TWI411862B - 影像量測對焦系統及方法 - Google Patents

影像量測對焦系統及方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI411862B
TWI411862B TW98106543A TW98106543A TWI411862B TW I411862 B TWI411862 B TW I411862B TW 98106543 A TW98106543 A TW 98106543A TW 98106543 A TW98106543 A TW 98106543A TW I411862 B TWI411862 B TW I411862B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
image
pattern
lens
workpiece
tested
Prior art date
Application number
TW98106543A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201031988A (en
Inventor
Chih Kuang Chang
Li Jiang
Yi-Rong Hong
yong-hong Ding
Dong-Hai Li
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority to TW98106543A priority Critical patent/TWI411862B/zh
Publication of TW201031988A publication Critical patent/TW201031988A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI411862B publication Critical patent/TWI411862B/zh

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

影像量測對焦系統及方法
本發明涉及一種影像量測對焦系統及方法,尤其涉及一種對表面光滑的待測工件進行對焦的影像量測對焦系統及方法。
影像量測是目前精密量測領域中最廣泛使用的量測方法,該方法不僅精度高,而且量測速度快。影像量測主要用於零件或者部件的尺寸物差和形位誤差的測量,對保證產品品質起著重要的作用。
一般而言,傳統的影像量測方法是採用工業光學鏡頭搭配高解析度的電荷耦合裝置(Charged Coupled Device,CCD),透過影像擷取卡取得待測工件或者部件的影像,然後將獲取的影像傳送給電腦,透過計算中的量測軟體對該影像做進一步的處理。
在測量待測工件的輪廓或表面高度前,通常需要進行影像對焦,使得待測工件的表面到鏡頭的距離等於焦距。之前的影像自動對焦方法為:在一定範圍內移動CCD鏡頭,並不斷獲取待測工件表面的影像,然後根據獲取的影像資料計算出CCD鏡頭的焦點位置。
但是,在對表面光滑的待測工件進行對焦時,由於光射到待測工件的表面光滑反射回CCD時,所獲取的影像中的輪廓資訊非常少,在計算清晰度時準確度不高,從而影響對焦的準確性。
鑒於以上內容,有必要提出一種影像量測對焦系統及方法,其可以對表面光滑的待測工件進行快速對焦。
一種影像量測對焦系統,運行於電腦中,該電腦與一台影像量測機台相連,該影像量測機台的發光裝置中安裝有一張圖案片,所述系統包括:發送模組,用於發出控制指令給所述發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過所述圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上;影像擷取模組,用於在設定的距離內控制影像量測機台的鏡頭移動,並擷取所述圖案片上的圖案投影到待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標;清晰度計算模組,用於計算每張影像的清晰度;焦點獲取模組,用於從所計算出的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的焦點位置。
一種影像量測對焦的方法,該方法包括步驟:發出控制指令給影像量測機台的發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過安裝在該發光裝置上的圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上;在設定的距離內控制鏡頭移動,並截取所述圖案片上的圖案投影在待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標;計算每張影像的清晰度;從所計算的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的 焦點位置。
相較於習知技術,本發明所提供的影像量測對焦系統及方法,可透過電腦的控制,將影像量測機台上安裝的圖案片中的圖案投影到表面光滑的待測工件上,之後透過計算所獲取的待測工件影像的清晰度確定焦點的位置,實現對表面光滑的待測工件進行快速對焦,提高了對焦的準確度。
1‧‧‧電腦
2‧‧‧量測機台
3‧‧‧電荷耦合裝置
4‧‧‧發光裝置
5‧‧‧圖案片
6‧‧‧鏡頭
110‧‧‧發送模組
111‧‧‧影像擷取模組
112‧‧‧清晰度計算模組
113‧‧‧焦點獲取模組
114‧‧‧顯示模組
S10‧‧‧發出控制指令給所述發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過所述圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上
S11‧‧‧在設定的距離內控制影像量測機台的鏡頭移動,並擷取所述圖案片上的圖案投影到待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標
S12‧‧‧計算每張影像的清晰度
