photonic crystal structure
US8330173B2 (en) Nanostructure having a nitride-based quantum well and light emitting diode employing the same
JP5638514B2 (ja) 発光素子及びその製造方法
KR101258583B1 (ko) 나노 로드 발광 소자 및 그 제조 방법
KR20110128545A (ko) 발광 소자, 발광 소자의 제조방법 및 발광 소자 패키지
JP5165702B2 (ja) 窒化物半導体発光素子
US20130015465A1 (en) Nitride semiconductor light-emitting device
KR20090101604A (ko) 그룹 3족 질화물계 반도체 발광다이오드 소자 및 이의 제조방법
TWI493747B (zh) 發光二極體及其形成方法
TW201526282A (zh) 發光二極體晶片
US7572653B2 (en) Method of fabricating light emitting diode
JP2010141331A (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
KR20090076163A (ko) 질화물 반도체 발광소자 제조방법 및 이에 의해 제조된질화물 반도체 발광소자
US20230261031A1 (en) Semiconductor light-emitting device and preparation method thereof
KR20110111799A (ko) 비극성 기판을 채택한 발광 다이오드
US20120299046A1 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
US7888152B2 (en) Method of forming laterally distributed LEDs
TWI446526B (zh) 形成橫向分佈發光二極體的方法
KR20080030042A (ko) 질화물 다층 양자 웰을 가지는 나노막대 어레이 구조의발광 다이오드
US20200251640A1 (en) Light emitting diode and manufacturing method thereof
KR101232069B1 (ko) 발광 소자 및 그 제조 방법
KR101039970B1 (ko) 반도체층 형성방법 및 발광 소자 제조방법
KR101360882B1 (ko) 질화물 반도체 소자 및 그 제조방법
KR20120011198A (ko) 발광 소자, 발광 소자 패키지 및 발광 소자의 제조방법
KR101026047B1 (ko) 발광소자 어레이 및 발광소자 어레이의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees