TWI446526B - 形成橫向分佈發光二極體的方法 - Google Patents
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Description
本發明係有關發光二極體(LED),特別是關於一種於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的方法。
發光二極體(LED),特別是白色發光二極體,已逐漸普遍應用於行動電話或筆記型電腦的液晶顯示器之背光源。此外,紅、綠、藍發光二極體也藉由色彩混合來得到更豐富的色彩範圍。
然而,現今發光二極體的效能及照度不夠高,而結合紅、綠、藍發光二極體的封裝成本則很高。第一A圖顯示傳統分離式封裝技術,其將分離發光二極體元件予以組合。第一B圖則顯示一種改良的傳統晶片直接封裝(chip-on-board,COB)技術,其係將發光二極體晶片直接固定於封裝體上,而非將分離發光二極體元件予以組合。第一B圖所示之晶片直接封裝(COB)的高度小於組合之分離發光二極體元件(第一A圖)的高度。再者,使用晶片直接封裝(COB)之發光二極體最小間距可達到2毫米(mm),而使用分離式封裝之發光二極體最小間距僅能達到5毫米。即使使用晶片直接封裝(COB)所能達到的2毫米間距仍然無法達到高的混色效果;若要提高混色效果,則必須增加成本使用反射板及導光板(light guide plate,LGP)。
有文獻揭露一種垂直堆疊發光二極體的結構及製程,例如Michael J. Grundmann等人於Phys. Stats Sol.(c)4,No. 7,2830-2833(2007)所提出的“Multi-color Light Emitting Diode Using Polarization-induced tunnel Junctions”。然而,此種垂直堆疊發光二極體的電發光(electroluminescence)會隨著入射電流而改變。
另有文獻揭露一種橫向分佈發光二極體的結構及製程,例如Il-Kyu Park等人於Applied Physics Letters 92,091110(2008)所提出的“Phosphor-free White Light-emitting Diode with Laterally Distributed Multiple Quantum Wells”。在其製程中,多重量子井(multiple quantum well,MQW)的蝕刻會形成表面的破壞,因而造成低發光效能。
鑑於上述傳統發光二極體無法有效得到較佳的發光特性,因此亟需提出一種新穎的發光二極體製造方法,用以提高輸出效能、簡化封裝製程、提高混色效能並減少晶片面積。
鑑於上述,本發明的目的之一在於提出一種於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的方法,用以提高輸出效能、簡化封裝製程、提高混色效能並減少晶片面積。
根據本發明實施例,首先,形成具第一導電性(例如n型)的第一緩衝層於半導體基板上,且形成介電層於第一緩衝層上。對介電層進行圖樣化(patterning),以形成第一圖樣化區域於其內,接著形成第一主動層(例如多重量子井,MQW)於第一圖樣化區域內。對介電層進行圖樣化,以形成第二圖樣化區域於其內,接著形成第二主動層(例如多重量子井)於第二圖樣化區域內。在一實施例中,更形成第三主動層(例如多重量子井)於介電層內。接著,形成具第二導電性(例如p型)的第二緩衝層於第一、第二(及第三)主動層上。最後,形成電極於第二、第一緩衝層上。
第二A圖至第二J圖顯示本發明實施例於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的製程及剖面圖。本發明之發光二極體可應用於(但不限定於)固態發光源或顯示器背光源。在本實施例中雖然形成有紅、綠、藍發光二極體,但是,並不需要形成所有顏色發光二極體。例如,僅形成藍及綠發光二極體即足以作為白色發光二極體。再者,紅、綠、藍發光二極體的部分顏色也可以使用其他顏色來取代。例如,可以使用黃色發光二極體來取代紅色發光二極體。另外,本實施例雖以藍、綠、紅的順序來製造發光二極體,然而製造順序可以加以改變。此外,本實施例所形成的橫向分佈紅、綠、藍發光二極體可以整體作為白色發光二極體使用,也可以個別顏色來使用。
參閱第二A圖,於半導體基板10上形成n型緩衝(buffer)層12,例如使用金屬有機化學氣相沈積(MOCVD)形成的n+
-氮化鎵(GaN)層。n+
-氮化鎵層12的厚度可大約介於2.0-6.0微米(μm),本實施例的較佳厚度大約為6.0微米。n+
-氮化鎵層12的形成溫度可大約介於950-1100℃,本實施例的較佳形成溫度大約為1100℃。基板10可以使用藍寶石晶片,但也可以使用下列或其他材質:AlN(氮化鋁)、ZnO(氧化鋅)、SiC(碳化矽)、BP(磷化硼)、CaAs(砷化鈣)、CaP(磷化鈣)、Si(矽)、LiAlO2
(鋁酸鋰)、LaAlO3
(鋁酸鑭)。
接下來,如第二B圖所示,沈積第一介電(dielectric)層14於n+
-氮化鎵層12之上。第一介電層14可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2
)層。第一氧化矽層14的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.3微米。使用微影技術將第一氧化矽層14圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域15,直到n+
-氮化鎵層12露出。