S13‧‧‧從所計算出的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的焦點位置
S14‧‧‧將所述焦點位置顯示在顯示器上
圖1係本發明影像量測對焦系統較佳實施例的硬體架構圖。
圖2係圖1中影像量測對焦系統的功能模組圖。
圖3係本發明影像量測對焦方法較佳實施例的作業流程圖。
圖4係本發明計算影像清晰度的示意圖。
參閱圖1所示,係本發明影像量測對焦系統較佳實施例的硬體架構圖。該硬體架構圖主要包括電腦1、放置待測工件7的影像量測機台2。其中,所述影像量測機台2在可移動軸,如Z軸方向(圖中未示出)上安裝有用於採集連續影像的電荷耦合裝置(Charged Coupled Device,CCD)3,及產生影像光源的發光裝置4。在本實施例中,該發光裝置4可以為發光二極體(Light Emitting Diode,LED)、鐳射裝置或其他任何領域內所熟知的能夠產生光源的發光裝置。另外,在該發光裝置4中安裝有一塊圖案片5。當發光裝置4產生的影像光源穿過圖案片5時,能夠將圖案片5中的圖案投影到待測工件7上,在本較佳實施例中,所述 圖案片5是一塊嵌有圖案的玻璃片,在其他實施例中,所述圖案片5還可以是嵌有圖案的塑膠片,及其他任何領域內所熟知的嵌有圖案的物件。所述CCD 3搭配一個鏡頭6,用於攝取待測工件7的影像,並將攝取的影像傳送到電腦1。該攝取的影像包括圖案片5投影到待測工件7上的圖案。
所述電腦1內裝有影像擷取卡10及影像量測對焦系統11。該影像擷取卡10透過一條影像資料線與所述CCD3相連,用於接收所述待測工件7的影像,並將該影像顯示在與該電腦1相連的顯示器(圖中未示出)上。
參閱圖2所示,係圖1中影像量測對焦系統11的功能模組圖。本發明所稱的各模組是完成特定功能的各個程式段,比程式本身更適合於描述軟體在電腦中的執行過程,因此本發明對軟體的描述都以模組描述。
所述影像量測對焦系統11主要包括:發送模組110、影像擷取模組111、清晰度計算模組112、焦點獲取模組113及顯示模組114。
當用戶利用所述CCD3對待測工件7進行對焦時,所述發送模組110用於發出控制指令給發光裝置4,使其產生影像光源,所述產生的影像光源穿過圖案片5,將該圖案片5上的圖案投影到待測工件7上。
所述影像擷取模組111用於在設定的距離內控制鏡頭6移動,並擷取所述圖案片5上的圖案投影到待測工件7上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭6的Z軸座標。具體而言,影像擷取模組111控 制鏡頭6在設定的距離內(該距離可以根據量測需求進行設定,如20mm)沿Z軸方向從上至下進行移動,並透過CCD 3不斷擷取所述圖案片5上的圖案投影到待測工件7上所產生的影像,及此時鏡頭6的Z軸座標。
所述清晰度計算模組112用於計算每張影像的清晰度。具體而言,如圖4所示,是本發明計算影像清晰度的示意圖,所述計算影像的清晰度的公式為: 其中,G為影像的清晰度值,Abs( )表示取絕對值函數,D i,j 為每個圖元點的灰度值,S為該影像中所包含的圖元點個數。
所述焦點獲取模組113用於根據所計算出的影像清晰度,獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭6的Z軸座標,該座標即為鏡頭6的焦點位置。也就是說,焦點獲取模組113選取清晰度值最大的影像對應的鏡頭6的Z軸座標作為焦點位置。所述的焦點位置是指鏡頭6的焦點位置。
所述顯示模組114用於將所述焦點位置顯示在顯示器上。
參閱圖3所示,係本發明影像量測對焦方法較佳實施例的作業流程圖。
步驟S10,當用戶對待測工件7進行對焦時,發送模組110發出控 制指令給發光裝置4,使其產生影像光源,所述產生的影像光源穿過圖案片5,將該圖案片5上的圖案投影到待測工件7上。
步驟S11,影像擷取模組111在設定的距離內控制鏡頭6移動,並擷取所述圖案片5上的圖案投影到待測工件7上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭6的Z軸座標。具體而言,影像擷取模組111控制鏡頭6在設定的距離內(該距離可以根據量測需求進行設定,如20mm)沿Z軸方向從上至下進行移動,並透過CCD 3不斷擷取所述圖案片5上的圖案投影到待測工件7上所產生的影像及鏡頭6的Z軸座標。
步驟S12,清晰度計算模組112計算每張影像的清晰度。具體而言,如圖4所示,所述計算影像的清晰度的公式為: 其中,G為影像的清晰度值,Abs( )表示取絕對值函數,D i,j 為每個圖元點的灰度值,S為該影像中所包含的圖元點個數。
步驟S13,焦點獲取模組113從上述計算出的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭6的Z軸座標,該座標即為焦點位置。
步驟S14,顯示模組114將所述焦點位置顯示在顯示器上。
最後所應說明的是,以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而 非限制,儘管參照以上較佳實施例對本發明進行了詳細說明,本領域的普通技術人員應當理解,可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換,而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。
S10‧‧‧發出控制指令給所述發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過所述圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上
S11‧‧‧在設定的距離內控制影像量測機台的鏡頭移動,並擷取所述圖案片上的圖案投影到待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標
S12‧‧‧計算每張影像的清晰度
S13‧‧‧從所計算出的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的焦點位置
S14‧‧‧將所述焦點位置顯示在顯示器上

