TWI427400B

TWI427400B - 鏡頭模組檢測系統

Info

Publication number: TWI427400B
Application number: TW98129615A
Authority: TW
Inventors: Hsin Hung Chuang
Original assignee: Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date: 2009-09-02
Filing date: 2009-09-02
Publication date: 2014-02-21
Also published as: TW201109827A

Description

鏡頭模組檢測系統

本發明涉及一種鏡頭模組檢測系統。

近年來，隨著光學產品之發展，鏡頭模組之應用範圍持續擴大，如數碼相機、具有照相功能之手機等電子產品。對於電子產品，特別係消費性電子產品，其發展趨勢係輕量化和薄型化，相應設置於其內之鏡頭模組也變得越來越小，對精密度之要求也越來越高，所以鏡頭模組之組裝工藝也需要更高之精確度和穩定性，以保證生產效率和良率。然而，在組裝之過程中，可能由於對位元不准，或係產品公差，鏡頭模組旋入音圈馬達之可動筒後，在鏡頭模組與可動筒之間會或多或少地存在一定傾角，然而該傾角之大小難以用常規之角度測量裝置來測量，且傾角係否在可以允許之誤差範圍之內必須要經過測量後才能判斷。如果所述傾角過大會使鏡頭模組對焦不准，影響了產品品質。所以說如何簡單方便地實現對鏡頭模組與音圈馬達之間之傾角檢測，成為本領域亟待解決之問題。

有鑒於此，有必要提供一種可以檢測鏡頭模組之檢測系統。

一種鏡頭模組檢測系統，該檢測系統用於檢測鏡頭模組中之鏡筒與音圈馬達之可動筒之間之傾角，該檢測系統包括：

一光源裝置包括一光源及一位置記錄裝置，光源用於發出鐳射光束，並照射在鏡筒與音圈馬達之可動筒之間之間隙，該發出之鐳射光束經鏡筒之外側壁反射至位置記錄裝置，並在該記錄裝置上形成光斑點，位置記錄裝置記錄該光斑點位置，同時計算該光斑點與所述光源發出光束之位置之距離；

一分析裝置用於分析該光斑點與光源發出光束之位置相對偏移之距離係否在誤差允許範圍內。

相較於先前技術，述之鏡頭模組中鏡筒與音圈馬達利用上述鏡頭模組檢測系統進行傾角檢測，因此，可提高鏡頭模組之產品品質。

下面將結合附圖與實施例對本技術方案之可攜式電子裝置作進一步詳細說明。

請參閱圖1，為本發明實施方式之鏡頭模組檢測系統100，其用於檢測鏡頭模組40之傾角。該鏡頭模組40包括一個音圈馬達42和一個鏡筒44。所述鏡筒44套設於音圈馬達42之可動筒420內。該鏡頭模組檢測系統100包括一承載裝置10、一光源裝置20、一分析裝置30。

所述承載裝置10包括一承載座12及一用於驅動承載座12旋轉之致動器14。所述承載座10開設有一四方體之收容槽120，其用於檢測時收容所述待檢測之鏡頭模組40。可以理解，收容槽120之形狀不限於方形，其應隨待檢測之鏡頭模組之形狀而定。本實施方式中，所述致動器14為一旋轉馬達，其用於帶動所述承載座10旋轉。

通常鏡筒44內設有鏡片（圖未示），所以本實施方式中之鏡頭模組40之光軸即為鏡筒44之中心軸。所述光源裝置20包括一光源22、一位置記錄裝置23及一支撐裝置24。所述光源22為一鐳射光源。所述位置記錄裝置23與所述光源22相互毗鄰設置。所述支撐裝置24用於支撐所述光源22及位置記錄裝置23，以使光源22位於鏡頭模組40之一端並與所述鏡頭模組40之光軸偏離一定距離，且使光源22所發出之光線平行於鏡筒44之中心軸。該位置記錄裝置23用於記錄由所述光源22射出並經待檢測鏡頭模組40反射後投射在記錄裝置23上之光線之光斑之位置。本實施方式中，所述光源22發射之光束剛好照射在鏡筒44與音圈馬達42之可動筒420之間之間隙內。所述位置記錄裝置23可以為一光敏感元件，如電荷耦合器件（Charge Coupled Device, CCD）等。