於第二C圖中,以圖樣化第一氧化矽層14作為遮罩(mask),於圖樣化區域15內選擇性地成長(selectively grow)一或多對藍色多重量子井(MQW)16。在本實施例中,共形成有10對藍色多重量子井。藍色多重量子井16係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於750-800℃,本實施例的較佳形成溫度大約為780℃。在本實施例中,每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx
Ga1-x
N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。
之後,如第二D圖所示,沈積第二介電層18於第一氧化矽層14和藍色多重量子井16之上。第二介電層18可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2
)層。第二氧化矽層18的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.1微米,其薄於第一氧化矽層14。使用微影技術將第二氧化矽層18圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域19,直到n+
-氮化鎵層12露出。
於第二E圖中,以圖樣化第二氧化矽層18作為遮罩(mask),於圖樣化區域19內選擇性地成長(selectively grow)一或多對綠色多重量子井(MQW)20。在本實施例中,共形成有10對綠色多重量子井。綠色多重量子井20係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於700-760℃,本實施例的較佳形成溫度大約為750℃。由於綠色多重量子井20的銦(In)含量高於藍色多重量子井16,因此綠色多重量子井20的形成溫度通常須低於第二C圖中藍色多重量子井16的形成溫度。在本實施例中,綠色多重量子井20的每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx
Ga1-x
N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。
之後,如第二F圖所示,沈積第三介電層22於第二氧化矽層18和綠色多重量子井20之上。第三介電層22可以是電漿增強化學氣相沈積(PECVD)形成的氧化矽(SiO2
)層。第三氧化矽層22的厚度可大約介於0.2-0.5微米,本實施例的較佳厚度大約為0.1微米,其和第二氧化矽層18的厚度大致相同但是薄於第一氧化矽層14。使用微影技術將第三氧化矽層22圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除暴露區域23,直到n+
-氮化鎵層12露出。
於第二G圖中,以圖樣化第三氧化矽層22作為遮罩(mask),於圖樣化區域23內選擇性地成長(selectively grow)一或多對紅色多重量子井(MQW)24。在本實施例中,共形成有10對紅色多重量子井。紅色多重量子井24係作為主動(active)層,其形成溫度可大約介於550-650℃,本實施例的較佳形成溫度大約為650℃。由於紅色多重量子井24的銦(In)含量高於綠色多重量子井20,因此紅色多重量子井24的形成溫度通常須低於第二E圖中綠色多重量子井20的形成溫度。在本實施例中,紅色多重量子井24的每一層量子井包含氮為基礎的材質Inx
Ga1-x
N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)。在另一實施例中,紅色多重量子井24的每一層量子井包含磷為基礎的材質Inx
Ga1-x
P/Iny
(Alx
Ga1-x
)P(磷化銦鎵/磷化銦鋁鎵)(0<x<1且0<y<1)。
接下來,如第二H圖所示,使用微影技術將第三氧化矽層22圖樣化(pattern),並使用氫氟酸(HF)濕蝕刻法(或其他方法)去除藍色多重量子井16上面的暴露區域15以及綠色多重量子井20上面的暴露區域19。以圖樣化第三氧化矽層22作為遮罩(mask),分別於藍色多重量子井16、綠色多重量子井20、紅色多重量子井24上面形成p型緩衝(buffer)層26,例如使用金屬有機化學氣相沈積(MOCVD)形成的p+
-氮化鎵(GaN)層。p+
-氮化鎵層26的厚度可大約介於0.1-0.25微米(μm),本實施例的較佳厚度大約為0.2微米。p+
-氮化鎵層26的形成溫度可大約介於900-1000℃,本實施例的較佳形成溫度大約為900℃。
參閱第二I圖,使用氫氟酸(HF)濕蝕刻法(或其他方法)去除第三氧化矽層22和第二氧化矽層18。最後,如第二J圖所示,使用氫氟酸(HF)或緩衝氧化矽(BOE)濕蝕刻法(或其他方法)去除部分的第一氧化矽層14,直到n+
-氮化鎵層12露出。接下來,分別於n+
-氮化鎵層12和p+
-氮化鎵層26上面形成n型、p型導電電極(或歐姆接觸)28A、28B。導電電極28A、28B可以含鈦/鋁(Ti/Al)和鎳/金(Ni/Au)層。藉此,於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體,如第二J圖所示。
根據本發明實施例,形成於晶片上的橫向分佈紅、綠、藍發光二極體可組合以發射白光。換句話說,紅、綠、藍發光二極體整體係作為白色發光二極體之用,其通常又稱為多晶片(multi-chip)白色二極體。紅、綠、藍發光二極體的色彩混合可以較冷陰極管(CCFL)具有較豐富的色彩範圍及特性。本實施例之白色發光二極體為一種無磷白色發光二極體,其具有高輸出效能及簡化封裝製程。由於紅、綠、藍發光二極體的最小間距小至數十微米或更小,因而得以提高其混色效能且降低其晶片面積。