Claims (10)

  1. 一種影像量測對焦系統,運行於電腦中,該電腦與一台影像量測機台相連,該影像量測機台的發光裝置中安裝有一張圖案片,所述系統包括:發送模組,用於發出控制指令給所述發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過所述圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上;影像擷取模組,用於在設定的距離內控制影像量測機台的鏡頭移動,並擷取所述圖案片上的圖案投影到待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標;清晰度計算模組,用於計算每張影像的清晰度;及焦點獲取模組,用於從所計算出的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的焦點位置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之影像量測對焦系統,其中,所述發光裝置為發光二極體。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之影像量測對焦系統,其中,所述圖案片是一塊嵌有圖案的玻璃片或塑膠片。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之影像量測對焦系統,其特中,所述清晰度計算模組計算每張影像的清晰度的公式為: 其中,Abs( )表示取絕對值函數,D i,j 為每個圖元點的灰度值,S為該影像中所包含的圖元點個數。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之影像量測對焦系統,其中,所述系統還包括顯示模組,用於顯示所述焦點位置。
  6. 一種影像量測對焦的方法,該方法包括步驟:發出控制指令給影像量測機台的發光裝置,使其產生影像光源,該影像光源穿過安裝在該發光裝置上的圖案片,將該圖案片上的圖案投影到待測工件上;在設定的距離內控制鏡頭移動,並截取所述圖案片上的圖案投影在待測工件上所產生的影像及每張影像所對應的鏡頭的Z軸座標;計算每張影像的清晰度;及從所計算的影像清晰度中獲取清晰度最高的影像所對應的鏡頭的Z軸座標,該座標即為鏡頭的焦點位置。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之影像量測對焦方法,其中,所述發光裝置為發光二極體。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之影像量測對焦方法,其中,所述圖案片為一塊嵌有圖案的玻璃片或塑膠片。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之影像量測對焦方法,其中,所述計算每張影像的清晰度的公式為: 其中,Abs( )表示取絕對值函數,D i,j 為每個圖元點的灰度值,S為該影像中所包含的圖元點個數。
  10. 如申請專利範圍第6項所述之影像量測對焦方法,其中,該方法還包括如下步驟:顯示所述焦點位置。
TW98106543A 2009-02-27 2009-02-27 影像量測對焦系統及方法 TWI411862B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW98106543A TWI411862B (zh) 2009-02-27 2009-02-27 影像量測對焦系統及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW98106543A TWI411862B (zh) 2009-02-27 2009-02-27 影像量測對焦系統及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201031988A TW201031988A (en) 2010-09-01
TWI411862B true TWI411862B (zh) 2013-10-11