所述分析裝置30藉由一線纜35與位置記錄裝置23電性連接。本實施方式中，所述分析裝置30為一電腦。

使用時，將所述光源22所對應之在位置記錄裝置23上之位置座標設為參考原點O記錄在所述位置記錄裝置23內。所述光源22發出鐳射光束，並照射在鏡筒44與音圈馬達42之可動筒420之間之間隙後，鐳射光束經過鏡筒44之外側壁反射至位置記錄裝置23，並在該記錄裝置23上形成一光斑點O1。所述位置記錄裝置23記錄該光斑點O1位置，同時計算該光斑點O1與所述光源22發出光束之位置即參考原點O之距離。所述分析裝置30內預設有一可以接受之預定範圍，若該光斑點O1與參考原點O之間相對偏移之距離在可以接受之預定範圍內，也即鏡筒44與音圈馬達42之間之傾角在一個可以接受之預定範圍內時，則分析裝置30顯示此待檢測之鏡頭模組40合格。當該光斑點O1與參考原點O之間之偏移距離大於預定值，也即鏡筒44與音圈馬達42之間之傾角超出可以接受之預定範圍內時，則分析裝置30顯示此待檢測之鏡頭模組40不合格。可以理解之係，所述誤差允許範圍可根據客戶要求而設置。本實施方式中，所述誤差允許範圍為0-0.2毫米之間。

為了更精確地對該鏡頭模組40進行測量，使用者可進行多點檢測。具體地，致動器14驅動承載座12，以使鏡筒44環繞鏡頭模組40之光軸旋轉，所述光源22不斷地發出鐳射光束，所述位置記錄裝置23記錄各反射光斑點之位置。所述分析裝置30分析與距離參考原點O最遠之光斑點位置與參考原點O之間之相對偏移距離係否在誤差允許範圍內，若誤差超過允許之範圍，則分析裝置30顯示此待檢測之鏡頭模組40不合格。否則，顯示合格。

綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

100‧‧‧鏡頭模組檢測系統
10‧‧‧承載裝置
12‧‧‧承載座
14‧‧‧致動器
120‧‧‧收容槽
20‧‧‧光源裝置
22‧‧‧光源
23‧‧‧位置記錄裝置
24‧‧‧支撐裝置
30‧‧‧分析裝置
35‧‧‧線纜
40‧‧‧鏡頭模組
42‧‧‧音圈馬達
44‧‧‧鏡筒
420‧‧‧可動筒
O‧‧‧原點
O1‧‧‧光斑點

圖1係本發明實施方式提供之鏡頭模組檢測系統立體結構示意圖；

圖2係圖1中之鏡頭模組檢測系統之工作狀態示意圖。

100‧‧‧鏡頭模組檢測系統

10‧‧‧承載裝置

12‧‧‧承載座

14‧‧‧致動器

120‧‧‧收容槽

20‧‧‧光源裝置

22‧‧‧光源

23‧‧‧位置記錄裝置

24‧‧‧支撐裝置

30‧‧‧分析裝置

35‧‧‧線纜

40‧‧‧鏡頭模組

42‧‧‧音圈馬達

44‧‧‧鏡筒

420‧‧‧可動筒

Claims

一種鏡頭模組檢測系統，該檢測系統用於檢測鏡頭模組中之鏡筒與音圈馬達之可動筒之間之傾角，該檢測系統包括：
一光源裝置包括一光源及一位置記錄裝置，光源用於發出鐳射光束，並照射在鏡筒與音圈馬達之可動筒之間之間隙，該發出之鐳射光束經鏡筒之外側壁反射至位置記錄裝置，並在該記錄裝置上形成光斑點，位置記錄裝置記錄該光斑點位置，同時計算該光斑點與所述光源發出光束之位置之距離；
一分析裝置用於分析該光斑點與光源發出光束之位置相對偏移之距離係否在誤差允許範圍內。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述光源裝置進一步包括一支撐裝置用於支撐所述光源及位置記錄裝置，以使光源位於鏡頭模組之一端並與所述鏡頭模組之光軸偏離一定距離，且使光源所發出之光線平行於鏡筒之中心軸。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述位置記錄裝置為一光敏感元件。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述分析裝置藉由一線纜與所述位置記錄裝置電性連接。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，還包括一承載裝置，所述承載裝置包括一承載座，所述承載座開設有一收容槽，該收容槽用於檢測時收容所述鏡頭模組。
如申請專利範圍第5項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述承載裝置進一步包括一用於驅動該承載座旋轉之致動器。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述分析裝置內預設有一預定範圍，若該光斑點與光源發出光束之位置之間相對偏移之距離在該預定範圍內，則所述分析裝置分析所述鏡頭模組合格，否則，所述鏡頭模組不合格。
如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組檢測系統，其中，所述光源與位置記錄裝置相互毗鄰設置。