以上所述僅為本發明之較佳實施例而已,並非用以限定本發明之申請專利範圍;凡其它未脫離發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾,均應包含在下述之申請專利範圍內。
10...基板(藍寶石)
12...n型緩衝層(n+
-GaN)
14...第一介電層(第一氧化矽層)
15...第一圖案化區域
16...藍色多重量子井
18...第二介電層(第二氧化矽層)
19...第二圖案化區域
20...綠色多重量子井
22...第三介電層(第三氧化矽層)
23...第三圖案化區域
24...紅色多重量子井
26...p型緩衝層(p+
-GaN)
28A...p型導電電極
28B...n型導電電極
第一A圖顯示傳統分離式封裝技術,其將分離發光二極體元件予以組合。
第一B圖顯示傳統晶片直接封裝(COB)技術,其將發光二極體晶片直接固定於封裝體上。
第二A圖至第二J圖顯示本發明實施例於晶片上形成橫向分佈紅、綠、藍發光二極體的製程及剖面圖。
10...基板(藍寶石)
12...n型緩衝層(n+
-GaN)
14...第一介電層(第一氧化矽層)
16...藍色多重量子井
20...綠色多重量子井
22...第三介電層(第三氧化矽層)
24...紅色多重量子井
26...p型緩衝層(p+
-GaN)
28A...p型導電電極
28B...n型導電電極
Claims (10)
- 一種形成橫向分佈發光二極體的方法,包含:提供一半導體基板;形成一第一緩衝層於該半導體基板上,該第一緩衝層具有第一導電型;形成一第一介電層於該第一緩衝層上;圖樣化(patterning)該第一介電層並去除該第一介電層的一部份,以形成一第一圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第一多重量子井(MQW)於該第一圖樣化區域內;形成一第二介電層於該第一介電層上;圖樣化該第二介電層並去除該第二、第一介電層的一部份,以形成一第二圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第二多重量子井於該第二圖樣化區域內,該第二多重量子井所發射光線之顏色異於該第一多重量子井;形成一第三介電層於該第二介電層上;圖樣化該第三介電層並去除該第三、第二、第一介電層的一部份,以形成一第三圖樣化區域於該第一介電層內;形成一第三多重量子井於該第三圖樣化區域內,該第三多重量子井所發射光線之顏色異於該第一、第二多重量子井; 形成第二緩衝層於該第一、第二、第三主動層上,該第二緩衝層具有第二導電型;及形成電極於該第二緩衝層、該第一緩衝層上。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之半導體基板包含藍寶石。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一導電型為n型,且該第二導電型為p型。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一或第二緩衝層包含氮化鎵(GaN)。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一、第二或第三介電層包含氧化矽(SiO2 )。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一、第二或第二多重量子井包含一或多對量子井。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一及第二多重量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1),上述之第三多重量子井包含氮為基礎的材質Inx Ga1-x N/GaN(氮化銦鎵/氮化鎵)(0<x<1)或者磷為基礎的材質Inx Ga1-x P/Iny (Alx Ga1-x )P(磷化銦鎵/磷化銦鋁鎵)(0<x<1且0<y<1)。
- 如申請專利範圍第7項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述第二多重量子井的銦(In)含量高於該第一多重量子井,且該第三多重量子井的銦(In)含量高於該第二多重量子井。
- 如申請專利範圍第8項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述第二多重量子井的形成溫度低於該第一多重量子井,且該第三多重量子井的形成溫度低於該第二多重量子井。
- 如申請專利範圍第1項所述形成橫向分佈發光二極體的方法,其中上述之第一多重量子井發射藍光,該第二多重量子井發射綠光,且第三多重量子井發射紅光。
Priority Applications (1)
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TW98100075A TWI446526B (zh) | 2009-01-05 | 2009-01-05 | 形成橫向分佈發光二極體的方法 |
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TW201027787A TW201027787A (en) | 2010-07-16 |
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2009
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