Family

ID=44854732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW98106543A TWI411862B (zh) 2009-02-27 2009-02-27 影像量測對焦系統及方法

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI411862B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9098147B2 (en) 2011-12-29 2015-08-04 Industrial Technology Research Institute Ranging apparatus, ranging method, and interactive display system
CN115188779A (zh) * 2022-07-12 2022-10-14 苏州华星光电技术有限公司 一种cmos图像芯片、相机及其调试方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050109959A1 (en) * 2003-11-24 2005-05-26 Mitutoyo Corporation Systems and methods for rapidly automatically focusing a machine vision inspection system
US20060133663A1 (en) * 2004-12-20 2006-06-22 Delaney Mark L System and method for programming interrupting operations during moving image acquisition sequences in a vision system
TW200725007A (en) * 2005-12-30 2007-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Method and system for displaying image focusing

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050109959A1 (en) * 2003-11-24 2005-05-26 Mitutoyo Corporation Systems and methods for rapidly automatically focusing a machine vision inspection system
US20060133663A1 (en) * 2004-12-20 2006-06-22 Delaney Mark L System and method for programming interrupting operations during moving image acquisition sequences in a vision system
TW200725007A (en) * 2005-12-30 2007-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Method and system for displaying image focusing

Also Published As

Publication number Publication date
TW201031988A (en) 2010-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7545512B2 (en) Method for automated measurement of three-dimensional shape of circuit boards
US10563977B2 (en) Three-dimensional measuring device
CN101782369B (zh) 影像量测对焦系统及方法
US9420235B2 (en) Measuring system for a 3D object
JP6053119B2 (ja) マシンビジョン検査システムおよびその位置測定結果の決定方法
TWI294959B (en) Apparatus for and method of measuring image
JP2011069965A (ja) 撮像装置、画像表示方法、及び画像表示プログラムが記録された記録媒体
TW200728682A (en) Digital-structured micro-optic three-dimensional confocal surface profile measuring system and technique
JP7319903B2 (ja) 高速tagレンズ支援3d計測及び拡張被写界深度撮像
US20170309035A1 (en) Measurement apparatus, measurement method, and article manufacturing method and system
TW201017092A (en) Three-dimensional model reconstruction method and system thereof
TWI411862B (zh) 影像量測對焦系統及方法
JP2010151697A (ja) 3次元形状計測装置および方法
JP2012237613A (ja) 形状計測装置及び形状計測方法
JP2011095131A (ja) 画像処理方法
JP2012168135A (ja) 画像測定装置、オートフォーカス制御方法及びオートフォーカス制御プログラム
US10060733B2 (en) Measuring apparatus
JP5342178B2 (ja) 形状測定装置およびその形状測定方法
CN107796306B (zh) 一种二次元测量仪及测量方法
JP2008304190A (ja) レーザ反射光による被計測物の高精度変位計測方法とその装置
JP6880396B2 (ja) 形状測定装置および形状測定方法
JP2017049179A5 (ja) 計測装置および取得方法
CN113720264B (zh) 一种硬度计相机对焦测量方法及装置
CN102252616A (zh) 面向集成电路检测的计算机辅助管理装置及方法和系统
KR20110137069A (ko) 평판 디스플레이 패널 검사 시스템 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees