TWI424461B - 提供增加之積體電路效能給客戶之方法 - Google Patents

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Description

提供增加之積體電路效能給客戶之方法
本發明係關於積體電路，且詳言之，係關於配置積體電路之效能。
積體電路之效能係持續與半導體製造產率(yield rate)一起改進。積體電路的價格一般係基於市場需求與積體電路之速度或效能等級。此外，預期的生產產量影響價格與客戶委託(customer commitment)。例如，第1a圖(標示為先前技術)顯示對應於某種處理器時脈速度之處理器之市場需求之分佈的一般說明。在此說明中，所生產的處理器中的大部分處理器展現在預測速度的正負5%的時脈速度，較少的處理器展現在預測速度的正負10%的時脈速度，而更少的處理器展現在預測速度的正負15%的時脈速度。展現正負5%時脈速度變化的處理器典型地標示為在標稱額定速度(nominal rated speed)。因此給此標稱速度標價，且處理器製造商通常做出數量的承諾以對於預定的價格供應一定數目之在此效能位準(level)的處理器。根據處理器的等級與適當地標示，展現比預測速度高10至15%之時脈速度的處理器係被分類(sorted)或被分級(graded)(例如，被分箱(binned))。這些效能較高的處理器典型地在較高的價格點販賣。此外，如同標稱速度處理器，處理器製造商將做出數量的承諾以對於另一預定的價格供應一定數目之在此效能位準的處理器。相似地，根據該等處理器較低的等級，那些展現比預測速度低10至15%之時脈速度的處理器係同樣地被分箱，且典型地在較低的價格販賣，或可能被認為沒有銷路而丟棄。
第1b圖(標示為先前技術)係與市場需求委託比較之範例實際產率以及根據預定之客戶委託可如何分類處理器之範例的一般說明。在此說明中，當與市場需求比較時，實際的生產產量在數量與效能上係較好的。然而，因為客戶委託係針對在某些效能位準之某些數量，一些生產在較高效能位準的處理器可能“被降級(downgraded)”，使得較高效能之處理器被分類與分箱在較低效能位準。
當處理器被分箱時，處理器製造程序的最後步驟之其中之一係鎖定(lock)處理器至特定的效能位準。典型地藉由在處理器內燒斷(blow)熔線(fuse)來執行此鎖定，然後使得處理器配置成在預定時間期間內執行一定數目之操作。
當市場的某些部分需要較高效能的產品並願意購買該等產品時，其他部分可能沒有當前的需求，但可能在未來會有需求，尤其是在市場需求改變時。例如，電腦系統可能服務用於一般商業使用而可不需要最快的處理器。之後，相同的電腦系統可能被重新設定用途以用於編輯數位內容，其典型地需要較高效能的系統。如另一範例，作業系統之較新版本可能需要較快的處理器以傳遞與作業系統之較舊版本之當前處理器相同的效能位準。目前，這些情況可能需要購買新的電腦系統或升級處理器至較高效能的版本。新的電腦系統可能是昂貴的，且被替換的電腦系統通常係被再分配(reassign)服務或退出(retire)服務。若處理器被升級，會帶來新處理器的花費與升級需要的時間與努力。
預測何時將需要額外的效能是困難的且可能造成不必要的花費。例如，商業客戶在現今通常被強迫購買他們可能在未來需要的效能，無論最後是否真的需要該效能。
鑑於以上所述，存在一種需求用於傳遞具有可被啟動且於所需之基礎上而付款購買之潛在效能之處理器與其他積體電路。
本發明提供一種方法與系統以在處理器或其他積體電路裝置中遠端地配置效能以作為相稱動機(commensurate consideration)之報酬。
例如，可購買具有能夠操作在3GHz速度(而初始操作在2GHz之時脈速度)之處理器的一般用途電腦。之後，可購買額外的效能以遠端且非干擾地開啟(unlock)處理器之潛在效能之能力以傳遞2.5GHz之時脈速度。用於購買開啟效能之尺度(metric)係由製造商或供應商仲介(intermediary)預先決定，且之後可為較高效能的一次長期使用，於限定時間時期(例如，90天)使用，或限定高峰(peak)使用而不超出全部非空閒週期之預先決定之百分比。
在一個實施例中，本發明係關於一種用於提供在製造之後具有增加效能之選擇之積體電路的方法。該方法包含執行效能增加操作，該操作使該積體電路之效能在製造該積體電路之後從第一效能位準增加至第二效能位準。
在另一個實施例中，本發明係關於一種用於提供在製造之後具有增加效能之選擇之積體電路的設備。該設備包含用於執行效能增加操作之機構，該操作使該積體電路之效能在製造該積體電路之後從第一效能位準增加至第二效能位準之機構。
參照第2圖，顯示在積體電路中用於致能增加的效能與遠端地增加效能之系統200之操作之一般流程圖。當系統開始操作時，在步驟212，製造積體電路(IC)，且在步驟214，測試積體電路的效能。基於積體電路的測試效能特性，然後在步驟216，分箱積體電路，並在步驟218，決定積體電路之對應的價格點。在步驟220，設定初始的處理器效能位準，並在步驟222，將積體電路置於服務中(placed into service)。
一但置於服務中，在步驟230，接收對於額外效能的請求。若在步驟232中接受該請求，則在步驟240，獲得動機(consideration)，且在步驟220，設定新的效能位準。
若在步驟232中拒絕該請求，則完成用於致能增加的效能與遠端地增加效能之系統之操作。
參照第3圖，顯示示範電腦系統300之方塊圖。電腦系統300包含處理器302、輸入/輸出(I/O)控制裝置304、記憶體(包含揮發性隨機存取記憶體(RAM)306與非揮發性記憶體307)、通訊裝置313(例如，數據機)、及顯示器314。處理器302、I/O控制器304、記憶體306與通訊裝置313係經由一個或多個匯流排312互連。非揮發性記憶體307可包含硬碟機(hard disk drive)309，而記憶體306、307中之一者或兩者可與電腦系統300整合或在電腦系統300之外部。當然，應了解其他裝置配置也可使用於處理器302、記憶體306、307、顯示器314與通訊裝置313。為了清楚與容易了解，沒有詳細描述所有組成電腦系統300的元件。對於該技術領域具有通常知識者而言，該等細節係為已知，且可基於特定之電腦供應商與微處理器類型而變化。此外，依據所希望的實作方式，電腦系統300可包含其他的匯流排、裝置與/或次系統。例如，電腦系統300可包含快取記憶體、數據機、並聯或串聯介面、SCSI介面、網路介面卡等。
I/O控制裝置304耦接至I/O裝置305，例如，一個或多個USB埠、鍵盤、滑鼠、音頻揚聲器等。I/O控制裝置304也耦接至非揮發性儲存器307，例如，快閃記憶體或其他唯讀記憶體(ROM)308及/或硬碟機309。電腦系統300可藉由通訊裝置313(例如，數據機)連接至通訊網路322(例如，網際網路)，但該連接可藉由該技術領域具有通常知識者所知的任何希望的網路通訊裝置而建立。雖然顯示處理器302為直接耦接至顯示器裝置314，處理器也可經由顯示器或I/O控制器裝置間接耦接至顯示器314。相似地，顯示處理器為經由I/O控制器304耦接至非揮發性記憶體307，但直接耦接係也被考慮。
各種程式碼(programming code)與軟體儲存於記憶體中。例如，在開機時開始電腦系統300之基本輸入/輸出系統(BIOS)碼311可儲存在非揮發性儲存器307之BIOS ROM裝置中，例如，唯讀記憶體(ROM)或可程式ROM(PROM)，例如，可抹除PROM(EPROM)、電子可抹除PROM(EEPROM)、快閃隨機存取記憶體(flash RAM)或任何適當用於儲存BIOS之其他記憶體類型。BIOS311基本上對於使用者而言是看不見的，且對於作業系統進行開機。
軟體330包含作業系統330以及效能監視模組332。
參照第4圖，顯示處理器302之方塊圖。在一個實施例中，處理器302係可自高級微裝置公司(Advanced Micro Devices)可取得的處理器。處理器302包含處理器核心410、匯流排或介面單元412、圖形處理器414、顯示器控制器416、及視頻處理器418。處理器302也包含記憶體控制器430、I/O控制器介面432、顯示器裝置介面434、及可配置之效能模組440，雖然，應了解，這些控制器與介面可實作於處理器302外部。處理器302執行儲存於記憶體306、307中之軟體。
可配置之效能模組440致能處理器302以在處理器302製造期間具有初始效能位準設定，但然後致能處理器302以在處理器302之銷售點後具有可重新配置之處理器之效能位準。
第5圖顯示可配置之效能模組440之方塊圖。詳言之，可配置之效能模組440包含效能控制電路510、效能鎖定電路512、及安全電路514。效能控制電路510耦接至效能鎖定電路512。效能控制電路510接收第一時脈訊號(時脈A)並提供第二時脈訊號(時脈B)。效能鎖定電路512耦接至安全電路514與效能控制電路510。效能鎖定電路512接收效能指示。安全電路514接收授權訊號。安全電路514耦接至積體電路唯一識別符(unique identifier)與效能鎖定電路512。
效能鎖定電路512使效能控制電路510在某一預定效能位準處運行直到並除非符合某些狀況以致能處理器的效能被改變(例如，增加)。安全電路514確保在效能指示的任何改變係適當被授權。例如，對於將要增加之處理器之效能，預定效能指示係與預定授權一起被接收。效能鎖定電路512可被進一步配置使得效能指示與授權必須在預定時間窗(window)內被接收。又例如，可加密授權，使得使用某種型式之唯一識別符以解密授權。此唯一識別符可以是一連串數字或某種形式之批識別符(lot identifier)，使得此資訊係不容易發現，也不會揭露或提供任何客戶機密資訊。
第6圖顯示積體電路效能監視模組332之操作之方塊圖。詳言之，在步驟610，積體電路效能監視模組332藉由監視分配之積體電路的效能而開始操作(積體電路效能監視模組332被分配到該積體電路)。在步驟612，積體電路效能監視模組332決定是否已超出效能臨界值(threshold)。效能臨界值可為一次例外(one time exception)(例如，超出效能可利用性(performance availability)的某百分比)、進行的例外(ongoing exception)(例如，對於某時間量超出效能可利用性的某百分比或超出效能可利用性有時間的某百分比)、或一次類型的例外與進行的例外之某種組合。
若尚未超出臨界，則積體電路效能監視模組332持續在步驟610監視效能。
若超出效能臨界值，則在步驟620，積體電路效能監視模組332提出效能增加提供(performance increase offer)至電腦系統之使用者。效能增加提供可以是一次增加提供(例如，藉由客戶付款購買某一量，而開啟(unlock)增加的效能)，可以是進行的增加提供(例如，當客戶正在付款購買(例如，對增加的效能的租賃)時，客戶可付款購買進行的固定量(ongoing regular amount)以使效能被開啟時，效能增加提供可以是對於當需要增加的效能的時候的選擇性的增加提供(例如，以某種方法開啟效能控制電路510使得當客戶需要增加效能時，提供效能且然後客戶僅對於當使用增加的效能的時候付款購買)。
若在步驟622決定不接受該提供，則在步驟622重設效能臨界值，而積體電路效能監視模組332持續在步驟610監視效能。當該提供被拒絕時，使用者也可選擇性地指示希望不要再監視效能。
若在步驟622決定接受該提供，則在步驟630，積體電路效能監視模組332初始用於獲得動機以增加積體電路之效能的程序。
一但已獲得動機，則在步驟632執行效能增加操作。基於客戶決定與動機，效能增加可以至可利用於積體電路之最大可能效能增加或小於最大可能效能增加的某部分。若在步驟640決定有額外的可利用效能增加的可能，則在步驟624重設臨界，而積體電路效能監視模組332持續在步驟610監視效能。若沒有剩餘的效能增加可利用，則完成積體電路效能監視模組332之操作。
本發明非常適合於獲得在此提及與其他固有之優點。當藉由參考本發明之特定實施例而描寫、描述與定義本發明時，這些參考並不暗示對本發明之限制，且亦無推論此種限制。如該技術領域具有通常知識者將會想到者，本發明可在形式或功能上有相當多的修改、改變、與等效者。描寫與描述的實施例僅為範例，並非詳盡微底之本發明的範疇。
例如，上述實施例包含執行某些任務的模組。在此討論的模組可包含描述檔(script)、批次檔(batch)、或其他可執行檔案。模組可儲存在機器可讀取或電腦可讀取之儲存媒體(例如，磁碟機(disk drive))上。依照本發明之實施例之用於儲存軟體模組之儲存裝置可以是，例如，磁性軟碟(floppy disk)、硬碟、或光碟(例如，CD－ROM或CD－R)。依照本發明之實施例之用於儲存韌體或硬體模組之儲存裝置也可包含基於半導體之記憶體，其可為永久地、可移除地或遠端地耦接至微處理器/記憶體系統。因此，模組可儲存在電腦系統記憶體內以配置電腦系統以執行模組之功能。可使用其他新與各種類型之電腦可讀取之儲存媒體以儲存在此討論的模組。此外，該技術領域具有通常知識者將了解把功能分成模組是為了說明目的。替代的實施例可合併多個模組的功能成為單一模組或可加入模組之功能之交替分解。例如，可分解用於稱為次模組的軟體模組，使得每一個次模組執行其功能並直接傳遞控制至另一個次模組。
因此，本發明意欲僅由附加的申請專利範圍之精神與範疇所限制，而本發明之全部認知範圍係在本發明之所有方面之等效者。
212、214、216、218、220、222、230、232、240．．．步驟
300．．．電腦系統
302．．．處理器
304．．．I/O控制裝置
305．．．I/O裝置
306．．．記憶體
307．．．記憶體、儲存器
308．．．快閃記憶體/唯讀記憶體
309．．．硬碟機
311．．．基本輸入/輸出系統
312．．．匯流排
313．．．通訊裝置
322．．．通訊網路
330．．．軟體、作業系統
332．．．效能監視模組
410．．．處理器核心
414．．．圖形處理器
416．．．顯示器控制器
418．．．視頻處理器
430．．．記憶體控制器
432．．．I/O控制器介面
434．．．顯示器裝置介面
440．．．可配置之效能模組
510．．．效能控制電路
512．．．效能鎖定電路
514．．．安全電路
610、612、620、622、624、630、632、640．．．步驟
第1a及1b圖(一般稱為第1圖並標示為先前技術)顯示積體電路之分佈與產率；第2圖顯示用於致能與配置積體電路效能之系統之操作之流程圖；第3圖顯示具有積體電路效能監視模組之電腦系統之方塊圖；第4圖顯示具有可配置之效能模組之處理器之方塊圖；第5圖顯示可配置之效能模組之方塊圖；以及第6圖顯示積體電路效能監視模組之操作之方塊圖。
212、214、216、218．．．步驟
220、222、230、232、240．．．步驟

Claims (14)

  1. 一種用於提供在製造之後具有增加效能之選擇之積體電路之方法，該方法包括：監視該積體電路之效能，以決定是否超出效能臨界值，其中，係基於可利用於該積體電路之額外的效能而監視該積體電路之效能；以及經由儲存在該積體電路上之可組構效能模組，對該積體電路執行效能增加操作，該效能增加操作係以遠端且非干擾之方式開啟額外可利用的效能，以便能夠使該效能增加操作在該積體電路被製造之後將該積體電路之效能從第一效能位準增加至第二效能位準，該效能增加操作係根據該監視效能而執行者。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，進一步包括：當超出該效能臨界值時，提出該積體電路之增加效能之選擇。
  3. 如申請專利範圍第2項之方法，其中：該增加效能之選擇包含：一次性增加選擇以增加效能、進行性增加選擇以增加效能、選擇性增加選擇以對於當需要增加的效能的時候增加效能。
  4. 如申請專利範圍第1項之方法，進一步包括：獲得合法動機以增加該積體電路之效能。
  5. 如申請專利範圍第1項之方法，進一步包括：在執行該效能增加操作之後，決定是否任何額外的效能增加是可利用的。
  6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：該決定是否超出該效能臨界值包含：對於該效能臨界值之一次性例外、對於該效能臨界值之進行性例外、或對於該效能臨界值之一次性類型例外與對於該效能臨界值之進行性例外之組合。
  7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中：回應使用者請求，執行該效能增加操作以增加效能。
  8. 一種用於提供在製造之後具有增加效能之選擇之積體電路之設備，該設備包括：用於監視該積體電路之效能，以決定是否超出效能臨界值的機構，其中，該機構係基於可利用於該積體電路之額外的效能而監視該積體電路之效能；以及用於執行效能增加操作之機構，該效能增加操作係以遠端且非干擾之方式開啟額外可利用的效能，以便能夠使該效能增加操作在該積體電路被製造之後將該積體電路之效能從第一效能位準增加至第二效能位準，該效能增加操作係根據該監視效能而執行者。
  9. 如申請專利範圍第8項之設備，進一步包括：用於當超出該效能臨界值時提出該積體電路之增加效能之選擇之機構。
  10. 如申請專利範圍第9項之設備，其中：該增加效能之選擇包含：一次性增加選擇以增加效能、進行性增加選擇以增加效能、選擇性增加選擇以對 於當需要增加的效能的時候增加效能。
  11. 如申請專利範圍第8項之設備，進一步包括：用於獲得合法動機以增加該積體電路之效能之機構。
  12. 如申請專利範圍第8項之設備，進一步包括：用於在執行該效能增加操作之後決定是否任何額外的效能增加是可利用的之機構。
  13. 如申請專利範圍第8項之設備，其中：該決定是否超出該效能臨界值包含：對於該效能臨界值之一次性例外、對於該效能臨界值之進行性例外、或對於該效能臨界值之一次性類型例外與對於該效能臨界值之進行性例外之組合。
  14. 如申請專利範圍第8項之設備，其中：該效能增加操作係回應使用者請求而予以執行以增加效能。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5459207B2 (ja) * 2008-06-30 2014-04-02 富士通株式会社 情報処理装置の性能調整装置及び方法
US8219797B2 (en) * 2008-12-31 2012-07-10 Intel Corporation Method and system to facilitate configuration of a hardware device in a platform
US8365983B2 (en) * 2009-11-20 2013-02-05 Intel Corporation Radio-frequency reconfigurations of microelectronic systems in commercial packages

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047373A (en) * 1997-01-02 2000-04-04 Intel Corporation Method and apparatus for setting the operating parameters of a computer system
US20040190558A1 (en) * 2003-03-31 2004-09-30 Oliver Delton John Method and apparatus for programming a functionality of an integrated circuit (IC)
TWI235912B (en) * 2000-05-10 2005-07-11 Freescale Semiconductor Inc Performance monitor system and method suitable for use in an integrated circuit
TW200533940A (en) * 2004-04-06 2005-10-16 Agilent Technologies Inc Circuit and method for comparing circuit performance between functional and AC scan testing in an integrated circuit (IC)
US20060031691A1 (en) * 2004-08-04 2006-02-09 Bacchus Reza M Systems and methods to determine processor utilization

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU3250393A (en) * 1991-12-17 1993-07-19 Compaq Computer Corporation Apparatus for reducing computer system power consumption
US5740404A (en) 1993-09-27 1998-04-14 Hitachi America Limited Digital signal processor with on-chip select decoder and wait state generator
US6385735B1 (en) 1997-12-15 2002-05-07 Intel Corporation Method and apparatus for limiting processor clock frequency
US6477683B1 (en) 1999-02-05 2002-11-05 Tensilica, Inc. Automated processor generation system for designing a configurable processor and method for the same
TW522297B (en) * 2000-03-17 2003-03-01 Micro Star Int Co Ltd Automatic over-clock method for CPU
US20020124168A1 (en) * 2000-07-17 2002-09-05 Mccown Steven H. Method and system for upgrading a user environment
US6978374B1 (en) * 2000-09-29 2005-12-20 Unisys Corporation Authorization key system for selectively controlling the performance of a data processing system
US6952767B1 (en) * 2001-10-26 2005-10-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for maintaining a predetermined price/performance level of technology on a computer system during a subscription
US7171570B2 (en) * 2001-11-16 2007-01-30 Apple Computer, Inc. Method and apparatus for selectively increasing the operating speed of an electronic circuit
TWI266191B (en) * 2003-09-05 2006-11-11 Realtek Semiconductor Corp Clock pulse adjusting device and method thereof
US20050289050A1 (en) 2004-06-29 2005-12-29 Narayanan Raja P Automated marketplace presentation and purchasing service for a data computing device
US7640541B2 (en) * 2005-05-23 2009-12-29 Intel Corporation In-system reconfiguring of hardware resources
US7500122B2 (en) * 2006-01-20 2009-03-03 Micro-Star Int'l Co., Ltd. Efficiency optimization method for hardware devices with adjustable clock frequencies

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047373A (en) * 1997-01-02 2000-04-04 Intel Corporation Method and apparatus for setting the operating parameters of a computer system
US6256731B1 (en) * 1997-01-02 2001-07-03 Intel Corporation Method and apparatus for setting the operating parameters of a computer system
TWI235912B (en) * 2000-05-10 2005-07-11 Freescale Semiconductor Inc Performance monitor system and method suitable for use in an integrated circuit
US20040190558A1 (en) * 2003-03-31 2004-09-30 Oliver Delton John Method and apparatus for programming a functionality of an integrated circuit (IC)
TW200533940A (en) * 2004-04-06 2005-10-16 Agilent Technologies Inc Circuit and method for comparing circuit performance between functional and AC scan testing in an integrated circuit (IC)
US20060031691A1 (en) * 2004-08-04 2006-02-09 Bacchus Reza M Systems and methods to determine processor utilization

Also Published As

Publication number Publication date
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